SJ 20303-1993 半导体集成电路JWOP07(07A、27A、37A)、JF714型低失调运算放大器详细规范.pdf

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资源描述

1、中FL 5962 SJ 20303 93 JFOP07A、JFOP07,JF714、平J:.IJFOP 2 7 A、JFOP3 7 A主kDetail specification for types JFOP07 A ,JFOP07 , JF714 ,JFOP27 A and JFOP37 A low offset operational 。,iconductor integrated circuits 1993-05-11发布1993-07-01实中华人民共和国电子工业部批准1 2 3 5 8 目次市罔fI . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

2、. . . . . . . . . . . . . 寻!1!;文件. . . . . . . . . . . . . . . . . . 要求. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 质保证规定. . 交T;专准备. . . ;14明迅n. (1) (3) (3) (21) (32) (32) 中华人民共和国电子行业军用标准半导体集成电路JFOP07A,.JFOP07、JF714、.J FOP27 A , .J FOP37 A型低失调运算放大器详细规范SJ 20303 93 1 范围Detail specification for type

3、s JFOP07 A, JFOP07, JF714., JFOP27 A and JFOP37 A low offset operational amplifiers 。fsemiconductor integrated circuits 1. 1 主题内容本规范规定了硅单片JFOP07A、JFOP07、jF714、jFOP27A和jFOP37人型低央调运算放大器(以下简称器件)的详细要求。1. 2 适用范围本规范适用于器件的研制、生产和采购。1.3 分类本规范给出的器件按器件型号、器件等级、封装形式、额定值、推荐工作条件、功率和热特性分类。1. 3. 1 器件编号器件编号应按GjB597,n

4、一44 nA 终点极限Uy一33 V+嚣5-20VTA=25C 一10 KSVR+ V/V V-=-15V、55CTA125C 一20 V+=15V TA=25C 10 电压抑制比1)电KSVR-V/V V_嚣-20-5V一55CTA125.C20 一TA =-= 25C 10 KsvlI. VS=士4.5-士20VV/V 一55.CTA125.C20 TA=25.C 110 比KCMR VIC=士13VdB 一55CTA125C106 V/OA+ TA=25.C .Rz=20kO 0.5 入失电压整1) mV V10A-TA=25.C .Rz=20kO 一0.5输出短路电3) TA=25C

5、.125.C 一65los+ t25ms mA (正输出TA=-55C 一70一斗输出TA=25.C .125.C 65 los-t25ms mA 出110 一55CTA125C-8一规范值单位最小最大114 一dB 108 -0.5 mV 一0.5一70一mA 70 mA 一5 mA 6 一1010 V 一11.511. 5 120 一dB 116 1.7 V/s 一0.18 V 规范值单位最小最大-25 25 一6060 V 一100100 一0.60.6 V/C 一3535 nA -50 50 -SJ 20303 93 1 4 条件特性符号若无其他,见图6.Vs=士15VTA=25C。十

6、118一55CTA125(1)终点入置电流TA=25C口-118 一55CTA125C口终点极V+=518V TA=25C KSVR+ V_=-15V -55CTA125C V+=15V TA=25C 电制比口KSVR-V_=一18-5V一55CTA125CTA=25C KSVR V5冒士4.5土18V一55CTA125CV1C=士l1V.TA=25C 共模抑比KCMR Vrc=士10V.一55CTA125C入失调电压VtoA+ TA=25C .Rz盟10kn整的V10A-TA =25C .Rz= 10kn + 出短路电流的I幅+t25ms .-55CTA125C 正出出短路电流的105-t2

7、5ms.一55CTA125C负出TA=25C 电电流口Is 一55CT A:!;三125C输出峰峰电压TA=25C R1.=600n VOPP 最小一55CTA125CRL=2kn 开环电压增益剖TA=25C AVD 一55CTA125C SR(士,V1=士1V.TA=25C .AVF=5.见图9入噪声电压V.PP f=0.110Hz.见回8.TA=25C垃:1)试验在V1C=0.VS=士15V时进行.2)对于AVD+.Vo=0-10V I 对于AVD-.Vo=-10OVI RL=2kn 范单位最小最大一4040 一6060 nA 一5050 -40 40 -60 60 nA 一5050 -1

