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本文(GB T 12690.5-1990 稀土金属及其氧化物化学分析方法 X射线荧光光谱法测定氧化镨中氧化镧、氧化铈、氧化钕、氧化钐和氧化钇量.pdf)为本站会员(livefirmly316)主动上传,麦多课文库仅提供信息存储空间,仅对用户上传内容的表现方式做保护处理,对上载内容本身不做任何修改或编辑。 若此文所含内容侵犯了您的版权或隐私,请立即通知麦多课文库(发送邮件至master@mydoc123.com或直接QQ联系客服),我们立即给予删除!

GB T 12690.5-1990 稀土金属及其氧化物化学分析方法 X射线荧光光谱法测定氧化镨中氧化镧、氧化铈、氧化钕、氧化钐和氧化钇量.pdf

1、中华人民共和国国家标准稀土金属及其氧化物化学分析方法X射线荧光光谱法测定氧化锚中氧化娟、氧化铺、氧化敏、氧化能和氧化纪量阶础eodymiumoxlde-D回ermiD富强00of lanthanum oxlde, 回rium0:叫曲,neodymlum0时曲,抽mariumoXide , and yttrium oxide con帕施相-Xrayfluolt嗣阻四sp幌刷血帽1.metbod i 主题内容与适用范围GB/T 12.690. 5-90 本标准规定了氧化错中氧化钢、氧化饰、氧化敏、氧化够和氧化忆含量的测定方法。本标准适用于氧化锵(90%-99%)中氧化钢、氧化饰、氧化铁、氧化够和氧

2、化铠含量的同时测定。测定范围见表1;,2 号l目标准氧化物氧化铺氧化钳氧化铁氧化彤氧化忆表1GB 1. 4 标准化工作导则化学分析方法标准编写规定。B1467 冶金产品化学分析方法标准的总则及般规定3 方法原理测定范围,%0.10-5.00 0.10-10.00 0.10-10.00 0.10-5.00 0.10-5.00 采用粉末直接压片制样,测量出待测元素的分析线X射线荧光强度。根据待测元素的X射线强度与含量之间的线性关系,选择相应的数学模型,计算出待测元素的含量。4试剂与材料4.1 氧化锚,99.99%。4.2 氧化俑,99.99%。4.3 氧化锄.99.99%。国.披术监督局19901

3、2-30批准16 1992-01-01实施4.4 氧化铁,99.99%。4.5 氧化侈,99.99%04.6 氧化忆,99.99%。4.7 四跚酸傻。4.8碳酸铿-4.9硝酸御.4.10低压聚乙烯。G8/T 12690. 5-90 4.11 PlO篮-甲娩气体.10%甲饶、90%氯气。4.12过氧化氢(30%),市售.4.13盐酸。十1)04.14 硝酸。+1)04.15氨水(1+1)。4.16 草酸溶液(10%)04. 17草酸洗涤液(1%)。4.18澳化镀溶液(120mg/mL 4.19单一稀土标准贮存癖液g将各稀土氧化物(4.2、4.4-4.的于850(;灼烧1h后,放入干燥帮中冷却至室

4、温。分别称取0.5000g,置于4个50mL烧杯中,用水洞湿,加5mL盐酸(4.13),低温加热溶解。冷却后移入100mL容量瓶中,用水稀释重刻度,混匀.此溶液1mL分别含5mg氧化钢、氧化铁、氧化轨氧化忆。4.20 氧化锦标准贮存揭穿液g将氧化饰(43)于850(;灼烧1h后,放入干燥器中冷却至室温。称取0.500 0 g,置于50mL烧杯中,用水润湿,加10mL硝酸(4.14)和2mL过氧化氢(4.12),放置5min,低温加热溶解.冷却后移入100mL容量瓶中,用水稀释至刻度,混匀。此溶液1mL含5吨氧化怖。4.21 单一稀土标准贮存溶液s分别移取5.00mL单一稀土标准贮存溶液(4.1

5、9-4.20),于5个25平L容量瓶中,用水稀释至刻l度,混匀,此榕液1mL分别含1吨氧化饵J氧化饰、氧化徽、氧化够、氧化忆。5仪器、设备5.1 x射线荧光光谱仪,X射线管功率3kW,带专用计算机。5.2分光晶体,LiF20005.3 油压机g压力不少于2010B 分析步骤6. 1 试料试样经850.C:的烧1h后,保存于干燥器中,称取约0.2g-l. 0 g。6.2 测定数量称取两份试料(6.1),分别测定,取其平均值-6.3试料片的制备将试料(6.1)置于垫有硫酸纸的模具忡23-35mm)内,铺平稍压,覆盖一层低压聚乙烯(4.1的,在1. 43X 10 Pa的压强下制片。样片保存于干燥器中

