ImageVerifierCode 换一换
格式:PDF , 页数:14 ,大小:1.29MB ,
资源ID:677128      下载积分:10000 积分
快捷下载
登录下载
邮箱/手机:
温馨提示:
如需开发票,请勿充值!快捷下载时,用户名和密码都是您填写的邮箱或者手机号,方便查询和重复下载(系统自动生成)。
如填写123,账号就是123,密码也是123。
特别说明:
请自助下载,系统不会自动发送文件的哦; 如果您已付费,想二次下载,请登录后访问:我的下载记录
支付方式: 支付宝扫码支付 微信扫码支付   
注意:如需开发票,请勿充值!
验证码:   换一换

加入VIP,免费下载
 

温馨提示:由于个人手机设置不同,如果发现不能下载,请复制以下地址【http://www.mydoc123.com/d-677128.html】到电脑端继续下载(重复下载不扣费)。

已注册用户请登录:
账号:
密码:
验证码:   换一换
  忘记密码?
三方登录: 微信登录  

下载须知

1: 本站所有资源如无特殊说明,都需要本地电脑安装OFFICE2007和PDF阅读器。
2: 试题试卷类文档,如果标题没有明确说明有答案则都视为没有答案,请知晓。
3: 文件的所有权益归上传用户所有。
4. 未经权益所有人同意不得将文件中的内容挪作商业或盈利用途。
5. 本站仅提供交流平台,并不能对任何下载内容负责。
6. 下载文件中如有侵权或不适当内容,请与我们联系,我们立即纠正。
7. 本站不保证下载资源的准确性、安全性和完整性, 同时也不承担用户因使用这些下载资源对自己和他人造成任何形式的伤害或损失。

版权提示 | 免责声明

本文(DIN EN 61300-3-16-2003 Fibre optic interconnecting devices and passive components - Basic test and measurement procedures - Part 3-16 Examinations and measurements Endface radius o.pdf)为本站会员(sumcourage256)主动上传,麦多课文库仅提供信息存储空间,仅对用户上传内容的表现方式做保护处理,对上载内容本身不做任何修改或编辑。 若此文所含内容侵犯了您的版权或隐私,请立即通知麦多课文库(发送邮件至master@mydoc123.com或直接QQ联系客服),我们立即给予删除!

DIN EN 61300-3-16-2003 Fibre optic interconnecting devices and passive components - Basic test and measurement procedures - Part 3-16 Examinations and measurements Endface radius o.pdf

1、DEUTSCHE NORM September 2003Lichtwellenleiter-Verbindungselemente und passive BauteileGrundlegende Prf- und MessverfahrenTeil 3-16: Untersuchungen und Messungen Endflchenradius sphrisch polierter Stifte(IEC 61300-3-16:2003) Deutsche Fassung EN 61300-3-16:2003EN 61300-3-16ICS 33.180.20Fibre optic int

2、erconnecting devices and passive components Basic test and measurement procedures Part 3-16: Examinationsand measurements Endface radius of spherically polished ferrules(IEC 61300-3-16:2003); German version EN 61300-3-16:2003Dispositifs dinterconnexion et composants passifs fibres optiques Mthodes f

3、ondamentales dessais et de mesures Partie 3-16: Examens et mesures Rayon de la face terminale desembouts polis sphriquement (CEI 61300-3-16:2003);Version allemande EN 61300-3-16:2003Ersatz frDIN EN 61300-3-16:1998-09Siehe Beginn der GltigkeitDie Europische Norm EN 61300-3-16:2003 hat den Status eine

4、r Deutschen Norm.Beginn der GltigkeitDie EN 61300-3-16 wurde am 2002-12-01 angenommen.Daneben darf DIN EN 61300-3-16:1998-09 noch bis 2005-12-01 angewendet werden.Nationales VorwortFr die vorliegende Norm ist das nationale Arbeitsgremium UK 412.7 LWL-Verbindungstechnik undpassive optische Komponente

5、n der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik ElektronikInformationstechnik im DIN und VDE zustndig.Norm-Inhalt war verffentlicht als E DIN IEC 61300-3-16:2001-06.Die enthaltene IEC-Publikation wurde vom SC 86B Fibre optic interconnecting devices and passivecomponents erarbeitet.Das IEC-Komitee hat e

