NEN 1759-1982 Laboratory glassware Graduated measuring cylinders with and without stopper《实验室玻璃器皿 带和不带塞子的刻度量筒》.pdf

相关资源

JIS R3503-2007 化学分析用玻璃器皿(修改件1).pdf

JIS R3503-1994 化学分析用玻璃器皿 Volumetric glassware.pdf

QB T 4623-2013 玻璃器皿 装饰.pdf

JC 180-1981 QSQ、DSQ透明石英玻璃器皿.pdf

QB T 4946-2016 玻璃器皿 高脚杯.pdf

JC T 653-1996 石英玻璃器皿 烧杯.pdf

JC T 653-2011 石英玻璃器皿 烧杯.pdf

JC T 654-1996 石英玻璃器皿 蒸发皿.pdf

JC T 654-2011 石英玻璃器皿 蒸发皿.pdf

JC T 651-2011 石英玻璃器皿 坩埚.pdf

猜你喜欢

EN 60749-17-2003 en Semiconductor devices Mechanical and climatic test methods Part 17 Neutron irradiation《半导体器件 机械和气候试验方法 第17部分 中子辐照 IEC 60749-17-2003》.pdf

EN 60749-18-2003 en Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 18 Ionizing radiation (total dose)《半导体器件 机械和气候试验方法 第18部分 电离辐射(总剂量) IEC 60749-18-2002》.pdf

EN 60749-19-2003 en Semiconductor devices C Mechanical and climatic test methods Part 19 Die shear strength (Incorporating Corrigendum June 2003 Incorporates Amendment A1 2010)《半导体.pdf

EN 60749-2-2002 en Semiconductor Devices Mechanical and Climatic Test Methods Part 2 Low Air Pressure《半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分 低气压 IEC 60749-2-2002 部分替代 EN 60749 1999+A1-2000+A2-2001》.pdf

EN 60749-20-1-2009 en Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20-1 Handling packing labelling and shipping of surface-mount devices sensitive to the com.pdf

EN 60749-20-2009 en Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20 Resistance of plastic encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering .pdf

EN 60749-21-2011 en Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 21 Solderability《半导体器件 机械和气候试验方法 第21部分 可焊性》.pdf

EN 60749-22-2003 en Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 22 Bond strength《半导体器件 机械和气候试验方法 第22部分 粘结强度 IEC 60749-22-2002》.pdf

EN 60749-23-2004 en Semiconductor devices C Mechanical and climatic test methods Part 23 High temperature operating life (Incorporates Amendment A1 2011)《半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分 高温操作.pdf