SJ 2845.2-1987 第十部分：总规范 sj2845．1的补充件：iec电子元器件质量评定体系在有或无继电器上的应用.pdf

资源描述

1、中国|z z 国El 国| Electrical relays 5J 2845.2-87 IEC 255-10 ( 1979 ) 一Part 10: 5upplement to 5J2845.1 ( IEC255-7 ) I Application of the IEC QuI i ty Assessment System for Electronic Components t。II-or-，nothin9 relays 可供认证周)1987-12-16发布1988-07-01 共和工业发布中华人民共和子工业电气继电十部分z总规范SJ2845.1(IEC255-7)的补充件=准IEC电子元体系

2、在有或无评定电器上的应用Ele ctricI relays 5J 2845.2-87 IEC 255-10 (1979) Part 10: Supplement to SJ2845.1 (IEC255-7) : Applfcatfon of the IEC Quality Assessment System for Electronlc COm町ponents to all-or-nothing relays 可用1 范围和目的本标准适用于有或无继电器，它提供下列导员0:(a)鉴寇批准和质量一致性检验程序s(b)继电器分类z(c)试验分组F(d)编制试验览表p(。在编制分规施和详细规范时，(a

3、)、(0)、(c)及(d)项导则拟在IEC质量评寇体系范围内使用。的应用。上述各2名词术语和定义名词术语和寇义引用lEC255系列中的其它标准和国际电工(见IEC50)，嚣4。3引IEC质量评定体系的基本概念是向订货方提供保证，保证所放行的继电器符合详细规范中的各项要求。各项试验均应由制造方指寇的总检验员负责进行。质量评寇程序由下列这些连续的基本步骤组成z(a)鉴寇批准;(b)质量一致性检验。对于小批量、孤立批或短期生产的继电器，采用特殊程序(见附录。对于试验览表中的每项试验，详细规范应表明该试验项目是否为鉴寇批准试验、遥批检验或周期检验的部分。不管由于任何原因而出现任何矛盾时，各种文件应遵循

4、下列规寇的权威顺序。(1)订货方的合同要求z中华人民共和国电子工业部1987-12-16批准1988-07-01 . 1 4 (2)臼详细规范E( 3)总规?￥范I百包SJ 2845.2-87 (4) )远孟用于质量保i证正体系的基本章程丈件。各种相应的国家文件也应采用与上述相同的优先。某一类型继电器的鉴寇批准试验是对一定数量的继电器进行的完整系列试验，其目的是确定某一具体制造方是否能够生产符合详细规范的继电器。鉴寇批准试验由:芋细规范l1指寇的所有试验项目组成，包括遂批试验和周期试验。鉴;也批J佳的依据仅决;起于是否符合鉴定批准试验的要求，j手段符合下列规寇z方法1:对于短期生产的情况，也符

5、合详细规程中对!鉴寇批准所专门规寇的试验要求。方法2:对于连续生产和大量生产的情况，应符合详细规市中的试验要求，即应元J:三个遥23J批的A组和日组运tlt检验和i一个批(从上边三个合格的批中抽取)的C组周期检验(由三个运批检验的平均批量来确立昂本大小)。应按照SJ/Z9007(IEC410) 计数检查抽样方案和程序规寇，从各批中抽取样本。应采用正常检验，但若样本犬小给出合格判寇数为O时，应抽取追加样:品，以符合合格判于或大于1的样本大小。当采用方放1时，详细规范中应规寇寿命试验的总数量和样本大小及相应允许的不合格品数。上述这些均应适当注意所采用抽样方案的极限盾量，并应在与订货方之间协商致。注

