1、 NORME INTERNATIONALECEIIECINTERNATIONAL STANDARD 60812Deuxime ditionSecond edition2006-01Techniques danalyse de la fiabilit du systme Procdure danalyse des modes de dfaillance et de leurs effets (AMDE) Analysis techniques for system reliability Procedure for failure mode and effects analysis (FMEA)
2、 Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 60812:2006 Numrotation des publications Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numrotes partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 devient la CEI 60034-1. Editions consolides Les versions consolides de certaines publications de la CEI incorpor
3、ant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Informations supplmentaires sur les publications de l
4、a CEI Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs cette publication, y compris sa validit, sont dispo-nibles dans le Catalogue des publications de la CEI (voir ci-dessous) en plus des nouvel
5、les ditions, amendements et corrigenda. Des informations sur les sujets ltude et lavancement des travaux entrepris par le comit dtudes qui a labor cette publication, ainsi que la liste des publications parues, sont galement disponibles par lintermdiaire de: Site web de la CEI (www.iec.ch) Catalogue
6、des publications de la CEI Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI (www.iec.ch/searchpub) vous permet de faire des recherches en utilisant de nombreux critres, comprenant des recherches textuelles, par comit dtudes ou date de publication. Des informations en ligne sont galement disponibles s
7、ur les nouvelles publications, les publications remplaces ou retires, ainsi que sur les corrigenda. IEC Just Published Ce rsum des dernires publications parues (www.iec.ch/online_news/justpub) est aussi dispo-nible par courrier lectronique. Veuillez prendre contact avec le Service client (voir ci-de
8、ssous) pour plus dinformations. Service clients Si vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de renseignements supplmentaires, prenez contact avec le Service clients: Email: custserviec.ch Tl: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 Publication numbering As from 1 January 1
9、997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. For example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1. Consolidated editions The IEC is now publishing consolidated versions of its publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the ba
10、se publication, the base publication incorporating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Further information on IEC publications The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current techno
11、logy. Information relating to this publication, including its validity, is available in the IEC Catalogue of publications (see below) in addition to new editions, amendments and corrigenda. Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee whi
12、ch has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is also available from the following: IEC Web Site (www.iec.ch) Catalogue of IEC publications The on-line catalogue on the IEC web site (www.iec.ch/searchpub) enables you to search by a variety of criteria including text s
13、earches, technical committees and date of publication. On-line information is also available on recently issued publications, withdrawn and replaced publications, as well as corrigenda. IEC Just Published This summary of recently issued publications (www.iec.ch/online_news/justpub) is also available
14、 by email. Please contact the Customer Service Centre (see below) for further information. Customer Service Centre If you have any questions regarding this publication or need further assistance, please contact the Customer Service Centre: Email: custserviec.ch Tel: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919
15、03 00 . NORME INTERNATIONALECEIIECINTERNATIONAL STANDARD 60812Deuxime ditionSecond edition2006-01Techniques danalyse de la fiabilit du systme Procdure danalyse des modes de dfaillance et de leurs effets (AMDE) Analysis techniques for system reliability Procedure for failure mode and effects analysis
16、 (FMEA) Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue IEC 2006 Droits de reproduction rservs Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y comp
17、ris la photocopie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher. International Electrotechnical C
