1、一一一一一一一一一一一一一-_飞共 JJG 182 1993 V T 尺V -sbape Anvil Micrometer 1993 - 09-22发布1994一04-01实按术监在布JJG 182-1993 9 JJG 182 1993 ;代替JJG182 1978 LoUCO.。uO-opccuuuV形础式千分尺检定规程Verification Regulation of Jlij一jtfs+2llf V - shape Anvil Micrometer 于1993年09月22日批准，并自1994黑龙江省技术监督局本检定规程经国家技术监督年04月01日起施行。归口单位:试所省计量检定本规程
2、技术条文由起草单位负一一一一一二一) 起草单位:主要起草人:张黎平( 马奎(JJG 182-1993 省试所)省计量检定测试所)JJG 182-1993 目录概述检定项目和检定条件. . 技术要求和检定方法四检定结果处理和检定周期. . . . . . . . . . . . . 附录山J一牛) 咽t( ) 4EA ( ) 4EA ( ( 5 ) ( 6 ) h电晶句白陶也JJG 182-1993 V形拈式干分尺检本规程适用于新制造的，使用中和修理后的分度值为0.01mm V形础式千分尺的检定。-述V形础式千分尺是应用螺旋副原理和采用V形础的一种长度计量器具，主要用于测量具有奇数等分槽、齿的制
3、件(如丝锥，饺刀等)外径尺寸的量具。V形面夹角有60.，108.和128.3417飞其示意图见图1。1 2 3 4 5 6 7 图11 尺架;2-V形测站;3 测徽螺抨;4一锁紧装置;5一固定套管;6一微分筒;7一测力装置;8一隔热装置-一检定项目和定条件V形否占式千分尺的受检项目和主要捡定用的工具列于表1。检定的条件2.1 检定V形础式于分尺的室内温度为(20+ 5)t。2.2 检定前受检V形础式千分尺及其校对用量具与检定用的工具在检定室内平衡温度的时间应不少于1ho -一方法技术要求3 外观3.1 要求1 问干一二句一二一一一_-LJJG 182-1993 表1检定类别序号受检项目主要检定
4、用的工具I在i中修理后1 外观+ + + 2 各部分相互作用+ + + 3 测力用分度值不大于0.2N的测力仪+ + + 4 刻线宽度及宽度差工具显微镜+ + 微分简锥面棱边至固工具显微镜5 + + 定套管刻线面的距离6 微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置+ + + 测量面及校对用量具工作面表面粗糙度比较样块7 + + 的表面粗糙度测量面的平面度2级平品或专用8 + + + 平晶(0级刀口尺)9 测微螺杆测量面与测陆两测量面交线的平行度专用光滑量规+ + + 10 示值误差专用光滑量规+ + + 11 校对用量具的尺寸立式(卧式)光学计及4等量块+ + + 注:表中+表示该项检定，-
5、表示该项可不检定。3.1. 1 V形础式千分尺及其校对用量具均不应有碰伤、锈蚀、镀层脱落等外观缺陷，刻线应清晰、平直、均匀。3. 1.2 V形陆式千分尺应刻有测量范围、分度值、V形面夹角值、制造厂名或广标和出厂编号，并附有校对用的量具。3. 1. 3 使用中和修理后的V形础式千分尺，及其校对用的量具不应有影响使用准确度的外观缺陷。2 3.2 检定方法:目力观察。4 各部分的相互作用4.1 要求JJG 182-1993 4. 1. 1 微分筒在工作行程内往返转动时必须灵活、平稳，无卡住和摩擦现象，无手觉到的径向摆动和轴向窜动，锁紧装置的作用应可靠。4. 1.2 测贴的安装必须牢固可靠。4. 1.
