1、NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 61967-5 Premire dition First edition 2003-02 Circuits intgrs Mesure des missions lectromagntiques, 150 kHz 1 GHz Partie 5: Mesure des missions conduites Mthode de la cage de Faraday sur banc de travail Integrated circuits Measurement of electromagn
2、etic emissions, 150 kHz to 1 GHz Part 5: Measurement of conducted emissions Workbench Faraday Cage method Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 61967-5:2003Numrotation des publications Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numrotes partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 devien
3、t la CEI 60034-1. Editions consolides Les versions consolides de certaines publications de la CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros dditi on 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la pu
4、blication de base incorporant les amendements 1 et 2. Informations supplmentaires sur les publications de la CEI Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs cette publication, y compris sa v
5、alidit, sont dispo- nibles dans le Catalogue des publications de la CEI (voir ci-dessous) en plus des nouvelles ditions, amendements et corrigenda. Des informations sur les sujets ltude et lavancement des travaux entrepris par le comit dtudes qui a labor cette publication, ainsi que la liste des pub
6、lications parues, sont galement disponibles par lintermdiaire de: Site web de la CEI (www.iec.ch) Catalogue des publications de la CEI Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI (www.iec.ch/catlg-f.htm) vous permet de faire des recherches en utilisant de nombreux critres, comprenant des recherc
7、hes textuelles, par comit dtudes ou date de publication. Des informations en ligne sont galement disponibles sur les nouvelles publications, les publications rempla- ces ou retires, ainsi que sur les corrigenda. IEC Just Published Ce rsum des dernires publications parues (www.iec.ch/JP.htm) est auss
8、i disponible par courrier lectronique. Veuillez prendre contact avec le Service client (voir ci-dessous) pour plus dinformations. Service clients Si vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de renseignements supplmentaires, prenez contact avec le Service clients: Email: c
9、ustserviec.ch Tl: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 Publication numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. For example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1. Consolidated editions The IEC is now publishing consolidated versions
10、 of its publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incorporating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Further information on IEC publications The technical content of IEC publication
11、s is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to this publication, including its validity, is available in the IEC Catalogue of publications (see below) in addition to new editions, amendments and corrigenda. Information
12、on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is also available from the following: IEC Web Site (www.iec.ch) Catalogue of IEC publications The on-line catalogue on the I
13、EC web site (www.iec.ch/catlg-e.htm) enables you to search by a variety of criteria including text searches, technical committees and date of publication. On- line information is also available on recently issued publications, withdrawn and replaced publications, as well as corrigenda. IEC Just Publ
14、ished This summary of recently issued publications (www.iec.ch/JP.htm) is also available by email. Please contact the Customer Service Centre (see below) for further information. Customer Service Centre If you have any questions regarding this publication or need further assistance, please contact t
15、he Customer Service Centre: Email: custserviec.ch Tel: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 .NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 61967-5 Premire dition First edition 2003-02 Circuits intgrs Mesure des missions lectromagntiques, 150 kHz 1 GHz Partie 5: Mesure des missions conduites
16、Mthode de la cage de Faraday sur banc de travail Integrated circuits Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz Part 5: Measurement of conducted emissions Workbench Faraday Cage method Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue IEC 2003 Droits de reproducti
17、on rservs Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. No part of this publication may be repro
18、duced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher. International Electrotechnical Commission, 3, rue de Varemb, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, Switzerland Telephone: +41 22 919 02 11 Telefax
19、: +41 22 919 03 00 E-mail: inmailiec.ch Web: www.iec.ch CODE PRIX PRICE CODE T Commission Electrotechnique Internationale International Electrotechnical Commission 2 61967-5 CEI:2003 SOMMAIRE AVANT-PROPOS . 6 INTRODUCTION .10 1 Domaine dapplication .12 2 Rfrences normatives .12 3 Dfinitions.12 4 Gnr
20、alits .12 4.1 Principe de mesure14 4.2 Montage de principe.16 4.3 Concept du banc de travail.16 5 Conditions dessai.16 6 Appareil dessai.18 7 Montage dessai18 7.1 Blindage et champs ambiants.18 7.2 Montage 20 7.3 Connexions la carte lectronique circuit imprim 20 7.4 Points de mode commun20 7.4.1 Ess
21、ais de comparaison 20 7.4.2 Applications dfinitives.22 7.5 Limites dmission .22 7.6 Banc de travail Application pratique.22 7.7 Carte lectronique circuit imprim dessai24 8 Procdure dessai .24 9 Rapport dessai.24 9.1 Critres dmission 24 9.2 Niveaux dmission 26 Annexe A (normative) Spcification de dta
22、il de la cage de Faraday sur banc de travail28 Annexe B (informative) Impdances en mode commun .38 Annexe C (informative) Calcul des limites.40 Annexe D (informative) Utilisation du banc de travail.42 Bibliographie .46 Figure 1 Mthode de mesure des rseaux de couplage/dcouplage (RCD) comme indiqu dan
23、s la CEI 61000-4-6.16 Figure 2 Montage pour les essais dmission avec la cage de Faraday sur banc de travail .18 Figure 3 Slection des points dessai de mode commun20 Figure A.1 Schma mcanique de la cage de Faraday sur banc de travail.30 Figure A.2 Schma mcanique du banc de travail Vue de dessus.32 Fi
24、gure A.3 Filtre passe-bas de traverse.32 Figure A.4 Constitution du rseau de 150 (exemple)34 Figure A.5 Exemple de mesure dimpdance dun rseau 150 .3461967-5 IEC:2003 3 CONTENTS FOREWORD 7 INTRODUCTION .11 1 Scope .13 2 Normative references13 3 Definitions.13 4 General.13 4.1 Measurement philosophy15
