1、ICS 77. 040. 01 H 15 EJ 手共G/T 17473.1 1998 Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics Determination of solids content 1998-08-19发布1999-03-01实国家质技术监督局发布(GM174叶1mi前言i 1 浆料中固体含量是浆料品质的一项重要指标，浆料固体含量的变化直接影响到厚膜微电子电路的( 膜厚和电性能的变化。目前我国尚未制定出该测试方法标准。经对IEC、ASTM、DIN、BS国外标准的检索，也未检索到
2、该方法的相应标准。本标准的制定参照了GB2793一阳胶粘剂不挥发物含量的测定、美国材料与实验协会标准l ASTM F66一1984.ASTMD2369-1995涂料挥发物含量测试方法儿i ASTM D4713-1992热回性和液体印刷油墨系统的非挥发物含量测试方法机并结合我国实际应用情i 况而制定的oI 本标准由中国有色金属工业总公司提出o1 本标准由中国有色金属工业总公司标准计量研究所归口。!本标准由昆明贵金属研究所负责起草。1本标准主要起草人z张晓民。l 中华人民共和国国家标准子技术用贵固体含定GB/T 17473.1-1998 范围Test methods of precious met
3、al pastes used Cor thick film microelectronics-Determination of solids content 本标准规定了贵金属浆料中固体含量的测试方法。本标准适用于各种贵金属浆料中国体含量的测定。非贵金属浆料中固体含量的测定亦可参照使用。2 引用标准下列标准所包含的条文，通过在本标准中引用而构成为本标准的条文.本标准出版时，所示版本均为有效。所有标准都会被修订，使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性.3 4 4. 1 4.2 5 5.1 6 GB/T 2421-1989 电工电子产品基本环境试验规程总则GB/T 8170一1987数
4、值修约规则方法原理根据贵金属浆料在一定温度下灼烧前后的质量差测定其固体含量。仪器与设备分析天平z感量为0.0001 g。箱式电阻炉z温度范围为室温-1OOOC.控温精度为士20C。试样将送检试祥充分搅拌均匀.测试步骤6.1 试验环境试验环挠按GB/T2421规定进行。6.2 称样在已校准的天平上，称取两份1g的试样，准确到0.001g.置于已恒重的柑涡中-6.3灼烧6.3.1 高温烧成浆料z将精揭置于箱式电阻炉中，微开炉门，升温至150C.保温30mn，继续升温至400 C .再保温30mm，关上炉门，继续升温至850C.保温30min，然后冷却到室温，取出，置于干燥器中6.3.2 中温烧成的
5、浆料s将士甘锅置于箱式电阻炉中，微开炉门，升温至150C.保温30min，继续升温到国家质量技术监督局1998-08-19批准1999-03-01实施l 阜GB/T 17473.1-1998 400C，再保温30min，关上炉门，继续升温到600C，保温30min，然后冷却到室温，取出，置于干燥器中。6.4 灼烧后称样7 7.1 称取试样灼烧后的质量.测试结果的计算与判定按下式计算浆料的团体含量X(%)，w，-w也X(%) = ;一一;.，!-X 100 w，一协YI式中，X一-浆料中固体的百分含量，w，一-柑锅的质量，g;7.2 7.3 7.4 w，一-甜纲和试料灼;烧前质量之和，g;w，一
6、一柑涡和试料灼烧后质量之和，自测试结果表示至两位小数，有效数字的尾数按GB/T8170数值修约规则进行。取两份试样测试结果的算术平均值作为测定结果。两份试样测试结果的差值应不大于表l给出的允许差，测定有效，表1浆料固体含量测量的允许差浆料名称允许差，%8 E 导体浆料包括电极浆料电阻浆料试验报告试验报告应包括以下内容2a)试样编号g的试样名称、牌号、规格，c)产品批号，d)测试结果及检测部门印章，e)本标准编号，f)测试人及测试日期。O. 2 0.4 一二-一一一一一一4一)一)一一一二一一一一十一_JgglF.巳EF归简。华人民共和国家标准厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法团体含量测定GB/T 17473.1一1998国中* 中国标准出版社出版北京复兴门外三里河北街16号邮政编码.100045电话.68522112中国标准出版社秦皇岛印刷厂印刷新华书店北京发行所发行各地新华书店经售版权专有不得翻印* 开本880X12301/16 印张1/2字数5千字1999年2月第一版1999年2月第一次印刷印数1-800畴书号.155066 1-1 5489 * 364 53 标目