6、，由于鉴定批准试验结果的置信度不仅从统计推论中导出，而且还应根据全部技术数据并考虑到鉴定批准试在量所需要的费用，所以详细规m可以在远些娩定的范国内尽可能选择最小的样本大小。样本大小及合格和不合格判寇数应从SJ/Z9001(IEC.nO)所规寇的抽样方案中选取。通常，任何试验组的样本大小不得少于505 在在得鉴寇批准之后，制造方应负责保证在未遭行再次鉴定的情况下，不得对产品作重大的技术更改，并且应选行规活所规寇的质量一政性检验。质量一致性检验分为下列两个部分。运批检验，作为单批放行的依据。期检验(包括费时长和费用高的试验项目。一致性检验以符合详细规范中规寇的逐批检验和周期检验的试验要求作依据。A

7、O分组(见耳i录A)巾的试验项目总是放在所有其官非破坏性试验项目之前。AO分组l书的试验项目应总是放在所有磁坏性试验项目之前。ft项试验应在这样的继电器上边行，1i实纳电器顶先1应经卖易造成本试验结果无效的任何破坏性或非破坏性试验。但在详细规范中有特殊现寇时，可以将一项或多项非破坏性试验放在某二项破坏性试验之前。6 抽样规则, 应战STlz，);)07(IEC;flO)中规寇的抽样方案和1程序选行抽样，只采用每百单位不合格品数的慨念。 2 SJ 2845.2-87 一分规范中规寇的检验水平应按STjZ907(IEC410)中的第9.2条规寇进行边对于每-一个具体分组，在各种不同的试验一览表中均

8、应采用相同的检验水平。i远常，采用正常检验水平，但在一3史性J.要求较高的置信度时，可以规定较高的水平。址于一个分组中的各项试验，应根据该分组中规定的检验水平和合格质量水平。按照SJ/Z8007 (IEC410)抽样方案的规定随机抽取一个样本。应始终采用分属抽样?去，以便能覆盖住所有生产线和结构类似的产品，并使抽取的样品与各自在批中的数量成比例。C组检验的样本应从已经通过了A组和B组检验的某一个批(或几个批)中抽取。样本可以在C组周期络11:时所交付产品的批中抽取，也可以从在C组周期内各间隔期间的不同批中抽取。在任何一种帖况lf，样本大小不得小于当时C组周期内相应的平均批量的样本。样品应)4可

9、能地代表生产实际。7 继电器分只按32型、工艺、应用或用途对继电器进行分类的各种尝试者1)已经失败，原因是由于其各种特性的相以性和相互依赖性。本标准根据不同的试验一览表对继电器进行分类。一一览;_(以经验为依据，:f:用一览表中强制性试验的项目数及其在各分组中的分配数来区别。2:9条军1附录A中给出了试验分组的规则。按照试验分组规则编制的试验一览表见附寻E。在试验一览求1中，强制性试验项目数是有限的。在试验览表2和试验一览表3中，性试验项目数有所增加。8 编制i公姐捆的导则1可以编制!三个分规毡，每个分规jS采用一个试验一览表。而每个分规泡又可以作为编i!jtl详细规泣的导则。分规市中含有每项

10、试验的检验;j平和优先的合格质量水平数值。各试验览束考虑了电器不同的制造工艺和其触点应用类别，并表明了各自的制造工艺和触点应用方面的适应性。lkj道用的制造工艺和触点应用类别如表I所示。此表构成了分规范的一部分。当触点的特任韦白色归入夜中一个或若干个规寇的类别时，或当要求进行特殊的试验时，则详细规范应给出必买的说明。详细规范应规寇按表I选取的有关。 3. 类电器制造工艺。继电器创造工艺I继电器制造工艺n点应用类别。触点应用类别1触点应用类别2触点应用类别3简非密封触点密封触点密封继电器单$J 2845.2-87 I 泸?A 义符号RTO RT 1 RT Il U0.03V， 1 主0.01AI