6、ntschieden, dass der Inhalt dieser Publikation bis zum Jahr 2007 unverndertbleiben soll. Zu diesem Zeitpunkt wird entsprechend der Entscheidung des Komitees die Publikation besttigt, zurckgezogen, durch eine Folgeausgabe ersetzt oder gendert.Fortsetzung Seite 2und 12 Seiten ENDKE Deutsche Kommission

7、 Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE DIN Deutsches Institut fr Normung e.V. Jede Art der Vervielfltigung, auch auszugsweise,nur mit Genehmigung des DIN Deutsches Institut fr Normung e.V., Berlin, gestattet.Alleinverkauf der Normen durch Beuth Verlag GmbH, 10772 BerlinRef. Nr

8、. DIN EN 61300-3-16:2003-09Preisgr. 11 Vertr.-Nr. 2511NormCD Stand 2004-03DIN EN 61300-3-16:2003-092nderungenGegenber DIN EN 61300-3-16:1998-09 wurden folgende nderungen vorgenommen: berarbeitung des Messverfahrens 1 Zweidimensionale Oberflchenanalyse; berarbeitung des Messverfahrens 2 Zweidimension

9、ale interferometrische Oberflchenanalyse; Herausnahme des Messverfahrens 3 Profilmessung.Frhere AusgabenDIN EN 61300-3-16:1998-09NormCD Stand 2004-03EUROPISCHE NORMEUROPEAN STANDARDNORME EUROPENNEEN 61300-3-16Januar 2003ICS 33.180.20 Ersatz fr EN 61300-3-16:1997Deutsche FassungLichtwellenleiter-Verb

10、indungselemente und passive BauteileGrundlegende Prf- und MessverfahrenTeil 3-16: Untersuchungen und Messungen Endflchenradius sphrisch polierter Stifte(IEC 61300-3-16:2003)Fibre optic interconnecting devices and passivecomponents Basic test and measurement procedures Part 3-16: Examination and meas

11、urements Endface radius of spherically polished ferrules(IEC 61300-3-16:2003)Dispositifs dinterconnexion et composantspassifs fibres optiques Mthodes fondamentales dessais et demesures Partie 3-16: Examens et mesures Rayonde la face terminale des embouts polissphriquement (CEI 61300-3-16:2003)Diese

12、Europische Norm wurde von CENELEC am 2002-12-01 angenommen. DieCENELEC-Mitglieder sind gehalten, die CEN/CENELEC-Geschftsordnung zuerfllen, in der die Bedingungen festgelegt sind, unter denen dieser EuropischenNorm ohne jede nderung der Status einer nationalen Norm zu geben ist.Auf dem letzten Stand

13、 befindliche Listen dieser nationalen Normen mit ihren biblio-graphischen Angaben sind beim Zentralsekretariat oder bei jedem CENELEC-Mit-glied auf Anfrage erhltlich.Diese Europische Norm besteht in drei offiziellen Fassungen (Deutsch, Englisch,Franzsisch). Eine Fassung in einer anderen Sprache, die

14、 von einem CENELEC-Mitglied in eigener Verantwortung durch bersetzung in seine Landessprachegemacht und dem Zentralsekretariat mitgeteilt worden ist, hat den gleichen Statuswie die offiziellen Fassungen.CENELEC-Mitglieder sind die nationalen elektrotechnischen Komitees von Belgien,Dnemark, Deutschla

15、nd, Finnland, Frankreich, Griechenland, Irland, Island, Italien,Luxemburg, Malta, den Niederlanden, Norwegen, sterreich, Portugal, Schweden,der Schweiz, der Slowakei, Spanien, der Tschechischen Republik, Ungarn und demVereinigten Knigreich.CENELECEuropisches Komitee fr Elektrotechnische NormungEurop

16、ean Committee for Electrotechnical StandardizationComit Europen de Normalisation ElectrotechniqueZentralsekretariat: rue de Stassart, 35 B-1050 Brssel 2003 CENELEC Alle Rechte der Verwertung, gleich in welcher Form und in welchem Verfahren,sind weltweit den Mitgliedern von CENELEC vorbehalten.Ref. N

