1、E.J 中华人民共和国核行业标准EJ/T 785-93 低本底P测量仪1993-12-13发布3施川实AV且CO RU- 25 VAO MWM对ay 且中国核工业总公司发布中华人民共和国核行业标准低本底自测量仪EJ/T 785-93 l 主题内容与适用范围本标准规定了低本底自测量仪的技术要求、试验方法和检验规则，本标准适用于低本底自测量仪器，也适用于多用途仪器中的测量低本底自放射性的部分。本标准不适用于测量R能谱类型的仪器2 引用标准GB 10257 核仪器与核辐射探测器质量检验规则GB 8993. 1 核仪器环境试验基本要求与方法总纲GB 8996 核电子仪器用样品盘尺寸EJ 528 核仪器
2、基本安全要求3 术语J. l 本底background 非起因于待测物理量的信号。3. 2 本底计数率backgrou叫countrate 单位时间内的本底计数。3.3 放射性Ji舌度activity 一定量的放射性核素在一个很短的时间间隔内发生的接衰变数除以该时间间隔放射性活度的国际单位为贝可勒尔，符号Bq.3.4 表面发射率surface emission rate 对于一个给定的放射谭，在单位时间内由该表面发射出给定类型的粒子数J.S 探测效率detection efficiency 在一定的探测条件下，测到的桂子敖与在同一时间间隔内辐射源发射出的该种粒子总数的比值3.6 几何因子geo
3、metry factor 是一定几何条件下探测效率的极限值官可由探测器灵敏面与放射源之间的几何关系汁算出来。3. 7 娃率比efficiency ratio 探测效率测定值与几何因子之比。也就是除几何因子以外其他决定探测效率诸因素之织中国核工业总公司1993-12-13批准1994-05，但实施EJ/T 785 93 3.8 探测器窗window of a detector 探测器中使待测辐射易于穿透的部位。3.9 捺测器灵敏面棋sensitive surface of a detector 探；明器中对辐射灵敏并用于探测的那部分面积。 技术要求 1 一般要求f 本底R测量仪的基本组成应包括探
4、测器、屏蔽体、测量电路等。 1. 1 探测部件探i蜡部件的设计应满足如下要求：探满器窗在工作时与待测样品表面之间的距离一般应小于lOmm。设计探测器时应考虑尽量不受其他电离辐射的影响。若待测R样品中含有其他辐射时，还应采用相应措施探测器所用的屏蔽体要注意材料的选用，易于搬运。制造厂必须说明探测器的类型和灵敏面积的尺寸。若有反符合装置，还应给出反符合装置类型、尺寸等。如探测器工作时，需要供给工作气体，制造厂必须说明所用气体成分和供气流量值。探测部件的结构必须易于去市样品盘应符合GB8996的有关规定。4.1. 2 测量电路该测量仪可用预定时间的计数表示；也可用预定计数的时间表示。最长预定时间应不
5、小于IOOOmin，并可分成若干档，其最灵敏档的准确度应优于0.1%。预定计数的最大数容量应不小于1000，也可分成若干档。仪器应尽可能降低外界干扰的响应。4. 1.3 参考摞参考源应经国家计量部门认可的标定装置进行测量，真不确定度不得大于士5%。推荐90Sr-9oy，川Tl,14C作为参考惊。当测量仪用来测量最大能量小于250keV的严粒子时，必须选用l作为参考摞。. 1. s 检查瞟检查螺仅用于检查测量仪是否正常工作相稳定性可选用长寿命的自放射摞。为了使测量准啕制造厂应给出测量仪测量时的几何参数特别是所用参考源或检查摞的尺4. 2 分级1民本底R测量仪分为三纸真各级在标准试验条件下的本底计
6、数率、玫率比、长期稳定性见麦l。所；明三项指标中如育一咱不符合所选用级别的现走应按其下一级认可。2 EJ/T 785-93 I 仪器分级表l飞二级别i一技术指标二放率 （计数cmmin- 主二0.5 运0.15 运二0.05二-l0%二50%二主6CYo比1效主豆二15Yo 运工10%运工5%效率稳定性t主期稳定性2 .J)5士3向注：1)效率比的测定采用，。Sr-0Y参考漂2) ；一本底平均计数率3）本底计数率标准误差本底稳定性环境条件不论属于哪一级的低本底R测量仪其工作环境条件应符合GB8993. 1中Ia组仪器的要求，各影响量项目及技术要求见表2.表24. 3 本f丧汁数事2二百汁5军二