11、 CAO 0.03VU60V; 0.01A 1 0.10A I CA1 5VU250VI O.loA 1 1.0A I CA2 5VU运600V，O.loA 1运100AI CA3 备采用三个类别中的一个类别至少采用四个类别中的一个类别注注，有关触点应用类别的规范，在SJ2845.1(IEC255-7) 第七部分富有或无法第9条中规忌。电器测试方所有试验一览表中的环境条件是通用的，因此不在此表中分类.9. 1 采用的原则试验分组的目的是将那些对评定继电器适用性有同等重要意义的所有试验项目安排到同一个组中。因此，在同一个分组中的每一项试验均具有相同的检验水平和合格质量水平范圃，而将试验项目分配到

12、某一个组的进步依据是试验的破坏性、试验持续时间及制造或设计。试验的频度考虑试验的复杂性、持续时间和全部费用，并考虑放行不合格继电器的后果。具有相同频度并对继电器功能同等重要的特性试验应安排到同一个分组中。9.2分组按照IECI)批和附录A中的将每一项试验条和第条中的原则应SJ/Z9006(IEC419比在电子元器件规范中的导则第2.6条中现寇的周期检验，将试验分为A组、B组和C组。按，对每个组进行再分组，并按照被试特性对继电器全部功能的相对重要性求分配到某一个分组中。注I1)正在litl订。出版时，引用CMC(sec) 36号文件中的第11.3.1和第11.3.2条。9.3 A组E这一组的试、

13、验项目由历时短的、非破坏性的电气和机械试验组成。这些试验以逐批检验为基础，用来评寇主要由制造过程所决寇的继电器的基本特性，或用来评寇那些计方面并且是极重要的继电器基本特性。B组z这一组的试验项目由破坏性和非破坏性两类试验组成，试验时间大敢为一周。这些试验以逐批检验却基础，用来评寇主要由制造过程所决定的极重要或重要的继电器特性，或用来坪寇属于设计方面梳重要的继电器特性。 4. J三SJ 2845.2:87 C组=这一组的试验项目由破坏性和非破坏性两类试验组成。这些试验周期性地进行，用来确认A组和B组之外的那些特性是否正在保持着。这些特性可能与设计有关，也可过程有关，对继电器的功能可能是极重要、重

14、要或是次耍的见附录A确寇各组中板要、重要与次要的导则。10 编制详细规范的规则制详细规范应采用下列方法z(1)从本标准表I中选取适合其预寇用途的继电器(2)选择能最大限度地满足继电器预寇使用要求的试验一览表。(3)将选取的试验览表中规寇的所有强制性试验项目和适合其顶寇用逸的推荐性试验项目列入详细规范。(4)如有必要，在这些推荐性试验项目之外，可以增加任何其它所要求的试验项目。(5)只要列入详细规范，则推荐性试验项目和增加的试验项目都成为强制性的。(6)详细规范应指明那些试验项目只在鉴寇批准时进行。(7)对于每一项试验，详细规范应指明该项试验是破坏性的或者是非破坏性的。附录D给出非密封触点(RT

15、O)、触点负载为0类和l类(CAO和CAl)典型继电器的试验一览表1、2和3的示例。 5. J拖5J 2845.2-87 附量AA1 分组方法的说明这种分组的方陆如附图所示。首先将试验项目分成两部分，一部分为所有非破坏性试验，另一部分为所有破坏性试验(见注。随后根据某项试验是否能在一周之要在更长的时间内做完(试验时间)，再将这两部分试验选行分类。对于试验时间不超过一的试验项目，可选行逐批检验，对于历时短的非破坏性试验，可进行100%的检验。时间超过一周的试验项目，应周期地进行。然后根据被试继电器的特性是完全地或主要地决寇于所采用的材料和制造过程，或是基本诀寇于设计再进行分类。当不能辨明此特性是

