1、 NORME INTERNATIONALECEIIECINTERNATIONAL STANDARD 60512-25-7Premire ditionFirst edition2004-12Connecteurs pour quipements lectroniques Essais et mesures Partie 25-7: Essai 25g Impdance, coefficient de rflexion, et rapport dondes stationnaires en tension (VSWR) Connectors for electronic equipment Tes
2、ts and measurements Part 25-7: Test 25g Impedance, reflection coefficient, and voltage standing wave ratio (VSWR) Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 60512-25-7:2004 Numrotation des publications Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numrotes partir de 60000. Ainsi, la CEI
3、 34-1 devient la CEI 60034-1. Editions consolides Les versions consolides de certaines publications de la CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement
4、1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Informations supplmentaires sur les publications de la CEI Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs cette publication, y c
5、ompris sa validit, sont dispo-nibles dans le Catalogue des publications de la CEI (voir ci-dessous) en plus des nouvelles ditions, amendements et corrigenda. Des informations sur les sujets ltude et lavancement des travaux entrepris par le comit dtudes qui a labor cette publication, ainsi que la lis
6、te des publications parues, sont galement disponibles par lintermdiaire de: Site web de la CEI (www.iec.ch) Catalogue des publications de la CEI Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI (www.iec.ch/searchpub) vous permet de faire des recherches en utilisant de nombreux critres, comprenant des
7、 recherches textuelles, par comit dtudes ou date de publication. Des informations en ligne sont galement disponibles sur les nouvelles publications, les publications remplaces ou retires, ainsi que sur les corrigenda. IEC Just Published Ce rsum des dernires publications parues (www.iec.ch/online_new
8、s/justpub) est aussi dispo-nible par courrier lectronique. Veuillez prendre contact avec le Service client (voir ci-dessous) pour plus dinformations. Service clients Si vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de renseignements supplmentaires, prenez contact avec le Servi
9、ce clients: Email: custserviec.ch Tl: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 Publication numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. For example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1. Consolidated editions The IEC is now publishing c
10、onsolidated versions of its publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incorporating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Further information on IEC publications The technical conten
11、t of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to this publication, including its validity, is available in the IEC Catalogue of publications (see below) in addition to new editions, amendments and corr
12、igenda. Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is also available from the following: IEC Web Site (www.iec.ch) Catalogue of IEC publications The on-lin
13、e catalogue on the IEC web site (www.iec.ch/searchpub) enables you to search by a variety of criteria including text searches, technical committees and date of publication. On-line information is also available on recently issued publications, withdrawn and replaced publications, as well as corrigen
14、da. IEC Just Published This summary of recently issued publications (www.iec.ch/online_news/justpub) is also available by email. Please contact the Customer Service Centre (see below) for further information. Customer Service Centre If you have any questions regarding this publication or need furthe
15、r assistance, please contact the Customer Service Centre: Email: custserviec.ch Tel: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 . NORME INTERNATIONALECEIIECINTERNATIONAL STANDARD 60512-25-7Premire ditionFirst edition2004-12Connecteurs pour quipements lectroniques Essais et mesures Partie 25-7: Essai 25g
16、 Impdance, coefficient de rflexion, et rapport dondes stationnaires en tension (VSWR) Connectors for electronic equipment Tests and measurements Part 25-7: Test 25g Impedance, reflection coefficient, and voltage standing wave ratio (VSWR) Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current c
17、atalogue IEC 2004 Droits de reproduction rservs Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. No
