DB37 T 1130-2008 孔府糕点 煎饼.pdf

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资源描述

1、ICS J 74 DB37 山东省地方标准 DB37/T10302008 在役超高压水晶釜超声波检测规程 2008-12-02 发布 山东省质量技术监督局 发 布 2008-12-15 实施 DB37/T1030 2008 前 言 本标准附录 A、B 为规范性附录。 本标准由山东省质量技术监督局提出。 本标准起草单位:山东省特种设备检验研究院。 本标准主要起草人:张波、李以善、邹石磊、张峰、郭怀力、曹怀祥、许洋、柴子昂、戴家辉、柳 长磊。 I DB37/T1030 2008 在役超高压水晶釜超声波检测规程 1 范围 本标准规定了采用 A 型脉冲反射式超声波探伤仪检测在役超高压水晶釜的手工超声检

2、测方法和质 量评定。 2 规范性引用文件 下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的 修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究 是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。 GB 11345-1989 钢焊缝手工超声波探伤方法和探伤结果的分级 GB/T 12604.1 无损检测术语 超声检测 JB/T 4730-2005 承压设备无损检测 JB/T 7913-1995 超声波检测用钢制对比试块的制作与校验方法 JB/T 9214-1999 A 型脉冲反射式超声探伤系统

3、工作性能测试方法 JB/T 10061-1999 A 型脉冲反射式超声波探伤仪通用技术条件 JB/T 10062-1999 超声探伤探头性能测试方法 JB/T 10063-1999 超声探伤用 1 号标准试块技术条件 TSG R 0002-2005 超高压容器安全技术监察规程 国质锅检字2003248 号特种设备无损检测人员考核与监督管理规则 3 术语和定义 GB/T 12604.1 规定的术语和定义适用于本标准。 3.1 超声标准试块 JB/T 4730.3规定的用于超声仪器探头系统性能校准和检测校准的试块。 3.2 超声对比试块 用于超声检测校准的试块。 3.3 基准灵敏度和扫查灵敏度 基

4、准灵敏度一般指的是记录灵敏度,它通常用于缺陷的定量和缺陷的等级评定。 扫查灵敏度则主要指实际检测灵敏度。 3.4 缺陷密集区 系指当荧光屏扫描线上相当于 50mm 的声程范围内同时有 5 个或 5 个以上的缺陷反射信号:或者在 50mm50mm 的探测面上发现同一深度范围内有 5 个或 5 个以上缺陷反射信号。其反射波幅均大于等于 2 当量缺陷基准反射波幅。 4 人员 4.1 检测人员应按特种设备无损检测人员考核与监督管理规则规定,取得质量技术监督管理部门 1 DB37/T1030 2008 颁发的技术等级资格证书,从事与该等级相应的无损检测工作,并承担相应的技术责任。 4.2 检测人员应持有

5、级或级资格证。检测由级及以上无损检测人员进行,检验结果由级人员 复核。 5 仪器、探头和系统性能要求 5.1 仪器 5.1.1 超声波检测仪器的性能指标应符合 JB/T 10061 的规定。 5.1.2 超声波检测仪器的性能测试方法应符合 JB/T 9214 的规定。 5.1.3 采用 A 型脉冲反射式超声波探伤仪,其工作频率范围为 0.5 MHZ10MHZ,仪器至少在荧光屏满 刻度的 80范围内呈现线形显示。水平线性误差不大于 1,垂直线性误差不大于 5。仪器其余指标 应符合 ZBY 230 规定。 5.2 探头 5.2.1 探头性能按 JB/T 10062 进行测定。 5.2.2 直探头采

6、用单直探头:频率 2.5MHz5MHz,晶片直径 14mm20mm。 5.2.3 单斜探头晶片尺寸不大于 500mm 2 ,声束轴线水平偏离角不大于 2 度,主声束垂直方向不应有明 显的双峰。 5.3 系统性能 5.3.1 在达到所探工件的最大检测声程时,其有效灵敏度余量应不小于 10dB。 5.3.2 直探头的远场分辨力应不小于 30dB,斜探头的远场分辨力应不小于 6dB。 5.3.3 仪器和直探头组合的始脉冲宽度(在基准灵敏度下) :对于频率 5MHz 的探头,宽度不大于 10mm; 对于频率 2.5MHz 的探头,宽度不大于 15mm。 5.3.4 系统性能按 ZBJ 04001和ZB

7、Y 231 规定测试。 6 检测准备 6.1 耦合剂采用机油、甘油或工业浆糊等。 6.2 补偿主要考虑表面耦合补偿和材质衰减补偿。 6.3 釜体表面应清洁,无铁锈及表面附着物,表面粗糙度不大于 12.5m。 6.4 校准 校准应在标准试块或对比试块上进行。校准中应使超声主声束垂直对准反射体的轴线,以获得稳定 和最大的反射信号。 6.4.1 仪器校准 在仪器开始使用时,应对仪器的水平线性进行测定,测定方法按 ZBY 230 的规定进行。在使用过程 中,每隔三个月至少应对仪器的水平线性和垂直线性进行一次测定。 6.4.2 探头校准 在探头开始使用时, 应对探头进行一次全面的性能校准。测定方法应按