16、否主要与制造有关或与设计有关肘，则应适当偏重于考虑制造变羞(见附录B、住)。因此，试验项目还可以避一步选行适当分类。对于这样分类的每一项试验，被试特性对继电器功能的相对重要性仍然是唯的决寇因素。共同反映重墨性的试验的分类(极重要、重要、次要和频皮诀寇了试验项目应分配到的分组。这样，试验项目就可以集中到各自的分组中并列入某一试验一览表。每份详细规泡应含有试验览表。试验一览在应指明适用的试验项目在逐批和周期检验各分组中的划分和分配。注s所有/飞组试验项目均是非破坏性的。但在编制详细规也时，应确定列入日结1和C剧中的每一项试验是破坏性的或是非破坏性的，并应将比指明在详细规范的试验一览求中。A2 各分

17、组的定义为AO分组z比分组由对继电器的功能极为重要的特性且历时短的试验项目组成。除了详细规范中规寇的某些特殊应用情况外，在其它分组抽取样本的各批形成之前，i乍或分类，应尽可能地在生产线上100%地选行试验。Al分组s比分组由继电器重要特性的历时短的试验项目组成。A2分组=比分组由继电器次要特性的历时短的试验项目组成。A3分组z比分组由诸如外观检查等具有高度主观判断特征的历时短的试验项目组成。A4分组s比分组由基本上只与设计有关并对继电器功能极重要的特性的历时短的试验项目组成。Bl分组z比分组由时间大敢为一周且适用于对继电器功能极重要的特性的试验项目组成。B2分组z比分组由时间大敢为一周且适用于

18、继电器重要特性的试验项目组成。部分组z比分组由时间大致为周且适用于对继电器功能极重要但基本与设计有关的特性的试验项目组成。Cl分组z此分组由适用于对继电器功能不得超过6个月。的特性的试目组成。评定周期般C2分组E此分组l:1适用于继电器重要特性的试验项目组成。评寇周期一般不得超过6个月。C3分组z比分组由适用于继电器次要特性的试验项目组成。评寇周期一般不得超过6个月。 6 , SJ 2845.2-87 C4分组z此分组由适用于对继电器功能极为重要的特性的试验项目组成。评寇周期一般不得超过2年。年。C5分组z此分组由适用于继电器重要特性的试验项目组成。评定周期一般不得超过2年。C6分组z比分组由

21、表2中，再加上一些另外的试验项目。同样，试验一览表2中的试验项目也包括在试验一览表3中，还要再加上另外的试验项目。在少数情况下，会将试验项目从某一个组转移到另一个组，或者从f即一览表1转移到更高级的一个试验一览表时，推荐性试验项目将变为强制性试验项目。a2 这种转移和变换用一个星号标志(例如M*)。下列注解适用于各试验一览表增加的注解见表的脚注。注s当下列j两种情况中任一种情况适用时，这些项目试验在该试验级中进行。(i) 当有关参数对继电器在其预定用途中能满意地工作极为重要时。( i i) 对于某一项规定参数，当制造变差与其规定的公差范围相当时，并当任何继电器的特性超出这些范围在其预定用途中产

22、生有赛后果时。只适用于当制造方与使用方协商一款且试验时间不超过一周时. 只适用于当制造方与使用方协商一致时。当某一项电寿命试验所要求的动作次数至少等于机械寿命所要求的动作次数时，允许电寿命与机械寿命试验结合起来进行。每一分组中的试验项目均按S12845.1(IEC255-7)中条款号的顺序列出。各项试验应执行的顺序，见本标准的第5条., 9 S J 2845.2-87 一一甲一一一一一一一一一条款试验项日试验一览表1试验一览表2试验一览表3八0分合同17.4 I外观怆查标志一MI 1M M 19.1 I线阉111阻J!少的引出端数MI当注和或注适用时MI当注适用时，详I M I当注适用时，

