1、中华人民共和国国家标准感光材料均为根颗粒度测定方法Method for 翩翩翩川崎theroot-mean 叫川re(RMS ) granularity of photogra帅lematerials/process combination 1 主擅内辑与适用范围GB 1 0551一本标准规定了用测微密度计扫描方法求取照相材料的均方根（RMS）颗粒度的测试方法。真日的在于提供一个正确测蜜的基本要求一一曝光系统、密度测最系统的基本参数及要求、样品制备、测量方法及结果表示等内容。本标准适用于透明支搏体的黑白和彩色连续调感光材料。本标准不适用于反射材料（各类相纸和在支持体两面涂乳剂（如X射线胶片）的
2、感光材料。2 定义2. 1 颗粒性观察者对于照相影像中本来应为无结构的部位在心理上产生的随机不均匀性感觉定义为颗粒性，因此颗粒性是一个必须果用心理物理方法来测量的主观量。2.2颗粒度颗粒度表征经均匀曝光和冲洗刀口汇的照相应中空间密度的波动特性，用空间密度标准是（D）表iJ 0 3 方法原现在滔当的观照条件下，按上述定义测量的颗粒度值与主观感觉的颗粒性大小有良好时目关性。颗粒性是一个主观最，必细用心理物理学方法来测定，既费时，精度也辈。因此，采用客观物理量RMS颗粒度来表示感光材料的颗杭性。RMS颗粒度以CD）表示。,. ; (Di巾。沪、土（D）立l2 . ( 1) 、n- 1 式中：Di一一
3、在位髓i处的涂层密度F万一一涂层的平均密度自n一测量点数。 仪楠、设备, , 曙光装置能制备出一系列不同宿朦的、均匀的、其本身不引进颗粒结构、能满足感光测试条件的曝光装置均可。,2 测最仪器,2.1 测；最仪器基本结构中华人民共和国化学工业部1919础。Z-25批准1“叫“01实施GB ,10558” 测最颗粒度用的测微密度计的基本结构如下圈t人射孔径出射孔径光源阳光镜人射光学系统样品出射光学系统集光透镜光a，收A 8 c D E F G H 典型的测微密度计圈中，A为光掘，B为聚光镜，将光源的像会聚于透镜口的人射光幢，c为人射孔径，D为人射光学系统，将人射孔径C成像于样品丘，且为样品（乳剂丽
4、向出射物铺），F为出射光学系统，收集样品透射的光并会聚于出射孔径处FG为出射孔径，此孔倚在样品上的投影尺寸，决定了样品上测量面积的大小，样品的有效测量尺寸，等于此孔径的尺寸除以平面旦当5平丽日的放大率，H为集光透镜，收集通过孔径旦的光，会聚于光接收器，它可以省略，I为光接收器。4. 2.2 人射光谱应符合正常密度测量学的要求。4.2.3 人射孔径应为圆形，并与出射孔径问心。人射孔径和出射孔径都以样品￥面为参照基准。人射孔役的直径为出射孔径的1.52.0倍。4. 2.4 测微密度计光学系统显微物镜是RMS颗粒度测量中使用的基本物镜，除有特殊原因外不准使用其他特性的物铺。“ 4.1 测量软片时，人
5、射物镜为高质叠的显微物辘，其数值孔径NA为M仇32，测量时扫干板人射物镜的数值孔径不应大于0.2504.2.4.2 测微槽度计的出射物镜应为数值孔径。.16的高质量物铺。4.2.4.3 人射物铺和出射物铺可以是梢色羞成复消色羞的。测量彩色材料最好使用复消色差物镜，如使用消色羞物铺，各色油色镜应分别调焦。4.2.4.4 日镜应与确定的物镜配套使用，以便夜得最佳放果，同时“智长”物镜与自镜之间的距离）也应符合相应的要求。4.2.4.5 人射孔径由人射光学系统缩小和出射孔径由出射光学系统放大的倍率都应在40200，在此范周内并不要求它们相等。4.2. 4.6 使用真他数值孔径的物镜，一般说，测量RM
6、S颗粒度的目的在于估计其在某些应用中的表现，带些情况中胶片或子板使用的光学系统已确定并与上述规定值相茬极大，可以更换测微密度计光学系统的数值孔径NA值以便更好的模拟实际情况，但是此时需要位明NA值。4.2.5 出射孔径（测盘孔径）4.2.f霄转换阳平面峭放固执m，最好使用l毗大小的。测量样品表面部位自懒密度可以使样品相对于孔佳运剧，也可以使李l路栩对于样品i运动，扫描轨GB 10518-88 迹可以是直线或因周式，不管什么方式，扫描路径总长不得少于测最孔径鼠径的川00倍，扫描诋度可以分段累积。扫描过程中，乳剂层应始终位于人射物镜的焦深、范围内，对于0.25NA物锚，其焦揭露约为9 m，扫描速度
