1、 NORME INTERNATIONALECEIIECINTERNATIONAL STANDARD 61000-4-34Premire ditionFirst edition2005-10Compatibilit lectromagntique (CEM) Partie 4-34: Techniques dessai et de mesure Essais dimmunit aux creux de tension, coupures brves et variations de tension pour matriel ayant un courant appel de plus de 16
2、 A par phase Electromagnetic compatibility (EMC) Part 4-34: Testing and measurement techniques Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests for equipment with input current more than 16 A per phase Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 61000-4-34:2005 PUBLICATION FONDA
3、MENTALE EN CEM BASIC EMC PUBLICATION Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,-Numrotation des publications Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont n
4、umrotes partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 devient la CEI 60034-1. Editions consolides Les versions consolides de certaines publications de la CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la public
5、ation de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Informations supplmentaires sur les publications de la CEI Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseign
6、ements relatifs cette publication, y compris sa validit, sont dispo-nibles dans le Catalogue des publications de la CEI (voir ci-dessous) en plus des nouvelles ditions, amendements et corrigenda. Des informations sur les sujets ltude et lavancement des travaux entrepris par le comit dtudes qui a lab
7、or cette publication, ainsi que la liste des publications parues, sont galement disponibles par lintermdiaire de: Site web de la CEI (www.iec.ch) Catalogue des publications de la CEI Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI (www.iec.ch/searchpub) vous permet de faire des recherches en utilisa
8、nt de nombreux critres, comprenant des recherches textuelles, par comit dtudes ou date de publication. Des informations en ligne sont galement disponibles sur les nouvelles publications, les publications remplaces ou retires, ainsi que sur les corrigenda. IEC Just Published Ce rsum des dernires publ
9、ications parues (www.iec.ch/online_news/justpub) est aussi dispo-nible par courrier lectronique. Veuillez prendre contact avec le Service client (voir ci-dessous) pour plus dinformations. Service clients Si vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de renseignements supplm
10、entaires, prenez contact avec le Service clients: Email: custserviec.ch Tl: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 Publication numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. For example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1. Consolidate
11、d editions The IEC is now publishing consolidated versions of its publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incorporating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Further information on
12、 IEC publications The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to this publication, including its validity, is available in the IEC Catalogue of publications (see below) in additio
13、n to new editions, amendments and corrigenda. Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is also available from the following: IEC Web Site (www.iec.ch) Ca
14、talogue of IEC publications The on-line catalogue on the IEC web site (www.iec.ch/searchpub) enables you to search by a variety of criteria including text searches, technical committees and date of publication. On-line information is also available on recently issued publications, withdrawn and repl
15、aced publications, as well as corrigenda. IEC Just Published This summary of recently issued publications (www.iec.ch/online_news/justpub) is also available by email. Please contact the Customer Service Centre (see below) for further information. Customer Service Centre If you have any questions reg
16、arding this publication or need further assistance, please contact the Customer Service Centre: Email: custserviec.ch Tel: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 . Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking pe
17、rmitted without license from IHS-,-,-NORME INTERNATIONALECEIIECINTERNATIONAL STANDARD 61000-4-34Premire ditionFirst edition2005-10Compatibilit lectromagntique (CEM) Partie 4-34: Techniques dessai et de mesure Essais dimmunit aux creux de tension, coupures brves et variations de tension pour matriel
18、ayant un courant appel de plus de 16 A par phase Electromagnetic compatibility (EMC) Part 4-34: Testing and measurement techniques Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests for equipment with input current more than 16 A per phase Pour prix, voir catalogue en vigueur Fo
19、r price, see current catalogue IEC 2005 Droits de reproduction rservs Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans lacco
20、rd crit de lditeur. No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher. International Electrotechnical Commission, 3, rue de Varemb, PO Box 131, CH-121
21、1 Geneva 20, SwitzerlandTelephone: +41 22 919 02 11 Telefax: +41 22 919 03 00 E-mail: inmailiec.ch Web: www.iec.ch CODE PRIX PRICE CODE V Commission Electrotechnique InternationaleInternational Electrotechnical Commission PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM BASIC EMC PUBLICATION Copyright International
22、Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,- 2 61000-4-34 CEI:2005 SOMMAIRE AVANT-PROPOS6 INTRODUCTION.10 1 Domaine dapplication 12 2 Rfrences normatives.12 3 Termes et dfinitions 14 4 Gnralits.1
23、6 5 Niveaux dessai 18 5.1 Creux de tension et coupures brves 18 5.2 Variations de tension (facultatif) 20 6 Instruments dessai 24 6.1 Gnrateur dessai 24 6.2 Source dnergie .26 7 Montage dessai .26 8 Procdures dessai .26 8.1 Conditions de rfrence en laboratoire 28 8.2 Excution des essais.30 9 Evaluat
24、ion des rsultats dessai34 10 Rapport dessai 34 Annexe A (normative) Valeur crte du courant dappel dexcitation du gnrateur dessai38 Annexe B (informative) Classes denvironnement lectromagntique.42 Annexe C (informative) Vecteurs de tension pour les essais triphass.44 Annexe D (informative) Instrument