8、0 V!V 一16 一10 V!V 一16 一10 V!V 一16 114 一dB 108 一0.5 mV 一一0.5一70一mA 一70 mA 一5 mA -6 一1010 v 一11.511.5 120 -dB 116 一11 -V/s 一0.18 V -9一SJ 20303 93 呻的由于不能超过最大功耗,连续短路时间极限应小于25ms.o由于固有热漂移,通电后3minNP应开5)终点电测试参考表4.3.4.1 失调调零电在一55C运TA125C下,应采用图2所示线路.具有失调电压极限值1mV的范围川刑-.r-0 入的放大器能够对超出规定V+ R. OA, 0, IN_ 一。UT111+

9、 -1十、v_注2对于jFOP07,jF714、jFOP07A .Rz = 20kO I M于JFOP27A、JFOP37A.Rz=lOkO.图2失调调零线路3.4.2 不稳定性振荡当按本规范给出的测试线路工作时,3.5 键合合应按GJB597第3.7. 1. 1条的规定。3.6 电试验要求器件的电试验要求应为表2所规定的有关分缀,各分组的电测试按表3的规定。表2电试验要求应无振葫。项目分组见表3)1)B 件B. 件试Al Al AIZ) AIZ) A2.A、:江、A.Al.A3.A4 A 求Al .A2 .A3 .A4 .A5 .A6 .A7 Al.A2.A3.A4 .A5.A6.A7 电一

10、电点一点终一终组一组c-D Al和表4的A极限Al和表4的A极限Al和表4的A极限Al和表4的A注11)表4终点电测试应用于V10和1182)该分组要求POA计算(见本规范4.2条).-10一SJ 20303 93 表3一1JFOP07A的电测试 引出端条件接通被端规范值4单位分组符号试等式注开关同号1 2 3 最小最大Al V10 15 一15。EI v VIO-Ed1000 -25 25 A 图7TA=25C 2 15 一15。无4 Ez v Vlo=Ez +llBr -2 2 nA 3 15 一15。KI 4 Es V +11B=2(Ez一E3)4 15 一15。K2 4 E. v -1

11、18=2(Ej-F. -2 2 nA llo 5 Ilo=2(2Ez-E3E号-2 2 nA 1) 20 -15 。无4 Es v 6 + KSVR+=66(Es-E -10 V/V 5 一15。无4 E6 v 15 -20 。无4 E1 V SVR-7 KSVR+=66(配1-E10 严V/V15 -5 。无4 E8 v 4.5 无4 E9 v KSVk 8 KSVR+嚣32.25(E.-E1o) 10 V/V 20 -20 。无4 E10 V 28 一2一13无4 EII v KCMR+且2010g(26000/IKcMR 9 + 寸110 dB 2 -28 13 无4 Eu v (F.u

12、甲EII】护川15 -15 。K5 4 E I3 v VloA +=Ez-Eu 0.5 -mV 十15 -15 Eu v VloA +=Ez-Eu -0.5 mV 1oS+ 12 15 -15 -10 无5 105+=11 -65 -mA 2105-13 15 -15 10 无5 mA 1喃-罩1:-65 mA 2) ls 14 15 -15 。无13 mA Is=ls -4 mA A2 VIO 15 15 -15 。E1S V Vlo=E1S/1000 -60 60 V I 111 7 TA=125C OYIO 16 VIO= (E1$-EI1 )/100(1000) -0.6 。.6 17

