1、STD-IEC bU748-11-ENGL 1770 I 484q87L 7b34 TI4 m NORME CE1 INTERNATIONALE IEC INTERNATIONAL STANDARD 60748-1 1 QC 790100 1990 AMENDEMENT 2 AMENDMENT 2 1999-04 Amendement 2 Dispositifs semiconducteurs - Circuits intgrs - Onzime partie: Spcification intermdiaire pour les circuits intgrs semiconducteurs
2、 lexclusion des circuits hybrides Amendment 2 Semiconductor devices - Integrated circuits Part 11 : Sectional specification for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits O IEC 1999 Droits de reproduction rservs - Copyright - all rights reserved International Electrotechnical Commis
3、sion Telefax: +41 22 91 9 0300 3, rue de Varemb Geneva, Switzerland IEC web site http:/www.iec.ch e-mail: inmailiec.ch C CODE PRIX Commission Electrotechnique Internationale International Electrotechnical Commission PRICE CODE MemnyHaponHan 3nepoerwqeca HOMCCLIR O Pour prix, voir catalogue en vigueu
4、r For price, see current catalogue -2- FDIS 47A1536lFDI S 60748-1 1 amend. 2 O CEI:999 Rapport de vote 47A1551 IRVD AVANT-PROPOS Le prsent amendement a t tabli par le sous-comit 47A: Circuits intgrs, du comit dtudes 47 de la CEI: Dispositifs semiconducteurs. Le texte de cet amendement est issu des d
5、ocuments suivants: Le rapport de vote indiqu dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant abouti lapprobation de cet amendement. Page 24 (voir lamendement 1) Tableau II - Groupe A: Contrles lot par lot Dans la note 3, ajouter ce qui suit: Page 26 (voir lamendement 1) Tableau I
6、II - Groupe B: Contrles lot par lot Supprimer le texte existant de la note 4, qui est ambigu, et le remplacer par ce qui suit: (La spcification particulire cadre peut diminuer lexigence des essais des sous-groupes A3, A3a et A3b celle dun seul sous-groupe. Page 28 (voir amendement 1) Tableau IV - Gr
7、oupe C: Contrles priodiques I Dans la colonne qui nexiste pas et la remplacer par ce qui suit: Temps et temprature spcifier dans les spcifications intermdiaires et de dtail.,) STD-IEC b0748-11-ENGL 277 II 4844871 0700bLb 807 FDIS 47A/536/FDI S 60748-1 1 Amend. 2 O IEC:1999 -3- Report on voting 47A/5
8、51/RVD FOREWORD This amendment has been prepared by subcommitee 47A: Integrated circuits, of IEC technical committee 47: Semiconductor devices. The text of this amendment is based on the following documents: I Full information on the voting of the approval of this amendment can be found in the repor
9、t on voting indicated in the above table. Page 25 (see amendment 1) Table II - Group A: Lot-by-lot In note 3, add the following: “In such a case, where the test duplicates that of another subgroup, this test need not be repeated.“ Page 27 (see amendment 1) Table III - Group B: Lot-by-lot Delete the
10、existing wording of note 4, which is ambiguous, and substitute the following: “The blank detail specification can reduce the requirement for subgroup testing in A3, A3a and A3b to a minimum of one subgroup.“ Page 29 (see amendment 1) Table IV - Group C: Periodic tests Under “Details and conditions“
11、for subgroup C9, delete “Method 1“ which is non-existent, and substitute the following: “Time and temperature to be specified either in the sectional or in the detail specification.“ STD-IEC b07LI-LL-ENGL 1990 4844891 0700bL7 743 -4- 60748-1 1 amend. 2 O CEI:l999 Page 34 Tableau VI1 - Exigences de p
12、rlvement pour les essais du Groupe A Remplacer le tableau existant par le nouveau tableau suivant: sous- groupe 41 92 42a 42b 43 43a 43b 44 i4a i4b NOT (note 10) I NQA Catgorie I 7 1 - - 5 10 20 10 - - Catgorie I Catgorie I Catgorie I Catgorie II JOTE 1 O - Niveau de qualit toler, avec un critre dac
13、ceptation maximal de 4. NQA Catgorie III NC I NQA t STD-IEC b074-LL-ENGL 1770 W 48114891 0700b1 bT I 60748-1 1 Amend. 2 O IEC:1999 -5- Page 35 Table VI1 - Sampling requirements for Group A tests Replace the existing fable by the following new table: Sub- I LTPD (note 10) Category III 3 0,7 3 3 2 3 3
14、 5 7 7 Category I IL II II - - II s4 54 54 - - AQ L AQL Category II IL II II II II II s4 s4 s4 54 s4 AQL Category 111 IL II II II II II 54 54 54 54 54 AQ L NOTE 1 O - Lot Tolerance Percent Defective, with a maximum acceptance number of 4. ISBN 2-831 8-4756-7 ICs 31.200 Typeset and printed by the IEC
