IEC 60404-2-1996 Magnetic materials - Part 2 Methods of measurement of the magnetic properties of electrical steel strip and sheet by means of an Epstein frame《磁性材料.第2部分 用爱普斯坦框架测量电工钢板和钢带的磁性能的方法》.pdf

1、NORME CE1 INTERNATIONALE IEC INTERNATIONAL STANDARD 404-2 Troisime dition Third edition 1996-03 Matriaux magntiques - Partie 2: Mthodes de mesure des proprits magntiques des tles et bandes magntiques au moyen dun cadre Epstein Magnetic materials - Part 2: Methods of measurement of the magnetic prope

2、rties of electrical steel sheet and strip by means of an Epstein frame Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 404-2: 1996 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,-Va

3、lidit de la prsente publication Le contenu technique des publications de la CE1 est cons- tamment revu par la CE1 afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs la date de reconfirmation de la publication sont disponibles auprs du Bureau Central de la CEI. Les renseignemen

4、ts relatifs ces rvisions, ltablis- sement des ditions rvises et aux amendements peuvent tre obtenus auprs des Comits nationaux de la CE1 et dans les documents ci-dessous: Bulletin de la CE1 Annuaire de la CE1 Publi annuellement Catalogue des publications de la CE1 Publi annuellement et mis jour rgul

5、irement Terminologie En ce qui concerne la terminologie gnrale, le lecteur se reportera la CE1 50: Vocabulaire Electrotechnique lnter- national (VEI), qui se prsente sous forme de chapitres spars traitant chacun dun sujet dfini. Des dtails complets sur le VE1 peuvent tre obtenus sur demande. Voir ga

6、lement le dictionnaire multilingue de la CEI. Les termes et dfinitions figurant dans la prsente publi- cation ont t soit tirs du VEI, soit spcifiquement approuvs aux fins de cette publication. Symboles graphiques et littraux Pour les symboles graphiques, les symboles littraux et les signes dusage gn

7、ral approuvs par la CEI, le lecteur consultera: - la CE1 27: Symboles littraux a utiliser en lectro-technique; - la CE1 417: Symboles graphiques utilisables sur le matriel. Index, relev et compilation des feuilles individuelles; - la CE1 617: Symboles graphiques pour schmas; et pour les appareils le

8、ctromdicaux, - la CE1 878: Symboles graphiques pour quipements lectriques en pratique mdicale. Les symboles et signes contenus dans la prsente publi- cation ont t soit tirs de la CE1 27, de la CE1 417, de la CE1 617 etlou de la CE1 878, soit spcifiquement approuvs aux fins de cette publication. Publ

9、ications de la CE1 tablies par le mme comit dtudes Lattention du lecteur est attire sur les listes figurant a la fin de cette publication, qui numrent les publications de la CE1 prpares par le comit dtudes qui a tabli la prsente publication. Validity of this publication The technical content of IEC

10、publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to the date of the reconfirmation of the publication is available from the IEC Central Office. Information on the revision work, the issue of revised editions and a

11、mendments may be obtained from IEC National Committees and from the following IEC sources: IEC Bulletin IEC Yearbook Catalogue of IEC publications Published yearly Published yearly with regular updates Terminology For general terminology, readers are referred to IEC 50: International Electrotechnica

12、l Vocabulary (IEV), which is issued in the form of separate chapters each dealing with a specific field. Full details of the IEV will be supplied on request. See also the IEC Multilingual Dictionary. The terms and definitions contained in the present publi- cation have either been taken from the IEV

13、 or have been specifically approved for the purpose of this publication. Graphical and letter symbols For graphical symbols, and letter symbols and signs approved by the IEC for general use, readers are referred to publications: - IEC 27: Letter symbols to be used in electrical technology; - IEC 417

14、: Graphical symbols for use on equipment. Index, survey and compilation of the single sheets; - IEC 617: Graphical symbols for diagrams; and for medical electrical equipment, - equipment in medical practice. IEC 878: Graphical symbols for electromedical The symbols and signs contained in the present

