1、ICS 17.040.30 F 86 中华人民共和国国家标准GB/T 15636-2008 代饼GB/T15636一1995电离辐射厚度计Thickness gauges utilizing ionizing radiation (lEC 61336: 1996 , Nuclear instrumentation一Thickness measurement systems utilizing ionizing radiation一Definitions and test methods, NEQ) 2008-07-02发布中华人民共和国国家质量监督检验检夜总局中国国家标准化管理委员会2009-
2、04-01实施发布GB/ T 15636-2008 目次前言. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . ( 1 范围2 规范性引用文件. . . . . . . . 3 术语和定义3. 1 与设备有关的术语和I定义. . . . 3.2 与测量和控制有关的术语和定义. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3 3. 3 与时间响应有关的术语
3、和定义. . . . . . . . . . . . . . . . . 5 3.4 与符位有关的定义. . . . . . 8 4 产品分类. . . . . . . . . . . . . . . . . . . 10 5 技术要求. . . . . . . . 10 5. 1 通周要求.10 5. 2 外观. . . . . . . . . . . . . . 12 5.3 性能要求. . . . . . . . . . 12 5. 4 与影响最有关的技术要求. . . . . . . . . . . . . . . . . . . ,. 13 5. 5 辐射源. . . . . . .
4、 . . . . . . . 14 5.6 环境条件. . . . . . 14 5. 7 安全要求. . . . . . . 15 5.8 诊断符性. . . . . . 16 5.9 可司在性. . . . . . . . . . . . . . . . . . . 16 6 试验方法. . 16 6. 1 总则. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 16 6.2外观检查四3性能试验. . . 19 6.4 影响最试验226.5 领射源试验. . . . . . . . . . . 24 6.
5、6 环掷试验. . . . . 24 6.7安全要求试验. . . . . . 25 6.8 诊断特性.25 6. 9 可奇在性.26 7 检验规则. . . . . 26 8 标志、包装、运输、贮存和随行文件. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27 8. 1标志.21 8.2 包装. . . 27 8.3 运输. . . . . . . . . . 21 8.4 贮存. . . . . . . 28 8.5 随行文件. . . . . . . . . . . . . . . . . 28 附录A(资料性附录通用电离辐射厚度测敛系统. .
6、 . . . 29 A. l 现代技术与通用电离辐射限度测量系统. . . 29 GB/ T 15636-2008 A.2 通用测最系统的惜述.mA.3 通1ll也离辐射厚度测最系统的符定试统方t.t.-.32 参考文献. . . . . . . . . . 37 阁l困2倒3J1 1 表24日3表4./(5 我6表74提8我9我10表11u m拟系统X-阶跃输入的典型时间响应. . . 6 敛字系统X阶跃输入的典叫醒时间响应. . . . . 1 线性IJI:. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 8 正常工作的大气环槐条件. .