13、 15 -15 。无4 院16v Vlo=E +r.R -4 4 nA 18 15 一15。Kl 4 El1 V +11B嚣2(EI6-EI1)-11B 19 15 -15 。Kz 4 Eu V IIB=2(EI8-EI6) .-4 4 nA 110 20 110= 2(2Eu- E17- E(8) -4 4 nA 1) 20 一15。无4 E19 V 非阴阳21 KSVR+ =66(EI9-Ezo) 20 V/V 5 -15 。无4 Ezo v 15 一20。无4 E21 V ,SVR-22 KSVR- -66(E21-Ezz) 20 V/V 15 一5。无4 Ezz V 4.5 无4 Eu

14、 V KSVR 23 KSVR=32.25(Eu-EZj一20 V/V 20 一20。无4 EZ1 v 28 -2 一13无4 Ezs V KCM民=2010g (26000/ KCMR 24 106 dB 2 -28 13 无4 Ezo V (民25-EZ6) lns+ 25 15 一15一育。无俨、,I1 mA 105+=11 -65 一mA 2) 10-26 15 一1510 无5 mA I瞄-=15一65 mA 2) 1s 27 15 一15。无mA 15=1. 一5 mA 、-11一SJ 20303 93 续表31 引出端条件规范值分组符号等式位注2 3 开关最小最大A3 VIO 2

15、8 15 -15 。EZ1 v Vto=区27/100060 60 jN 图7T A=-55呼的1.129 avt.- (EZ1- E1) /80(1000) 一0.60.6 V/C 7 3) 30 15 一15。无4 E28 v V1o=Ez8 +11l1 + 一44 nA 31 15 -15 。K1 4 Ez, v +llB=2(E扭-EZ9】-1回32 15 -15 。K2 4 E30 V -11l1 =2(E3o-Ezs) -4 4 nA 110 33 lto-2(2E四-Ez,-E30)-4 4 nA 120 15 。无4 ES1 V 34 KSVR+ = 66(E31 - E32)

16、 -20 V/V 5 -15 。无4 E盟v 15 -20 。无4 E33 v ,-35 KSVR-嚣66(E33-Eu)-20 V/V 15 -5 。无4 E31 v 3645乒4.50 无4 E3S v KSVR KSVR = 32. 25 (E3.-E3S) -20 Vtv 2Q 20 。无4 E.f v 28 一2-13 无4 E町V KCMR = 2010g (26000/ IK, 37 106 dB 2 -28 13 无4 E38 V (E31-E38) 1,蝇+38 15 -15 -10 无5 11 mA I瞄+=11-70 mA 2) I曲-39 15 -15 10 无5 1.

17、 mA Io.-1. 70 mA 2) Is 40 15 -15 。无l mA Is=1o 5 mA A4 41 15 -15 -15 K3 5 E39 V +VoPP罩E3910 V 斗v TA=25C 42 15 一15-15 K4 5 E,o v -V.t甲=E1o12 寸43 15 -15 15 K3 5 缸11v -VOIr=Eu 10 I-Vo v 44 15 -15 15 K4 5 E姐V -Vorr=En 12 斗IAvo+145 15 -15 -10 K4 4 Eu v Av+ = 10/(Ez-E13) 300 V/mV 46 15 -15 10 K4 4 E V Avo-

18、= 10/(E,-Ez) 300 V/mV A5 47 15 -15 -15 K3 5 E45 V +Vorr=EIS 10 v TA=125C 48 15 -15 一15K4 5 E蝇V +Vorr=EI6 12 49 15 -15 15 K3 俨d Et1 V Vorr罩Et110 V V 50 15 -15 15 K4 5 E . V -Vorr=E. 12 15 -15 -10 K4 4 E I9 v Avo+ = 10/(E1s - E19) 200 V/mV 52 15 -15 10 K4 4 Eso v Avo- = 10/(Eso- Eu 200 V/mV A6 53 15 -

19、15 一15K3 、,ES1 v +Vopp-Eu 10 VOrf V TA盟-55E52 +Vorr=E臼54 15 -15 -15 K4 5 V 12 55 15 -15 15 K3 5 ES3 V -V.rp=E53 -10 V V 56 15 -15 15 K4 5 E5 V -V.rr=Es, -12 IAvo+ 57 15 -15 -10 K4 4 Ess V Avo+=10/(E盯.:.Ess200 一V/mV 10- 58 15 -15 10 K4 4 ESf v AVD- = 10/(Ess-EZ1) 200 V/mV -12一SJ 20303 93 续表3一1引出端条件接通

