1、NORME INTERNATIONALE INTERNATIONAL STANDARD 748 CE1 IEC -2-8 QC 7901 I I Premire dition First edition 1993-07 Dispositifs semiconducteurs - Circuits intgrs - Partie 2: Circuits intgrs numriques - Section huit - Spcification particulire cadre pour les mmoires circuits intgrs lecture- criture fonction
2、nement statique Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 2: Digital integrated circuits - Section eight - Blank detail specification for integrated circuit static read/write memories Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 748-2-8: 1993 Numros des publications Depuis le ler janvier 1997,
3、 les publications de la CE! sont numrotes partir de 60000. Publications consolides Les versions consolides de certaines publications de la CE1 incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication
4、 de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Validit de la prsente publication Le contenu technique des publications de la CE1 est constamment revu par la CE1 afin quil reflete ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs la date de re
5、confir- mation de la publication sont disponibles dans le Catalogue de la CEI. Les renseignements relatifs a des questions ltude et des travaux en c-Urs entrepris par le comit technique qui a tabli cette publication, ainsi que la liste des publications tablies, se trouvent dans les documents ci- des
6、sous: Site web de la CEP Catalogue des publications de la CE1 Publi annuellement et mis jour rgulirement (Catalogue en ligne) Bufietin de la CE1 Disponible a la fois JU site web. de la CEI et comme priodique imprim Terminologie, symboles graphiques et littraux En ce qui concerne la terminologie gnra
7、le, le lecteur se reportera la CE1 60050: Vocabulaire Electro- technique International (VE i). Pour les symboles graphiques, les symboles littraux et les signes d cage gnral approuvs par la CEI, le lecteur consulter2 la CE1 60027: Symboles littraux a utiliser en lectrotechnique, la CE1 6041 7: Symbo
8、les graphiques utilisables sur le matriel. Index, relev et compilation des feuilles individuelles. et la CE1 60617: Symboles graphiques pour schmas. Voir adresse 4te web. sur la page de titre. Numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. Co
9、nsolidated publications Consolidated versions of some IEC publications including amendments are available. For example, edition numbers 1 .O, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incor- porating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1
10、 and 2. Validity of this publication The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to the date of the reconfirmation of the publication is available in the IEC catalogue. Informatio
11、n on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is to be found at the following IEC sources: IEC web site* Catalogue of IEC publications Published yearly with regular upd
12、ates (On-line catalogue)* Available both at the IEC web site and as a printed periodical IEC Bulletin Terminology, graphical and letter symbols For general terminology, readers are referred to IEC 60050: International Electrotechnical Vocabulary (IEV). For graphical symbols, and letter symbols and s
13、igns approved by the IEC for general use, readers are referred to publications IEC 60027: Letter symbols to be used in electrical technology, IEC 60417: Graphical symbols for use on equipment. Index, survey and compilation of the single sheets and IEC 60617: Graphical symbols for diagrams. * See web
14、 site address on title page. NORME INTERNATIONALE INTERNATIONAL STANDARD CE1 IEC 748-2-8 QC 7901 11 Premiere dition First edition 1993-07 Dispositifs semiconducteurs - Circuits intgrs - Partie 2: Circuits intgrs numriques - Section huit - Spcification particulire cadre pour les mmoires circuits intg
15、rs lecture- criture fonctionnement statique Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 2: Digital integrated circuits - Section eight - Blank detail specification for integrated circuit static read/write memories CE1 1993 Droits de reproduction rservs - Copyright - all rights reserved Aucune
16、 partie de cetce publication ne peut tre reproduite ni Utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et les microfilms. sans raccord Bait de rditeur. No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, e