7、. . . _. . . 11 正常工作的供也电源及其变化范凶. . 1 1 Jil.k妇撞Jl11t. . .- 12 与准确度有关的稀水性能项目及其技术指标. . . . . . . . . . . 12 与影响般有关的性能驯1-1及双技术指标. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 13 影响Iil:引起的示m变化. . .- . . . . . . . . . . . . . . 14 也磁环榄条件试始f;*等级. . . . . . 15 II!.气安全要求参数. . . . . . . . 1
8、6 辆R;I防护分级. . . . . . . . 16 试峻的.考条件响1标If试1晚条件. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 7 jr;tJ.lo l横驰事rl.&只分时l. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . , . . 2 6 GB/T 15636一2008前言本标准，对应于JEC61336 , 1996(核仪吉普利用电离辐射的厚度浏览系统E主义和试验方法)，与JEC 61336 ,) 996一敢做程度为非等效.本标准代替G/T15636-199S(电离辐射厚度计).本标准与G/T
9、15636-1995相比主要差异如下:规范性号1m:文件.引用合适标准的放新版本g术语肩1定义.按IEC61336，1996的定义编写，并与GB/T7352保持一致:一一技术要求= 调整技术要求项割的顺序.按外貌、基本性能等要求顺序排列，并将正常工作的大气环.1ft条件和供电电草草条件与它们对J!;度计性能的影响分开表述(见贯5 1宫沁 洲3臣和补充部分技术要求的指标(见第5尊)， 正常工作的大气环.1ft条件事I供电电源条件按IEC60692 ，1999的附杀A分jjlJ:ll!J分为I、H、m三个组jjlJ和1，2，3三个级别(兑5.1.1)， 增加l交流供电电源频率变化、电磁环槐条件、抗
10、振动、冲击和包装运输等环搅运应性妥求2 在安全要求中，电气安全和辆射安全包括试验方法按GB/T19661 2005编写.并给出具体参曼史.另外还地加防爆姿求(包括试验方法)(见5.7), -试验方法3 补充部分试验方法.例如电磁环境试验、放射源试验等，使之与技术要求一一对应(见m6 :l1), 改写部分试验方法，大多按lEC61336: 1996的试验方法编写，但气候环境试验和机械环挽按GB/T8993-1998编写，而电磁环珑按GB/T11684-2003或GB/T17626. 1-2006编写见第6J,i) ; 一一梭验规则中补充检验分类、细化检验项目-览我见第71吉); 一一增加院i行文
11、件的内容(见第8章), 一一增加染A(资料性附录)，包指1EC61336的号lf和阔的和范倒，IEC61336的附录V通Jfj电离制射厚度测最系统的描述，以及该通J1l1喇般系统的特定试验为法.本标准的附录A是资料伎附录.本标准由中自核工业集团公司提出.本标准伯金周核仪稽仪表标准化技术委员会(SAC/TC30)归口.本标液起草单位=深圳市计量质量检测研究院、核工业标准化研究所、上海工业自动化仪表研究所.本标准主要起草人z朱然会、熊.iE陵、李佳荔、刘迎释、许晓那、要重闯钩.本标准所代替标准的历次版本发布情况为:- G/T 15636- 1995. 10 GB/T 15636-2008 电离辐射
12、厚度计1 范阁本标准规定了电离销射:度计的产品分类、技术要求、试验方法、检验规则以及标志、包装、运输、贮存和随行文件.本标准适用于利用电离领射对被测材料的厚度或单位而狈!i量进行司在破坏性静态测量的电离锅射Jjf计以下简称!lm).2 规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条:.凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容或修订版均不适用于本标准，然而.鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的报新版本.凡是不注目朔的引用文件.其最新版本适用于本标准.GB 3836. 1- 2000 爆炸性气体环搅用电气设备第1部分=通用妥求(eqvIEC 600