6、。6.4栋样的制备6.4.1 将氧化锵(4.1)经850(;灼烧1h后,放入干燥器中冷却至室温设定每个标样质量为1g,按表2准确称取计算盘,置于400mL烧杯中,用水润湿,加20inL盐酸(4.13)在低温下溶解至清。移取相应量的单一稀土标准贮存溶液(4.19-4. 21)子上述氧化锵溶液的烧杯中,混匀,加水稀释窒200mL,滴加氨水(4.15)调pH至2(用精密pH试纸检验),煮沸,慢慢加入100mL近沸的草酸溶液(4.16),使其沉淀完17 GB/T 12690. 5-90 金,静置4h以上06.4.2 草酸稀土沉淀用慢速定量滤纸过滤,以草酸洗涤液(4.17)洗涤沉淀23次,将沉淀置于瓷增

7、祸中,灰化,于850C灼烧1h,取出,保存于干燥器中。按6.3条方法制片。6.5 仪器校正样片的制备分别称取0.0240 g氧化钢、氧化够、氧化每L(4.2、4.5、4.的;O. 040 0 g氧化饰、氧化做(4.34.4);0.500 0 g氯化错(4.1);4.8000 g四翻酸铿(4.7);0. 5000 g碳梭铿(4.8);0.0500g硝酸御(4.的,一并放入销-黄柑桶中,用细玻璃棒轻轻搅匀,滴加4漓澳化镀溶液(4.1的,于1050C熔融,撼动数次,取出,放在水平桌面上,冷却,自然剥落,制成均匀的玻璃体样片。表2啻量,%编号La20 3 白0,Pr,ou NdllOa Sm20 a

8、YZ0 3 P卜13.00 6.50 83.00 5.00 2.00 0.50 Pr-2 1.00 8.00 87.50 1.00 0.50 2.00 Pr-3 4.00 3.50 82.00 2.00 3.50 5.00 Pr.4 2.00 10.00 86.20 3.50 0.30 4.00 Pr-5 5.00 1.00 88.40 0.30 5.00 0.30 西60.50 。.5095.20 0.70 0.10 3.00 Pr-7 。.300.30 97.80 0.10 0.50 1.00 Pr-8 0.10 0.10 98.65 0.05 1. 00 0.10 Pr-9 0.05 0

9、.05 99.79 0.01 0.05 0.05 Pr-IO 0.01 0.01 93.46 6.50 0.01 0.01 Pr-ll 。5.00 93.50 1.50 。Pr-12 。2.00 90.00 8.00 。Pr-13 。0.50 89.50 10.00 。Pr-14 0.40 0.60 97.60 0.60 0.40 0.40 Pr-15 。100.00 。一6.6 分析条件激发电压50kV,激发电流50mA;细准直器(150川,分光晶体日200,真空光路,峰位测量时间40 s,背景测l量时间20.,其他条件见表3,7c La 分析线L. 探测器F-PC 背景B, 0.90 (2

10、0 ) B, +1. 0 6.7 背景及谱线干扰因子的计算6.7.1 背景校正表3ce Nd L. 1倍F-PC F-PC -3.40 +0.9 6.7.1.1 氧化饰、氧化铁、氧化够接式。计算,以一点法扣除背景。18 Sm Y L K, F-PC S.C 一0.6+2.2 +1.2 GB;T 12690. 5-90 IN = lp 18 UO ., . .( 1 ) 式中:1N一-扣除背景后的净强度slp一一峰位上的总强度;1.一一背景强度。6.7.2 氧化制、氧化忆按式(2)计算,以两点法扣除背景。IB. .82 - I s. 81 IN = p一-一. -r .82-81 . . . (

11、 2 ) 式中:ID1一一负偏背景强度,IB 一正偏背景强度$B,-一负偏背景29角度zB,一正偏背景2角度.6.7.2谱线干扰按式(4)计算扣除-6.8 回归分析将测得标样(6.4. 2)中各:i素分析线的强度为纵坐标,以标样含量为横坐标,绘制工作曲线。按式(3)、式(4)进行回归分析,求出回归系数(a、bc、J、BJ、G,).存入计算机内。X,=al+bl十c. .( 3 ) 量含正自.,。来度数的强常s光线索荧曲元线作州珊l四J-6Iabx 中式矶=x.( 1十平勾FJ)+早B,Fj十矶 . . .川(4)式中,W雹-一分析元素,校正后的含量,F,一一共存元素J的含量或强度,J -一共存

12、元素J对分析元素也的吸收、增强影响系数,Bi一一干扰系数,I C,一一常数。6.9测定使用仪祷校正样片(6.的进行仪器校准,然后测定试料(6.白。7分析结果的计算与骥述氧化锵中各待测成分的百分含量,由计算机按公式(4)进行计算,并输出分析结果。8 允许缠实验室之间分析结果的差值应不大于表4所列的允许相对差。19 GB/T 12690. 5-90 表4氧化物含量范围,%0.100.50 La20g.COZ、Nd,o0.501.00 SmzOs YZ0 3 J. 005. 0。5. OOJO. 0。一一附加说明g本标准由中国有色金属工业总公司提出。本标准由包头稀土研究院和北京有色金属研究总院负责起草。本标准由北京有色金属研究总院起草。本标准主要起草人陆少兰、李世珍。20 允许相对差,%10 8 5 2

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