18、 part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher. International Electrotechnical Commission, 3, rue de Varemb, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, Switzerla
19、ndTelephone: +41 22 919 02 11 Telefax: +41 22 919 03 00 E-mail: inmailiec.ch Web: www.iec.ch CODE PRIX PRICE CODE W Commission Electrotechnique InternationaleInternational Electrotechnical Commission 2 60512-25-7 CEI:2004 SOMMAIRE AVANT-PROPOS 4 1 Domaine dapplication.8 2 Termes et dfinitions 8 3 Re
20、ssources dessai.10 3.1 Equipement .12 3.2 Dispositif de fixation 12 4 Eprouvette dessai 16 4.1 Description 16 5 Procdure dessai.16 5.1 Domaine temporel .16 5.2 Domaine frquentiel.20 6 Dtails spcifier .22 7 Documentation dessai24 Annexe A (normative) Temps de monte du systme de mesure 26 Annexe B (in
21、formative) Dtermination de lextrmit proximale et de lextrmit distale de lprouvette 32 Annexe C (informative) Normes dtalonnage et tracs de rfrence de la carte dessai 34 Annexe D (informative) Interprtation des graphiques dimpdance TDR 44 Annexe E (informative) Terminaisons lectriques .50 Annexe F (i
22、nformative) Guide pratique temps de monte variable 56 Annexe G (informative) Considrations de conception de carte de circuit imprim pour les mesures lectroniques.58 Annexe H (informative) Matriel dinjection du signal dessai 66 Figure A.1 Exemple de points de mesure du temps de monte .26 Figure A.2 E
23、xemple de sortie TDR, 2 courbes (temps de monte diffrents) et points de lprouvette de dbut et de fin.28 Figure A.3 Exemple de sortie danalyseur, impdance par rapport au trac logarithmique de frquence .30 Figure C.1 Fixation dessai type carte mre .36 Figure C.2 Fixation dessai type carte fille.36 Fig
24、ure C.3 Exemple de trac de rfrence proximale42 Figure D.1 Exemple dun profil dimpdance dun connecteur utilisant un temps de monte du systme de mesure de 35 ps.46 Figure D.2 Exemple de profils dimpdance de cble aux temps de monte de 35 ps et 1 ns 48 Figure E.1 Adaptations asymtriques52 Figure E.2 Ada
25、ptations diffrentielles (symtriques)54 Figure G.1 Gomtries de microruban (a) et de ligne triplaque (b) 58 Figure G.2 Gomtrie de microruban enterr60 Tableau 1 Temps de monte supplmentaire du systme de mesure (y compris dispositif de fixation et filtration) 18 60512-25-7 IEC:2004 3 CONTENTS FOREWORD.5
26、 1 Scope and object9 2 Terms and definitions .9 3 Test resources11 3.1 Equipment .13 3.2 Fixture.13 4 Test specimen 17 4.1 Description 17 5 Test procedure .17 5.1 Time domain .17 5.2 Frequency domain .21 6 Details to be specified.23 7 Test documentation 25 Annex A (normative) Measurement system rise
27、 time.27 Annex B (informative) Determination of the near end and far end of the specimen 33 Annex C (informative) Calibration standards and test board reference traces35 Annex D (informative) Interpreting TDR impedance graphs.45 Annex E (informative) Terminations Electrical51 Annex F (informative) P
28、ractical guidance variable rise time57 Annex G (informative) Printed circuit board design considerations for electronics measurements 59 Annex H (informative) Test signal launch hardware 67 Figure A.1 Example of rise-time measurement points .27 Figure A.2 Example of TDR output; 2 curves (different r
29、ise times) and start and stop specimen points 29 Figure A.3 Example of analyzer output, impedance versus log frequency plot31 Figure C.1 Typical mother-board test fixture .37 Figure C.2 Typical daughter-board test fixture 37 Figure C.3 Example of near-end reference trace.43 Figure D.1 Example of an
30、impedance profile of connector using a measurement system rise time of 35 ps.47 Figure D.2 Example of impedance profiles of cable at the rise time of 35 ps and 1 ns .49 Figure E.1 Single-ended terminations .53 Figure E.2 Differential (balanced) terminations .55 Figure G.1 Microstrip (a) and striplin
31、e (b) geometries .59 Figure G.2 Buried microstrip geometry61 Table 1 Additional measurement system rise time (including fixture and filtering) 19 4 60512-25-7 CEI:2004 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE _ CONNECTEURS POUR QUIPEMENTS LECTRONIQUES ESSAIS ET MESURES Partie 25-7: Essai 25g Impdan
32、ce, coefficient de rflexion, et rapport dondes stationnaires en tension (VSWR) AVANT-PROPOS 1) La Commission Electrotechnique Internationale (CEI) est une organisation mondiale de normalisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI a pour obj
