1、NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 60512-1-1 Premire dition First edition 2002-02 Connecteurs pour quipements lectroniques Essais et mesures Partie 1-1: Examen gnral Essai 1a: Examen visuel Connectors for electronic equipment Tests and measurements Part 1-1: General examination Test
2、 1a: Visual examination Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 60512-1-1:2002Numrotation des publications Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numrotes partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 devient la CEI 60034-1. Editions consolides Les versions consolides de certaines publi
3、cations de la CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros dditi on 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Informations supplmentaire
4、s sur les publications de la CEI Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs cette publication, y compris sa validit, sont dispo- nibles dans le Catalogue des publications de la CEI (voir ci
5、-dessous) en plus des nouvelles ditions, amendements et corrigenda. Des informations sur les sujets ltude et lavancement des travaux entrepris par le comit dtudes qui a labor cette publication, ainsi que la liste des publications parues, sont galement disponibles par lintermdiaire de: Site web de la
6、 CEI (www.iec.ch) Catalogue des publications de la CEI Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI (www.iec.ch/catlg-f.htm) vous permet de faire des recherches en utilisant de nombreux critres, comprenant des recherches textuelles, par comit dtudes ou date de publication. Des informations en lig
7、ne sont galement disponibles sur les nouvelles publications, les publications rempla- ces ou retires, ainsi que sur les corrigenda. IEC Just Published Ce rsum des dernires publications parues (www.iec.ch/JP.htm) est aussi disponible par courrier lectronique. Veuillez prendre contact avec le Service
8、client (voir ci-dessous) pour plus dinformations. Service clients Si vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de renseignements supplmentaires, prenez contact avec le Service clients: Email: custserviec.ch Tl: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 Publication numbering A
9、s from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. For example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1. Consolidated editions The IEC is now publishing consolidated versions of its publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respe
10、ctively, to the base publication, the base publication incorporating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Further information on IEC publications The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content refle
11、cts current technology. Information relating to this publication, including its validity, is available in the IEC Catalogue of publications (see below) in addition to new editions, amendments and corrigenda. Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the techn
12、ical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is also available from the following: IEC Web Site (www.iec.ch) Catalogue of IEC publications The on-line catalogue on the IEC web site (www.iec.ch/catlg-e.htm) enables you to search by a variety of crite
13、ria including text searches, technical committees and date of publication. On- line information is also available on recently issued publications, withdrawn and replaced publications, as well as corrigenda. IEC Just Published This summary of recently issued publications (www.iec.ch/JP.htm) is also a
14、vailable by email. Please contact the Customer Service Centre (see below) for further information. Customer Service Centre If you have any questions regarding this publication or need further assistance, please contact the Customer Service Centre: Email: custserviec.ch Tel: +41 22 919 02 11 Fax: +41
15、 22 919 03 00 .NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 60512-1-1 Premire dition First edition 2002-02 Connecteurs pour quipements lectroniques Essais et mesures Partie 1-1: Examen gnral Essai 1a: Examen visuel Connectors for electronic equipment Tests and measurements Part 1-1: General e
16、xamination Test 1a: Visual examination Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue IEC 2002 Droits de reproduction rservs Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd,
17、lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher. I
18、nternational Electrotechnical Commission, 3, rue de Varemb, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, Switzerland Telephone: +41 22 919 02 11 Telefax: +41 22 919 03 00 E-mail: inmailiec.ch Web: www.iec.ch CODE PRIX PRICE CODE D Commission Electrotechnique Internationale International Electrotechnical Commissio
19、n 2 60512-1-1 CEI:2002 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE _ CONNECTEURS POUR QUIPEMENTS LECTRONIQUES ESSAIS ET MESURES Partie 1-1: Examen gnral Essai 1a: Examen visuel AVANT-PROPOS 1) La CEI (Commission lectrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation compose de
20、lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI, entre autres activits, publie des Normes int
21、ernationales. Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CEI collabore tro
22、itement avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations. 2) Les dcisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques reprsentent, dans la mesure du possible, un accord international sur les sujets tud
23、is, tant donn que les Comits nationaux intresss sont reprsents dans chaque comit dtudes. 3) Les documents produits se prsentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publis comme normes, spcifications techniques, rapports techniques ou guides et agrs comme tels par les Comits na
24、tionaux. 4) Dans le but dencourager lunification internationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent appliquer de faon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs normes nationales et rgionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la nor
25、me nationale ou rgionale correspondante doit tre indique en termes clairs dans cette dernire. 5) La CEI na fix aucune procdure concernant le marquage comme indication dapprobation et sa responsabilit nest pas engage quand un matriel est dclar conforme lune de ses normes. 6) Lattention est attire sur
26、 le fait que certains des lments de la prsente Norme internationale peuvent faire lobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait tre tenue pour responsable de ne pas avoir identifi de tels droits de proprit et de ne pas avoir signal leur existence La Norme inter
27、nationale CEI 60512-1-1 a t tablie par le sous-comit 48B: Connecteurs, du comit dtudes 48 de la CEI: Composants lectromcaniques et structures mcaniques pour quipements lectroniques. Cette norme annule et remplace lessai 1a de la CEI 60512-2, parue en 1985, dont elle constitue une rvision technique.