17、lectronic or mechanical, including photocopying and microfilm. wiihout permission in writing from the publisher Bureau central de la Commission Electrotechnique. Internationale 3, rue de Varemb Genve Suisse Tlfax: +41 22 919 0300 e-mail: inmailiec.ch IEC web site http:/www.iec.ch Commission Electrot
18、echnique Internationale International Electrotechnical Commission MewvHapOmiaR 3newrpoex.iecw KOMHCCHR CODE PRIX R PRICE CODE Pour prix. voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue 748-2-8 O CE111 993 -2- 47A(BC)240 COM M IS s I ON L ECTROT EC H N I Q U E I NT E R NAT I ON AL E 47A( B
19、C)250 DISPOSITIFS SEMICONDUCTEURS - Circuits intgrs - Partie 2: Circuits intgrs numriques - Section huit - Spcification particulire cadre pour les mmoires circuits intgrs lecture-criture fonctionnement statique AVANT-PROPOS La CE1 (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation mon
20、diale de normalisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CE1 a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI, entre autr
21、es activits, publie des Normes internationales. Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI. participent galement
22、 aux travaux. La CE1 collabore troitement avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations. Les dcisions ou accords officiels de la CE1 en ce qui concerne les questions techniques, prpars par les comits dtudes o sont reprsen
23、ts tous les Comits nationaux sintressant ces questions, expriment dans la plus grande mesure possible un accord international sur les sujets examins. Ces dcisions constituent des recommandations internationales publies sous forme de normes, de rapports techniques ou de guides et agres comme telles p
24、ar les Comits nationaux. Dans le but dencourager lunification internationale, les Comits nationaux de la CE1 sengagent appliquer de faon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationaies de la CE1 dans leurs normes nationales et rgionales. Toute divergence entre la norme de la
25、GEI et la norme nationale ou rgionale correspondante doit tre indique en termes clairs dans cette dernire. La prsente norme a t tablie par le Sous-Comit 47A: Circuits intgrs, et par le Comit dEtudes no 47 de la CEI: Dispositifs semiconducteurs. Cette norme est une spcification particulire cadre pour
26、 les mmoires circuits integres lecture-criture fonctionnement statique. Le texte de cette norme est issu des documents suivants: I Rgle des Six Mois I Rapport de vote I Le rapport de vote indiqu dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant abouti lapprobation de cette norme. L
27、e numro QC qui figure sur la page de couverture de la prsente publication est le numro de la spcification dans le systme CE1 dassurance de la qualit des composants lectroniques (IECQ). 748-2-8 O IEC:1993 -3- Six Months Rule INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION Report on Voting SEMICONDUCTOR DEV
28、ICES - Integrated circuits - Part 2: Digital integrated circuits - Section eight - Blank detail specification for integrated circuit static read/write memories FOREWORD The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprising all national electro
29、technical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to promote international cooperation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their prepara
30、tion is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International. governmental and non-governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely
31、 with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two organizations. The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters, prepared by technical committees on which all the National Committees having a speci
32、al interest therein are represented, express, as nearly as possible, an international consensus of opinion on the subjects dealt with. They have the form of recommendations for international use published in the form of standards, technical reports or guides and they are accepted by the National Com
33、mittees in that sense. In order to promote international unification, IEC National Committees undertake to apply IEC International Standards transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Any divergence between the IEC Standard and the corresponding national o
34、r regional standard shall be clearly indicated in the latter. This standard has been prepared by Sub-Committee 47A: Integrated circuits, and IEC Technical Committee No. 47: Semiconductor devices. This standard is a blank detail specification for integrated circuit static read/write memories. The tex