15、 Central Office GENEVA, SWITZERLAND - 4844891 0599545 238 NORME 1 NTE RN AT I ON ALE INTERNATIONAL STANDARD CE1 IEC 748-1 1 1990 QC 7901 O0 AMENDEMENT 1 AMENDMENT 1 1995-06 Amendement 1 Dispositifs se mico ndu cteu rs Circuits intgrs Onzime partie: Spcification intermdiaire pour les circuits intgrs
16、semiconducteurs lexclusion des circuits hybrides Amendment 1 Semiconductor devices Integrated circuits Part 11 : Sectional specification for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits CE1 1995 Bureau Central de la Commission Eledroechnique Internationale 3. rue de Varemb Mve. Sube D
17、roits de reproduction rservs - Copyright - all rights reserved F Commission Electrotechnique Internationale CODE PRIX International Electrotechnical Commission PRICE CODE Mempynapoman 3nemporexuecmn HOHHCM Pourpm, voircalabgus an viguwu For priw, am current caidogus 4844893 0599546 174 DIS 47N36 1 I
18、D IS -2- 748-11 amend. 1 CEI:1995 Rapport de vote 47A1392lRVD AVANT-PROPOS Le prsent amendement a t tabli par le sous-comit 47A: Circuits intgrs, du comit dtudes 47 de la CEI: Dispositifs semiconducteurs. Le texte de cet amendement est issu des documents suivants: Le rapport de vote indiqu dans le t
19、ableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant abouti lapprobation de cet amendement. 748-11 Amend. 1 OIEC:1995 -3- FOREWORD This amendment has been prepared by sub-committee 47A: Integrated circuits, Of IEC technical committee 47: Semiconductor devices. The text of this amendment is bas
20、ed on the following documents: Report on voting 47A1361 ID IS 47A1392lRVD Full information on the voting for the approval of this amendment can be found in the report on voting indicated in the above table. -4- 748-1 1 amend. 1 CE1 : 1 995 Examen ou essai Page 24 Tableau II - Groupe A: Contrles lot
21、par lot Remplacer le tableau existant par le nouveau tableau suivant: Conditions dessai Al A2 Examen visuel externe Vrification de la fonction 25 OC sauf spcification contraire (Catgorie I: non applicable) Vrification de la fonction la temprature maximale de fonctionnement (note 3) (Catgorie I: non
22、applicable) Vrification de la fonction la temprature minimale de fonctionnement (note 3 A2a CE1 747-1 OIQC 700000. de 4.2.1.1 Comme spcifi dans la spcification particuli4 A2b Caractristiques statiques 25 “C Caractristiques statiques la temprature maximale de fonctionnement (note 3) Caractristiques s
23、tatiques la temprature minimale de fonctionnement (note 3) Caractristiques dynamiques 25 OC sauf spcification contraire (Catgorie I: non applicable) Caractristiques dynamiques A3 Voir la publication de la CE1 applicable A3a A3b A4 A4a A4b la temprature maximale de fonctionnement (note 3) Voir la pub
24、lication de la CE1 applicable (Catgorie I: non applicable) Caractristiques dynamiques la temprature minimale de fonctionnement (note 3) NQA NOTE 3 - Le fabricant peut utiliser les rsultats des essais iamb = 25 OC sil peut dmontrer, annuellement, la corrlation avec les rsultats obtenus aux deux tempr
25、atures extrmes (voir 12.5). 4844893 0599549 983 748-11 Amend. 1 IEC:1995 -5- Page 25 Table II - Group A: Lot-by-lot Replace the existing table by the following new table: . AQL sub- group Al Examination or test Conditions of test Category I Category II and 111 0.4 IEC 747-10lQC 700000. 4.2.1.1 Exter
26、nal visual examination A2 Verification of the function at 25 OC unless otherwise specified 0,15 A2a (Not applicable to category I) Verification of the function at maximum operating temperature (note 3) As specified in the detail specification A2b (Not applicable lo category I) Verification of the fu
27、nction at minimum operating temperature (note 3) Static characteristics at 25 OC 0.65 0,25 A3 A3a Static characteristics at maximum operating temperature (note 3) See relevant IEC publication A3b Static characteristics at minimum operating temperature (note 3) 2.5 0.4 Dynamic characteristics at 25 O
28、C unless otherwise specified (Not applicable to category I) Dynamic characteristics at maximum operating temperature (note 3) 1.5 0.65 A4 A4a See relevant IEC publication A4b (Not applicable to category I) Dynamic characteristics at minimum operating temperature (note 3) NOTE 3 - The manufacturer ma