15、 publication have either been taken from IEC 27, IEC 417, IEC 617 andlor IEC 878, or have been specifically approved for the purpose of this publication. IEC publications prepared by the same technical committee The attention of readers is drawn to the end pages of this publication which list the IE

16、C publications issued by the technical committee which has prepared the present publication. Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,-NORME INTERNATIONALE INTERNATIONAL

17、 STANDARD CE1 IEC 404-2 Troisime dition Third edition 1996-03 Matriaux magntiques - Partie 2: Mthodes de mesure des proprits magntiques des tles et bandes magntiques au moyen dun cadre Epstein Magnetic materials - Part 2: Methods of measurement of the magnetic properties of electrical steel sheet an

18、d strip by means of an Epstein frame CE1 1996 Droits de reproduction rservs - Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que soit et par aucun pro- cd, lectronique ou hnique, y conpris la photocopie et les microfilms, sam I

19、amrd Bcrii de Idiieur. No pari of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical. including photocopying and microfilm. without prrrissim in writing from the publisher. Bureau Central de la Commission Elecrotechnique Internationale 3, nie de Vare

20、mb Genve, Suisse Commission Electrotechnique internationale CODE PRIX International Electrotechnical Commission PRICE CODE R MemnyHaponwaR 3neinpoexutecnan HOMUCCUII four prix, voir cafalogue en vigueur For price, see currenf catalogue Copyright International Electrotechnical Commission Provided by

21、IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,-2- SOMMAIRE 404-2 O CEI:1996 Pages AVANT-PROPOS . Articles Domaine dapplication et objet Rfrences normatives . Principes gnraux des mesures en courant alternatif . 3.1 Principe de la mthode d

22、u cadre Epstein de 25 cm . 3.2 Eprouvette . 3.3 Cadre Epstein de 25 cm . 3.4 Compensation du flux dans lair 3.5 Source dalimentation . 3.6 Mesurage de la tension . 3.7 Mesurage de la frquence 3.8 Mode opratoire pour la mesure des pertes totales spcifiques . 4.1 Prparation du mesurage . 4.2 4.3 Mesur

23、age de la puissance 4.4 Dtermination des pertes totales spcifiques 4.5 Mode opratoire pour la dtermination de la valeur crte de la polarisation magntique, de la valeur efficace de lintensit du champ magntique, de la valeur crte de lintensit du champ magntique et de la puissance apparente spcifique M

24、esurage de la puissance Rglage de la source dalimentation . Reproductibilit du mesurage des pertes totales spcifiques . 5.1 Eprouvette . Principe de la mesure . 5.2 5.3 Reproductibilit . Principes gnraux des mesures en courant continu 6.1 Principe de la mthode du cadre Epstein de 25 cm 6.2 Eprouvett

25、e 6.3 Cadre Epstein de 25 cm 6.4 Compensation du flux dans lair . 6.5 Source dalimentation 6.6 Prcision de lappareillage . Mode opratoire pour la mesure de la polarisation magntique en courant continu . 7.1 Prparation du mesurage Dtermination de la polarisation magntique Dtermination du cycle dhystr

26、sis magntique Reproductibilit du mesurage de la polarisation magntique 7.2 7.3 7.4 Rapport dessai Figures 4 6 6 8 8 8 10 12 12 14 14 14 14 14 16 18 18 18 20 20 20 24 24 24 24 24 24 26 26 26 26 26 28 28 28 30 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNo

27、t for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,-404-2 O IEC:1996 -3- CONTENTS FOREWORD Clause Scope and object . Normative references . General principles of a.c. measurements . 3.1 Principle of the 25 cm Epstein frame method . 3.3 The 25 cm Epstein frame 3.4 Air flu

28、x compensation 3.5 Power supply 3.6 Voltage measurement 3.7 Frequency measurement 3.8 Power measurement Procedure for the measurement of the specific total loss . 4.1 Preparation for measurement 4.2 Adjustment of power supply . 4.4 Determination of the specific total loss . 4.5 Reproducibility of th

29、e specific total loss measurement Procedure for the determination of the peak value of magnetic polarization, r.m.s. value of magnetic field strength, peak value of magnetic field strength and specific apparent power 5.1 Test specimen 5.2 Principle of measurement . General principles of d.c. measure

