1、 NORME INTERNATIONALECEIIECINTERNATIONAL STANDARD 61280-2-10Premire ditionFirst edition2005-07Procdures dessai des sous-systmes de tlcommunications fibres optiques Partie 2-10: Systmes numriques Mesure de la fluctuation de la longueur donde rsolue dans le temps et du facteur alpha des metteurs laser
2、 Fibre optic communication subsystem test procedures Part 2-10: Digital systems Time-resolved chirp and alpha-factor measurement of laser transmitters Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 61280-2-10:2005 Numrotation des publications Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont nu
3、mrotes partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 devient la CEI 60034-1. Editions consolides Les versions consolides de certaines publications de la CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publica
4、tion de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Informations supplmentaires sur les publications de la CEI Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseigne
5、ments relatifs cette publication, y compris sa validit, sont dispo-nibles dans le Catalogue des publications de la CEI (voir ci-dessous) en plus des nouvelles ditions, amendements et corrigenda. Des informations sur les sujets ltude et lavancement des travaux entrepris par le comit dtudes qui a labo
6、r cette publication, ainsi que la liste des publications parues, sont galement disponibles par lintermdiaire de: Site web de la CEI (www.iec.ch) Catalogue des publications de la CEI Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI (www.iec.ch/searchpub) vous permet de faire des recherches en utilisan
7、t de nombreux critres, comprenant des recherches textuelles, par comit dtudes ou date de publication. Des informations en ligne sont galement disponibles sur les nouvelles publications, les publications remplaces ou retires, ainsi que sur les corrigenda. IEC Just Published Ce rsum des dernires publi
8、cations parues (www.iec.ch/online_news/justpub) est aussi dispo-nible par courrier lectronique. Veuillez prendre contact avec le Service client (voir ci-dessous) pour plus dinformations. Service clients Si vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de renseignements supplme
9、ntaires, prenez contact avec le Service clients: Email: custserviec.ch Tl: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 Publication numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. For example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1. Consolidated
10、 editions The IEC is now publishing consolidated versions of its publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incorporating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Further information on
11、IEC publications The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to this publication, including its validity, is available in the IEC Catalogue of publications (see below) in addition
12、 to new editions, amendments and corrigenda. Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is also available from the following: IEC Web Site (www.iec.ch) Cat
13、alogue of IEC publications The on-line catalogue on the IEC web site (www.iec.ch/searchpub) enables you to search by a variety of criteria including text searches, technical committees and date of publication. On-line information is also available on recently issued publications, withdrawn and repla
14、ced publications, as well as corrigenda. IEC Just Published This summary of recently issued publications (www.iec.ch/online_news/justpub) is also available by email. Please contact the Customer Service Centre (see below) for further information. Customer Service Centre If you have any questions rega
15、rding this publication or need further assistance, please contact the Customer Service Centre: Email: custserviec.ch Tel: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 . NORME INTERNATIONALECEIIECINTERNATIONAL STANDARD 61280-2-10Premire ditionFirst edition2005-07Procdures dessai des sous-systmes de tlcommu
16、nications fibres optiques Partie 2-10: Systmes numriques Mesure de la fluctuation de la longueur donde rsolue dans le temps et du facteur alpha des metteurs laser Fibre optic communication subsystem test procedures Part 2-10: Digital systems Time-resolved chirp and alpha-factor measurement of laser
17、transmitters Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue IEC 2005 Droits de reproduction rservs Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y