13、7!-O , 1998) GB 3836. 2- 2000 爆炸性气体环境用电气设备第2部分:隔爆裂d(eqvIEC 60079-1, 1990) GB 3836.4-20爆炸性气体环绕用电气设备第4部分z本质安金型i(明vlEC 679-11: 1999) GB 4075-2003密封放射源一舷要求和分级(ISO2919 , 1999.MOD GB/ T 7352 利用电离$辐射植面的电测量系统和仪表GB/T 8993- 1998 核仪器环境条件与试挫方法GB/ T 10257- 2001 核仪器和核辐射探测器质最位验规则GB/T 11684- 2003 核仪锋也磁环挽条件与试验方法OEC6
14、1000, 1995.NEQ) GB/T 11806 放射性物质安全运输规程(GB!T11806-24.队EANo.S-R-1， 1996/2003.盯T)GB 15849- 1995 密封放射派的泄第位验方法(eqv1S0 9978 , 1992) GB/T 17625(所有部分电磁置在容限值GB/T 17626【所有部分电磁兼容试险和测量技术(idlIEC 61000-4) GB/ T 18039(所有部分电磁娘容限值(idlIEC 61000-2) GB/T 18271. 3-2000过程测量和控制装茸通用性能评定方法和1程序第3部分z影响最影响的试验(idtIEC 61298-3, 1
15、998) GB 18871 - 2002 电离辐射防护与辐射源安全基本标准GB/T 19661. 1一2005核仪吉普及系统安全要求第1部分滥用要求GB/T 19661. 2- 2005 核仪器及系统安金要求第2部分z放射性防护要求(lEC60405 , 2003. Nuclcar instrumcotatioo- Constructional requirmcnls and classification o radiomelric gauges. MOD) EJ/T 1059 核仪器产品包装通用技术要求3 术语和定义GB/T 7352中确立的以及下列术语和定义适好j于本标准.3. 1 与设备
16、有关的术语和定义3. 1. 1 厚度计电离辐射)tb也且由sgauge (ionizing radiation) 带有电离领射源，并设计成可以利用也离辐射非破坏性测绩材料的J:Jjfr单位部职质堂的测量黎觉.注z厚度计可能包揣测量并仅正不良影响量的补偿f感器.通fHJ事皮测量系统的描述参见附最A.GB/T 15636-2008 3. l. 2 透射式厚度计transmi.iSion thicknes.i gauge 和IJ1JH宇远被测材料的电离辐射进行测f匠的厚度计.注2放射源和探测豁分:Sll.t苛被测材料相对的两侧.3. l. 3 反徽射式厚度计bac咀allertbickD臼sgaug
17、e 利用披测材料和任何与被测材料紧挨着的基体衬l居材料的反徽射电离领Jlt.1t行测量的J!j(J.f汁.注z放射源和探测量章.于被割树斜的问-侧.3. 1. 4 X射线荧光厚度计X- rdY jJn:在被测材料和与进行测舷的J!j(J.f计.3. l. 5 测量头m国皿ring!一个或多个辆毁-起组成的子部件注。辐射源可是精测稽组件等组3. l. 6 电盲目量都件处理单元通过组合的撒的部件.泣，3. l. 7 测试点在限度汁中可3. l. 8 3. l. 9 测试点Ct四tpoint C 在厚度计中产生正常测:!iI:3. l. 10 其他测试点t四lpoin峙。由町在厚度it中信号能被监测
18、和估算的其他点.3. l. 11 测量头安装架measuring bead supportng mecbanism 安装测:fil头的机械部件.3. l. 12 固定式安装架rixed mecbanism 固定不动的测最头安装架.3. l. 13 2 回岐式安装架relractable mecha,nis:m 能从测量位置缩囚的测量头安装架.所激友的荧光X射线谐或装远宜值的电气GB/T 15636-2008 3. 1. 14 移动式机构tr1Iversin.g m民banism测晕头可沿着被测材料进行横向或纵向一定范回移动的测量头安装架.3. 1. 15 避射式厚度计的测量问距me描uring