25、 4.2 Principle set-up17 4.3 Workbench concept .17 5 Test conditions17 6 Test equipment .19 7 Test set-up .19 7.1 Shielding and ambient fields.19 7.2 Workbench set-up21 7.3 Connections to the PCB .21 7.4 Common-mode points21 7.4.1 Comparison testing 21 7.4.2 Definitive application 23 7.5 Emission lim
26、its.23 7.6 Workbench Practical implementation.23 7.7 Test PCB.25 8 Test procedure25 9 Test report25 9.1 Emission criteria 25 9.2 Emission levels27 Annex A (normative) Detail specification of Workbench Faraday Cage (WBFC).29 Annex B (informative) Common-mode impedances .39 Annex C (informative) Deriv
27、ation of limits .41 Annex D (informative) Use of the Workbench43 Bibliography 47 Figure 1 Coupling/decoupling network (CDN) measurement method as indicated in IEC 61000-4-6 .17 Figure 2 Set-up for emission testing using the Workbench Faraday Cage (WBFC) 19 Figure 3 Selection of common-mode test poin
28、ts21 Figure A.1 Mechanical drawing of Workbench Faraday Cage 31 Figure A.2 Mechanical drawing of Workbench Cover33 Figure A.3 Low-pass feed-through filter.33 Figure A.4 Construction of the 150- network (example).35 Figure A.5 Example of the measured impedance of the 150- network .35 4 61967-5 CEI:20
29、03 Figure A.6 Mise en place pour la calibration du rseau de 150 .36 Figure C.1 Limite dmission de classe B (dB V/m) adapte au banc de travail (dB V) .40 Figure D.1 Modle constantes localises de la cage de Faraday sur banc de travail .42 Tableau B.1 Valeurs statistiques des rsistances de rayonnement
30、mesures sur des cbles de grande longueur 38 Tableau B.2 Paramtres dimpdance en mode commun dun rseau coupleur/dcoupleur 3861967-5 IEC:2003 5 Figure A.6 Set-up for the 150- network calibration 37 Figure C.1 Class B emission limit (dB V/m) adapted to the Workbench (dB V) .41 Figure D.1 WBFC lumped ele
31、ments model43 Table B.1 Statistical values of radiation resistances measured on long cables.39 Table B.2 CDN common-mode impedance parameters .39 6 61967-5 CEI:2003 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE _ CIRCUITS INTGRS MESURE DES MISSIONS LECTROMAGNTIQUES, 150 kHz 1 GHz Partie 5: Mesure des mi
32、ssions conduites Mthode de la cage de Faraday sur banc de travail AVANT-PROPOS 1) La CEI (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation internationale de normalisation compose de tous les comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favori
33、ser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI, entre autres activits, publie des Normes internationales. Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intres
34、s par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CEI collabore troitement avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord ent
35、re les deux organisations. 2) Les dcisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques reprsentent, dans la mesure du possible un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux intresss sont reprsents dans chaque comit dtudes. 3) Les documents pr
36、oduits se prsentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publis comme normes, spcifications techniques, rapports techniques ou guides et agrs comme tels par les Comits nationaux. 4) Dans le but dencourager lunification internationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent ap
37、pliquer de faon transparente, dans toute la mesure du possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs normes nationales et rgionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou rgionale correspondante doit tre indique en termes clairs dans cette dernire. 5) La CEI n
38、e fixe aucune procdure concernant le marquage comme indication dapprobation et sa responsabilit nest pas engage quand un matriel est dclar conforme lune de ces normes. 6) Lattention est attire sur le fait que certains lments de la prsente norme internationale peuvent faire lobjet de droits de propri
39、t intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait tre tenue pour responsable de ne pas avoir identifi de tels droits de proprit et de ne pas avoir signal leur existence. La Norme internationale CEI 61967-5 a t tablie par le sous-comit 47A: Circuits intgrs, du comit dtudes 47 de la CEI: Disp
40、ositifs semiconducteurs. Le texte de cette norme est issu des documents suivants: FDIS Rapport de vote 47A/661/FDIS 47A/664/RVD Le rapport de vote indiqu dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant abouti lapprobation de cette norme. Cette publication a t rdige selon les Dire
41、ctives ISO/CEI, Partie 2. La prsente partie de la CEI 61967 doit tre lue conjointement avec la CEI 61967-1.61967-5 IEC:2003 7 INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION _ INTEGRATED CIRCUITS MEASUREMENT OF ELECTROMAGNETIC EMISSIONS, 150 kHz TO 1 GHz Part 5: Measurement of conducted emissions Workbenc
42、h Faraday Cage method FOREWORD 1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organisation for standardisation comprising all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to promote international co-operation on all questions concern
43、ing standardisation in the electrical and electronic fields. To this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may participate in this pre
44、paratory work. International, governmental and non-governmental organisations liasing with the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the International Organisation for Standardisation (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two or
45、ganisations. 2) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters express, as nearly as possible, an international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation from all interested National Committees. 3) The documents produced have
46、the form of recommendations for international use and are published in the form of standards, technical specifications, technical reports or guides and they are accepted by the National Committees in that sense. 4) In order to promote international unification, IEC National Committees undertake to a
47、pply IEC International Standards transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Any divergence between the IEC Standard and the corresponding national or regional standard shall be clearly indicated in the latter. 5) The IEC provides no marking procedure to in
48、dicate its approval and cannot be rendered responsible for any equipment declared to be in conformity with one of its standards. 6) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this International Standard may be the subject of patent rights. The IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights. International Standard IEC 61967-5 has been pr