20、被测端分组等式开关陶号I 2 3 A7 I.SR+ 59 15 一15。SR+= t.VO+/ .:lt+ TA罩25Ct.+ SR-60 15 一15, 0-。SR-=t.VO-/.:l t._ Vnpp 61 E51 v V npp = 1:s7l 50000 一一一垃:DlIo采用前面试验数据计算得到。2)在输出短接到地小子25ms时测量108+和I晒-.3)av10采用前面试验数据计算得到。的若无其他规定,所有试验采用图6线路。表32 JFOP07,JF714的电测试引出端条件接通被测端分组符号试等式位|号2 3 开关A1 VIO 15 一15。EI V Vlo=Ed1000 TA=2

21、5.C 2 15 一15。无4 E2 V VIO=E2 +llB 3 15 一15。K1 4 E3 V 十lm=2(E2-E3)十一llM4 15 一15。K2 4 E. V 一lIR=2(E.,-E2)l lO 5 l lO= 2( 2E,-E3 - E.) 十20 一15。无4 Es V 6 KSVR+=66(Es-E 5 -15 。无4 E, V 15 -20 。无4 E , V SVR 7 斗K$VR一=66(E,-E.) 15 -5 。无4 E, V 4.5 4. 。无4 E9 V KSVR 8 KCMR = 32. 25 (E.-E10) 20 一20。无4 E10 V 28 一2

22、一13无4 E11 V KCMR = 2010g (26000/ KCMRI 9 无E2 (E12-Ell) 2 一2813 4 V 牛10 15 一15。K5 4 E13 V VlOA+=E2-E13 11 15 一15。5 , 4 E11 V V10A十=E2-ElO$+ 12 15 一15一10无5 11 mA los+ = 11 los- 13 15 一1510 无、俨, mA I瞄-= 1, ls 14 15 一15。无1 mA s=13 L一规范值单位注最小最大0.08 V/卢S图9O. 08 V/S 图9斗O. 6 /lV 图8规范值单位i主最小最大一7575 /lV 图7一33

23、 nA 一33 nA 一2.8 2.8 nA 1) 10 /N/V 10 /lV/V 10 /N/V 110 dB 0.5 mV 牛-0.5 mV -65 一mA 2) 65 mA 2) 4 mA 一13一SJ 20303 93 3 2 寻IIil端条件接通被测端规范值分组等式位注L位|1 2 3 开关最小最大A2 VIO 15 15 -15 。EIS V VIO嚣E1s/1000一200200V 1 m 7 TA=125 C 一1.0 /NIV 5 -15 。无4 E. v 15 -18 。无4 E1 v 7 KSVR- =66(E1- E8) 10 /NIV 15 -5 。无4 E8 v

24、寸无4 E. v K!割唱t8 KSVR+罩32.25 18 一15。无4 E19 V 21 Ksv提+=66(EI9-E,o)16 /N/V 5 -15 。无4 E,o v 15 -18 。无4 E1 V 22 KSVR- = 66(E21 - E2,) 16 /N/V 15 -5 。无4 E22 V 4.51-4. 。无4 E3 V KSVR 23 十KSVR=32.25( F.23- F:21) 16 /NIV 18 -18 。无4 E21 v KCM巾42S 一5-10 无4 EZ5 V KCMR =201og(26000/ 108 dH (E,s-E,.) ) 5 -25 10 元4

25、 E6 V Z瞄+25 15 -15 -10 无5 mA 1os+盟11-70 mA 2) 十105- 26 15 -15 10 无5 mA los-=15 70 mA 2) 1s 27 15 -15 。无mA Is=l. 6 mA -16一SJ 20303 93 续表33 寻I!l:!瑞条件规范值分组符号等式位注1 2 3 最小最大? 110 28 15 一15。E町V VIO冒EI1/1000-60 60 V I 111 7 T L 41110 29 的10=饵27-El)/80(1000)-0.6 。.6 30 15 -15 。无4 E28 v Vlo=Ez 十-60 60 nA 31