19、ga.p for tnmsmi回ionthick.ness gauge Jl子被测材料两侧的源部件与探测部件相对酒之间的最短眨离.3. 1. 16 反徽射式厚度计的测量闷在measuriog gap ror back.scatteriog thick.n酬gauge从探测部件或源部件最富在近被测材料的丽到被测材料很远表面(或基体材料表面的最短距离.注s术帮测量间臣有时用来捕述其内完成测量的空间和自由体权.这个空间可能比上丽描述的距离小.3. 1. 17 通行线p剧line被测材料在测f置问庭中的位置线.3. 1. 18 ，考通行线reference pass line 在测量问距中对应于正常完
20、成校准时的通行线.它通常以一个离源窒表面或探测室表面的规定距离来定义.3. 1. 19 测量面积me描urementarea 被测材料娃子参考通行线上，被来自源部件的有用电离辐射束照射的锁微雨驭.3. 1. 20 总测量面积to1al measurement area 参比通行线上能提供100%的输出俯号的、给定被测材料的是小商织.3. 1. 21 有效测量面积effcctive me田urementarea 为了提供输出信号和被测变量法之间的报佳校正，参考通行线上给定被测材料的面积.通常这个面积为总测结丽拟的65%到95% 注2当测量区内被割材料的质量例如裂纹较度等不均匀时，这个概念特别篮要
21、.3. 1. 22 裂级分辩为str四kresolution 在过程机械方向上能提供与其具有相同单位商积质缉的元限裂纹70%倍号的裂纹宽度.3. 1. 23 单位西双质量m8SS per uoit缸四面密度surlacc dc.nsity 等于物质的密度单位体职质ft)及其厚度乘织的政.职位面积!强通常采用物质样IJ，称盒，并丹It在质il:除以它的面积来计算.3.2 与测量和组制有关的术语和定义3.2. 1 准确度8cc.uracy 在参考条件下进行静态测量时.指示由主与约定真值相符合的程度.注2通常测量的是不准确度.并用它来农示准确度.3. 2.2 基本误.intrinsic eITOr
22、固有误差intrinsic error 在参考条件下测定的误经.3 C8/ T 15636-2008 3.2.3 .复性repeatabi1ity 3r) 对扫描系统，电噪声试量进行两次-f(先阴测量头，然后以其正常方式运辛苦妇描驱动机构并横向移动测量头.对每项试盘，在白宫置放大银输出.a少峡集1个数舷.应计算它们的平均值和标准锁经.并褒示为全刻度的百分I!C.6.3. 1. 3. 3 咆妖糊不稳定性应在前置放大祷用实验室计算机和fi10采集系统或通过厚度计的自动记录功能来监测咆长期不稳t生.设置是大采样时间15s.并在最少10h的时段内约每6min进行一次数据采集(簸少100个戴指点).计算
23、官们的平均值和标准偏差，并貌示为金棕皮的百分敷.6.3.1.4 .射喋声和综合辐射测量不定性试验通过开放闸门而厚度计处于完全工作状态迸行.试验程序与6.3.1.3叶的哥哥序相饲.应对线俭化的和补偿的最终单位面积1质.或厚度的输出倪采集敛檐，表示为名义上零工艺单位的倪.且在这个值附近有小的波动.估算辐射噪声和综合辐射测最不稳定性.厚度计设置为元定期标准化或重新校准的连自童测量模式.6. 3. 1. 5 线性皮校准线锥度)辙M衰减是测量材料厚度的非线位函tt.原皮it中已使用多种技术使输出fil号线性化.通过分析覆盖睡个测量就回或部分测量范阔的拟合曲线可实现线性化.分析模型可以是线住我这(1绞段或
24、非续性我达例如多项式、事级数等等).簸终缔果是.厚度计在测试点C的输出C(W.):trX试验样品输入(1W.足近似线俭的.在线性化后.单位面积质最或厚度的表达式将是回3和1式(1)的形式zC(W,) = a + bW, . . . . . . . . . ( 1 ) 为确定相对线俭误差，用簸小二果法将W，对C，(i=O.I.10)拟合为借O/CYbu权函数的直线1m权雨I!C允许误以百分数形式我示.并用武(2)确定该标准偏差.SD .I 10 ( 2 ) 19 GB/T 15636-2008 百分数标准偏爱SDXI00%.是厚度计校准非线性皮百分数的测量C(W，)和G对W，的关系曲线图应与非线