8、ZBY231 的有关规定进行。 6.4.2.1 斜探头校准 使用前,斜探头至少应进行前沿距离、K 值、主声束偏离、灵敏度余量和分辨力等的校准。使用过 程中,每个工作日应校准前沿距离、K 值和主声束偏离。 6.4.2.2 直探头校准 直探头的始脉冲占宽、灵敏度余量和分辨力应每隔一个月检查一次。 6.4.3 仪器和探头系统的复核 6.4.3.1 复核时机 每次检测前均应对扫描线、灵敏度进行复核,遇有下述情况应随时对其进行重新核查: a)校准后的探头、耦合剂和仪器调节旋纽发生改变时; 2 DB37/T1030 2008 b) 开路电压波动或者检测者怀疑灵敏度有变化时; c) 连续工作 4h 以上时;

9、 d) 工作结束时。 6.4.3.2 扫描量程的复核 如果距离一波幅曲线上任意一点在扫描线上的偏移超过扫描读数的 10%,则扫描量程应予以修正, 并在检测记录中加以标明。 6.4.3.3 距离-波幅曲线的复核 复核时,校核应不少于 3 点。如曲线上任何一点幅度下降 2dB,则应对上一次以来所有的检测结果 进行复检;如幅度上升 2dB,则应对所有的记录信号进行重新评定。 7 一般要求 7.1 对釜体超声波检测扫查方式分为: a)纵波直探头检测; b)横波周向缺陷检测; c)横波轴向缺陷检测。 7.2 采用 A 型脉冲反射式超声波探伤仪检测在役超高压水晶釜,一般应做三次全面(100)的超声检 测(

10、一次釜体纵波直探头检测、一次釜体横波周向缺陷检测和一次釜体横波轴向缺陷检测) 。 7.3 特殊情况下,容器检验人员与 UT-级人员根据釜体情况确定采用其中一种或几种扫查方式。 7.4 每次扫查覆盖率不小于探头晶片尺寸的 15,扫查速度不超过 150mm/s。 8 检测方法 8.1 超声波纵波检测 8.1.1 试块 使用 JB/T 4730.3-2005 标准 CS-试块, 试块直径 D=60mm, 长度125mm, 检测面距平底孔 L=100mm, 平底孔直径分别为2,3,4,6mm。试块应采用声学性能与超高压水晶釜釜体相同或相近的材料 制成。 8.1.2 检测灵敏度 检测灵敏度的调整可以采用

11、试块法或计算法两种,灵敏度一般不得低于最大检测距离处的 2mm 平底孔当量直径。 8.1.3 工件材质衰减系数的测定 8.1.3.1 在工件无缺陷完好区域,选取三处检测面与底面平行且有代表性的部位,调节仪器使第一次底 面回波幅度(B 1)为满刻度的 50,记录此时衰减器的读数,再调节衰减器,使第二次底面回波幅度(B 2)为 满刻度的 50,两次衰减器读数之差即为(B 1-B2)的dB 差值。 8.1.3.2 衰减系数的计算公式为: T BB a 2 6)( 21 = (1) 式中: a衰减系数,dB/m(单程); ( B1 - B2 )两次衰减器的读数之差,dB; T工件检测厚度,mm。 8.

12、1.3.2 工件上三处衰减系数的平均值即作为该工件的衰减系数。 8.1.4 缺陷当量的确定 缺陷当量采用当量试块法和当量计算法。 8.1.5 缺陷记录 记录当量直径大于等于2 mm 的单个缺陷和位置。 3 DB37/T1030 2008 8.1.6 缺陷的评定。 a)釜体不允许有超过3 mm 的单个缺陷; b)釜体不允许有2 mm以上的缺陷密集区; c)在釜体内壁和开孔部位边缘 50mm范围内不允许有大于等于2 mm 的单个缺陷存在。 8.2 超声横波周向缺陷检测 8.2.1 试块 使用 JB/T 4730.3-2005 标准中 CSK-A 和 CSK-A 试块。试块应采用声学性能与超高压水晶

13、釜釜 体相同或相近的材料制成。 8.2.2 探头 一般采用频率为 2.5MHz的探头,探头角度一般选取 45和60两种角度。 8.2.3 灵敏度 8.2.3.1 距离波幅曲线的绘制 距离波幅曲线按所用探头和仪器在试块上实测的数据绘制而成,该曲线族由评定线、定量线和判 废线组成。 评定线与定量线之间(包括评定线)为区,定量线与判废线之间(包括定量线)为区,判废线 及其以上区为区。如图 1 所示。 图 1 距离波幅曲线 8.2.3.2 灵敏度的选择 超高压水晶釜的壁厚一般为 80120mm ,其距离波幅曲线灵敏度按表 1 的规定。扫查灵敏度不低于 最大声程处的评定线灵敏度。 表 1 距离波幅曲线的

