1、NORME INTERNATIONALE INTERNATIONAL STANDARD CE1 IEC 603774 Premire dition First edition 1973-01 Mthodes recommandes pour la dtermination des proprits dilectriques de matriaux isolants aux frquences suprieures 300 MHz Premire partie: Gnralits Recommended methods for the determination of the dielectri
2、c properties of insulating materials at frequencies above 300 MHz Part 1 : General Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 60377-1 1973 Numros des publications Depuis le ler janvier 1997, les publications de la CE1 sont numrotes partir de 60000. Publications consolides Les versions consolides de c
3、ertaines publications de la CE1 incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Validit de la
4、 presente publication Le contenu technique des publications de la CE1 est constamment revu par la CE1 afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs la date de reconfir- mation de la publication sont disponibles dans le Catalogue de la CEI. Les renseignements relatifs des
5、questions ltude et des travaux en cours entrepris par le comit technique qui a tabli cette publication, ainsi que la liste des publications tablies, se trouvent dans les documents ci- dessous: Site web de la CEI* Catalogue des publications de la CE1 Publi annuellement et mis jour rgulirement (Catalo
6、gue en ligne)* Bulletin de la CE1 Disponible la fois au site web de la CEI* et comme priodique imprim Terminologie, symboles graphiques et littraux En ce qui concerne la terminologie gnrale, le lecteur se reportera la CE1 60050: Vocabulaire Electro- technique International (VEI). Pour les symboles g
7、raphiques, les symboles littraux et les signes dusage gnral approuvs par la CEI, le lecteur consultera la CE1 60027: Symboles littraux 2 utiliser en lectrotechnique, la CE1 6041 7: Symboles graphiques utilisables sur le matriel. Index, relev et compilation des feuilles individuelles, et la CE1 60617
8、 Symboles graphiques pour schmas. * Voir adresse site web, sur la page de titre. Numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. Consolidated publications Consolidated versions of some IEC publications including amendments are available. For
9、example, edition numbers 1 .O, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incor- porating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Validity of this publication The technical content of IEC publications is kept under constant review by
10、 the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to the date of the reconfirmation of the publication is available in the IEC catalogue. Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prep
11、ared this publication, as well as the list of publications issued, is to be found at the following IEC sources: IEC web site* Catalogue of IEC publications Published yearly with regular updates (On-line catalogue)* Available both at the IEC web site* and as a printed periodical IEC Bulletin Terminol
12、ogy, graphical and letter symbols For general terminology, readers are referred to I EC 60050: International Electrotechnical Vocabulary (IEV). For graphical symbols, and letter symbols and signs approved by the IEC for general use, readers are referred to publications IEC 60027: Letter symbols to b
13、e used in electrical technology, IEC 60417: Graphical symbols for use on equipment. Index, survey and compilation of the single sheets and IEC 60617: Graphical symbols for diagrams. * See web site address on title page. NORME INTERNATIONALE INTERNATIONAL STANDARD CE1 IEC 60377-1 Premire dition First
14、 edition 1973-01 Mthodes recommandes pour la dtermination des proprits dilectriques de matriaux isolants aux frquences suprieures 300 MHz Premire partie: Gnral i ts Recommended methods for the determination of the dielectric properties of insulating materials at frequencies above 300 MHz Part I: Gen
15、eral O IEC 1973 Droits de reproduction rservs - Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni No part of this publication may be reproduced or utilized in utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun any form or by any means, electronic or mechan
16、ical, procd, lectronique ou mcanique, y compris la photo- including photocopying and microfilm. without permission in copie et les microfilms, sans laccord crit de Iditeur. writing from the publisher. International Electrotechnical Commission Telefax: +41 22 919 0300 3, rue de Varemb Geneva, Switzer
17、land IEC web site htip: /www.iec.ch e-mail: inmailiec.ch M CODE PRIX PRICE CODE Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue Commission Electrotechnique Internationale International Electrotechnical Commission MewnyHaponHaR KTOTXHWCHFI HOMHCCHR O -2- SOMMAIRE PRAMBULE Pages