26、15 一15。K1 4 Eu v +lm=20(Ez8-En) -118 32 15 一15。K2 4 E30 v -1田=20(Eso-Ez)-60 60 nA 一17一引出端条件分组号2 3 A7 SR+ 1591 15 1-151 0 TA=25 C 1 . SR_1601 15 1-15 。V.PP 161 注:1)lIo采用前面试验数据计算得到。SJ 20303 93 续表3一3A.+ A._ E57 端 vl 等式SR+=AVo+/.:1.+ SR- = AVo-/.:1.-V.PP=E57/50000 盯在输出短接到地小子25ms时测量I瞄+和I幅3)的10采用前面试验数据计算得

27、到。的若无其他规定,所有试验采用图6线路。表34 JFOP37A的电测试引出端条件接通被测端分组等式位|号1 2 3 A1 VIQ 1 15 一15。E1 v V1o=Ed1000 TA=25C 2 15 一15。+11B 无4 飞E主V Vlo=Ez 3 15 一15。K1 4 E3 V +lm=2(Ez-E3) -11B 4 15 一15。K2 4 EI V -118理2600 V/mV 15 -15 10 .K4 4 Eso v AVD- = 10/(Eso- E15) 600 V/mV A6 53 15 -15 -15 K7 5 E5i v +Vopp串E5110 5.qtV v TA

28、= 5 54 15 -15 -15 K4 5 Eu v +Vopp=Eu 11.5 斗55 15 -15 15 K7 5 Eu V -VoPP罩Eu一-10 v V 56 15 -15 15 K4 5 Es V -Vopp=Eu -11.5 15 -15 一10K4 4 ES5 V AVD+ = 10/ (Ez7 - Ess) 600 V/mV 中58 15 -15 10 K4 4 Ess v AVD- -10/(Ess-EZ1) 600 V/mV A7 阳。4SR+ 59 15 -15 。SR+-.V忡/A+11 V/S 图9一TA=-25 C .t+ V SR-60 15 -15 。SR-

29、=.Vo-/A-11 V/S 图9.,_ V.Pp 61 E57 v V.pp=E盯/50000O. 18 V 回8注:1)110采用前面 2)在输出短接到地小于25ms量los+和I瞄-03)曲算得 的若无其,所有试验采用图6线路.-20一SJ 20303 93 表4终点电测试极限或变化量(TA=250C.Vs-士15V.V1C OV) JFOP07.jF714 JFOP07A jFOP27 A .JFOP37 A 终点极限变化量(1.)终变化最(1.)终点极限变化量(,t.)单位最小最大最小最大最小最大最小最大最小最大最小最大VIO -175 175 一100100 一100100 一75

30、75 一100100 一7575 V +1回-4.5 4. 5 -1. 5 1.5 一33 -1 1 一5050 一1010 nA 一1m-4.5 4.5 一1.51.5 一33 一11 一5050 一1010 nA 3. 7 标志标志应按GJB597第3.6条规定。3. 8 微电路组的划分本规范所涉及的器件应为第49微电路组(见GJB597附录E)。4 质量保证规定4. 1 抽样和检验除本规拖另有规定外,抽样和检验程序应按GJB597和GJB548方法5005的规定。4.2 筛选在鉴定检验和质量一致性检验之前,全部器件应按GJB548方法5004和本规范表5的规定进行筛选。表5筛选条件和要求

