1、NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 60512-6-2 Premire dition First edition 2002-02 Connecteurs pour quipements lectroniques Essais et mesures Partie 6-2: Essais de contraintes dynamiques Essai 6b: Secousses Connectors for electronic equipment Tests and measurements Part 6-2: Dynamic
2、stress tests Test 6b: Bump Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 60512-6-2:2002Numrotation des publications Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numrotes partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 devient la CEI 60034-1. Editions consolides Les versions consolides de certaines pu
3、blications de la CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros dditi on 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Informations supplmenta
4、ires sur les publications de la CEI Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs cette publication, y compris sa validit, sont dispo- nibles dans le Catalogue des publications de la CEI (voir
5、 ci-dessous) en plus des nouvelles ditions, amendements et corrigenda. Des informations sur les sujets ltude et lavancement des travaux entrepris par le comit dtudes qui a labor cette publication, ainsi que la liste des publications parues, sont galement disponibles par lintermdiaire de: Site web de
6、 la CEI (www.iec.ch) Catalogue des publications de la CEI Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI (www.iec.ch/catlg-f.htm) vous permet de faire des recherches en utilisant de nombreux critres, comprenant des recherches textuelles, par comit dtudes ou date de publication. Des informations en
7、ligne sont galement disponibles sur les nouvelles publications, les publications rempla- ces ou retires, ainsi que sur les corrigenda. IEC Just Published Ce rsum des dernires publications parues (www.iec.ch/JP.htm) est aussi disponible par courrier lectronique. Veuillez prendre contact avec le Servi
8、ce client (voir ci-dessous) pour plus dinformations. Service clients Si vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de renseignements supplmentaires, prenez contact avec le Service clients: Email: custserviec.ch Tl: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 Publication numberin
9、g As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. For example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1. Consolidated editions The IEC is now publishing consolidated versions of its publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, re
10、spectively, to the base publication, the base publication incorporating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Further information on IEC publications The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content re
11、flects current technology. Information relating to this publication, including its validity, is available in the IEC Catalogue of publications (see below) in addition to new editions, amendments and corrigenda. Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the te
12、chnical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is also available from the following: IEC Web Site (www.iec.ch) Catalogue of IEC publications The on-line catalogue on the IEC web site (www.iec.ch/catlg-e.htm) enables you to search by a variety of cr
13、iteria including text searches, technical committees and date of publication. On- line information is also available on recently issued publications, withdrawn and replaced publications, as well as corrigenda. IEC Just Published This summary of recently issued publications (www.iec.ch/JP.htm) is als
14、o available by email. Please contact the Customer Service Centre (see below) for further information. Customer Service Centre If you have any questions regarding this publication or need further assistance, please contact the Customer Service Centre: Email: custserviec.ch Tel: +41 22 919 02 11 Fax:
15、+41 22 919 03 00 .NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 60512-6-2 Premire dition First edition 2002-02 Connecteurs pour quipements lectroniques Essais et mesures Partie 6-2: Essais de contraintes dynamiques Essai 6b: Secousses Connectors for electronic equipment Tests and measurements
16、Part 6-2: Dynamic stress tests Test 6b: Bump Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue IEC 2002 Droits de reproduction rservs Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun p
17、rocd, lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publis
18、her. International Electrotechnical Commission, 3, rue de Varemb, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, Switzerland Telephone: +41 22 919 02 11 Telefax: +41 22 919 03 00 E-mail: inmailiec.ch Web: www.iec.ch CODE PRIX PRICE CODE E Commission Electrotechnique Internationale International Electrotechnical Com
19、mission 2 60512-6-2 CEI:2002 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE _ CONNECTEURS POUR QUIPEMENTS LECTRONIQUES ESSAIS ET MESURES Partie 6-2: Essais de contraintes dynamiques Essai 6b: Secousses AVANT-PROPOS 1) La CEI (Commission lectrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de nor
20、malisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI, entre autres activits,
21、 publie des Normes internationales. Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux
22、. La CEI collabore troitement avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations. 2) Les dcisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques reprsentent, dans la mesure du possible, un accord internatio
23、nal sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux intresss sont reprsents dans chaque comit dtudes. 3) Les documents produits se prsentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publis comme normes, spcifications techniques, rapports techniques ou guides et agrs comme
24、tels par les Comits nationaux. 4) Dans le but dencourager lunification internationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent appliquer de faon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs normes nationales et rgionales. Toute divergence entre la nor
25、me de la CEI et la norme nationale ou rgionale correspondante doit tre indique en termes clairs dans cette dernire. 5) La CEI na fix aucune procdure concernant le marquage comme indication dapprobation et sa responsabilit nest pas engage quand un matriel est dclar conforme lune de ses normes. 6) Lat