23、详细纲规范应规定引出端Ii规范应规定引出端20 介质试验MI详细观程应规定23 接触电151111能i式俭MI动作和释放假只适用于RT1和IRTII MI只通用于RTIIMI只适用于CAOMI动作和辛苦放值只适用于RTI和RTIIMI只适用于RTIIMI只适用于CAOMI动作和释放倍，只适用于RTI和RTIIMI只适用于RTII 24 31. 2 I 密封A1分组18.1 I 机械枪查R R 19.1 I 线圈也阻MI只适用于电器IM 1只适用于在流继f!:21 M I只适用于当AO分组中未进行时MI只适用于交流继fi1 M I只适用于交流继耐M只适用于交流继电器19.3 I 线圈阻扰23 接

24、触g阻功能试验MI动作和释放值只适用于RTOMI只适用于CAlMI动作和释放值只适用于RTOMI只适用于CA1MI动作和释放值只进用于RTOR当注和注适用Hl24 25 时间试验32 I i人iW;词JIEIRi只适用于RTII和iI MI只适用于RTll和CAo两时ICAO两者兼有时t A2分组I R I 1M, 17.1 I 尺寸检沓1M A3分f且17 , 4 I 外观检查( If.余标志外A4分组介股试扮M M M 20 于当44aL非t进制山MW时加引用A的道选验另试注M MI另选屯。中未进行试的引出端并当fk适用时_-阳.，-唱4内一Mz 骂:!AJYEi式革命项目R; 推荐性试验

25、项目试验项目已变换组别，或已成为强制性 10 5J 2845.2-87 条款i式项目试验一览表1试咙览表2试验览表322 绝缘电llM B1分组R !只当注:和1t(?)41 也寿命R 只当注和注:五5用时适用时B2分组29 温7-R R R 30 温度方快速变化M 只适用于RTIIM 只适用于RTII(法2)32 内部潮湿R 只适用于RTll和CAO两者兼有时35 引IU瑞强度M 只适用于RTIIM 只适用于RTll36 可焊Yi:(试验。M 只适用于印制器线M M 路板式继电54 剩MiR 只适用于直流继电器R 只适用于直流继电器B3分组R R 只RT适I用于RTI和53 点粘接RTll

26、CljHfi R 只在剧中未i草行R 只在B1中未进行且41 电寿命旦-F11注适用时当i注适用时C2分组R 19.2 线周电感M 进只当AQ或A4r未M 进只当AO或A4巾未20 介质式验M 人。端巾禾试验的引行时行时出22 绝缘电阳M 23 接也阳R 只适用于CA2和CA3M 只适用于CA2和ICA325 时间试R 17.1 C3分才检组尺寸查R M，强制性试验项目R1推荐性试验项目试验项目己变换组另IJ，或已成为强制性 11 5J 2845.2-87 一_u -叶一-也u条款试验项目18.21 称最50 电接触噪声41 C4主组电寿命42 机械寿命26 C5H日气候序列27 ! 腊、态湿

27、热33.11 盐雾35 ! 引出端强度37 冲击 38 ! 碰撞39 ! 振动40 I 加速度)43 热寿命热电动势51 C6:$Hn. 28 I 热阻30 温度快速变化34 长36 I耐焊接热(试验2)M.强制性试验项目 12 一览表1试验一览表2览表3R R R !R R R:推荐性试验项目R 品A C 和AU A C 于用道寸斗、RR M*I 只当B1或Cl巾米.M只当B1或c:1中未进行时I 进行时M! 见注MI 见注R R R R R ! 只适用于RTllR I 只适用于RTllM! 只B2中未进行时M只当即可1未进行时R R R R I 只适用于CAOR 民R! 只适用于RTO和I

28、 R I 只适用于RTO初RTI I I RTI R R R 项目已变换组另IJ，或已成为强倒性$J 2845.2-87 c 短期生户、孤立批和小批量的除短期生产、孤立批和小批量外，检验批应按ST/Z9 007 (IEC41 0) (见本标准的第6条规定的抽样方案和程序组成。Cl 短期生户的质量评定程序短期生产定义为不超过30个检验批的生产(数量30正在研究中。对于这些批中的每一批应采用孤立批的程序。但根据批量大小和合格质量水平(AQL)，如果采用大批量和小合格量水平(AQL)执行转移规则有更大的可能性时，这也可在确定所使用的抽样方案时加以考虑。上述这些应在制造方与国家监督检查机构(NSn之间