18、ommission, 3, rue de Varemb, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, SwitzerlandTelephone: +41 22 919 02 11 Telefax: +41 22 919 03 00 E-mail: inmailiec.ch Web: www.iec.ch CODE PRIX PRICE CODE X Commission Electrotechnique InternationaleInternational Electrotechnical Commission 2 60812 CEI:2006 SOMMAIRE AVANT
19、-PROPOS6 1 Domaine dapplication 10 2 Rfrences normatives.10 3 Termes et dfinitions 10 4 Vue densemble14 4.1 Introduction .14 4.2 But et objectifs de lanalyse.16 5 Analyses des modes de dfaillance et de leurs effets .18 5.1 Approche gnrale 18 5.2 Tches prliminaires .20 5.3 Mode de dfaillance, effets,
20、 et analyses de criticit (AMDEC) .40 5.4 Rapport danalyse .54 6 Autres considrations .58 6.1 Dfaillances de cause commune .58 6.2 Facteurs humains58 6.3 Erreurs logicielles60 6.4 LAMDE et les consquences de la dfaillance du systme .60 7 Applications60 7.1 Utilisation dune AMDE/AMDEC 60 7.2 Avantages
21、 dune AMDE.64 7.3 Limitations et inconvnients de lAMDE .64 7.4 Relations avec les autres mthodes 66 Annexe A (informative) Rcapitualtif des procdures pour AMDE et AMDEC 70 Annexe B (informative) Exemples danalyses78 Bibliographie.92 Figure 1 Relation entre les modes de dfaillance et les effets de df
22、aillance dans la hirarchie dun systme 24 Figure 2 Schma fonctionnel danalyse38 Figure 3 Matrice de criticit46 Figure A.1 Exemple de formulaire de document AMDE 76 Figure B.1 FMEA pour une partie de dispositif lectronique dautomobile avec calcul de NPR.80 Figure B.2 Diagramme des sous-systmes dun ens
23、emble gnrateur-moteur .82 Figure B.3 Diagramme denveloppe chauffante, ventilation et systmes de refroidissement .84 Figure B.4 AMDE pour sous-systme 2086 Figure B.5 Partie du processus AMDEC pour coulage daluminium par machine 90 60812 IEC:2006 3 CONTENTS FOREWORD.7 1 Scope.11 2 Normative references
24、 .11 3 Terms and definitions .11 4 Overview 15 4.1 Introduction .15 4.2 Purpose and objectives of the analysis17 5 Failure modes and effects analysis.19 5.1 General considerations19 5.2 Preliminary tasks.21 5.3 Failure mode, effects, and criticality analysis (FMECA) .41 5.4 Report of analysis .55 6
25、Other considerations 59 6.1 Common-cause failures.59 6.2 Human factors.59 6.3 Software errors .61 6.4 FMEA regarding consequences of system failure 61 7 Applications61 7.1 Use of FMEA/FMECA 61 7.2 Benefits of FMEA 65 7.3 Limitations and deficiencies of FMEA 65 7.4 Relationships with other methods 67
26、 Annex A (informative) Summary of procedures for FMEA and FMECA .71 Annex B (informative) Examples of analyses79 Bibliography93 Figure 1 Relationship between failure modes and failure effects in a system hierarchy 25 Figure 2 Analysis flowchart 39 Figure 3 Criticality matrix .47 Figure A.1 Example o
27、f the format of an FMEA worksheet.77 Figure B.1 FMEA for a part of automotive electronics with RPN calculation81 Figure B.2 Diagram of subsystems of a motor generator set 83 Figure B.3 Diagram of enclosure heating, ventilation and cooling systems .85 Figure B.4 FMEA for sub-system 20.87 Figure B.5 P
28、art of a process FMECA for machined aluminium casting91 4 60812 CEI:2006 Tableau 1 Exemple dun ensemble de modes de dfaillance gnraux 28 Tableau 2 Exemple illustr de classification de la svrit pour effets finaux .34 Tableau 3 Matrice risque/criticit .48 Tableau 4 Svrit du mode de dfaillance50 Tablea
29、u 5 Apparition du mode de dfaillance relie la frquence et probabilit dapparition.50 Tableau 6 Critre dvaluation de la dtection du mode de dfaillance 52 Tableau 7 Exemple dun ensemble deffets de dfaillance (pour un dmarreur de vhicule moteur) 56 Tableau 8 Exemple de probabilits deffets de dfaillance
30、.56 Tableau B.1 Dfinition et classification de la svrit des effets de dfaillance sur le systme G-M complet .82 60812 IEC:2006 5 Table 1 Example of a set of general failure modes.29 Table 2 Illustrative example of a severity classification for end effects .35 Table 3 Risk/criticality matrix .49 Table
31、 4 Failure mode severity51 Table 5 Failure mode occurrence related to frequency and probability of occurrence .51 Table 6 Failure mode detection evaluation criteria .53 Table 7 Example of a set of failure effects (for a motor vehicle starter) 57 Table 8 Example of a failure effects probability 57 Ta
32、ble B.1 Definition and classification of the severity of the effects of failures on the complete M-G system .83 6 60812 CEI:2006 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE _ TECHNIQUES DANALYSE DE LA FIABILIT DU SYSTME PROCDURE DANALYSE DES MODES DE DFAILLANCE ET DE LEURS EFFETS (AMDE) AVANT-PROPOS 1