17、r. EN 61300-3-16:2003 DNormCD Stand 2004-03EN 61300-3-16:20032VorwortDer Text des Schriftstcks 86B/1746/FDIS, zuknftige 2. Ausgabe von IEC 61300-3-16, ausgearbeitet vondem IEC SC 86B Fibre optic interconnecting devices and passive components des IEC TC 86 Fibre optic,wurde der IEC-CENELEC Parallelen

18、 Abstimmung unterworfen und von CENELEC am 2002-12-01 alsEN 61300-3-16 angenommen.Diese Europische Norm ersetzt EN 61300-3-16:1997.Nachstehende Daten wurden festgelegt: sptestes Datum, zu dem die EN auf nationaler Ebenedurch Verffentlichung einer identischen nationalenNorm oder durch Anerkennung ber

19、nommen werdenmuss (dop): 2003-10-01 sptestes Datum, zu dem nationale Normen, dieder EN entgegenstehen, zurckgezogen werdenmssen (dow): 2005-12-01AnerkennungsnotizDer Text der Internationalen Norm IEC 61300-3-16:2003 wurde von CENELEC ohne irgendeine Abnderungals Europische Norm angenommen.NormCD Sta

20、nd 2004-03EN 61300-3-16:20033InhaltSeiteVorwort. 21 Anwendungsbereich 42 Normative Verweisungen. 43 Allgemeine Beschreibung 44 Prfaufbau . 44.1 Verfahren 1 Zweidimensionale Oberflchenanalyse44.2 Verfahren 2 Zweidimensionale interferometrische Oberflchenanalyse 54.3 Verfahren 3 Dreidimensionale inter

21、ferometrische Oberflchenanalyse. 75 Verfahren . 85.1 Messbereich 85.2 Verfahren 1 Zweidimensionale Oberflchenanalyse95.3 Verfahren 2 Zweidimensionale interferometrische Oberflchenanalyse 115.4 Verfahren 3 Dreidimensionale interferometrische Oberflchenanalyse. 116 Festzulegende Einzelheiten 126.1 Ver

22、fahren 1 Zweidimensionale Oberflchenanalyse 126.2 Verfahren 2 Zweidimensionale interferometrische Oberflchenanalyse 126.3 Verfahren 3 Dreidimensionale interferometrische Oberflchenanalyse. 12Bild 1 Verrundungsradius der Endflche 4Bild 2 Prfaufbau fr die zweidimensionale Oberflchenanalyse. 5Bild 3 Pr

23、faufbau fr die zweidimensionale interferometrische Oberflchenanalyse. 6Bild 4 Prfaufbau fr die dreidimensionale interferometrische Oberflchenanalyse 7Bild 5 Stiftendflche und Messbereiche 9Bild 6 Messwerte zur Berechnung des Endflchenradius nach Verfahren 1 . 10Bild 7 Messwerte zur Berechnung des En

24、dflchenradius 11NormCD Stand 2004-03EN 61300-3-16:200341 AnwendungsbereichDieser Teil der IEC 61300 legt ein Verfahren zur Messung des Endflchenradius eines sphrisch poliertenStiftes und schrg angeschliffenen Stiftes oder eines schrg angeschliffenen sphrisch polierten Stiftes fest.2 Normative Verwei

25、sungenDie nachfolgenden zitierten Dokumente sind fr die Anwendung dieses Dokuments erforderlich. Bei datiertenVerweisungen gilt nur die in Bezug genommene Ausgabe. Bei undatierten Verweisungen gilt die letzte Aus-gabe des in Bezug genommenen Dokuments (einschlielich aller nderungen).Keine.3 Allgemei

26、ne BeschreibungDer Endflchenradius R eines Stiftes ist definiert als der Radius, der durch die Endflche gebildet wird, wobeidie Endflche kuppelfrmig ausgebildet ist. Es wird angenommen, dass die Endflche sphrisch ist, obwohlsie in der Praxis hufig asphrisch ist (siehe Bild 1).Bild 1 Verrundungsradiu