29、协商一致。C2 孤立批的质量评定程序一个孤立批C与ST/Z9007(IEC410)第11.6条中孤立批不同寇义为一批唯一的生产批或供货批，它不构成质量评定体系中通常系列检验批的一部分。按照制造方与国家监督检查机构之间的协议，应在下列三种方案中进行选a. 100%检验。由于该批量太小，以致按规定的合格质量水平(AQL)和检验水平(1L)进行抽样不能充分判定是否放行了不合格品只适用于非破坏性试验项目。b.变换到具有某一种工作特性曲线的抽样方案，该特性曲线在极限质量(LQ)下并对该批中继电器的已知用途能提供足够的保护(DR)气所采用的方案应在制造方与国家监督检查机构之间协商一致，并在原合格质量水平(

30、AQL)的基础上不得过分地增加生产方风险。所选择的抽样方案，其合格质量水平(AQL)与检验水平(IL)均可与详细规范中的规定不同。注2DR为判定系数，定义为g平水平见SJ/Z9007(IEC410)中的表VIA和表X)6.当不能得到可靠的判定时，例如对于小批量和破坏性试验，则应1承担更大抽样的风险，并且所采用的抽样方案应在制造方、国家监督检查机构及继电器的主要使用方当知道时之间达成一致的协议。C3小批量的质量评定对于小批量，可以采用前条的a、b.c中所规定的程序，但应在制造方、国家监督检查机构及继电器的主要使用方(当知道时)之间协商 13 SJ 2845.2-87 D 录附一一一甲-览范电别点

31、应用具有非曹封触点表的示例。注备日项验试条就i见附;求B巾的注和注M M M M AO分组外观检查，标志也阻线17.4 19.1 引出端，见附承B中的注适用规定M M M M M 介质试验20 电ll接23 R R Al分组机愤检查18.1 TS3中只适用于在AO中未注行试验时l至少两种功M M M M M M 电阻功能试验线19. 24 见附录B中的注和注R 时间试验25 M M R A2tj-组尺寸检查17.1 M M M A3分组外观检查(标志除外)17.4 B中的注M M A4分组介质试验20 M 绝缘电阻22 i见附录B中的注和出R R 81分组电寿命41 电TS1中只适用于印制线路

32、板M M M 25生且可焊性(试验1)36 133分组在81中未进行试验时适用，见B中的注R R C1分主且也寿命41 R C2jHJ1 线圈电19. , TS.试验一览表Rz推荐性试验项目Ms强制性试验项目。 14 oa一串川-M二阳一s J2845.2-87 l四一一注备日项试条款TSl中IAO中未进行试验的引出瑞:TS2和TS3中IAO和A4中未进行试验的引出端如果A2中未进行检有M M M M M 试验电阻介f色20 22 M 试验时25 R R M R C3分组尺寸检二在称贵12 mr。咱Ei4 R I包接触噪声50 见附求B中的注，只在:81和Cl中未进行试验时适用M M M M C4分ml包寿命机械存命41 42 R M R M R C57HJ 气候序列引出端强度26 35 只毒用于C八。R 热寿命43 R 热电动势51 R R C6分组热阻28 一一一R R 温度快速变化30 R 民霉34 R -监付一帆一四一试配一lRJ 耐焊接热. _ . ., 4甲一-36 规攒与详. 15 rrs:试验一览表R:推荐性试验项目注I(t实际详细规范中，J吃确定推荐性试峻项1是否适用，如果适用，则推荐性试验项目中规定的任何其它试骏项目一样，是强制性的。附加说明E本标准由电子工业部提出。书际准由国营七九二厂和电子工业部标准化研究所共同、-国M:强制性试验项目

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