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GB T 4937.1-2006 半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分：总则.pdf

上传人：王申宇 文档编号：112226 上传时间：2019-07-07 格式：PDF 页数：7 大小：229.21KB
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资源描述

本部分适用于半导体器件（分立器件和集成电路）并为GB/T 4937系列的其他部分建立通用准则。当本部分与相应的详细规范有矛盾时，以详细规范为准。

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