1、NORMEINTERNATIONALECEIIECINTERNATIONALSTANDARD62193Premire ditionFirst edition2003-05Travaux sous tension Perches tlscopiques etperches de mesure tlscopiquesLive working Telescopic sticks andtelescopic measuring sticksNumro de rfrenceReference numberCEI/IEC 62193:2003Numrotation des publicationsDepu
2、is le 1er janvier 1997, les publications de la CEIsont numrotes partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1devient la CEI 60034-1.Editions consolidesLes versions consolides de certaines publications de laCEI incorporant les amendements sont disponibles. Parexemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indique
3、ntrespectivement la publication de base, la publication debase incorporant lamendement 1, et la publication debase incorporant les amendements 1 et 2.Informations supplmentairessur les publications de la CEILe contenu technique des publications de la CEI estconstamment revu par la CEI afin quil refl
4、te ltatactuel de la technique. Des renseignements relatifs cette publication, y compris sa validit, sont dispo-nibles dans le Catalogue des publications de la CEI(voir ci-dessous) en plus des nouvelles ditions,amendements et corrigenda. Des informations sur lessujets ltude et lavancement des travaux
5、 entreprispar le comit dtudes qui a labor cette publication,ainsi que la liste des publications parues, sontgalement disponibles par lintermdiaire de: Site web de la CEI (www.iec.ch) Catalogue des publications de la CEILe catalogue en ligne sur le site web de la CEI(http:/www.iec.ch/searchpub/cur_fu
6、t.htm) vous permetde faire des recherches en utilisant de nombreuxcritres, comprenant des recherches textuelles, parcomit dtudes ou date de publication. Desinformations en ligne sont galement disponibles surles nouvelles publications, les publications rempla-ces ou retires, ainsi que sur les corrige
7、nda. IEC Just PublishedCe rsum des dernires publications parues(http:/www.iec.ch/online_news/justpub/jp_entry.htm)est aussi disponible par courrier lectronique.Veuillez prendre contact avec le Service client(voir ci-dessous) pour plus dinformations. Service clientsSi vous avez des questions au sujet
8、 de cettepublication ou avez besoin de renseignementssupplmentaires, prenez contact avec le Serviceclients:Email: custserviec.chTl: +41 22 919 02 11Fax: +41 22 919 03 00Publication numberingAs from 1 January 1997 all IEC publications areissued with a designation in the 60000 series. Forexample, IEC
9、34-1 is now referred to as IEC 60034-1.Consolidated editionsThe IEC is now publishing consolidated versions of itspublications. For example, edition numbers 1.0, 1.1and 1.2 refer, respectively, to the base publication,the base publication incorporating amendment 1 andthe base publication incorporati
10、ng amendments 1and 2.Further information on IEC publicationsThe technical content of IEC publications is keptunder constant review by the IEC, thus ensuring thatthe content reflects current technology. Informationrelating to this publication, including its validity, isavailable in the IEC Catalogue
11、of publications(see below) in addition to new editions, amendmentsand corrigenda. Information on the subjects underconsideration and work in progress undertaken by thetechnical committee which has prepared thispublication, as well as the list of publications issued,is also available from the followi
12、ng: IEC Web Site (www.iec.ch) Catalogue of IEC publicationsThe on-line catalogue on the IEC web site(http:/www.iec.ch/searchpub/cur_fut.htm) enablesyou to search by a variety of criteria including textsearches, technical committees and date ofpublication. On-line information is also availableon rece
13、ntly issued publications, withdrawn andreplaced publications, as well as corrigenda. IEC Just PublishedThis summary of recently issued publications(http:/www.iec.ch/online_news/justpub/jp_entry.htm)is also available by email. Please contact theCustomer Service Centre (see below) for furtherinformati
14、on. Customer Service CentreIf you have any questions regarding thispublication or need further assistance, pleasecontact the Customer Service Centre:Email: custserviec.chTel: +41 22 919 02 11Fax: +41 22 919 03 00.NORMEINTERNATIONALECEIIECINTERNATIONALSTANDARD62193Premire ditionFirst edition2003-05Tr
15、avaux sous tension Perches tlscopiques etperches de mesure tlscopiquesLive working Telescopic sticks andtelescopic measuring sticksPour prix, voir catalogue en vigueurFor price, see current catalogue IEC 2003 Droits de reproduction rservs Copyright - all rights reservedAucune partie de cette publica