30、ments . 6.1 Principle of the 25 cm Epstein frame method . 6.2 Test specimen . 6.3 The 25 cm Epstein frame 6.4 Air flux compensation 6.5 Power supply . 6.6 Apparatus accuracy 3.2 Test specimen . 4.3 Measurement of power 5.3 Reproducibility . Procedure for the d.c. measurement of the magnetic polariza

31、tion . Determination of the magnetic polarization Determination of the magnetic hysteresis loop Reproducibility of the measurement of the magnetic polarization . 7.1 Preparation for measurement . 7.2 7.3 7.4 Test report Figures . Page 5 7 7 9 9 9 11 13 13 15 15 15 15 15 17 19 19 19 21 21 21 25 25 25

32、 25 25 25 27 27 27 27 27 29 29 29 31 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,-4- 404-2 O CEI:1996 68/11 SIFDIS COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE 6811 35lRVD MAT

33、RIAUX MAGNTIQUES - Partie 2: Mthodes de mesure des proprits magntiques des tles et bandes magntiques au moyen dun cadre Epstein AVANT-PROPOS La CE1 (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (

34、Comits nationaux de la CEI). La CE1 a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI, entre autres activits, publie des Normes Internationales. Leur laboration est confie des comi

35、ts dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CE1 collabore troitement avec lOrganisation Internationale de Norm

36、alisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations. Les dcisions ou accords officiels de la CE1 concernant les questions techniques, reprsentent, dans la mesure du possible un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux intresss sont

37、 reprsents dans chaque comit dtudes. Les documents produits se prsentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publis comme normes, rapports techniques ou guides et agrs comme tels par les Comits nationaux. Dans le but dencourager lunification internationale, les Comits nationau

38、x de la CE1 sengagent appliquer de faon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CE1 dans leurs normes nationales et rgionales. Toute divergence entre la norme CE1 et la norme nationale ou rgionale correspondante doit tre indique en termes clairs dans cette derni

39、re. La CE1 na fix aucune procdure concernant le marquage comme indication dapprobation et sa responsabilit nest pas engage quand un matriel est dclar conforme lune de ses normes. Lattention est attire sur le fait que certains des lments de la prsente Norme internationale peuvent faire lobjet de droi

40、ts de proprit intellectuelle ou de droits analogues. La CE1 ne saurait tre tenue pour responsable de ne pas avoir identifi de tels droits de proprit et de ne pas avoir signal leur existence. La Norme internationale CE1 404-2 a t tablie par le comit dtudes 68 de la CEI: Matriaux magntiques tels quall

41、iages et aciers. Cette troisime dition annule et remplace la deuxime dition parue en 1978 et constitue une rvision technique. La prsente norme remplace les chapitres I, II, IV et V de la CE1 404-2: 1978. La norme CE1 404-1 1 remplace le chapitre VIII de la CE1 404-2: 1978. La norme CE1 404-13 rempla

42、ce les chapitres VI, VI1 et IX de la CE1 404-2: 1978. Le chapitre III de la CE1 404-2: 1978 est annul. Le texte de cette norme est issu des documents suivants: I FDIS I Rapport devote I Le rapport de vote indiqu dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant abouti lapprobation

43、de cette norme. Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,-404-2 O IEC:1996 -5- FDIS INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSSION MAGNETIC MATERIALS - Part 2: Methods of me

44、asurement of the magnetic properties of electrical steel sheet and strip by means of an Epstein frame Report on voting FOREWORD The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprising all national electrotechnical committees (IEC National Commit

45、tees). The object of the IEC is to promote international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation is entrusted to technical committee

46、s; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the International Organization for

47、 Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two organizations. The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters, express as nearly as possible, an international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee

48、 has representation from all interested National Committees. The documents produced have the form of recommendations for international use and are published in the form of standards, technical reports or guides and they are accepted by the National Committees in that sense. In order to promote international unification, IEC National Committees undertake to apply IEC International Standards transparently to the maximum extent possible in their national and regional sta