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GB T 12636-1990 微波介质基片复介电常数带状线测试方法.pdf

上传人：卡尔 文档编号：99467 上传时间：2019-07-08 格式：PDF 页数：10 大小：298.73KB
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资源描述

本标准规定了微波介质基片复介电常数的带状线测试方法。本标准适用于测试各种基片（如塑料、复合材料、陶瓷、硅酸盐和其他单晶体材料等）在微波频率下的复介电常数。测试频率范围：f=120GHz测试介电常数范围：225测试损耗角正切范围：tan510110

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