35、t of this standard is based on the following documents: I I 47A(C0)240 I 47A(C0)250 Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the Voting Report indicated in the above table. The QC number that appears on the front cover of this publication is the specification
36、number in the IEC Quality Assessment System for Electronic Components (IECQ). -4- Les publications suivantes de la CE/ sont cites dans la prsente norme: 748-2-8 O CE111 993 Publications nos 68-2-1 7 (1978): 134 (1961): 617-12 (1991): 747-10 (1991): 748-2 (1985): 748-1 1 (1990): 749 (1984): Essais de
37、nvironnement - Deuxime partie: Essais - Essai Q: Etanchit. Systmes de valeurs limites pour les tubes lectroniques et les dispositifs semiconducteurs analogues. Symboles graphiques pour schmas. Douzime partie: Oprateurs logiques binaires. Dispositifs semiconducteurs. Dispositifs discrets. Dixime part
38、ie: Spcifi- cation gnrique pour les dispositifs discrets et les circuits intgrs. Dispositifs semiconducteurs. Circuits intgrs. Deuxime partie: Circuits intgrs numriques. Amendement 1 (1991). Dispositifs semiconducteurs. Circuits intgrs. Onzime partie: Spci- fication intermdiaire pour les circuits in
39、tgrs semiconducteurs lexclusion des circuits hybrides. Dispositifs semiconducteurs. Essais mcaniques et climatiques. Amendement 1 (1991). 748-2-8 O IEC3 993 -5- The following IEC publications are quoted in this standard: Publications Nos. 68-2-1 7 (1978): 134 (1961): 617-12 (1991): 747-10 (1991): 74
40、8-2 (1985): 748-1 1 (1990): 749 (1 984): Environmental testing - Part 2: Tests Rating systems for electronic tubes conductor devices. Graphical symbols for diagrams. Part Test Q: Sealing. and valves and analogous semi- 2: Binary logic elements. Semiconductor devices. Part 1 O: Generic specification
41、for discrete devices and integrated circuits. Semiconductor devices. Integrated circuits. Part 2: Digital integrated circuit. Amendment 1 (1991). Semiconductor devices. Integrated circuits. Part 1 1 : Sectional speci- fication for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits. Semicond
42、uctor devices. Mechanical and climatic test methods. Amendment 1 (1991). -6- 748-2-8 O CEI:1993 DISPOSITIFS SEMICONDUCTEURS - Circuits intgrs - Partie 2: Circuits intgrs numriques - Section huit - Spcification particulire cadre pour les mmoires circuits intgrs lecture-criture fonctionnement statique
43、 INTRODUCTION Le systme CE1 dassurance de la qualit des composants lectroniques fonctionne conformment aux statuts de la CE1 et sous son autorit. Le but de ce systme est de dfinir les procdures dassurance de la qualit de telle faon que les composants elec- troniques livrs par un pays participant com
44、me tant, conformes aux exigences dune spcification applicable soient galement acceptables dans les autres pays participants sans ncessiter dautres essais. Cette spcification particulire cadre fait partie dune srie de spcifications particulires cadres concernant les dispositifs a semiconducteurs; ell
45、e doit tre utilise avec les publications suivantes de la CEI: 747- 1 O/QC 700000: Dispositifs semiconducteurs - Dispositifs discrets. Dixime partie: Spcification gnrique pour les dispositifs discrets et les circuits intgrs. 748- 1 1 /QC 7901 00: Dispositifs a semiconducteurs. Circuits intgrs. Onzime
46、 partie: Spcification intermdiaire pour les circuits intgrs semiconducteurs a lexclusion des hybrides. Renseignements ncessaires Les nombres placs entre crochets sur cette page et les pages suivantes correspondent aux indications suivantes qui doivent tre portes dans les cases prvues a cet effet. Id
47、entification de la spcification particulire l Nom de lorganisme National de Normalisation sous lautorit duquel la spcification particulire est tablie. 2 Numro IECQ de la spcification particulire. 3 Numros de rfrence et ddition des spcifications gnrique et intermdiaire. 4 Numro national de la spcific
48、ation particulire, date ddition et toute autre information requise par le systme national. Identification du composant 5 6 Fonction principale et numro de type. Renseignements sur la construction typique (matriaux, technologie principale) et le botier. Si les produits ont des variantes, elles doivent tre indiques ainsi que leurs caractristiques. 748-2-8 O IEC:1993 -7- SEMICONDUCTOR DEVICES - Integrated circuits - Part 2: Digital integrated circuits - Section eight - Blank detail specification for integr