31、(GJB548) 筛选项目B 器件Bl级器件说明方法条件方法条件内部目检2010 条件B2010 试件B(封装前稳定性烘烙不1008 牛C1008 试验条件C要求终点电(150C .24h) (150.C .24h) 试)温度循环1010 试验条件C1010 试验条件C可用方法1011试件A替代。恒定加速度2001 试验条件E2001 试验条件DYj方向Y1方向自检可在密封选后进行。引线断落、外、封盖脱落为失效.中间(老化前本规范Al分组本规艳Al分组由厂决定是否进行本筛选。电试一21一SJ 20303 93 续表5条件和要求(GJB548) 目B B1 说明方法条件方法条件斗老化1015 试

32、条件D或试条件D或采用本范围3线路条件C件C采用范围4线路(125C,16h)或1015 (125C , 16h)或采用本规范图5线路试验条件F件F中间(老化后本规范A1分组本艳A1分组电测试允许不合格晶5%,本规范Al10% ,本规拖若老化前来进行中间(老化)电率(PDA)计算分组.当不合格A1分.当不试,老化后中间(老化后电品率不超过合格品率不起试A1分组的失效也应计入PDA.20%时,可重新过20%时,可重提交老化,但只新提交老化,但允许次.只允许次.最终本规范A2.A3、本规范A2.A3、本项,若引线涂覆改变或返A4分组A4分组工,则应再进行Al分组测试。密封1014 1014 外部目

33、检2009 2009 鉴定和质5005 第3.5条5005 第3.5条致性验的试 样品抽取4.3 鉴定检验鉴定检验应按GJB597的规定。所进行的检验应符合GJB548方法5005和本规范A、B、C和D组检验见本规范4.4. 1条至4.4.4条的规定。4.3.1 鉴定扩町如果制造厂的JFOP07A型器件鉴定检验通过,而JFOP07A型器件在各方面除电测试外与JFOP07,JF714型器件具有相同的设计和制造相同管芯、相同工序、相同筛选),那么定在鉴定机构批准时可扩展到JFOP07,JF714型器件。然而,JFOP07A型器件在该器件完成Cl分组试验并由鉴定机构认可之后才扩展到JFOP07.JF

34、714型器件。4.4 质量一致性检验质量一致性检验应按GJB597的规定。所进行的检验应按GJB548方法5005和本规范A、B、C和D组检验见本规范4.4.1条至4.4.4条)的规定。4.4.1 A组检验一22一SJ 20303 93 一A组检验应按本规范表6的规定.电试验要求应按本规范表2的规定,各分组的电测试按本规范表3的规定。各分组的测试可用一个样本进行。当所要求的样本大小超过批的大小时,允许100%检验。各分组测试可按任意顺序进行.合格判定数(c)最大为2.表6A组检验(B级相BI级器件试验LTPD 试LTPD A1分组25C下静态测试2 A5分组125C下动态测试3 A2分组125

35、C 试3 A6分组一55C下动态试5 A3分组一55C下静态试5 A7分组25C下功试2 A4分级25C下动2 4.4.2 B组检B组检验应按本规范表7的规定。B1.-B5分组可用同检验批中电性能不合格的器件作为样本。表7B组检验若无其他规定,表中引用的试验方法为GJB548中规定的方法.条件和要求样品数/(接收数试B级器件B1 说明方法条件方法条件LTPD B1分组2/(0) 尺寸2016 2016 B2分组4/(0) 2015 2015 B3 15 2022 2022 LTPD系对引线数可焊性焊接温度g度:或或昌,被测器件数应245士5C245士5C不少于3个。2003 2003 斗B4分

36、组1/(0) 内部目检和2014 2014 B5分组可在封装的内部度2011 试验条件C2011 7 目俭选后,随意牛C(1)热压焊D 或D抽取样品进行本分(2)超声焊试验.一23一SJ 20303 93 试续表7条件和要求B级器件I lEI1 样品数/(接收数或方法B8分组(a)电参数(b)静电放电1GJlEI 灵敏度等级11649 条件本规艳A1分组(c)电参数I I本规范A1分组4-4-3 c组检验方法条件不要求C组检验应按本规范表8的规定。表8C组检验LTPD 15/(0) 若无其他规定,表中引用的试验方法为GJB548中规定的方法。试C1分组稳态寿命终点C2 方法1005 1010