14、灵敏度 试块型式 筒体厚度 mm 评定线 定量线 判废线 CSK- A 80120 240-14dB 240-8dB 240+2dB 8.2.4 缺陷的定量检测 8.2.4.1 对所有反射波幅达到或超过定量线的缺陷,均应确定其位置、最大反射波幅和缺陷当量。 8.2.4.2 缺陷位置测定 缺陷位置测定应以获得缺陷最大反射波的位置为准。 8.2.4.3 缺陷最大反射波幅的测定 4 DB37/T1030 2008 将探头移至缺陷出现最大反射波信号的位置,测定波幅大小, 并确定它在距离-波幅曲线图中区域。 8.2.4.4 缺陷定量 缺陷指示长度按 6dB 法测定。 8.2.5 缺陷评定 8.2.5.1

15、 下列缺陷判定为不合格: a) 反射波幅位于判废线及区的缺陷; b) 检测人员判定为裂纹等危害性的缺陷; c) 反射波幅位于区且指示长度大于 30mm 的缺陷。 8.2.5.2 最大反射波幅低于定量线和反射波幅位于区且指示长度不超过 30mm 的非裂纹类缺陷,均判 定为合格。 8.3 超声横波轴向缺陷检测 8.3.1 试块 采用超高压水晶釜专用灵敏度校准试块(见附录 A) 。 8.3.2 探头 采用频率为 2.5MHz、折射角 3340横波斜探头,保证主声束扫查到釜体内壁。 8.3.3 仪器参数的调整 采用试块上四个3 横通孔,测量探头和仪器性能参数,调整扫描比例。 8.3.4 灵敏度 采用超

16、高压水晶釜专用灵敏度校准试块,在外圆面将探头对准内圆面的标准沟槽,调整增益,使 最大反射高度为满刻度的 80%,将该值标在面板上,以其为基准灵敏度;不改变仪器的调整状态,再移 动探头测定外圆面的标准沟槽,并将最大的反射高度也标在面板上,将上述两点用直线连接并延长,绘 出距离-波幅曲线,并使之包括全部检测范围。 扫查灵敏度比基准灵敏度再提高 6dB。 8.3.5 缺陷指示长度测定 缺陷指示长度按 6dB 法测定。当相邻两个缺陷间距小于或等于 25mm 时,按单个缺陷处理(中间间 距不计)。 8.3.6 缺陷记录 记录回波幅度大于距离-波幅曲线基准线高度 50%的缺陷反射波波幅、缺陷位置以及缺陷指

17、示长度。 8.3.7 缺陷评定 裂纹类缺陷及反射波幅超过基准线的缺陷判定为不合格。 9 检测报告 检测完成后应出具超声波检测报告。检测报告格式见附录 B在役超高压水晶釜超声波检测报告 中的要求。 5 DB37/T1030 2008 附 录 A (规范性附录) 超高压水晶釜专用试块 A.1 制造技术要求 A.1.1 试块应采用声学性能与超高压水晶釜釜体相同或相近的材料制成。 内部缺陷使用 5MHz 直探头,从两端面和圆柱面进行整体扫描检查,不得出现超过2 平底孔 1/2 以上回波幅度的缺陷。 A.1.2 图中未注的公差为0.1,表面粗糙度不大于 3.2m。 A.1.3 深 1.0 长 25 线切

18、割槽 1 条,深 1.0 长 60 线切割槽 2 条(内外表面各一条),深度公差 为0.025 ,槽宽 0.060.10 。 A.1.4 倒角半径为 1mm。 A.1.5 对比试块的曲率半径应与釜体相同或相近,两者之差不超过10。 深1.0*60线切割槽 深1.0*25线切割槽 横通孔4- 3 0.05 图 A.1 超高压水晶釜专用试块 6 DB37/T1030 2008 附 录 B (规范性附录) 在役超高压水晶釜超声波检测报告 注册代码: 报告编号: 委托单位 原始记录编号 产品名称 出厂编号 材质 表面粗糙度 仪器型号 仪器编号 探头型号 试块型号 评定灵敏度 dB 检测方法/扫描面 耦合剂 补偿 dB 检测标准 检测比例 mm 检测部位(区段)及缺陷位置示意图: (注明缺陷编号、位置尺寸) 超声检测结果评定表 缺陷 编号 检测部位 厚度 (mm) 缺陷埋藏 深度 (mm) 缺陷指示 长度 (mm) 缺陷反射 波幅 波幅所在 区域 评定 结果 备注 检测结果 检测人: 日期: 审核人: 日期: 注:超声波检测结果评定表不够时,可按评定表的格式增加续表。 共 页 第 页 7 DB37/T1030 2008 8 D B 3 7 / T X X X 2 0 0 8

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