25、ation dessai .56 Bibliographie.62 Figure 1 Creux de tension figure montrant la forme donde dun creux de tension de 70 % 22 Figure 2 Variation de tension .22 Figure 3a Essai phase-neutre des systmes triphass .32 Figure 3b Essais phase-phase des systmes triphass mthode acceptable 132 Figure 3c Essais
26、phase-phase des systmes triphass mthode acceptable 232 Figure 3d Solution non acceptable essai phase-phase sans dphasage32 Figure A.1 Circuit utilis pour dterminer le courant dappel crte du gnrateur de coupures brves 40 Figure C.1 Vecteurs de creux de tension phase-neutre 44 Figure C.2 Vecteurs de c
27、reux de tension phase mthode acceptable 1 .48 Figure C.3 Vecteurs de creux de tension phase-phase mthode acceptable 2 52 Figure D.1 Schma dun exemple dinstruments dessai pour les creux de tension, les coupures brves et les variations de tension laide de transformateurs variables et de commutateurs 5
28、6 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,-61000-4-34 IEC:2005 3 CONTENTS FOREWORD.7 INTRODUCTION.11 1 Scope.13 2 Normative references .13 3 Terms and definitions .15 4
29、 General 17 5 Test levels19 5.1 Voltage dips and short interruptions 19 5.2 Voltage variations (optional)21 6 Test instrumentation.25 6.1 Test generator.25 6.2 Power source 27 7 Test set-up .27 8 Test procedures .27 8.1 Laboratory reference conditions 29 8.2 Execution of the test31 9 Evaluation of t
30、est results 35 10 Test report35 Annex A (normative) Test generator peak inrush current drive capability .39 Annex B (informative) Electromagnetic environment classes43 Annex C (informative) Vectors for three-phase testing .45 Annex D (informative) Test instrumentation .57 Bibliography63 Figure 1 Vol
31、tage dip 70 % voltage dip sine wave graph.23 Figure 2 Voltage variation 23 Figure 3a Phase-to-neutral testing on three-phase systems .33 Figure 3b Phase-to-phase testing on three-phase systems Acceptable Method 1 phase shift33 Figure 3c Phase-to-phase testing on three-phase systems Acceptable Method
32、 2 phase shift33 Figure 3d Not acceptable phase-to-phase testing without phase shift33 Figure A.1 Circuit for determining inrush current drive capability41 Figure C.1 Phase-to-neutral dip vectors .45 Figure C.2 Acceptable Method 1 phase-to-phase dip vectors 49 Figure C.3 Acceptable Method 2 phase-to
33、-phase dip vectors 53 Figure D.1 Schematic of example test instrumentation for voltage dips and short interruptions using tapped transformer and switches.57 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted
34、 without license from IHS-,-,- 4 61000-4-34 CEI:2005 Figure D.2 Application de lexemple dinstruments dessai indiqu la Figure D.1 pour crer la mthode acceptable 1 des vecteurs des Figures C.1, C.2, 4a et 4b58 Figure D.3 Schma dun exemple dinstruments dessai pour les creux de tension triphass, les cou
35、pures brves et les variations de tension laide dun amplificateur de puissance 60 Tableau 1 Dures et niveaux dessai prfrs pour les creux de tension20 Tableau 2 Dures et niveaux dessai prfrs pour les coupures brves20 Tableau 3 Dure des variations de tension dalimentation court terme 20 Tableau 4 Spcif
36、ications du gnrateur .24 Tableau A.1 Courant dappel minimal admissible .38 Tableau C.1 Valeur des vecteurs pour des creux de tension phase neutre.46 Tableau C.2 Vecteurs de creux de tension phase mthode acceptable 1 50 Tableau C.3 Vecteurs de creux de tension phase-phase mthode acceptable 254 Copyri
37、ght International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,-61000-4-34 IEC:2005 5 Figure D.2 Applying the example test instrumentation of Figure D.1 to create the Acceptable Method 1 vectors of
38、 Figures C.1, C.2, 4a and 4b 59 Figure D.3 Schematic of example test instrumentation for three-phase voltage dips, short interruptions and voltage variations using power amplifier61 Table 1 Preferred test level and durations for voltage dips.21 Table 2 Preferred test level and durations for short in
39、terruptions .21 Table 3 Timing of short-term supply voltage variations.21 Table 4 Generator specifications25 Table A.1 Minimum peak inrush current capability39 Table C.1 Vector values for phase-to-neutral dips47 Table C.2 Acceptable Method 1 vector values for phase-to-phase dips .51 Table C.3 Accept
40、able Method 2 vector values for phase-to-phase dips .55 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,- 6 61000-4-34 CEI:2005 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE _ COMP
41、ATIBILIT LECTROMAGNTIQUE (CEM) Partie 4-34: Techniques dessai et de mesure Essais dimmunit aux creux de tension, coupures brves et variations de tension pour matriel ayant un courant appel de plus de 16 A par phase AVANT-PROPOS 1) La CEI (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisat
42、ion mondiale de normalisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI, ent
43、re autres activits, publie des Normes internationales, des Spcifications techniques, des Rapports techniques, des Spcifications accessibles au public (PAS) et des Guides (ci-aprs dnomms “Publication(s) de la CEI“). Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit nationa
44、l intress par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CEI collabore troitement avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par ac
45、cord entre les deux organisations. 2) Les dcisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques reprsentent, dans la mesure du possible, un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux intresss sont reprsents dans chaque comit dtudes. 3) Les Pub
46、lications de la CEI se prsentent sous la forme de recommandations internationales et sont agres comme telles par les Comits nationaux de la CEI. Tous les efforts raisonnables sont entrepris afin que la CEI sassure de lexactitude du contenu technique de ses publications; la CEI ne peut tre tenue resp
47、onsable de lventuelle fausse utilisation ou interprtation qui en est faite par un quelconque utilisateur final. 4) Dans le but dencourager luniformit internationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent, dans toute la mesure du possible, appliquer de faon transparente les Publications de la CEI dans leurs publications nationales et rgionales. Toutes divergences entre toutes Publications de la CEI et toutes publications nationales ou rgionales correspondantes doivent tre indiques en term
