1、NORMEINTERNATIONALECEIIECINTERNATIONALSTANDARD60325Troisime ditionThird edition2002-06Instrumentation pour la radioprotection Contaminamtres et moniteurs decontamination alpha, bta et alpha/bta(nergie des bta 60 keV)Radiation protection instrumentation Alpha, beta and alpha/beta (beta energy60 keV)
2、contamination meters and monitorsNumro de rfrenceReference numberCEI/IEC 60325:2002Numrotation des publicationsDepuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEIsont numrotes partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1devient la CEI 60034-1.Editions consolidesLes versions consolides de certaines publica
3、tions de laCEI incorporant les amendements sont disponibles. Parexemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquentrespectivement la publication de base, la publication debase incorporant lamendement 1, et la publication debase incorporant les amendements 1 et 2.Informations supplmentairessur les
4、publications de la CEILe contenu technique des publications de la CEI estconstamment revu par la CEI afin quil reflte ltatactuel de la technique. Des renseignements relatifs cette publication, y compris sa validit, sont dispo-nibles dans le Catalogue des publications de la CEI(voir ci-dessous) en pl
5、us des nouvelles ditions,amendements et corrigenda. Des informations sur lessujets ltude et lavancement des travaux entreprispar le comit dtudes qui a labor cette publication,ainsi que la liste des publications parues, sontgalement disponibles par lintermdiaire de: Site web de la CEI (www.iec.ch) Ca
6、talogue des publications de la CEILe catalogue en ligne sur le site web de la CEI(www.iec.ch/catlg-f.htm) vous permet de faire desrecherches en utilisant de nombreux critres,comprenant des recherches textuelles, par comitdtudes ou date de publication. Des informationsen ligne sont galement disponibl
7、es sur lesnouvelles publications, les publications rempla-ces ou retires, ainsi que sur les corrigenda. IEC Just PublishedCe rsum des dernires publications parues(www.iec.ch/JP.htm) est aussi disponible parcourrier lectronique. Veuillez prendre contactavec le Service client (voir ci-dessous) pour pl
8、usdinformations. Service clientsSi vous avez des questions au sujet de cettepublication ou avez besoin de renseignementssupplmentaires, prenez contact avec le Serviceclients:Email: custserviec.chTl: +41 22 919 02 11Fax: +41 22 919 03 00Publication numberingAs from 1 January 1997 all IEC publications
9、 areissued with a designation in the 60000 series. Forexample, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1.Consolidated editionsThe IEC is now publishing consolidated versions of itspublications. For example, edition numbers 1.0, 1.1and 1.2 refer, respectively, to the base publication,the base public
10、ation incorporating amendment 1 andthe base publication incorporating amendments 1and 2.Further information on IEC publicationsThe technical content of IEC publications is keptunder constant review by the IEC, thus ensuring thatthe content reflects current technology. Informationrelating to this pub
11、lication, including its validity, isavailable in the IEC Catalogue of publications(see below) in addition to new editions, amendmentsand corrigenda. Information on the subjects underconsideration and work in progress undertaken by thetechnical committee which has prepared thispublication, as well as
12、 the list of publications issued,is also available from the following: IEC Web Site (www.iec.ch) Catalogue of IEC publicationsThe on-line catalogue on the IEC web site(www.iec.ch/catlg-e.htm) enables you to searchby a variety of criteria including text searches,technical committees and date of publi
13、cation. On-line information is also available on recentlyissued publications, withdrawn and replacedpublications, as well as corrigenda. IEC Just PublishedThis summary of recently issued publications(www.iec.ch/JP.htm) is also available by email.Please contact the Customer Service Centre (seebelow)
14、for further information. Customer Service CentreIf you have any questions regarding thispublication or need further assistance, pleasecontact the Customer Service Centre:Email: custserviec.chTel: +41 22 919 02 11Fax: +41 22 919 03 00.NORMEINTERNATIONALECEIIECINTERNATIONALSTANDARD60325Troisime dition
15、Third edition2002-06Instrumentation pour la radioprotection Contaminamtres et moniteurs decontamination alpha, bta et alpha/bta(nergie des bta 60 keV)Radiation protection instrumentation Alpha, beta and alpha/beta (beta energy60 keV) contamination meters and monitorsPour prix, voir catalogue en vigu