18、4 . PREFACE 4 INTRODUCTION . 6 Articles 1 . Objet et domaine dapplication 6 2 . Dfinitions . 8 8 2.2 permittivit relative E. 10 2.3 Indice de pertes E”, 10 2.4 Facteur de dissipation dilectrique tg 6 . 10 . 2.1 Permittivit relative complexe E. * 3 . Facteurs influenant les proprits dilectriques de m
19、atriaux isolants . 10 3.1 Frquence . 12 3.2 Temprature 12 3.3 Humidit et autres impurets . 12 3.4 Structure physique et chimique 12 3.5 Intensit de champ alternatif . 14 4 . Description des mthodes de mesure 14 4.1 Principe des mthodes de mesure 14 4.2 Dispositif dessai . 16 4.3 Choix de la mthode d
20、essai 18 5 . Mode opratoire 22 5.1 Prparation des prouvettes 22 5.2 Conditionnement 22 5.3Mesures 22 6 . Procs-verbal dessai . 22 -3- CONTENTS Page FOREWORD 5 PREFACE 5 . . 7 INTRODUCTION Clause 7 1 . Object and scope . 9 2 . Definitions 11 11 2.1 Relative complex permittivity E* . 9 2.2 Relative pe
21、rmittivity E, 2.3 Loss index E“, 2.4 Dielectric dissipation factor tan 6 . 11 3 . Factors influencing dielectric properties of dielectric materials . 3.1 Frequency . 13 3.2 Temperature 13 3.3 Moisture and other impurities . 3.4 Physical and chemical structure 13 3.5 A.C. - Field strength 15 4 . Surv
22、ey on measuring methods 15 4.1 Principles of measuring methods 4.2 Test arrangement 17 4.3 Choice of the test method . 11 13 15 19 5 . Testing procedure 23 5.1 Preparation of specimens . 23 5.2 Conditioning 23 5.3 Measurement 23 6 . Test report . 23 -4- COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE METH
23、ODES RECOMMANDES POUR LA DTERMINATION DES PROPRITS DILECTRIQUES DE MATRIAUX ISOLANTS AUX FRQUENCES SUPRIEURES 300 MHz Premire partie : Gnralits PRAMBULE i) Les dcisions ou accords officiels de la CE1 en ce qui concerne les questions techniques, prpars par des Comits dEtudes o sont reprsents tous les
24、 Comits nationaux sintessant ces questions, expriment dans la plus grande mesure possible un accord international sur les sujets examins. 2) Ces dcisions constituent des recommandations internationales et sont agres comme telles par les Comits nationaux. 3) Dans le but dencourager lunification inter
25、nationale, la CE1 exprime le vu que tous les Comits nationaux adoptent dans leurs rgles nationales le texte de la recommandation de la CEI, dans la mesure o les conditions nationales le permettent. Toute divergence entre la recommandation de la CE1 et la rgle nationale correspondante doit, dans la m
26、esure du possible, tre indique en termes clairs dans cette dernire. PRFACE La prsente recommandation a t tablie par le Sous-Comit 15A: Essais de courte dure, du Comit dEtudes NO 15 de ia CEI: Matriaux isolants. Des projets furent discuts lors des runions tenues Tel-Aviv en 1966, Varsovie en 1967 et
27、Washing- ton en 1970. A la suite de cette dernire runion, un projet dfinitif, document lSA(Bureau Central)lG, fut soumis lapprobation des Comits nationaux suivant la Rgle des Six Mois en mai 1971. Les pays suivants se sont prononcs explicitement en faveur de la publication: Afrique du Sud Isral Alle
28、magne Japon Australie Pays-Bas Belgique Portugal Canada Roumanie Core (Rpublique Royaume-Uni dmocratique Sude populaire de) Suisse Danemark Tchcoslovaquie Finlande Turquie France Union des Rpubliques Iran Socialistes Sovitiques -5- INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION RECOMMENDED METHODS FOR TH
29、E DETERMINATION OF THE DIELECTRIC PROPERTIES OF INSULATING MATERIALS AT FREQUENCIES ABOVE 300 MHz Part 1: General FOREWORD 1) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters, prepared by Technical Committees on which all the National Committees having a special interest therein ar
30、e represented, express, as nearly as possible, an international consensus of opinion on the subjects dealt with. 2) They have the form of recommendations for international use and they are accepted by the National Committees in that 3) In order to promote international unification, the IEC expresses
31、 the wish that all National Committees should adopt the text of the IEC recommendation for their national rules in so far as national conditions will permit. Any divergence between the IEC recommendations and the corresponding national rules should, as far as possible, be clearly indicated in the la
32、tter. sense. PREFACE This recommendation has been prepared by Sub-committee 15A, Short-time Tests, of IEC Technical Committee No. 15, Insulating Materials. Drafts were discussed at the meetings held in Tel Aviv in 1966, in Warsaw in 1967 and in Washington in 1970. As a result of this latter meeting,
33、 a final draft, document lSA(Centra1 Office)l6, was submitted to the National Committees for approval under the Six Months Rule in May 1971. The following countries voted explicitly in favour of publication : Australia Belgium Canada Czechoslovakia Denmark Finland France Germany Iran Israel Japan Ko
