版选修2_1.doc

上传人:registerpick115 文档编号:1119789 上传时间:2019-05-02 格式:DOC 页数:4 大小:2.31MB
下载 相关 举报
版选修2_1.doc_第1页
第1页 / 共4页
版选修2_1.doc_第2页
第2页 / 共4页
版选修2_1.doc_第3页
第3页 / 共4页
版选修2_1.doc_第4页
第4页 / 共4页
亲,该文档总共4页,全部预览完了,如果喜欢就下载吧!
资源描述

1、1课时跟踪训练(四) 含逻辑联结词的命题的真假判断1若 p 是真命题, q 是假命题,则下列说法错误的是_ p q 是真命题 p q 是假命题 綈 p 是真命题 綈 q 是真命题2已知命题 p:若 a1,则 axlogax 恒成立;命题 q:在等差数列 an中,m n p q 是 am an ap aq成立的充分不必要条件( m, n, p, qN *),则下面为真命题的是_(綈 p)(綈 q);(綈 p)(綈 q); p(綈 q); p q.3已知命题 p:不等式 ax b0 的解集为Error!,命题 q:关于 x 的不等式( x a)(x b)0),命题 q:实数 x 满足Error!(

2、1)若 a1,且 p q 为真,求实数 x 的取值范围;(2)若 q綈 p,求实数 a 的取值范围28命题 p:关于 x 的不等式 x2( a1) x a20 的解集为,命题 q:函数y(2 a2 a)x为增函数,分别求出符合下列条件的实数 a 的取值范围(1)p q 为真命题;(2)“p q”为真, “p q”为假答 案1解析: p 是真命题,则綈 p 是假命题 q 是假命题,则綈 q 是真命题故 p q 是假命题, p q 是真命题答案:2解析:当 a1.1, x2 时,ax1.1 21.21,log axlog 1.12log1.11.212,此时, ax0,x24 ax3 a20( x

3、 a)(x3 a)0 x a 或 x3 a,所以綈 p: x a 或 x3 a,设 A x|x a 或 x3 a,由(1)知 q:2 x3,设 B x|2x3由于 q綈 p,所以 B A,所以 3 a 或 3a2,即 0a 或 a3,23所以实数 a 的取值范围是 3,)(0,238解:命题 p 为真时, ( a1) 24 a20,即 a 或 a1.13命题 q 为真时,2 a2 a1,即 a1 或 a .12(1)当 p q 为真时,即 p、 q 至少有一个是真命题,即上面两个范围的并集为;a|a 12或 a 13“ p q”为真时, a 的取值范围是Error!.(2)当“ p q”为真, “p q”为假,即 p, q 有且只有一个是真命题时,有两种情况:4当 p 真 q 假时, a1;当 p 假 q 真时,1 a .13 12“ p q”为真, “p q”为假时, a 的取值范围是Error!.

展开阅读全文
相关资源
猜你喜欢
  • BS EN 62047-26-2016 Semiconductor devices Micro-electromechanical devices Description and measurement methods for micro trench and needle structures《半导体器件 微型机电装置 微槽和针孔结构的描述和测量方法》.pdf BS EN 62047-26-2016 Semiconductor devices Micro-electromechanical devices Description and measurement methods for micro trench and needle structures《半导体器件 微型机电装置 微槽和针孔结构的描述和测量方法》.pdf
  • BS EN 62047-3-2006 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Thin film standard test piece for tensile testing《半导体器件 微机电设备 拉伸测试的薄膜标准试样》.pdf BS EN 62047-3-2006 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Thin film standard test piece for tensile testing《半导体器件 微机电设备 拉伸测试的薄膜标准试样》.pdf
  • BS EN 62047-4-2010 Semiconductor devices Micro-electromechanical devices Generic specification for MEMS《半导体装置 微电机装置 微电子机械系统(MEMS)一般规格》.pdf BS EN 62047-4-2010 Semiconductor devices Micro-electromechanical devices Generic specification for MEMS《半导体装置 微电机装置 微电子机械系统(MEMS)一般规格》.pdf
  • BS EN 62047-5-2011 Semiconductor devices Micro-electromechanical devices RF MEMS switches《半导体装置 微电子机械装置 射频微机电转换器》.pdf BS EN 62047-5-2011 Semiconductor devices Micro-electromechanical devices RF MEMS switches《半导体装置 微电子机械装置 射频微机电转换器》.pdf
  • BS EN 62047-6-2010 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Axial fatigue testing methods of thin film materials《半导体装置 微机电装置 薄膜材料的轴向疲劳试验方法》.pdf BS EN 62047-6-2010 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Axial fatigue testing methods of thin film materials《半导体装置 微机电装置 薄膜材料的轴向疲劳试验方法》.pdf
  • BS EN 62047-7-2011 Semiconductor devices Micro-electromechanical devices MEMS BAW filter and duplexer for radio frequency control and selection《半导体装置 微电子机械装置 射频控制和选择所用的微电子机械系统(MEMS.pdf BS EN 62047-7-2011 Semiconductor devices Micro-electromechanical devices MEMS BAW filter and duplexer for radio frequency control and selection《半导体装置 微电子机械装置 射频控制和选择所用的微电子机械系统(MEMS.pdf
  • BS EN 62047-8-2011 Semiconductor devices Micro-electromechanical devices Strip bending test method for tensile property measurement of thin films《半导体装置 微电机装置 薄膜拉伸性能测量用带材弯曲试验方法》.pdf BS EN 62047-8-2011 Semiconductor devices Micro-electromechanical devices Strip bending test method for tensile property measurement of thin films《半导体装置 微电机装置 薄膜拉伸性能测量用带材弯曲试验方法》.pdf
  • BS EN 62047-9-2011 Semiconductor devices Micro-electromechanical devices Wafer to wafer bonding strength measurement for MEMS《半导体装置 微电子机械装置 MEMS的晶圆与晶圆结合强度测量》.pdf BS EN 62047-9-2011 Semiconductor devices Micro-electromechanical devices Wafer to wafer bonding strength measurement for MEMS《半导体装置 微电子机械装置 MEMS的晶圆与晶圆结合强度测量》.pdf
  • BS EN 62052-11-2003 Electricity metering equipment (AC) - General requirements tests and test conditions - Metering equipment《电量计量设备(AC) 一般要求、试验和试验条件 计量设备》.pdf BS EN 62052-11-2003 Electricity metering equipment (AC) - General requirements tests and test conditions - Metering equipment《电量计量设备(AC) 一般要求、试验和试验条件 计量设备》.pdf
  • 相关搜索

    当前位置:首页 > 考试资料 > 中学考试

    copyright@ 2008-2019 麦多课文库(www.mydoc123.com)网站版权所有
    备案/许可证编号:苏ICP备17064731号-1