25、性数据一起加入报告.如果线性误差没有在该图上清楚表示.则应精加额外的因袭来表示C(W，)-c，对W，的关系曲线.c，和W，的关系应参考由制造商规定的下述一个或多个条件予以确定.条件1，没有操作员输入在厚度it规定的整个最程内，在没有操作员输入或整定债不变的条件下.应进行这个试验以规定c，与W，的关系.应插入已知单位商积质量的样品，并记录测在试点C指示的单位丽叙质量.条件2.标称厚度输入在厚度计的整个囊程肉，在没有操作员输入但有T，的条件下进行线性皮试段，这里T，代表试验样品标称的单位面职质量或厚度表示为与c;单位相同的常用单位).制造商应对其厚度计指定T，能落人的量程.并报告在该最程内最坏情况
26、的线性度偏爱.条件3，其他设置如果厚度计要求其他的操作员输入以便在整个指定工作范围内进行线性皮测量，则制造商应指定那些编人，从而进行试验.6. 3. 1. 6偏差续性度偏差线位度试撞包括厚度计设置.以便对所选择单位丽狈质量或厚度的目标值绘出零偏差.然后，在不重新设置目标值的情况下，测量不同值的试戴样品，并记录最终的厚度计输出.每个试盘样品的实际值与指示值之间的差异即是偏爱线性度.应对11个有效测量范围内的目标值进行这项试验.使用试盘样品W，-W.作为目标值.要求足够的附加样品以确定与每个目标傻偏量10%和20%的偏爱线性度.对每个偏差，宜作为目标值的百分报告偏差线性皮.6. 3. 1. 7 重
27、复性本试验采用模拟试验方法进行.将厚度计安装在模拟试童装置上.用试盘样品Nos.1，5和9使厚度计工作在有效范围内，对阿-被测厚度连续测量10次，重复俭用均方很误差(标准偏差表示.允许在每次测量前对仪稽重新校准，即在厚度计经受正常标准化周期的每个时刻测量试盘样品.平均的标准化周期宜符合制造商的技术规格书，通常为5.-60.注:上面是厚度计重复性测量的简化方法，其标准方法参见附录A的人3.1. 6. 3. 1. 8 测量商量声噪声测囊的步骤如下z一一设置厚度计以测量和记录或呈现以最高速率的单位顶积质量或厚度的数据点，每个数据点可是几个原始数据变换值的平均，但未进一步处理，数据的平滑或滤波是允许的
28、s一一记录数据点之间的时阅间隔和厚度计时闵常数s一一对厚度计标准化s一一使用至少3个不同的检查样品，典型样品是Nos.l.5和9，一一对每个检查样品.收集至少10s的数据但最少100个敛指点但不超过30s以避免任何.移影响)I 一一对每个样品组计算平均值和标准偏差.以主测量单位表示5-一将每个样品的标准偏差除以平均值并乘以100计算出百分数噪声.注g对于质量称重非常轻的样品，这个百分数趟于变得很大，因此.对于轻质样品和无样品的空气问距.噪声可用单位面积政量就厚度的单位褒示-6.3. 1. 9 曝极限分障力曲创造商在具体产品的企业标准中规定噪声极限分辨力的试验方法.20 6. 3. 2 创阉躏应
29、6. 3.2. 1 极述CB/T 15636-2008 进行时向响应试盘时，采用试鱼佯品便披测厚度产生阶iJ:变化，用示波器或记绿仪对厚度计的2个测斌点输出俯号测取一系列的数据或照片.并通过依据处理来获得被测的时间参量.测原tr产生阶跃变化所需的时问不应大于相应被测时间参量数值的1/10.为此.可使用专门设计的试盘辈革童.披测时间参量应取3次测量结果的平均创-6.3.2.2 平均响应时阁和平均矗立时闹平均响应时向和平均建立时伺通过引人披测材料在有效测量范窗内产生正的和负的阶跃变化，并利用i孟当的试盘设备观察厚度计在测试点A精lC的响应或其等效量来测定.这些试由通过在测量问厦内迅速捕入和移出试验
30、样品送行.为产主监阶iJ:变化，放置样品的旋转盘上或其他$:援娘的动作时间应11、于披试厚度计平均时间响应的1/10.如必要.试盘固定设备应包括先後镜或缝隙.测籍，以标记披测量发生阶跃变化的时间.如要求，将-个开.光圈放置在辐射束中以减少被测丽狈.并便于在要求的时刻现阶跃变化.用于这些试撞的合适试盘设备包指A/D变自民怨、高速记录仪、示被指以及在随后町打印输出的实时I!c字读出存储装置.这些试验设备的响应时阅至少应1I、于厚度计在测试点的平均响应时阀的1/10.应平均3个记录的簸小值、示波糖痕迹照相或打印输出以确定= 初始稳态值2捕入或移出吸收体之前的平均俯号水亭， 最终稳态值g捕入或移出吸收