16、eurFor price, see current catalogue IEC 2002 Droits de reproduction rservs Copyright - all rights reservedAucune partie de cette publication ne peut tre reproduite niutilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd,lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et lesmicrofilms, sans lacc
17、ord crit de lditeur.No part of this publication may be reproduced or utilized in anyform or by any means, electronic or mechanical, includingphotocopying and microfilm, without permission in writing fromthe publisher.International Electrotechnical Commission, 3, rue de Varemb, PO Box 131, CH-1211 Ge
18、neva 20, SwitzerlandTelephone: +41 22 919 02 11 Telefax: +41 22 919 03 00 E-mail: inmailiec.ch Web: www.iec.chCODE PRIXPRICE CODE WCommission Electrotechnique InternationaleInternational Electrotechnical Commission 2 60325 CEI:2002SOMMAIREAVANT-PROPOS61 Domaine dapplication et objet82 Rfrences norma
19、tives.103 Termes et dfinitions 124 Units.185 Classification des ensembles186 Caractristiques gnrales .206.1 Appareils de dtection.206.2 Aptitude la dcontamination .206.3 Etanchit.206.4 Seuil dalarme .206.5 Affichage des appareils .226.6 Etendue de mesure .226.7 Afficheur246.8 Chocs mcaniques 246.9 M
20、ise en service et oprations de maintenance de llectronique247 Procdures gnrales dessai.247.1 Essais .247.2 Gnralits267.3 Bruit de fond7.4 Fluctuations statistiques 288 Caractristiques lectriques .288.1 Fluctuations statistiques 288.2 Temps de rponse.308.3 Interdpendance entre le temps de rponse et l
21、es fluctuations statistiques .328.4 Drive du seuil dalarme328.5 Essai de temps de prchauffage (pour ensembles portables) 348.6 Rsolution en temps368.7 Protection contre les surcharges .388.8 Palier de fonctionnement (pour ensembles de dtection seulement)388.9 Seuil (pour ensembles de dtection seulem
22、ent).409 Caractristiques sous rayonnement409.1 Gnralits409.2 Rendement de lappareil409.3 Variation de la rponse la surface du dtecteur429.4 Erreur relative intrinsque .449.5 Variation de la rponse en taux dmission surfacique avec lnergie durayonnement .469.6 Rponses dautres rayonnements ionisants489
23、.7 Taux de comptage du bruit de fond .5210 Influence de lenvironnement 5410.1 Temprature ambiante 5410.2 Humidit relative .5610.3 Alimentation lectrique 5610.4 Compatibilit lectromagntique6260325 IEC:2002 3 CONTENTSFOREWORD.71 Scope and object92 Normative references .113 Terms and definitions .134 U
24、nits.195 Classification of assemblies196 General characteristics.216.1 Detection assemblies 216.2 Ease of decontamination .216.3 Sealing216.4 Alarm threshold .216.5 Instrument indication .236.6 Effective range of measurement 236.7 Display256.8 Mechanical shocks 256.9 Setting up and maintenance facil
25、ities for electronic equipment 257 General test procedures .257.1 Tests.257.2 General .277.3 Background .297.4 Statistical fluctuations .298 Electrical characteristics.298.1 Statistical fluctuations .298.2 Response time 318.3 Interrelationship between response time and statistical fluctuations 338.4
26、 Alarm threshold drift 338.5 Warm-up time test (for portable assemblies)358.6 Resolution time .378.7 Overload protection.398.8 Operating plateau (for detection assemblies only) .398.9 Threshold (for detection assemblies only) .419 Radiation characteristics 419.1 General .419.2 Instrument efficiency
27、.419.3 Variation of response over the surface of the detector.439.4 Relative intrinsic error .459.5 Variation of surface emission rate response with radiation energy.479.6 Response to other ionizing radiations499.7 Background count rate 5310 Environmental influences5510.1 Ambient temperature .5510.2
28、 Relative humidity.5710.3 Power supply.5710.4 Electromagnetic compatibility 63 4 60325 CEI:200211 Stockage 6611.1 Cas gnral.6611.2 Choc mcanique6612 Documentation .6612.1 Certificat didentification 66Tableau 1 Conditions de rfrence et conditions normales dessai.70Tableau 2 Essais effectus dans les c
29、onditions normales dessai 72Tableau 3 Essais effectus avec variation des grandeurs dinfluence.7460325 IEC:2002 5 11 Storage 6711.1 General .6711.2 Mechanical shock6712 Documentation .6712.1 Identification certificate .67Table 1 Reference conditions and standard test conditions71Table 2 Test performe
30、d under standard test conditions 73Table 3 Test performed with variation of influence quantities .75 6 60325 CEI:2002COMMISSION ELECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE_INSTRUMENTATION POUR LA RADIOPROTECTION CONTAMINAMTRES ET MONITEURS DE CONTAMINATIONALPHA, BTA ET ALPHA/BTA (NERGIE DES BTA 60 keV)AVANT-PRO
31、POS1) La CEI (Commission lectrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisationcompose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI apour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans
32、 lesdomaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI, entre autres activits, publie des Normesinternationales. Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit nationalintress par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouverneme
33、ntales et nongouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CEI collabore troitementavec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deuxorganisations.2) Les dcisions ou accords officiels de la CEI concernant le
34、s questions techniques reprsentent, dans la mesuredu possible, un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux intressssont reprsents dans chaque comit dtudes.3) Les documents produits se prsentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publiscomm
35、e normes, spcifications techniques, rapports techniques ou guides et agrs comme tels par les Comitsnationaux.4) Dans le but dencourager lunification internationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent appliquer defaon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la
36、 CEI dans leurs normesnationales et rgionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou rgionalecorrespondante doit tre indique en termes clairs dans cette dernire.5) La CEI na fix aucune procdure concernant le marquage comme indication dapprobation et sa responsabilitnest
37、pas engage quand un matriel est dclar conforme lune de ses normes.6) Lattention est attire sur le fait que certains des lments de la prsente Norme internationale peuvent fairelobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait tre tenue pourresponsable de ne pas avoi
38、r identifi de tels droits de proprit et de ne pas avoir signal leur existence.La Norme internationale CEI 60325 a t prpare par le sous-comit 45B: Instrumentationpour la radioprotection, du comit dtudes 45 de la CEI: Instrumentation nuclaire.Cette troisime dition annule et remplace la deuxime dition,
39、 parue en 1981, dont elleconstitue une rvision technique.Le texte de cette norme est issu des documents suivants:FDIS Rapport de vote45B/354/FDIS 45B/363/RVDLe rapport de vote indiqu dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayantabouti lapprobation de cette norme.Cette publicati
40、on a t rdige selon les directives ISO/CEI, Partie 3.Le comit a dcid que le contenu de cette publication restait valable jusquen 2007. A cettedate, selon la dcision du comit, la publication sera: reconfirme;retire; remplace par une dition rvise, ou amende.60325 IEC:2002 7 INTERNATIONAL ELECTROTECHNIC
41、AL COMMISSION_RADIATION PROTECTION INSTRUMENTATION ALPHA, BETA AND ALPHA/BETA (BETA ENERGY 60 keV)CONTAMINATION METERS AND MONITORSFOREWORD1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprisingall national electrotechnical committees (IEC Na
42、tional Committees). The object of the IEC is to promoteinternational co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. Tothis end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation isentrusted to technical
43、 committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with mayparticipate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaisingwith the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the InternationalOrganizat
44、ion for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between thetwo organizations.2) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters express, as nearly as possible, aninternational consensus of opinion on the relevant subjects since each technical co
45、mmittee has representationfrom all interested National Committees.3) The documents produced have the form of recommendations for international use and are published in the formof standards, technical specifications, technical reports or guides and they are accepted by the NationalCommittees in that
46、sense.4) In order to promote international unification, IEC National Committees undertake to apply IEC InternationalStandards transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Anydivergence between the IEC Standard and the corresponding national or regional stand
47、ard shall be clearlyindicated in the latter.5) The IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for anyequipment declared to be in conformity with one of its standards.6) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this Internat
48、ional Standard may be the subjectof patent rights. The IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.International Standard IEC 60325 has been prepared by subcommittee 45B: Radiationprotection instrumentation, of IEC technical committee 45: Nuclear instrumentation.This third edition cancels and replaces the second edition published in 1981. This third editionconstitutes a technical revision.The text of this standard is based on the following documents:FDIS