27、s der EndflcheEs werden drei Verfahren zur Messung des Endflchenradius beschrieben:a) Verfahren 1: Auswertung der Endflche mit einem zweidimensionalen Oberflchenanalysator;b) Verfahren 2: Auswertung der Endflche mit einem zweidimensionalen interferometrischen Oberflchen-analysator;c) Verfahren 3: Au

28、swertung der Endflche mit einem dreidimensionalen interferometrischen Oberflchen-analysator.(Verfahren 3 ist das Referenzverfahren.)4 Prfaufbau4.1 Verfahren 1 Zweidimensionale OberflchenanalyseDer Prfaufbau in Bild 2 besteht aus einem geeigneten Stifthalter, einem Positioniertisch und einem zwei-dim

29、ensionalen Oberflchenanalysator.4.1.1 StifthalterGeeignete Einrichtung, um den Stift in einer festen vertikalen Lage oder, im Falle von schrg angeschliffenenStiften, in einem Winkel zu halten.NormCD Stand 2004-03EN 61300-3-16:200354.1.2 PositioniertischTisch, auf dem der Stifthalter so befestigt wir

30、d, dass er in die geeignete Position bewegt werden kann. DerTisch muss starr genug sein, damit die Stiftendflche gemessen werden kann.Bild 2 Prfaufbau fr die zweidimensionale Oberflchenanalyse4.1.3 Zweidimensionaler OberflchenanalysatorDer zweidimensionale Oberflchenanalysator muss in der Lage sein,

31、 den Endflchenradius mit einer Genau-igkeit von besser als 0,1 mm zu messen. Der Oberflchenanalysator muss aus einem Profilmessgert,einer Profildatenverarbeitungseinheit und einem Monitor bestehen.Das Profilmessgert muss mit einem kegelfrmigen Abtaster ausgestattet sein, der so angeordnet ist, dassd

32、er Stift senkrecht zu seiner Lngsachse abgetastet wird.Die Profildatenverarbeitungseinheit muss in der Lage sein, die Profildaten so zu verarbeiten, dass der End-flchenradius ermittelt wird: Die Einheit berechnet aus den gemessenen Profildaten einen an die sphrischeStiftendflche angepassten idealen

33、Kreis und nimmt aus den gemessenen Profildaten durch Auswertung deridealen Kreisdaten eine Datenumwandlung vor.Der Monitor zeigt die gemessenen und berechneten Profile an.4.2 Verfahren 2 Zweidimensionale interferometrische OberflchenanalyseDer Prfaufbau ist in Bild 3 dargestellt. Er besteht aus eine

34、m geeigneten Stifthalter, einem Positioniertischund einem zweidimensionalen Interferometer.4.2.1 StifthalterGeeignete Einrichtung, um den Stift in einer festen vertikalen Lage (oder im Falle von schrg angeschliffenenStiften) in einem Winkel zu halten.NormCD Stand 2004-03EN 61300-3-16:200364.2.2 Posi

35、tioniertischTisch, auf dem der Stifthalter so befestigt wird, dass er in die geeignete Position bewegt werden kann. DerTisch muss starr genug sein, damit die Stiftendflche genau gemessen werden kann.4.2.3 Zweidimensionales InterferometerDas zweidimensionale Interferometer muss in der Lage sein, den

36、Endflchenradius mit einer Genauigkeit vonbesser als 0,1 mm zu messen. Das Interferometer muss aus einem Mikroskop mit monochromatischerLichtquelle, einer Bilddatenverarbeitungseinheit und einem Monitor bestehen.Das Mikroskop muss aus einem Interferenzmikroskop mit Videokamera bestehen, damit das Int

37、erferenzbildder Stiftoberflche an die Grafikkarte der Bilddatenverarbeitungseinheit bertragen werden kann.Die Bilddatenverarbeitungseinheit muss in der Lage sein, eine Zeile (oder eine Gruppe in einem Streifen engnebeneinander liegender Zeilen) des Videobildes, das ber einen Faserdurchmesser gefhrt

38、wird, zu verar-beiten. Die Einheit berechnet die charakteristischen Parameter (Frequenz und Phase) der Interferenzlicht-intensittskurve der untersuchten Zeile, wobei es die ermittelten Daten mit der theoretischen Funktion ver-knpft. Der Endflchenradius wird aus der Phasenverschiebung der Interferenz