6、3 零位调整装置在调整零位时应能保证顺利可靠。4.2 检定方法:试验和目力观察。5 测力5.1 要求:应在6-10N范围内。5.2 检定方法:用分度值不大于0.2N 球面工作面接触后进行。6 刻线宽度及宽度差力仪检定。检定时，使工作面与测力仪的6.1 要求:固定套管纵刻线和微分筒上的刻线宽度为0.15-0.20mm，刻线宽度差应不大于0.03mm。6.2 检定方法:在工具显微镜上检定，微分筒上的刻线宽度至少抽检3条刻线。7 微分筒锥面棱边至固定套管刻线面的距离7.1 要求:微分简锥面棱边至固定套管刻线面的距离应不大于0.4mm。7.2 检定方法:在工具显微镜上检定，检定时在微分简转动一周内不少
7、于3个位置上迸行。8 微分简锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置8.1 要求:当测量下限调整正确后，微分筒上的零刻线与固定套管纵刻线对准时，微分筒的端面与固定套管毫米刻线右边缘应相切，若不相切，压线不大于0.05mm，离线不大于0.1mm。8.2 检定方法:当测量下限调整正确后，使微分筒锥丽的端面与固定套管任一毫米刻线的右边缘相切时，读取微分筒的零刻线与固定套管纵刻线的偏移量。9 测量面和校对用的量具工作面的表面粗糙度9.1 要求:表面粗糙度应不大于R.0.08m。9.2 检定方法:用表面粗糙度比较样块以比较法检定。10 测量丽的平面度10.1 要求:测微螺杆测量面的平面度应不大于0.001
8、mm，测站不大于0.0012mm，在距边缘。.5mm范围内允许塌边0.1mm。对于测量面为11.5mm的测微螺杆，其测量面边缘允许有塌边。量面的平面度应10.2 检定方法:用2级平品或专用平品以技术光波干涉法检定。也可用零级刀口尺以光隙法检定。用刀口尺检定时至少在两对角线位置上进行。11 测微螺杆测量面与测站两测量面交线的平行度11. 1 要求:测微螺杆测量面与测陆两测量面交线的平行度应不超过表2规定。3 且一一一JJG 182-1993 表2V形础工作面夹角测量上限平T I 度示值误差35 0.004 士0.00460 50 0.005 :1: 0.005 80 0.006 :1: 0 .0
9、06 25 0.004 +0.004 180 45 0.005 土0.0051283417 85 0.006 + 0.006 11.2 检定方法:在均匀分布整个测量范围的4点上，用圆柱度不大于0.001mm的，尺寸尾数差为0.12-0.13mm的4个专用光滑量规检定。捡定时，每个量规的同一部位在测础两端位置上，并与坝tl微螺轩测量面直径1/4处接触检定(如图2所示)。两端位置的读数差即为平行度。2 2 图21一测杆;2一量规这一检寇，也可用检定示值误差用的同一组量规进行。12 示值误差12.1 要求:应不超过表2规定。12.2 检定方法:示值误差用专用光滑量规检定。检定点应均匀分布于测量范围的
10、5点。其各点示值误差均不应超过表2的规定。建议选用表3所列量规尺寸。13 校对用量具的尺寸13.1 要求:校对用量具的工作尺寸偏差及任意截面、方位直径之差见表4。4 叩斗喝胁JJG 182-1993 表3自1m量程光滑量规尺寸15 A A + 3.12 A + 6.25 A +9.37 A + 12.50 A +15 20 A A + 4.12 A + 8.25 A+12.37 A+16.50 A+20 注:(1)表中A为V形桔式千分尺测量下限的尺寸。(2)对于量程14mm的所周光滑量规尺寸参照表中量程15mm的，只是上限尺寸用A +140 褒4mm 标称尺寸尺寸偏差任意截商、方位直径之差5
11、, 20 +0.0015 0.001 25 , 35 :t 0.002 0.001 45 , 50 , 65 + 0.0025 0.001 5 13.2 检定方法:校对用的量具工作尺寸用4等量块在立式或卧式光学计上比较检定。检定时，至少在量具两个截面和两个方位上检定。四检定果处14 经检定符合本规程要求的V形耐式千分尺填发检定证书;不符合本规应发给检定结果通知书。15 V形础式千分尺检定的周期根据使用具体情况确定，一般为1年。要求的，5 、JJG 182-1993 附录示值误差专用光滑量规其工作面的长度要不小于测础测量丽的宽度。度不大于0.001 mm，检定误差不超过+(0.5+5D)m。D 被测直径，m。6 22lg酬。目中华人民共和国家计量检定规程-7一V形黯式平分尺JJG 18% 1993 局颁布* 中国计量出版社出版北京和平型商街甲2号邮政编码胁13电话(010)64275360北京市迪鑫印刷厂印刷就箩书店北京发有所发行版权所有不得翻印一-* 印张0.75字数，于字Z刷r年E月第Z次印刷880 mm X 12311 mm 16开本1994年2月第1黯郁数2蛐直-4嗣统-萌号1510:却-1l35- A产一