26、tention est attire sur le fait que certains des lments de la prsente Norme internationale peuvent faire lobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait tre tenue pour responsable de ne pas avoir identifi de tels droits de proprit et de ne pas avoir signal leur ex
27、istence. La Norme internationale CEI 60512-6-2 a t tablie par le sous-comit 48B: Connecteurs, du comit dtudes 48 de la CEI: Composants lectromcaniques et structures mcaniques pour quipements lectroniques. Cette norme annule et remplace lessai 6b de la CEI 60512-4, parue en 1976, dont elle constitue
28、une rvision technique. Le texte de cette norme est issu des documents suivants: FDIS Rapport de vote 48B/1139/FDIS 48B/1190/RVD Le rapport de vote indiqu dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant abouti lapprobation de cette norme. Cette publication a t rdige selon les Dire
29、ctives ISO/CEI, Partie 3. Le comit a dcid que le contenu de cette publication ne sera pas modifi avant 2007. A cette date, la publication sera reconduite; supprime; remplace par une dition rvise, ou amende.60512-6-2 IEC:2002 3 INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION _ CONNECTORS FOR ELECTRONIC EQU
30、IPMENT TESTS AND MEASUREMENTS Part 6-2: Dynamic stress tests Test 6b: Bump FOREWORD 1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprising all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to promot
31、e international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested
32、in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with
33、 conditions determined by agreement between the two organizations. 2) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters express, as nearly as possible, an international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation from all intereste
34、d National Committees. 3) The documents produced have the form of recommendations for international use and are published in the form of standards, technical specifications, technical reports or guides and they are accepted by the National Committees in that sense. 4) In order to promote internation
35、al unification, IEC National Committees undertake to apply IEC International Standards transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Any divergence between the IEC Standard and the corresponding national or regional standard shall be clearly indicated in the
36、latter. 5) The IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any equipment declared to be in conformity with one of its standards. 6) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this International Standard may be the subject
37、of patent rights. The IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights. International Standard IEC 60512-6-2 has been prepared by subcommittee 48B: Connectors, of IEC technical committee 48: Electromechanical components and mechanical structures for electronic equipmen
38、t. This standard cancels and replaces test 6b of IEC 60512-4, issued in 1976, and constitutes a technical revision. The text of this standard is based on the following documents: FDIS Report on voting 48B/1139/FDIS 48B/1190/RVD Full information on the voting for the approval of this standard can be
39、found in the report on voting indicated in the above table. This publication has been drafted in accordance with the ISO/IEC Directives, Part 3. The committee has decided that the contents of this publication will remain unchanged until 2007. At this date, the publication will be reconfirmed; withdr
40、awn; replaced by a revised edition, or amended. 4 60512-6-2 CEI:2002 CONNECTEURS POUR QUIPEMENTS LECTRONIQUES ESSAIS ET MESURES Partie 6-2: Essais de contraintes dynamiques Essai 6b: Secousses 1 Gnralits 1.1 Domaine dapplication et objet La prsente partie de la CEI 60512 est utilise, lorsque la spci
41、fication particulire le prescrit, pour essayer des composants lectromcaniques du domaine dapplication du comit dtudes 48 de la CEI. Cet essai peut aussi tre effectu sur des dispositifs similaires, lorsquune spcification particulire le prescrit. Lobjet de cet essai est dtablir une mthode dessai norma
42、lise pour valuer laptitude dun composant supporter des secousses des svrits spcifies. 1.2 Rfrences normatives Les documents normatifs suivants contiennent des dispositions qui, par suite de la rfrence qui y est faite, constituent des dispositions valables pour la prsente partie de la CEI 60512. Pour
43、 les rfrences dates, les amendements ultrieurs ou les rvisions de ces publications ne sappliquent pas. Toutefois, les parties prenantes aux accords fonds sur la prsente partie de la CEI 60512 sont invites rechercher la possibilit dappliquer les ditions les plus rcentes des documents normatifs indiqu
44、s ci-aprs. Pour les rfrences non dates, la dernire dition du document normatif en rfrence sapplique. Les membres de la CEI et de lISO possdent le registre des Normes internationales en vigueur. CEI 60068-2-29:1987, Essais denvironnement Deuxime partie: Essais. Essai Eb et guide: Secousses CEI 60512-
45、1-1, Connecteurs pour quipements lectroniques Essais et mesures Partie 1-1: Examen gnral Essai 1a: Examen visuel CEI 60512-2-1, Connecteurs pour quipements lectroniques Essais et mesures Partie 2-1: Essais de continuit lectrique et de rsistance de contact Essai 2a: Rsistance de contact Mthode du niv
46、eau des millivolts CEI 60512-2-5, Connecteurs pour quipements lectroniques Essais et mesures Partie 2-5: Essais de continuit lectrique et de rsistance de contact Essai 2e: Perturbation de contact CEI 60512-7:1993, Connecteurs pour quipements lectroniques Essais et mesures Partie 7: Essais dtanchit 2
47、 Prparation du spcimen Les spcimens doivent tre quips de leurs accessoires normaux, monts et cbls conformment la spcification particulire.60512-6-2 IEC:2002 5 CONNECTORS FOR ELECTRONIC EQUIPMENT TESTS AND MEASUREMENTS Part 6-2: Dynamic stress tests Test 6b: Bump 1 General 1.1 Scope and object This p
48、art of IEC 60512, when required by the detail specification, is used for testing electromechanical components within the scope of IEC technical committee 48. This test may also be used for similar devices when specified in a detail specification. The object of this test is to define a standard test method to assess the ability of components to withstand specified severities of bump. 1.2 Nor