28、Le texte de cette norme est issu des documents suivants: FDIS Rapport de vote 48B/1128/FDIS 48B/1179/RVD Le rapport de vote indiqu dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant abouti lapprobation de cette norme. Cette publication a t rdige selon les Directives ISO/CEI, Partie
29、3. Le comit a dcid que le contenu de cette publication ne sera pas modifi avant 2007. A cette date, la publication sera reconduite; supprime; remplace par une dition rvise, ou amende.60512-1-1 IEC:2002 3 INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION _ CONNECTORS FOR ELECTRONIC EQUIPMENT TESTS AND MEASUR
30、EMENTS Part 1-1: General examination Test 1a: Visual examination FOREWORD 1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprising all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to promote internat
31、ional co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the sub
32、ject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with condition
33、s determined by agreement between the two organizations. 2) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters express, as nearly as possible, an international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation from all interested National
34、 Committees. 3) The documents produced have the form of recommendations for international use and are published in the form of standards, technical specifications, technical reports or guides and they are accepted by the National Committees in that sense. 4) In order to promote international unifica
35、tion, IEC National Committees undertake to apply IEC International Standards transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Any divergence between the IEC Standard and the corresponding national or regional standard shall be clearly indicated in the latter. 5)
36、 The IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any equipment declared to be in conformity with one of its standards. 6) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this International Standard may be the subject of patent
37、rights. The IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights. International Standard IEC 60512-1-1 has been prepared by subcommittee 48B: Connectors, of IEC technical committee 48: Electromechanical components and mechanical structures for electronic equipment. This st
38、andard cancels and replaces test 1a of IEC 60512-2, issued in 1985, and constitutes a technical revision. The text of this standard is based on the following documents: FDIS Report on voting 48B/1128/FDIS 48B/1179/RVD Full information on the voting for the approval of this standard can be found in t
39、he report on voting indicated in the above table. This publication has been drafted in accordance with the ISO/IEC Directives, Part 3. The committee has decided that the contents of this publication will remain unchanged until 2007. At this date, the publication will be reconfirmed; withdrawn; repla
40、ced by a revised edition, or amended. 4 60512-1-1 CEI:2002 CONNECTEURS POUR QUIPEMENTS LECTRONIQUES ESSAIS ET MESURES Partie 1-1: Examen gnral Essai 1a: Examen visuel 1 Domaine dapplication et objet La prsente partie de la CEI 60512 est utilise, lorsque la spcification particulire le prescrit, pour
41、essayer des composants lectromcaniques du domaine dapplication du comit dtudes 48 de la CEI. Cet essai peut aussi tre effectu sur des dispositifs similaires, lorsquune spcification particulire le prescrit. Lobjet de cet essai est de dfinir une mthode dessai normalise pour lexamen visuel des composan
42、ts lectromcaniques. 2 Gnralits Lexamen visuel vrifie la conformit de lidentit, de lapparence, de la qualit du travail et du fini de larticle par rapport la spcification correspondante. Il convient que des instruments doptique, spcifis larticle 4, soient utiliss quand ils sont prescrits par la spcifi
43、cation particulire. Lexamen visuel est, dans une certaine mesure, une mthode subjective. Il faut prendre soin de prononcer un jugement impartial. Il faut soigneusement analyser les dfauts, les dro- gations une norme donne ou les changements dus la contrainte, et les valuer en fonction de leur import
44、ance ou de leurs effets. 3 Caractristiques examiner Les caractristiques suivantes doivent tre examines: a) qualit du travail et fini; b) marquage; c) matriaux; d) fini de la surface, par exemple: traces de corrosion; couleur (comparaison des couleurs normalises appropries ou des chantillons); degr d
45、e brillant (comparaison un talon appropri, par exemple chelle de Boll ou un chantillon); rugosit, sillons, ondulations, gratignures, rainures, trous, pores, dpressions, protubrances, cailles, fissures, bavures, clats, etc.; matire trangre dans le produit et sa surface; e) conditions internes des mat
46、riaux translucides (par exemple cavits, inclusions gazeuses et ligne de moulage, y compris les inclusions de matires trangres); f) prsence et zone dapplication dun lubrifiant (dans la mesure o lon peut sen assurer visuellement); g) pices desserres ou spares (spcialement aprs un effort).60512-1-1 IEC
47、:2002 5 CONNECTORS FOR ELECTRONIC EQUIPMENT TESTS AND MEASUREMENTS Part 1-1: General examination Test 1a: Visual examination 1 Scope and object This part of IEC 60512, when required by the detail specification, is used for testing electromechanical components within the scope of IEC technical commit
48、tee 48. This test may also be used for similar devices when specified in a detail specification. The object of this test is to define a standard test method for the visual examination of electromechanical components. 2 General The visual examination checks the identification, appearance, workmanship and finish of an item against the relevant specification. Optical aids, as specified in clause 4, sh