31、体之后至少5个响应时阔的平均俯号水平3 阶iJ:变化=簸终稳态值减去击目始稳态值， 平均响应时向2典型的记录或图表应与平均响应时阔的数据一起附上， 平均建立时问z典裂的记录或图表应与建立时间的I!c据-起由上-6.3.2.3 恢复时阁恢复时间应通过将敏测材料引人测量问炬，并观察厚度计在测试点A和C的响应米测定.将进行两个试驰，-个从零厚度(没有被测材料到大约10%有效测量范茵的厚度$另一个从零厚度到大约90%有效测量范围的厚度.每个试验应迸行最少3次.测量销号达到并保持在统计瞻芦带土2IUl任何铃Dft.褂OIJIfI.比虞变化，的编鸣也记忌.侃倍的.1li6会篝蜒.备则n商，HEllf号明案
32、.SKR绵民6. 6. 1 _1&1事翩环确圃.健.筑也剿真1挚JillIIJaI:脑际现!l!laVTlt91L的D凰窟.且退衍。开枪UIA事等l的.变化2画.袅.n-Jf洼工律的k气峰n所造的细M.f时第槐u说_，咱隙，酷刑.11.M.e，r.II矗个!1l.li!i:锐的.t事.，也受曹悦RJRlk.-1，.lJ1I忡，在1!1tC1U1I:.n同!):it.，晨f值之IUf:.复也iltJalllI之内外篇符合俐，目求6.6. ( .犀囊位J句评.!i:lCall桨份咆咆鄙咆，.化则lI.lr.I9.，f元，但Jlt1IICR，-1/l!ff5. 1. I fI 遇.的.剿，电司也.且
33、烁的栋flJ:tllI.J1J.爱他.阔的上l1li.11，个则是，.J萨陋.历走在帽.记fJt.凰馅.，. 在第-分.肉，帽尔幌!.大莓锐与u电愿医化0刘庄钮比舷)， 1r.15阳后I徊局但a畏惧筐，慰安立./咆.咆拯变化嗣Ii，领6.8.551.变化1.1f1:1(2的&.1.2 attu . 蜗剿筒庐份恒的咱MIM*.来则b远的刽.u盼.民.1I1.u:ltdJlII鑫饵I9I11.JlIINJt幌俐凰CBl5.1:a嗣以提且巢市刽壳幅对Iii.GB!il6.2-Z.回嘀.臣111GB血们就嗣悍.i!剑晨2遭t610M铿面癫性的惧.10曲.lU.，.品金盒非洲. 腿定C B/ T 156
34、36-2008 6. 9 可拿性可移性试量可以来JTl:Jl打印机均值相11fI |量亭的布，.披1_ _ 诊断到控制段序-号惰111 , 测量民 o i矗周恩庭测.J民统的功能框困圈A.1 GB/ T 15636- 2008 对图A.I的说明=测量以领射源的能量发射开始.通常使用X射线机和密封放射源.将定辐射源的选界基于辐射类型例如，日，.X射线、辆射能量、半衰期、源强和安全考虑.当系统不测量剖，通常提供闸门以衰减辐射来.合理的测量头设计应保证闸门开启时不以非重复方式而改变领射*.闸门动作也可将派移动到屏簸位置来实现.不同的儿何部件限定辐射束的形状.它们不仅提供辐射屏蔽，而且对朋有测量误差提
35、供补偿.对测世头准直位误差的不灵敏、被测材料通行线变化和样品的成分影响能通过几何部件的合理设计予以改善.源和探测器之间的空气校构翩霄雯言自平豆E京黯世部分.说明1cm的空气桩相当于标准温度和压力(STP)下大约被测材料成分辆!t探头处理也号处理和诊断的放大苦苦速度(. , ;是与电缆敷设相词唱嚣民司应.-般是由辐射产生的电或光子).而另一种记光电倍精管、朋态探现.以观测到j以这种:ffi:程变化等这样一步处理而进行的许多制造商挺自!6I;.(测量和dE制影响最.d百畸头惜移、薄片温度、空气温度，等等.重要的:I.-nc将瓢盆效果.这些传感器响应时间与溃响岛附间相匹配.或与它测量变蠢的变化速率相
36、应配.另现褂这确度宜与这些变量对主辜凋蠢的V明向大小相匹配.不宜忽略与多传感器系统相关联的平衡，注6传感器啄毯且可获经盔，领善但将，如系统噪声.在传输电缆的接收端，可待嘎职决于所使用传输型式的鳝很放大吉普、数字计数怨或敛字通俗设备.传感器数据在放大错速度或计费Uf殉钢4每率i血且是创酌问内由放大苦苦和讨数锥子以平均.好的系统设计将保证这些响应时间对变量变化和扫描速度的正确匹配，以避免虑，假干扰和误报销号，例如，移动式系统前进和1后退的虚假测最幽线.在测量相同材料的不同变量的系统中，可使用两个或多个不同的测量头/传感稽.这些信号可组合以抑制相互干扰的变量或推导另外产生的变量例如，成分影响、涂层厚