29、y use test results at Ta, = 25 OC, if he can demonstrate, on a yearly basis, the correlation with those at the two extremes of temperatures (see 12.5). _ m 4844893 0599550 bT5 -6- 748-1 1 amend. 1 0 CE1 : 1 9 95 Page 26 Tableau III - Groupe B: Contrles lot par lot Remplacer le texte du sous-groupe B
30、5 par ce 9ui suit: sous- groupe B5 Examen ou essai (Pour les bottiers cavit seulement): EtanchBit M icrofui tes puis: Fuites franches Botiers sans cavit ou B cavit scellement poxyde Variations rapides de temprature suivies de: - Examen visuel externe - Essai continu fortement acclr de chaleur humide
31、 - Essais lectriques Publication de la CE1 68-2-17 ou : ou 7.4 749, 111, 7.3 68-2-1 7 749, 111, 1.1 747-10,4.2.1.1 749, 111, 5 Voir sous-groupes A2 et A3 Conditions Essai Qk Svritb: 60 h Taux de fuite: Equivalent la svrit 60 h de lessai Qc Essai Qc Mthode 3 Liquides: - phase 1 : liquide 1 - phase 2:
32、 liquide 2“ 1 O cycles Svrit 3 24 h Comme en A2 et A3 (voir note 4) Remplacer la totalit des notes au bas du tableau par les nouvelles notes suivantes: Amendement 1 la CE1 749. N-hexane comme constituant principal. * tributylarnine comme constituant principal. NOTE 4 - Les spcifications particulires
33、 cadres peuvent permettre de rduire le nombre des essais en A3. Perfluorocarbone avec un point dbullition au-dessus de 50 “C. par exemple contenant du perfluoro- Perfluorocarbone avec un point dbullition au-dessus de 150 OC, par exemple contenant du perfluoro- 9 4844873 0599553 531 85 748-11 Amend.
34、10 IEC:1995 (For cavity packages only): Sealing test Fine leak then: Gross leak Non-cavity and epOXY-Sealed -7- Page 27 Table III - Group 6: Lot-by-lot Replace the text of sub-group 65 by the following: I I Examination or test Rapid change of temperature followed by: - External visual examination -
35、Damp heat, highly accelerated - Electrical tests test IEC publication 68-2-17 or: 749. 111, 7.3 or 7.4 68-2-17 749, 111, 1.1 747-10, 4.2.1 .I 749, 111, 5 See sub-groups A2 and A3 Details and conditions Test Qk Severity: 60 h Leak rate: Equivalent to severity 60 h of test Qc Test Qc Method 3 Liquids:
36、 - phase 1: liquid 1? - phase 2: liquid 2? 1 O cycles Severity 3 24 h As in A2 and A3 (see note 4) Replace the totality of the notes at the bottom of the rabie by the following new notes: Amendment 1 to IEC 749. Liquid perfluorocarbon with boiling-point more than 50 ?C. for example, containing perfl
37、uoro-N-hexane as a main ingredient. * Liquid perfluorocarbon with boiling-point more than 150 OC, for example, containing perfluoro- tributylamine as a main ingredient. NOTE 4 - Blank detail specifications may allow a reduction in the number of tests in A3. . 4844893 0599552 478 9 -a- 74-11 amend. 1
38、0 CEI:1995 C5a“ Page 28 Tableau IV - Groupe C: ContrGles priodiques Ajouter le sous-groupe C5a et modifier le sous-groupe C9 comme indiqu ci-dessous: Brouillard salin 749, III, 8 Sous- groupe Stockage haute temprature (si spcifi dans ia spcification particulire) Examen ou essai 749, 111. 2 Publicati
39、on de la CE1 Energie transitoire Essai de tension spcifi dans la spcification particulire C9“ Conditions h - 1 O00 h, 2 O00 h et 4 O00 h doivent tre considres comme des dures minimales pour les essais. 748-11 Amend. 1 0 IEC:1995 4844891 0577555 187 -11 - Page 35 Table VIII - Sampling requirements fo
40、r group 6, C and D tests in which LTPD shall be used. Replace the existing table by the following new table: Sub-group B1 B2a B2b B2c 84 (note 12) B5 B5a 88 c1 C2a C2b c 2c c3 (note 12) c4 c5 C5a C6 c7 C8D8 c9 c11 Category I 15 20 20 20 20 10 10 10 5 50 15 15 (Not applicable) 10 15 20 LTPD (note 11)
41、 Category III Screening class A 15 20 20 20 20 10 10 10 5 50 15 15 10 5 5 20 Categories II and III Other screening classes 15 20 20 20 20 10 10 10 5 50 15 15 10 5 15 20 NOTE 11 - Lot Tolerance Percent Defective, with a maximum acceptance number of 2. NOTE 12 - For sub-groups C3 (robustness of termin
42、ations) and 84 (solderability), the LTPD shall apply to the number of tested terminations which shall be selected uniformly from at least four tested devices. Page 37 12.3 Electrical endurance tests Replace the sixth paragraph by the following: The durations of tests shall be as specified in the relevant applicable sub-groups with the following tolerances : + 72 - 168-,0 h - 1 O00 h, 2 O00 h and 4 O00 h shall be regarded as minimum durations for the tests.