34、rea (Democratic Peoples Netherlands Portugal Romania South Africa Sweden Switzerland Turkey Union of Soviet Socialist Republics United Kingdom Republic of) -6- MTHODES RECOMMANDES POUR LA DTERMINATION DES PROPRITS DILECTRIQUES DE MATRIAUX ISOLANTS AUX FRQUENCES SUPRIEURES 300 MHz Premire partie : Gn
35、ralits INTRODUCTION Les mthodes de dtermination des caractristiques dilectriques de matriaux isolants peuvent tre classes, en gros, en deux catgories principales : 1) Les mthodes paramtres localiss, qui peuvent tre utilises lorsque la longueur donde du champ lectromagntique appliqu est grande par ra
36、pport aux dimensions de lprouvette. Ces mthodes relativement simples sont traites dans la Publication 250 de la CEI: Mthodes recom- mandes pour la dtermination de la permittivit et du facteur de dissipation des isolants lec- triques aux frquences industrielles, audibles et radiolectriques (ondes mtr
37、iques comprises), et sappliquent dans la gamme de frquences allant des frquences industrielles jusqu environ 300 MHz. 2) Les mthodes paramtres rpartis, qui doivent tre utilises lorsque les variations spatiales du champ lectromagntique dans lprouvette ne peuvent plus tre ngliges. La prsente recomman-
38、 dation dcrit des mthodes qui tiennent compte de la propagation des ondes et qui couvrent la gamme de frquences de 300 MHz aux frquences du domaine visible. Dans une gamme de frquences troite encadrant la frquence ( critique D denviron 300 MHz (reprsente en hachur, figure 1, page 24), on peut utilis
39、er soit lune, soit lautre des mthodes principales, le choix dpendant surtout des dimensions et de la permittivit de lprouvette. 1. Objet et domaine dapplication La prsente recommandation sapplique aux mthodes de dtermination de la permittivit relative et du facteur de dissipation dilectrique ainsi q
40、ue des grandeurs qui sy rapportent comme lindice de pertes des matriaux dilectriques aux hyperfrquences (cest-dire depuis environ 300 MHz jusquaux frquences du domaine visible). A la diffrence des mthodes de mesure utilises aux frquences plus basses (voir Publication 250 de la CEI), les mthodes de m
41、esure traites dans la prsente recommandation sont caractrises par le fait que les dimensions de lprouvette de mesure et/ou du dispositif de mesure utiliser sont plus grandes ou du mme ordre de grandeur que la longueur donde du champ lectro- magntique la frquence de mesure. Thoriquement, les mthodes
42、dcrites ne sappliquent quaux matriaux dessai ayant une permabilit absolue gale celle du vide. Gnralement, on obtient une bonne approximation dans le cas des matriaux diamagntiques ou paramagntiques (couramment appels matriaux non magntiques) tandis que dans le cas des matriaux ferromagntiques et fer
43、rimagntiques, on doit adopter des modes opratoires particuliers pour sparer les caractristiques dilectriques des caractristiques magntiques. Toutefois, ces dernires mthodes sont en dehors du domaine dapplication de la prsente recommandation. Note sur les proprits magntiques. - Les prouvettes qui prs
44、entent des proprits magntiques peuvent tre essayes conformment a la prsente recommandation si la permabilit est porte saturation, au moyen dun champ magntique statique dintensit suffisante, en courant continu, -7- RECOMMENDED METHODS FOR THE DETERMINATION OF THE DIELECTRIC PROPERTIES OF INSULATING M
45、ATERIALS AT FREQUENCIES ABOVE 300 MHz Part 1: General INTRODUCTION Methods for the determination of the dielectric properties of insulating materials may be divided roughly into two main groups: 1) Lumped-parameter methods can be used when the wavelength of the applied electromagnetic field is large
46、 compared with the dimensions of the specimen. These relatively simple methods are dealt with in IEC Publication 250, Recommended Methods for the Determination of the Permit- tivity and Dielectric Dissipation Factor of Electrical Insulating Materials at Power, Audio and Radio Frequencies Including M
47、etre Wavelengths, covering the frequency range from power frequencies up to about 300 MHz. 2) Distributed parameter methods shall be used when the spatial variation of the electromagnetic field over the specimen can no longer be ignored. Methods taking account of wave propagation are described in th
48、is recommendation, covering the frequency range from about 300 MHz up to optical frequencies. In a narrow range of frequencies around the “ critical “ frequency of about 300 MHz (which is shown shadowed in Figure 1, page 25), either one of the main methods may be used, depending mainly on the dimensions and permittivity of the specimen. 1. Object and scope This recommendation applies to the procedures for the determination of relative permittivity and dielectric dissipation factor and of q