7、页，5b差烟民核要考J！才丁不术川一作他一愤12正相率效测探求技值定领二士15%士3。c运之15%之2C4oc -20十60C14配t和寸量响影lf情呻境度环温2 -3 二月g511.电运10%比li三级公路验；李连2540km/h.l距离2毗m运20%二10%改变影响量的项目与要求I % -t-22V -26V 90% (40 c) AC220V 最大相对温度变源试输iE 主；1) 量该影响量变化前后测量值的中自对变他s可1可南平均计委主剖相对变也表示，2）该习变化只在型式试验中进待测量，安全要求安全要求应执行EJ528-90第五章有关规定a.i. 3 试验方法s EJ/T 785-93 s
8、. 1 基准条件和标准试验条件见表3.表3基准条件与际准试验条件影响量预热时间基准条件标准试验条件15 15 un 环境温度( 20 18 22 相对程度大气压kPa 65% 55% 75% 101. 3 86 106 交流电源电压飞J220 220士2.2 电源频率50 50土o.5 Hz 电源波形Y辐射本底Gy/h 率量波一剂弦一收川正一吸1一气一空正弦波的总波畸变5%小于0.25叫一些刑一响一响小于引起干扰的最低值小于地磁引起感应的两倍可忽略5.2 标准试验条件下的试验s. 2. 1 本底计数率a. 要求月b运iib1-r-3bJ. ( 1) 式中2月b，制造厂长期测定所结的本底平均计数
9、率zbf 疗百万T一一测量本底计数率所用的时间。b. 试验方法在标准试验条件下，将受试测量仪调整到正常工作状态测量空白样品盘计数10次每次测量时间不少于lOmin.求出每分钟本底平均计数h。s.2.2 效率比再在5.2. 1同佯试验条件下将参考摞置于样品盘中心位置在一定测量时间内，测量计数10次使其每次测量的累计计数不小于1000.代入（2）式求出探测效率EJ/T 785-93 可11；11b100%. ( 2) 式中：1一一仪器对参考源测得的平均计数率；11 .一一单位时间参考源表面发射的该种粒子总数。按（3）式求出效率比。可比可G (3) 式中：G一一几何因子见附录A补充件其结果应符合表1
10、有关规定。s. 2. 3 长期稳定性试验a. 效率稳定性在标准试验条件下，将受试测量仪调整到正常工作状态，置参考源或检验源于悻品盘中心位置，测量效率10次然后，连续通电仙，再测量效率10次，按（4）式计算效率稳定性缸子1蚓.”.( 4) 1 I 式中z机一8h前效率平均值E平z一8h后效率平均值其结果应符合表1中有关规定。b. 本底稳定性在上述a项同样试验条件下，测量空白悻品盘计数，测量时间每次为lOmin，连续测量拙，求出本底平均计数iib.则8h内所测得数据约有99.7.%的测量值应在ii土3，言b范围内。5.3 影响量试验s. 3.1 环境温度试验在标准试验条件下将受试测量仪置于恒温箱中
11、，并调整到正常工作状态，分别测量探测效率和本底计数率各10次（本底计数率每次测量时间不小于lOmin），求其平均值。然后使受试测量仪处于通电状态，温箱以温度变化小于20h的速率使温度降低到0或升高到40C。受试仪器在此状态下的热平衡时间不小于30min，继而恒温仙。在恒温试验结束前30min，开始接上述方法再次测量本底计数率和探测效率，求其平均值试验前后的测量结果应符合表2有关规定。5.3. 2 相对温度试验在标准试验条件下将受试测量仪置于湖温箱中，并调整到正常工作状态分别测量探测效率和本底计数率各10次（本底计数率每次测量时间不小于lOmir仆，求其平均值。然后便受试测量仪处于断电状态先将潮
12、温箱温度上升到40C.再注入温度使相对温度达到900.受试测量仪在此状态下保持48h。在试验结束前通电预lh.并提前30min开始按上述方法，再次测量探测放率相本底计数率求其平均值潮温试验前后的测量结果应符合表2有关规定5.3.3 贮存温度试验受试泪1量仪在分别完fit高温或低温试验后处于断电状态温箱以温度变化小于20(I EJ785-93 h的速率使温度升高或下降到表2的规定值，保持仙，再将温箱温度以上述温度变化速率下降或升高到常温恢复4h后检查工作是否正常。5.3.4 交流电压变化试验在标准试验条件下，把受试测量仪调整到正常工作状态，将参考源或检验惊置于样品盘中，测量计数10次求其平均值。