18、 compris la photocopie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher. International Electrotechni
19、cal Commission, 3, rue de Varemb, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, SwitzerlandTelephone: +41 22 919 02 11 Telefax: +41 22 919 03 00 E-mail: inmailiec.ch Web: www.iec.ch CODE PRIX PRICE CODE T Commission Electrotechnique InternationaleInternational Electrotechnical Commission 2 61280-2-10 CEI:2005 SOMM
20、AIRE AVANT-PROPOS6 1 Domaine dapplication 10 2 Contexte.10 3 Abrviations .12 4 Dfinition de la fluctuation de la longueur donde rsolue dans le temps.12 5 Modlisation des caractristiques de lmetteur14 6 Vue densemble des mthodes de mesure de la fluctuation de la longueur donde .16 7 Mthode du discrim
21、inateur en frquence 22 7.1 Appareillage 22 7.2 Procdure .24 8 Mthode du monochromateur .26 8.1 Appareillage 26 8.2 Procdure .28 9 Calculs du facteur alpha .30 9.1 Facteur alpha en fonction du temps, (t) .30 9.2 Facteur alpha moyen, moy.32 9.3 Facteur alpha en fonction de la puissance, (P) 32 10 Docu
22、mentation .32 Annexe A (informative) Vrification du montage de la fluctuation de la longueur donde rsolue dans le temps et des calculs.34 Annexe B (informative) Mthodes de modulation de lmetteur optique36 Bibliographie.46 Figure 1 Mesure type de la fluctuation de la longueur donde rsolue dans le tem
23、ps14 Figure 2 Schma simplifi de la mthode du discriminateur en frquence16 Figure 3 La mthode du discriminateur en frquence ncessite une mesure au niveau du point de quadrature de linterfromtre .18 Figure 4 Dans la mthode de la porte optique rsolue en frquence, le spectre provenant dun signal porte o
24、ptique est mesur sur un ASO 20 Figure 5 Schma fonctionnel simplifi de la mthode du monochromateur. 20 Figure 6 Afin dobtenir une dispersion faible, une configuration double pas est gnralement utilise22 Figure 7 Montage de la mthode du discriminateur en frquence.22 Figure 8 Montage de la mthode du mo
25、nochromateur26 Figure 9 Exemple de trac du facteur alpha en fonction du temps pour un laser modul lectro-absorption30 Figure 10 Facteur alpha en fonction de la puissance pour (a) un laser modul directement et (b) un laser modul lectro-absorption32 Figure A.1 Modulation seulement en phase observe sur
26、 (a) un ASO et (b) un montage de mesure de la fluctuation de la longueur donde rsolue dans le temps.34 Figure B.1 Reprsentation schmatique dun laser modul directement .36 61280-2-10 IEC:2005 3 CONTENTS FOREWORD.7 1 Scope.11 2 Background 11 3 Abbreviations .13 4 Definition of time-resolved chirp .13
27、5 Modelling transmitter behaviour15 6 Overview of chirp measurement methods .17 7 Frequency discriminator method.23 7.1 Apparatus23 7.2 Procedure .25 8 Monochromator method27 8.1 Apparatus27 8.2 Procedure .29 9 Alpha-factor calculations 31 9.1 Alpha factor versus time, (t) 31 9.2 Average alpha facto
28、r, avg.33 9.3 Alpha factor versus power, (P) 33 10 Documentation .33 Annex A (informative) Verification of TRC set-up and calculations .35 Annex B (informative) Optical transmitter modulation methods.37 Bibliography47 Figure 1 A typical TRC measurement.15 Figure 2 Simplified diagram for the frequenc
29、y discriminator method.17 Figure 3 The frequency discriminator method requires measurement at the quadrature point of the interferometer.19 Figure 4 In the FROG method, the spectrum from an optically-gated signal is measured on an OSA21 Figure 5 Simplified block diagram for the monochromator method2
30、1 Figure 6 To obtain low dispersion, a double-pass configuration is typically used23 Figure 7 Set-up for the frequency discriminator method .23 Figure 8 Set-up for the monochromator method .27 Figure 9 An example plot of alpha versus time for an EML.31 Figure 10 Alpha factor versus power for (a) a D
31、M laser and (b) an EML.33 Figure A.1 Pure phase modulation observed on (a) an OSA and (b) a TRC measurement set-up .35 Figure B.1 Schematic representation of a directly modulated laser.37 4 61280-2-10 CEI:2005 Figure B.2 Un laser modul directement a une fluctuation de la longueur donde transitoire e
32、t adiabatique significative .38 Figure B.3 Reprsentation schmatique dun laser modul lectro-absorption 40 Figure B.4 Fluctuation de la longueur donde dun laser modul lectro-absorption avec une fluctuation de la longueur donde transitoire normale .40 Figure B.5 Fluctuation de la longueur donde dun las