37、恒定加速度I 2001 密封1014 目俭目终点-24一条件和要求B 条件|方法件CI 1005 D (125 C ,1000h) 或试验条件F本规范A.1和表4A极限见本规范表2和表3)Y1方向C E 按方法1010的目本A1和(见2和表3) 1010 2001 1014 B1 件条件f牛CD (125 C,1000h) F 本规范A1和表4A极限见本规范表2和表的C 条件DY1方向按方法1010的自检判据本范A1和表4A极限(见范表2和表3)样品数/数LTPD 5 15 说明试验仅在初始鉴定或产品重新设计时进行明采用本规范黯4采用本规范图3线路采用本规范图5线路JFOP07、JF714、J

38、FOP07A,JFOP27 A 。注,倩号源!-5Hz.士V.3.0V.+v 0 -V SJ 20303 .93 y+ + y_ 对于jFOP07A .jFOP07 .jF714 V +,. 20V.V,.四:20V,对于jFOP27AV+18V.V_=-18V. 所有电植的允许偏差为土5%.JFOP37A 10KQ y+ 1 ZKQ + OUT ,50Q 注:信号濒f=5Hz.士V=1.3V+v -v V+盟18V.V_ =一18V;所有电阻的允许偏楼为土5%.。y_ 图3老化和稳态寿命试验线路一25一SJ 20303 93 JFOP07、JF714、JFOP07A , JFOP27 A y

39、+ 一OUT 1+ .02Q y_ 注s所有电阻的允士5%.对于JFOP07A.FOP07,F714V +=20V ,V _ = -20V, 对于JFOP27AV +=18V ,V _ =-18V. JFOP37A 1 V+ 一2 十lOKQ V咀V/-3.V 注2所有电阻的允许偏差为土5%.( V +=18V.V _ =-18V I 图4老化稳态功率和反偏和稳态寿命试验线路一26一SJ 20303 93 V+ 一OUT 十V_ 注:对于JFOP07A.JFP07.JF714. V + =20V. V _ = -20V I 对于JFOP27A.JFP37A.V + = 18V. V _ =一1

40、8V.图5加速老化和寿命试验线路i Rr 一一二K6. I KS. O.lpF 5 町)I I r-一-一一IlOOKO K6 KS. lOKO 270pFI) 1 lOOKO 十JF741K2 49.9KO t 4 K9. 49.90 -.-_ .DUT I I I Kl O. + lkyiU/的IK9b 1 I J至Inlll 49.90 -) 注:若无其他规定,所有电阻的允许为防止插件和开关变化损害建立时间应合适,使各电参数值所有开关均在无激励状态下给出。不允许在测量第1端时对试验进行饱和调零放大.负载电阻10000和20500相应地输出10000和20000的有效负载电阻.1)为试验线

41、路的稳定性,应按要求加入补偿电容.应遵照固定的连接方式,以避免无用榈合与振荡。;r: 为士0.1%.所有电容的允许件,应采取相应3罔础。在其最终值的5%以内。5R1 , 6 .曲唱为土10%。-27一SJ 20303 93 环路响应和建立时间应.使得穗f牛在测量之件失效.与己处于稳定状态.2)大于300mV*辈-峰值的振荡应认为3)只4) JFOP27 A , jFOP37 A使用jFOP07 A ,jFOP07 ,jF714, 部分电_.v R1=500kO士0.01%,Rz=500kO士0.01%,R.=27kO士5%,R=100kO士5%f牛jFOP27A, jFOP37 A , R1=

42、50kO土0.01%.Rz=50kO士0.01%,Rs=Otl,R=10kO士5%图6静态测试线路注z 有电隘的允试线( V.o=Vo!l,OOO. H)O旦aO. 1协F习v.c PU1 + I I 1001 I y_ -nF v . + .7F 500 差为土1.0% 应与被测器件一致.图7失调电压测试线路+ -C ?KO E 飞+ I . JFI08A 4.1F V_ 、lOOKO 24嗣3KOI。.1F注:所用电容采用非极化电容.所有电阻的允许偏差为士1.0%.图8低频噪声测试一28一4.3KO 22F 匹配阻扰大于IMOI 1110KO 码JMRMd 吨30nu 呵吨Mnu 内,也冒

