搜索
麦多课文库
收藏
下载资源
加入VIP,免费下载
DB42 T 2394-2025 全民所有土地资源资产权益数据库建设技术规程.pdf
上传人:
dealItalian200
文档编号:1566425
上传时间:2025-11-08
格式:PDF
页数:33
大小:3.04MB
下载
相关
举报
第1页 / 共33页
第2页 / 共33页
第3页 / 共33页
第4页 / 共33页
第5页 / 共33页
亲,该文档总共33页,到这儿已超出免费预览范围,如果喜欢就下载吧!
资源描述
展开
阅读全文
相关资源
DB62 T 689-2000 临夏牡丹栽培技术规程.pdf
DB62 T 820-2002 定西地区无公害农产品 专用型马铃薯生产技术规程.pdf
DB62 T 836-2002 兰州市无公害蔬菜生产技术规程 番茄.pdf
DB62 T 837-2002 兰州市无公害蔬菜生产技术规程 辣椒.pdf
DB62 T 838-2002 兰州市无公害蔬菜生产技术规程 黄瓜.pdf
DB62 T 637-1999 桑蚕纸板方格簇上簇技术规程.pdf
DB62 T 638-1999 桑蚕丝茧育防病消毒技术规程.pdf
DB62 T 996-2003 白银市A及绿色食品生产技术规程 双孢菇.pdf
JT T 1037-2016 公路桥梁结构安全监测系统技术规程.pdf
LY T 1328-2015 油茶栽培技术规程.pdf
猜你喜欢
IEC 62047-14-2012 Semiconductor devices - Microelectromechanical devices - Part 14 Forming limit measuring method of metallic film materials《半导体装置.微电机装置.第14部分 金属薄膜材料的成型极限测量方法》.pdf
IEC 62047-15-2015 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 15 Test method of bonding strength between PDMS and glass《半导体器件 微型机电装置 第15部分 PDMS和玻璃之间粘结强度的试验方法》.pdf
IEC 62047-17-2015 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 17 Bulge test method for measuring mechanical properties of thin films《半导体器件 微型机电装置 第17部分 测量薄膜机械性能的膨胀试验方法》.pdf
IEC 62047-18-2013 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 18 Bend testing methods of thin film materials《半导体器件.微型机电器件.第18部分 薄膜材料的弯曲测试方法》.pdf
IEC 62047-19-2013 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 19 Electronic compasses《半导体器件.微型机电装置.第19部分 电子罗盘》.pdf
IEC 62047-2-2006 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 2 Tensile testing method of thin film materials《半导体装置.微型机电装置.第2部分 薄膜材料的拉伸试验方法》.pdf
IEC 62047-20-2014 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 20 Gyroscopes《半导体器件 微型机电装置 第20部分 陀螺仪》.pdf
IEC 62047-21-2014 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 21 Test method for Poisson's ratio of thin film MEMS materials《半导体器件 微型机电装置 第21部分 薄膜MEMS材料泊松比试验方法》.pdf
IEC 62047-26-2016 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 26 Description and measurement methods for micro trench and needle structures《半导体器件 微型机电装置 第26部分 微槽和针孔结构的描述和测量方法》.pdf
相关搜索
DB42
2394-2025
全民所有土地资源资产权益数据库建设
2394
2025
全民
所有
土地资源
资产
权益
数据库
建设
技术规程
当前位置:
首页
>
标准规范
>
地方标准
copyright@ 2008-2019 麦多课文库(www.mydoc123.com)网站版权所有
备案/许可证编号:
苏ICP备17064731号-1
登录
首页
资源分类
专题
通知公告