16、tion ne peut tre reproduite niutilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd,lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et lesmicrofilms, sans laccord crit de lditeur.No part of this publication may be reproduced or utilized in anyform or by any means, electronic or mechanical, incl
17、udingphotocopying and microfilm, without permission in writing fromthe publisher.International Electrotechnical Commission, 3, rue de Varemb, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, SwitzerlandTelephone: +41 22 919 02 11 Telefax: +41 22 919 03 00 E-mail: inmailiec.ch Web: www.iec.chCODE PRIXPRICE CODE UCommi
18、ssion Electrotechnique InternationaleInternational Electrotechnical Commission 2 62193 CEI:2003SOMMAIREAVANT-PROPOS . 4INTRODUCTION 61 Domaine dapplication 82 Rfrences normatives 83 Termes et dfinitions 104 Classification 145 Exigences.145.1 Scurit.145.2 Gnralits145.3 Exigences pour lensemble de ver
19、rouillage et les capuchons dextrmit .165.4 Finition de surface .165.5 Exigences dimensionnelles165.6 Marquage 165.7 Instructions demploi186 Essais de type 186.1 Gnralits186.2 Contrle visuel et dimensionnel .206.3 Durabilit des marquages 206.4 Essais dilectriques.206.5 Essais mcaniques227 Plan dassur
20、ance de la qualit 268 Modifications 26Annexe A (informative) Choix de la longueur de la section suprieure de loutil36Annexe B (normative) Appropri pour les travaux sous tension; double triangle(IEC-60417-5216:2002-10)38Annexe C (normative) Chronologie des essais .40Annexe D (normative) Plan dassuran
21、ce de la qualit.42Annexe E (normative) Essais de rception .46Annexe F (informative) Recommandations pour lutilisation48Bibliographie.58Figure 1 Essai pour les proprits hydrophobes de la surface observation visuelle (voir 6.4.1.1) .28Figure 2 Essai dilectrique de surface (voir 6.4.2)30Figure 3 Essai
22、de flexion (voir 6.5.1) 32Figure 4 Essai dimpact en chute libre (voir 6.5.2) 32Figure 5 Essai de traction (voir 6.5.3).34Figure 6 Essai de torsion (voir 6.5.4)34Figure F.1 Montage typique dessais haute tension 56Tableau C.1 Squence des essais .40Tableau D.1 Classification des dfauts.4462193 IEC:2003
23、 3 CONTENTSFOREWORD 5INTRODUCTION 71 Scope 92 Normative references. 93 Terms and definitions .114 Classification 155 Requirements .155.1 Safety155.2 General .155.3 Requirements for the lock assembly and end caps.175.4 Surface finish 175.5 Dimensional requirements .175.6 Marking .175.7 Instructions f
24、or use 196 Type testing196.1 General .196.2 Visual inspection and dimensional check .216.3 Durability of markings 216.4 Dielectric tests.216.5 Mechanical tests237 Quality assurance plan .278 Modifications 27Annex A (informative) Selection of the length of the tip section of the tool37Annex B (normat
25、ive) Suitable for live working; double triangle (IEC-60417-5216:2002-10) .39Annex C (normative) Chronology of tests .41Annex D (normative) Quality assurance plan43Annex E (normative) Acceptance tests .47Annex F (informative) In-service recommendations 49Bibliography59Figure 1 Test for surface hydrop
26、hobic properties visual observation (see 6.4.1.1) .29Figure 2 Surface dielectric test (see 6.4.2) .31Figure 3 Bending test (see 6.5.1) .33Figure 4 Free fall impact test (see 6.5.2) 33Figure 5 Tension test (see 6.5.3)35Figure 6 Torsion test (see 6.5.4) 35Figure F.1 Typical set-up for high-voltage tes
27、ts57Table C.1 Sequence of tests 41Table D.1 Classification of defects .45 4 62193 CEI:2003COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE_TRAVAUX SOUS TENSION PERCHES TLSCOPIQUES ETPERCHES DE MESURE TLSCOPIQUESAVANT-PROPOS1) La CEI (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation mondiale
28、 de normalisationcompose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI apour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans lesdomaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI, entre autres activ
29、its, publie des Normesinternationales. Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit nationalintress par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et nongouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travau
30、x. La CEI collabore troitementavec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre lesdeux organisations.2) Les dcisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques reprsentent, dans la mesuredu possible, un accord international
31、 sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux intressssont reprsents dans chaque comit dtudes.3) Les documents produits se prsentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publiscomme normes, spcifications techniques, rapports techniques ou guides et agrs comme tels p
32、ar lesComits nationaux.4) Dans le but dencourager lunification internationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent appliquer defaon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs normesnationales et rgionales. Toute divergence entre la norme de la C