13、然后依次将电压从额定值升到242V或降低到194V，分别各测10次计数，求出平均值。试验前后两次的计数平均值相对误差应符合表2有关规定。5.3.5 安全试验按照EJ528-90第5章有关规定进行试验。5.J.6运输试验将受试测量仪按设计规定完整包装后，参照表2规定进行试验试验前后各测量计数10次，求其平均值，并相比较其结果应符合表2有关规定6 检验规则按此标准设计生产的低本底自测量仪，质量检验分为出厂检验和型式检验6.1 型式检验型式检验项目和顺序按表4规定6. 1. 1 符合下列条件之一者应进行型式撞验za. 新产品或老产品转厂生产的试制鉴定：b. 正式生产后如果结构、材料、工艺有较大改变可
14、能影响产品性能时zc. 正式生产时，产量累计200台的周期性栓验zd. 国家质量监督机构提出进行型式检验型式检验的项目参照表4的规定执行必要时还可经过协商，增如其他测试项目6. 1. 2抽样要求za. 新产品鉴定的型式检验按GB10257一88第8.1. 1和8.1. 2条规定进行b. 周期性型式检验和国家质量监督机构进行抽验时，抽样按6.2. 2. 1抽样方法进行6.2 出厂检验出厂检验的检验项目和顺序按表4规定进行6 组别检验项目外观检验安全俭验A组本底计数率效率比稳定性高温试验贮存离温试验相对潮温试验B组低温试验贮存低温试验电源变化试验运输试验注，一一必做试验项目6. 2.1 A组栓验E
15、J/T 785-93 表4检验项目分组及顺序型式检验出厂检验试验方法. . 制造厂规定. . 5. 3. 5 . . 5. 2. 1 . . 5. 2. 2 . . 5. 2. 3 . . 5. 3. 1 . 不考核5. 3. 3 . . 5. 3. 2 . . 5. 3. l . 不考核5. 3. 3 . . 5. 3. 4 . . 5. 3. 6 该检验批为100%检验，每百单位产品的不合格提不得大于5.检验顺序1 2 3 4 :i 6 7 8 9 10 11 12 判为合格的批，剔除批中出现的不合格品，修复成合格品，整批验收z判为不合格的批，整批退回生产单位，找出原因，全部返工，重新交验
16、6.2.2 B组检验6. 2. 2.1 抽样在A组检验合格的产品中，按以下抽样方式抽样a. 采用一次正常检查抽样方案Eb. 检查水平IL）为特殊栓查水平S一1;c. 合格质量水平AQL=l.o. 6. 2. 2. 2转移规则产品检验的放宽或加严的转移程序按GB10257-88第12.1. 5. 3和12.1. 6条规定实施6.2.2.3 B组检验周期批量生产的产品生产周期时间大于六个月时每批都应进行B组检验：连续生产的产品每年进行一次B组检验6. 2. 2.4 检验不合恪批退回生产单位，进行100%返修修复后重新抽取悻本进行B组检验抽样按；欠加严检查抽样方案处理如果检验结果仍不合悟则判本批检验
17、不合恪。7 标志、包装、运输、贮存7 EJ/T 785-93 7. 1 标志低本底自测量仪的外部所有操作机构，必须注有名称或标记并在适当地方注明制造厂名、仪器名称、型号、商标、编号和产品出厂年、月等。包装箱上应有“精密仪器”、“小心轻放”、“禁止倒置”、“严禁淋雨”等际记。7. 2 包装为了保证在规定运输和贮存条件下不损坏该测量仪的技术性能真包装应有防振、防潮措砸。7.3 运输在完整包装条件下允i午以汽车、火车、轮船、飞机等任何方式运输。7.4贮存在本标准规定的贮存温度范围内，无酸、碱等有害气体的侵蚀，其包装的承受贮存期至少为三个月，制造厂应保证在此期间内，启开包装箱，该测量仪能正常使用。8
18、产品出厂文件产品出厂文件包括：a. 使用说明书应包括使用和安装说明、电路原理图、维护检修方法、实测技术指标等zb. 产品包装清单zc. 出厂检验合格证zd. 放射源合格证8 EJ/T 785-93 附录A几何因子（扑充件）在进行探测效率测试中，因放射源尺寸的不同，源与探测器间的距离不同，致使摞对探划君构成的几何因子也就不同，几何因子是决定探测效率的主要因素之一。如图Al所示平面：军与圆平面型探测器的相对位置，其几何因子可用下列级数求近Lj值。探测器放射漂国Al1 3 aZRZ5萨35气G=l一一一一一一一一一斗丁1z+a一 I+W)tz 8(1） 160十日2)7/Z64(1十日Z)Ul.J 一 J十. (Al) 式中：a=a/h；b/h.(Al)式的成立要求不是太大，当自时，其误差在10%左盲附加说明2本际准由中国核工业总公司提出本标准由西安核仪器厂负责起草，本标准主要起草人：甘清丰a9 问趴lm旬krH同国