37、度、水分含景.骨架干燥质量称茧)，等等J.这就是.好的系统设计要求正确匹配响应时间以避兔tII.假干扰和变量的不正确区分识别).另外，噪声可能是重要的考虑，例如，可由两个大变蠢的差分报导出一个新il(虫n涂层厚度);而这些信号的随机分布噪声按式(A.l)添加:N, = I可可. ( A. 1 ) 因此，导出变蟹的信噪比比後低.31 GB/ T 15636一2008，模拟电路、硬件逻貌和软件逻籍的组合可用于进-步将测量头销号数据处理为工程单位，例如克每平方米.通常，进一步的信号平均发生在这个阶段.另外.可采用不阔的补偿以应对活度的衰减、街上灰尘/污垢、电源移、测量头偏移、温度变化、已知产品或样品
38、到j产品的变化，等等.该信号处理的结巢是表示材料单位面积质量W:度的电压、电流或数字但.对倍号实施避一步处理可产生显示信息、控制伯息或管理信息的由L.测量结果将在视频终端、记录仪、打字机、穿孔机、打印机-绘阁仪、刻度盘或数字屏显示指簿上面显示.重耍的是，当分析被发现是平均值的数据时，它已进入一个显示状态.例如，扫描平均值是扫描期间所获取全部谈数的平均.Y.合廓形分布l曲线平均值是体现儿次扫捕的机械方向的平均，而儿扫描啡的每个敛锯盆片或段以规定方式对指定扫描次数予以平滑或平均.简单过程控制通常基于不同被测材料的测:IIt平均(例如，扫描平均、区域平均和单点时间早均) 较先进的控制可辛基于对测量头
39、/传感器所观测的被测量的统计分布.期望的是，区分控制动作的响应时问与不同级别的信号处理和显示的其他响应时间之阔的差别.管理f自怠系统(MIS)的报告可为用户定做.通常包含有关被测产品的高度平均数据和统计概要信息.注.现代电子硬件和软件技术的实践已使方框。-巾的许多功能组合到测量头中.因此产生智能测量头.A.3 通用电离辐射厚度测量系统的特定试验方法A. 3. 1 实验室试验A. 3. 1. 1 .复性测量靠位试验通过一系列测量来完成，而每次测量将使)Ut计完成其测量试验样品的正常标准化循环.测量将采取如6.3. 1. 5校准线性皮试验中的方法进行.平均周期应符合供应商的技术说明书，典到地是5.
40、-60s.试验应以6.L 1. 2中规定的样品Nos.1.5和19或以代表10%，50%和90%有效测最范围的其他合适样品来进行.测量值命名为SA心和SC，其中a是样品标识，j是读数序号.按6.L 6中的规定准备试验.将厚度计标准化，然后测量并记录对应在测量问距内没有试验样品仅有空气的信号SA.;和SC.;.按籽，将试跑样品Nos.l放t在位于参考通行线的样品安装架上，并细心标记它在安装架上的准确位置.测量并记录俯号SAII和SCIIJH样品Nos.5 (然后Nos.9)替换样品Nos.1并lI复标记、测绩和记录过程.重复这个试验测量的顺序10次，包括每个空气样品读数之前的厚度计标准化.样ti
41、I，应准确重新放置在每次它们插入的标记位班上，以保证测量同样的点.完整的测量顺序将产生10次厚度计标准化的结果，并在每个测试点记录40个量ttE侃，因此积聚数据i: 其中gi = a,5 ,9; j = I ,2,10. SA. SC 测试点A和C的信号应是0基准.也就是，SA.应是戴大佬，而对应W，=的信号SCi/应是放大值.在某些厚度计内可能不是这种情况.如果不是，则数学上修正该曼史倍以符合这个准则.32 平均筒号值和标准偏爱用武(A.2)-式(A.5)计算如下:SA. 百1= .J.:.!.一一 10 sc. 宽z=AZ-10 .(A.2) .( A.3) SDA，国9 2j (SC -
42、 SC,) SDC, = 9 1事lJf的lfill性以平均样品质黛称JO诙数的百分Jk袋示.A.3. 1. 2 .态裂纹分曾力在多数工业测1世应用中，纹的存在.而不是能测最头所测量的丽织的使用6.1.4.2中90Yo有敛测量范囚的10%的带以lit面拟的宽度.-l):-个将.) JII赠晕头Ab) Jll测晕头B。对每个样品计算测量头每个样品A.3. 1. 4 动态空气间距温度试.GB/T 15636- 2008 . ( A. 4 ) .(A. 5) .而通常更重要的是知迫一个裂的辍限能力.而这些Jl纹比相关成代农IOYo.50Yo和单位面.tn质量或厚度例如.jn躲:z:l量总测放在试量样品上，测最干扰.确谈数，以及每响.模拟Jlr;tlJf
