本标准规定了高加速寿命试验(Highly Accelerated LifeTest,HALT)的一般要求、试验准备和试验方法。本标准规定的高加速寿命试验,施加的试验应力包括高温步进、低温步进、快速温度变化循环、六自由度非高斯宽带随机振动等应力。本标准适用于电工电子产品及其电子部件、印刷电路板组件等。对于大型整机,宜优先考虑在前端的装配级别(如印制电路板组件、子模块)上进行试验。本标准还适用于电工电子产品的研发、设计和(或)试产阶段,也可用于批量生产阶段。
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