33、et de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI entre autres activits publie des Normes internationales, des Spcifications techniques, des Rapports techniques, des Spcifications accessible
34、s au public (PAS) et des Guides (ci-aprs dnomms “Publication(s) de la CEI“). Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec
35、 la CEI, participent galement aux travaux. La CEI collabore troitement avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations. 2) Les dcisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques reprsentent, dans la
36、 mesure du possible, un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux de la CEI intresss sont reprsents dans chaque comit dtudes. 3) Les Publications de la CEI se prsentent sous la forme de recommandations internationales et sont agres comme telles par les Comits nati
37、onaux de la CEI. Tous les efforts raisonnables sont entrepris afin que la CEI sassure de lexactitude du contenu technique de ses publications; la CEI ne peut pas tre tenue responsable de lventuelle mauvaise utilisation ou interprtation qui en est faite par un quelconque utilisateur final. 4) Dans le
38、 but dencourager luniformit internationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent, dans toute la mesure possible, appliquer de faon transparente les Publications de la CEI dans leurs publications nationales et rgionales. Toutes divergences entre toutes Publications de la CEI et toutes publication
39、s nationales ou rgionales correspondantes doivent tre indiques en termes clairs dans ces dernires. 5) La CEI na prvu aucune procdure de marquage valant indication dapprobation et nengage pas sa responsabilit pour les quipements dclars conformes une de ses Publications. 6) Tous les utilisateurs doive
40、nt sassurer quils sont en possession de la dernire dition de cette publication. 7) Aucune responsabilit ne doit tre impute la CEI, ses administrateurs, employs, auxiliaires ou mandataires, y compris ses experts particuliers et les membres de ses comits dtudes et des Comits nationaux de la CEI, pour
41、tout prjudice caus en cas de dommages corporels et matriels, ou de tout autre dommage de quelque nature que ce soit, directe ou indirecte, ou pour supporter les cots (y compris les frais de justice) et les dpenses dcoulant de la publication ou de lutilisation de cette Publication de la CEI ou de tou
42、te autre Publication de la CEI, ou au crdit qui lui est accord. 8) Lattention est attire sur les rfrences normatives cites dans cette publication. Lutilisation de publications rfrences est obligatoire pour une application correcte de la prsente publication. 9) Lattention est attire sur le fait que c
43、ertains des lments de la prsente Publication de la CEI peuvent faire lobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait tre tenue pour responsable de ne pas avoir identifi de tels droits de proprit et de ne pas avoir signal leur existence. La Norme internationale CE
44、I 60512-25-7 a t tablie par le sous-comit 48B: Connecteurs, du comit dtudes 48 de la CEI: Composants lectromcaniques et structures mcaniques pour quipements lectroniques. Le texte de cette norme est issu des documents suivants: FDIS Rapport de vote 48B/1479/FDIS 48B/1506/RVD Le rapport de vote indiq
45、u dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant abouti lapprobation de cette norme. Cette publication a t rdige selon les Directives ISO/CEI, Partie 2. 60512-25-7 IEC:2004 5 INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION _ CONNECTORS FOR ELECTRONIC EQUIPMENT TESTS AND MEASUREMENTS P
46、art 25-7: Test 25g Impedance, reflection coefficient, and voltage standing wave ratio (VSWR) FOREWORD 1) The International Electrotechnical Commission (IEC) is a worldwide organization for standardization comprising all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of IE
47、C is to promote international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To this end and in addition to other activities, IEC publishes International Standards, Technical Specifications, Technical Reports, Publicly Available Specifications (PAS)
48、 and Guides (hereafter referred to as “IEC Publication(s)”). Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. IEC collaborates closely with the Internat
