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DLA MIL-PRF-32192 5 (2)-2012 RESISTOR CHIP THERMAL (THERMISTOR) INSULATED NEGATIVE TEMPERATURE COEFFICIENT STYLE RCTN1206.pdf
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GB T 4937.22-2018 《半导体器件 机械和气候试验方法 第22部分:键合强度》.pdf
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GB T 4937.21-2018 《半导体器件 机械和气候试验方法 第21部分:可焊性》.pdf
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GB T 4937.201-2018 《半导体器件 机械和气候试验方法 第20-1部分:对潮湿和焊接热综合影响敏感的表面安装器件的操作、包装、标志和运输》.pdf
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GB T 4937.20-2018 《半导体器件 机械和气候试验方法 第20部分:塑封表面安装器件耐潮湿和焊接热综合影响》.pdf
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GB T 4937.19-2018 《半导体器件 机械和气候试验方法 第19部分:芯片剪切强度》.pdf
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GB T 37033.3-2018 《信息安全技术 射频识别系统密码应用技术要求 第3部分:密钥管理技术要求》.pdf
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GB T 37033.2-2018 《信息安全技术 射频识别系统密码应用技术要求 第2部分:电子标签与读写器及其通信密码应用技术要求》.pdf
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GB T 37033.1-2018 《信息安全技术 射频识别系统密码应用技术要求 第1部分:密码安全保护框架及安全级别》.pdf
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GB T 37032-2018 《物联网标识体系 总则》.pdf
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