43、J03 lOKQ 川一一50pF + 一-一一一广_-一一一一一一一-飞一一一.11 ._ 阳在-。.1F -.9.90 一一一一一一一一-、,一一mwi!卜i!liil1ItoV村口甲+一1-.dV.+ -t(a) 波形2(反向转换孟$出特性F.t+ 脉冲输入和波形l(正向转换.)T 输入脉冲信号参数符号器件类型输出脉冲号等式tr50ns SR+ 除JFOP37A一5-十5V阶跃波型1SR+ =tf.vo+1 + (Av= l) S显-除JFOP37A+5-5V阶跃波型2SR-=t:.Vo-/-(Av=1) 斗SR+ JFOP37A 一1-十lV阶跃1 SR+盟l:!.Vo+/+(Av=5)

44、 SR-JFOP37A +l-lV阶跃波型2SR-国l:!.Vo-1-(Av=5) L一一29一为士10%.差为土1.0%.所有电容的允注z所有电阻的允SJ 20303 93 一在插入插应和接通电源期间,应避兔损害p.11Q 1UI I丁为试验线路的稳定性,应按要求加入补偿电容.应遵照固定的连接方式.以避免无用搞合与环路响应和建立时间与测试速率一致,使得器件在测量之前即已处于稳定状态.1)此电容值为包括杂散电容和引线电容的实际惆_lAo 2)仅对JFOP37A使用此电阻.图9转换速率4.4.4 D组检验D组检验应按本规范表9的规定.DLD2,D5,D6、D7和D8分组可用同一检验批中电性能不合

45、格的器件作为样本。表9D组若无其他规定,表中引用的试验方法为GJB548中规定的方法.条件和要求样品试验件条瞅广法方Bl级或LTPD 明方法|条件D1分组尺寸15 2016 2016 。2分组引线牢固性I 2004 15 条件B2I 2004 f牛B2(片式载体采用条件D)片采用试验条件D)密封细粗D3分组热冲击I 1014 1014 15 度循环1011 I试验条件B15次循环1010 I试验条件C1011 I试验条件A15次1010 I 试验条件C100次循环1 110次抗潮湿1004 I片式载体不要求引线弯曲应力的预1004 I片式载体不要求引线弯曲应力的预Bl级器件允许按GB4590第

46、3.6条严格度D进行嗣甜。密封细粗目捡1014 1014 本规范A1分E组和表4终点极限(见本施表2和表3)Bl级器件允许按GB4590第3.6条的目检T)I1:I0 可在抗潮湿后和密封试验前进行终点电测试.终点电测试按方法1004和1010的目检判据本规范A1分组和表4终点极限见本规范表2和表的按方法1004和1010的目一30一SJ 20303 93 续表9条件和要求样品数/(接收数)验试Bl级器件说明方法|条件LTPO 04 15 用于D3分组的样品机械冲击2002 件B2002 条件A可用在D4分组变动2007 f牛A2007 条件A2001 件E.2001 条件O.Y1方向Y1方向密封1014 粗目检i按方法2002按方法2002或2007的目或2007的目检判检判据终点电测试| |本规范A1分本规范A1分组和表4终点组和表4终点极限(见本规极限见本规范表2和表3)范表2和表3)05分组盐雾15 Bl级器件可在订货协议上要求。1009 I试验条件A片式载体不要求引线弯曲应力的预处理密封I 1014 nu m据法判方检本目按的粗检同口汽组K功酌量阳川内含不要求3月0)或5月1)当试验3个器件出现1个失效时,可加试两个器件并且不失效。若第一次过,可在鉴定机构认可的另室进行第二次试验

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