33、) La Commission Electrotechnique Internationale (CEI) est une organisation mondiale de normalisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans
34、les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI entre autres activits publie des Normes internationales, des Spcifications techniques, des Rapports techniques, des Spcifications accessibles au public (PAS) et des Guides (ci-aprs dnomms “Publication(s) de la CEI“). Leur laboration
35、est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CEI collabore troitement avec lOrganisation Int
36、ernationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations. 2) Les dcisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques reprsentent, dans la mesure du possible, un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits n
37、ationaux de la CEI intresss sont reprsents dans chaque comit dtudes. 3) Les Publications de la CEI se prsentent sous la forme de recommandations internationales et sont agres comme telles par les Comits nationaux de la CEI. Tous les efforts raisonnables sont entrepris afin que la CEI sassure de lexa
38、ctitude du contenu technique de ses publications; la CEI ne peut pas tre tenue responsable de lventuelle mauvaise utilisation ou interprtation qui en est faite par un quelconque utilisateur final. 4) Dans le but dencourager luniformit internationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent, dans to
39、ute la mesure possible, appliquer de faon transparente les Publications de la CEI dans leurs publications nationales et rgionales. Toutes divergences entre toutes Publications de la CEI et toutes publications nationales ou rgionales correspondantes doivent tre indiques en termes clairs dans ces dern
40、ires. 5) La CEI na prvu aucune procdure de marquage valant indication dapprobation et nengage pas sa responsabilit pour les quipements dclars conformes une de ses Publications. 6) Tous les utilisateurs doivent sassurer quils sont en possession de la dernire dition de cette publication. 7) Aucune res
41、ponsabilit ne doit tre impute la CEI, ses administrateurs, employs, auxiliaires ou mandataires, y compris ses experts particuliers et les membres de ses comits dtudes et des Comits nationaux de la CEI, pour tout prjudice caus en cas de dommages corporels et matriels, ou de tout autre dommage de quel
42、que nature que ce soit, directe ou indirecte, ou pour supporter les cots (y compris les frais de justice) et les dpenses dcoulant de la publication ou de lutilisation de cette Publication de la CEI ou de toute autre Publication de la CEI, ou au crdit qui lui est accord. 8) Lattention est attire sur
43、les rfrences normatives cites dans cette publication. Lutilisation de publications rfrences est obligatoire pour une application correcte de la prsente publication. 9) Lattention est attire sur le fait que certains des lments de la prsente Publication de la CEI peuvent faire lobjet de droits de prop
44、rit intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait tre tenue pour responsable de ne pas avoir identifi de tels droits de proprit et de ne pas avoir signal leur existence. La Norme internationale CEI 60812 a t tablie par le comit dtudes 56 de la CEI: Sret de fonctionnement. Cette deuxime di
45、tion annule et remplace la premire dition publie en 1985 et constitue une rvision technique. Les modifications majeures par rapport ldition prcdente sont les suivantes: introduction des concepts deffets des modes de dfaillance et de leur criticit ; introduction des mthodes largement utilises dans li
46、ndustrie automobile; ajout de rfrences et de relations aux autres mthodes danalyse des modes de dfaillance; ajout dexemples; fourniture de guides sur les avantages et les inconvnients des diffrentes mthodes AMDE. 60812 IEC:2006 7 INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION _ ANALYSIS TECHNIQUES FOR SY
47、STEM RELIABILITY PROCEDURE FOR FAILURE MODE AND EFFECTS ANALYSIS (FMEA) FOREWORD 1) The International Electrotechnical Commission (IEC) is a worldwide organization for standardization comprising all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of IEC is to promote inter
48、national co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To this end and in addition to other activities, IEC publishes International Standards, Technical Specifications, Technical Reports, Publicly Available Specifications (PAS) and Guides (hereafter referred to as “IEC Publication(s)”). Their