39、ringe in dem Bereich desStiftes ermittelt. Das System muss in der Lage sein, Phasenverschiebungen von 2 zu erkennen.Der Monitor zeigt die Lichtintensittskurve, die passenden Funktionen und die Messergebnisse an.Bild 3 Prfaufbau fr die zweidimensionale interferometrische OberflchenanalyseNormCD Stand

40、 2004-03EN 61300-3-16:200374.3 Verfahren 3 Dreidimensionale interferometrische OberflchenanalyseDer Prfaufbau ist in Bild 4 dargestellt. Er besteht aus einem geeigneten Stifthalter, einem Positioniertischund einem dreidimensionalen Interferometer.Bild 4 Prfaufbau fr die dreidimensionale interferomet

41、rische Oberflchenanalyse4.3.1 StifthalterGeeignete Einrichtung, um den Stift in einer festen vertikalen Lage oder, im Falle von schrg angeschliffenenStiften, in einem Winkel zu halten.4.3.2 PositioniertischTisch, auf dem der Stifthalter so befestigt wird, dass er in die geeignete Position bewegt wer

42、den kann. DerTisch muss starr genug sein, damit die Stiftendflche gemessen werden kann.4.3.3 Dreidimensionales InterferometerDas dreidimensionale Interferometer muss in der Lage sein, den Endflchenradius mit einer Genauigkeit vonbesser als 0,1 mm zu messen. Das Interferometer muss aus einem Mikrosko

43、p, einer Oberflchendaten-verarbeitungseinheit und einem Monitor bestehen.NormCD Stand 2004-03EN 61300-3-16:20038Das Mikroskop muss aus einem Interferenzmikroskop, einer Verstelleinheit und einem Bildscanner bestehen.Das mit einem Objektiv versehene Interferenzmikroskop wird so angeordnet, dass seine

44、 Bewegung parallelzur Stiftachse verluft. Die Verstelleinheit verschiebt das Objektiv vertikal.Der Scanner setzt die Interferenzbildsignale in Positionsdaten um.Die Oberflchendatenverarbeitungseinheit muss in der Lage sein, die Positionsdaten so zu verarbeiten, dassder Endflchenradius gemessen wird:

45、 Die Einheit berechnet aus den gemessenen Oberflchendaten eine andie sphrische Stiftendflche angepasste ideale sphrische Oberflche und anschlieend aus den umgewan-delten Daten durch Auswahl der idealen sphrischen Oberflchendaten den Endflchenradius.Der Monitor zeigt die gemessenen und berechneten dr

46、eidimensionalen Oberflchenprofile an.5 Verfahren5.1 MessbereichFr die Messung mssen zwei Bereiche auf der Stiftendflche festgelegt werden (siehe Bild 5).a) Berhrungsbereich: der Berhrungsbereich ist Teil der Stiftendflche und durch einen Kreisbereich mitdem Durchmesser D, abzglich des Durchmessers E

47、 fr den Auswahlbereich, festgelegt;b) Auswahlbereich: der Auswahlbereich, der die Faserendflche und den Klebebereich umfasst, ist durcheinen Kreis mit dem Durchmesser E festgelegt.Die zwei Bereiche mssen um die Stiftachse zentriert sein. Bei Steckverbindern mit einem Fasernenn-durchmesser von 125 m

48、und einem Endflchenradius des sphrisch polierten Stiftes von etwa 5 mm bis25 mm sind die Werte fr die Durchmesser D und E wie folgt:D = 250 m;E = 140 m.NormCD Stand 2004-03EN 61300-3-16:20039Bild 5 Stiftendflche und Messbereiche5.2 Verfahren 1 Zweidimensionale Oberflchenanalyse5.2.1 Der Stift ist so im Stifthalter zu befestigen, dass der Bereich der Endflche durch den Stifthalterfestgehalten wird. Die Lnge der Kontaktflche des Stiftes in dem Halter muss mindestens zweimal demStiftdurchmesser sein.5.2.2 Die Tastspitze des Profilmessgertes ist so auf den Stift auszurichten, dass die untere

copyright@ 2008-2019 麦多课文库(www.mydoc123.com)网站版权所有
备案/许可证编号:苏ICP备17064731号-1