33、EI et la norme nationale ou rgionalecorrespondante doit tre indique en termes clairs dans cette dernire.5) La CEI na fix aucune procdure concernant le marquage comme indication dapprobation et sa responsabilitnest pas engage quand un matriel est dclar conforme lune de ses normes.6) Lattention est at
34、tire sur le fait que certains des lments de la prsente Norme internationale peuvent fairelobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait tre tenue pourresponsable de ne pas avoir identifi de tels droits de proprit et de ne pas avoir signal leur existence.La Norme
35、 internationale CEI 62193 a t tablie par le comit dtudes 78 de la CEI: Travauxsous tension.Le texte de cette norme est issu des documents suivants:FDIS Rapport de vote78/513/FDIS 78/523/RVDLe rapport de vote indiqu dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayantabouti lapprobatio
36、n de cette norme.Cette publication a t rdige selon les Directives ISO/CEI, Partie 2.Le comit a dcid que le contenu de cette publication ne sera pas modifi avant 2010.A cette date, la publication sera reconduite; supprime; remplace par une dition rvise, ou amende.62193 IEC:2003 5 INTERNATIONAL ELECTR
37、OTECHNICAL COMMISSION_LIVE WORKING TELESCOPIC STICKS ANDTELESCOPIC MEASURING STICKSFOREWORD1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprisingall national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to
38、promoteinternational co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. Tothis end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation isentrusted to technical committees; any IEC National Committee interest
39、ed in the subject dealt with mayparticipate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaisingwith the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the InternationalOrganization for Standardization (ISO) in accordance with
40、 conditions determined by agreement between thetwo organizations.2) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters express, as nearly as possible, aninternational consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representationfrom all interested Na
41、tional Committees.3) The documents produced have the form of recommendations for international use and are published in the formof standards, technical specifications, technical reports or guides and they are accepted by the NationalCommittees in that sense.4) In order to promote international unifi
42、cation, IEC National Committees undertake to apply IEC InternationalStandards transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Anydivergence between the IEC Standard and the corresponding national or regional standard shall be clearlyindicated in the latter.5) T
43、he IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for anyequipment declared to be in conformity with one of its standards.6) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this International Standard may be the subjectof patent right
44、s. The IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.International Standard IEC 62193 has been prepared by IEC technical committee 78: Liveworking.The text of this standard is based on the following documents:FDIS Report on voting78/513/FDIS 78/523/RVDFull informati
45、on on the voting for the approval of this standard can be found in the report onvoting indicated in the above table.This publication has been drafted in accordance with the ISO/IEC Directives, Part 2.The committee has decided that the contents of this publication will remain unchanged until 2010.At
46、this date, the publication will be reconfirmed; withdrawn; replaced by a revised edition, or amended. 6 62193 CEI:2003INTRODUCTIONCette Norme internationale a t prpare en conformit avec les exigences de la CEI 61477lorsque cela sappliquait.Les lments du plan qualit de cette norme ont t prpars en con
47、formit avec lesexigences de la CEI 61318.62193 IEC:2003 7 INTRODUCTIONThis International Standard has been prepared according to the requirements of IEC 61477where applicable.The quality plan elements of this standard were prepared in accordance with the requirementsof IEC 61318. 8 62193 CEI:2003TRA
48、VAUX SOUS TENSION PERCHES TLSCOPIQUES ETPERCHES DE MESURE TLSCOPIQUES1 Domaine dapplicationLa prsente Norme internationale est applicable aux perches tlescopiques et aux perches demesure tlescopiques destines tre utilises pour les travaux sous tension sur desinstallations lectriques en courant alternatif ou continu ayant une tension nominale gale ousuprieure 1 000 V en alternatif et 1 500 V en continu.Les perches tlescopiques sont conues pour accepter des outils ad