33、er modul lectro-absorption avec une caractristique transitoire supplmentaire42 Figure B.6 Reprsentation schmatique dun modulateur de Mach-Zehnder 44 Figure B.7 Mesure de la fluctuation de la longueur donde sur un modulateur de Mach-Zehnder prsentant uniquement une fluctuation de la longueur donde tr
34、ansitoire .44 Tableau 1 Frquence instantane, fipour chaque intervalle de temps, tiet moyenne calcule pondre en frquence, f(t).18 61280-2-10 IEC:2005 5 Figure B.2 A directly modulated laser has significant transient and adiabatic chirp 39 Figure B.3 Schematic representation of an EML.41 Figure B.4 Ch
35、irp of an EML with normal transient chirp41 Figure B.5 Chirp of an EML with an additional transient characteristic .43 Figure B.6 Schematic representation of a Mach-Zehnder modulator.45 Figure B.7 Chirp measurement on a Mach-Zehnder modulator showing only transient chirp.45 Table 1 Instantaneous fre
36、quency, fifor each time slot, tiand the calculated weighted-average frequency, f(t). .19 6 61280-2-10 CEI:2005 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE _ PROCDURES DESSAI DES SOUS-SYSTMES DE TLCOMMUNICATIONS FIBRES OPTIQUES Partie 2-10: Systmes numriques Mesure de la fluctuation de la longueur dond
37、e rsolue dans le temps et du facteur alpha des metteurs laser AVANT-PROPOS 1) La Commission Electrotechnique Internationale (CEI) est une organisation mondiale de normalisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favoriser l
38、a coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI entre autres activits publie des Normes internationales, des Spcifications techniques, des Rapports techniques, des Spcifications accessibles au public (PAS)
39、 et des Guides (ci-aprs dnomms “Publication(s) de la CEI“). Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, particip
40、ent galement aux travaux. La CEI collabore troitement avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations. 2) Les dcisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques reprsentent, dans la mesure du possib
41、le, un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux intresss sont reprsents dans chaque comit dtudes. 3) Les Publications de la CEI se prsentent sous la forme de recommandations internationales et sont agres comme telles par les Comits nationaux de la CEI. Tous les e
42、fforts raisonnables sont entrepris afin que la CEI sassure de lexactitude du contenu technique de ses publications; la CEI ne peut pas tre tenue responsable de lventuelle mauvaise utilisation ou interprtation qui en est faite par un quelconque utilisateur final. 4) Dans le but dencourager lunificati
43、on internationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent appliquer de faon transparente, dans toute la mesure possible, les normes internationales de la CEI dans leurs normes nationales et rgionales. Toutes divergences entre toutes Publications de la CEI et toutes publications nationales ou rgion
44、ales correspondantes doivent tre indiques en termes clairs dans ces dernires. 5) La CEI na prvu aucune procdure de marquage valant indication dapprobation et nengage pas sa responsabilit pour les quipements dclars conformes une de ses Publications. 6) Tous les utilisateurs doivent sassurer quils son
45、t en possession de la dernire dition de cette publication. 7) Aucune responsabilit ne doit tre impute la CEI, ses administrateurs, employs, auxiliaires ou mandataires, y compris ses experts particuliers et les membres de ses comits dtudes et des Comits nationaux de la CEI, pour tout prjudice caus en
46、 cas de dommages corporels et matriels, ou de tout autre dommage de quelque nature que ce soit, directe ou indirecte, ou pour supporter les cots (y compris les frais de justice) et les dpenses dcoulant de la publication ou de lutilisation de cette Publication de la CEI ou de toute autre Publication
47、de la CEI, ou au crdit qui lui est accord. 8) Lattention est attire sur les rfrences normatives cites dans cette publication. Lutilisation de publications rfrences est obligatoire pour une application correcte de la prsente publication. La Commission lectrotechnique Internationale (CEI) attire latte
48、ntion sur le fait que lon demande que la conformit au prsent document puisse entraner lutilisation dun brevet concernant le monochromateur double pas dcrit aux articles 2.4 et 4.1. La CEI ne prend pas position concernant la preuve, la validit et le domaine dapplication de ce droit de proprit industrielle. Le dtenteur de ce droit de proprit ind
