搜索
麦多课文库
收藏
下载资源
加入VIP,免费下载
YD T 2941 2-2015 Test method for interworking between session initiation protocol (SIP) and legacy protocols Part 2 interworking between SIP and BICC《会话初始协议与传统网.pdf
上传人:
towelfact221
文档编号:1289078
上传时间:2019-09-19
格式:PDF
页数:152
大小:17.51MB
下载
相关
举报
第1页 / 共152页
第2页 / 共152页
第3页 / 共152页
第4页 / 共152页
第5页 / 共152页
点击查看更多>>
资源描述
展开
阅读全文
相关资源
YD T 6095-2024 基于SDN NFV的新一代网络架构 固移融合专线业务总体技术要求.pdf
YD T 6097-2024 面向电信网的软件定义边界(SDP)技术要求.pdf
YD T 6098-2024 基于AI赋能的通信网络架构和AI通用能力技术要求.pdf
YD T 6096-2024 基于SDN的网络随选系统 SDN控制器技术要求.pdf
YD T 6101-2024 深度包检测策略信息库智能管理技术要求.pdf
YD T 6086.1-2024 800Gb s强度调制可插拔光收发合一模块 第1部分:8×100Gb s.pdf
YD T 6089-2024 移动互联网+智能家居系统 跨平台接入与控制测试方法.pdf
YD T 6099-2024 数字孪生网络 中间系统到中间系统(ISIS)孪生体模拟能力要求.pdf
YD T 6079-2024 确定性承载网络的操作管理维护技术要求.pdf
YD T 6102-2024 IP自智网络 总体技术要求.pdf
猜你喜欢
JEDEC JESD22-B115A 01-2016 Solder Ball Pull.pdf
JEDEC JESD22-B116A-2009 Wire Bond Shear Test Method.pdf
JEDEC JESD22-B116B-2017 Wire Bond Shear Test Method.pdf
JEDEC JESD22-B117B-2014 Solder Ball Shear.pdf
JEDEC JESD22-B118-2011 Semiconductor Wafer and Die Backside External Visual Inspection.pdf
JEDEC JESD22-C101F-2013 Field-Induced Charged-Device Model Test Method for Electrostatic-Discharge-Withstand Thresholds of Microelectronic Components.pdf
JEDEC JESD220-1A-2016 Universal Flash Storage (UFS) Unified Memory Extension Version 1 1.pdf
JEDEC JESD220-2-2016 Universal Flash Storage (UFS) Card Extension Version 1 0.pdf
JEDEC JESD220-2A-2018 Universal Flash Storage (UFS) Card Extension Version 1 1.pdf
相关搜索
YDT294122015TESTMETHODFORINTERWORKI
当前位置:
首页
>
标准规范
>
行业标准
>
YD通信行业
copyright@ 2008-2019 麦多课文库(www.mydoc123.com)网站版权所有
备案/许可证编号:
苏ICP备17064731号-1
登录
首页
资源分类
专题
通知公告