7、应使颗粒倍号的时间频率范围处于计算（的电子系统的频率响应范围内。4. 2.7 光接收器任问类型光接收器都能使用，只要za. 光i普灵敏度范围足够觉，b. 频率响应足够高Fc. 灵敏度足够高，d. 电子噪声足够稳定。系统的光谱响应取决于要求测量的胶片樊型，照相应用中使用视觉响应。光谱响应包括测微富康计巾所布光学元件的光诺特性。5 电子系统5.1 频率响应测撞颗粒度用测微密度计的时间频率响应范阔的两端应采用带通油波器加以限制，以便减小不需要民信号叠加到需要自唰粒度信号中。滤波器应使用“巴德沃斯”类型，截止特性为咄咄倍颇程。5. 1.1 低频限对于困周武扫描，带通捕披器的低颇应设计成三倍于转速的频率
8、处系统响应下降3dB，最小相应自蚀间频率为1.5/ :rcr，单位c/mm(r为相描半仙，相应于最小拍描半径8mm。最小空间频率大约为o:o6c/mmo 对直线式扫描，为了使测量结果与圆周式相吻合，其低频限也设计成等娘子空间颇事0.06c/mm处的系统响应下降3dB。6.1.2 高颇限带通捕披器的高频限设计成时间频率为IH =_!l?_s时的响应F降3dB(d为测量孔径，单位t阳d s为扫描速度，单位zmm忡。6 样晶制备6.1 取样照相胶片自懒粒度测试应至少取三个样品，每个样品取自产品的不同批号。6.2 样品贮存样品应在制造jA推荐条件下，以原包装保存24个月。如r方没离专门规定，应保存在2
9、3士2，相对温度45%55%的条件下。上述取样和保存的要求是确保测试的胶片特性代表用户使用时的性能。7曝光揣测量要求，给予样品确定光i普质量和辐射能量的曝光。应防止由于外界影响产生的密度变动，如灰尘、阶梯光棋的颗粒结构等的影响。8冲洗恃测样品的冲洗加工按照胶片制造厂的推帮条件或者相应感光测定标准。测量9.1 样品扫描部位的选摔样品应清洁，乳剂面向出射物镜，脂检查扫描轨迹中各类外界物理缺陷，包括：GB 10558-89 a. 不连续的缺陷，如灰尘、条道、针孔等，b. 平均密度不均匀性。如有不连续的缺陷，应重新选择没有此缺陷的斯路径。扫描轨迹中平均密度的变化产生的标准偏差会建叠在RMS颗粒度数值上
10、，如果在数据蛇理申来乘取相应措施，密度不均匀性t:,.D不得甜过样品的真实颗粒度。经数据处理脯，密度不均匀幢榄膨响不应太子4%。.2 调焦测微密度计光学系统的调整应保证人射孔径清晰地成像于乳剂上，真颗粒结构正确地，段焦在出射测最孔径上。.8 仪器噪声的校正扫描系统的电子噪声重叠在颗粒度倍号上（如果仪器的噪声小于测量值的1/10，则可忽略不计）。在测量去条件下，不进行扫描时测最仪器的噪声，其测最值校正按.（2 ）式进行：胶片2测黛一2电F噪声2. ( 2 ) 式中：胶片一一胶片的RMS颗拉皮z测戴一一测量出的RMS颗粒度，电F啸声一仪器固有的电子噪声引起的RMS颗粒度。.4 密度颗粒度数值都按照
11、漫射密度来表示。测微宿度计般都测量投影密度。对于彩色胶片投影密度与漫射雷皮之比近于1，对于黑白胶片必须将测值转换成模射宿度。具体转换方法见附录A（补充件）。9.5 测微密度计的校正测量颗粒度用测微密度计的光度性能应予校正。用已知密度的非漫射宿皮样品（如中灰玻璃来校正密度值，此校正密度应放于非测最成像光路（参见结构图），它可放于光掘A与骤光镜日之间，或聚光镜日与人射光学系统D之间，戒出射孔径G与光接收器I之间。10 结果表示胶片的RMS颗粒度通常以1000x（D）表示。不同密度下的RMS颗粒度值丽成一条光滑曲线，表示在指定条件加工、密度测量及相描孔径下样品的颗粒度。颗收度值取两位寄放数字。如果只
12、要求一个单一的颗粒度值，从曲线中找出一个对应于密度为最小密度以上1.0的值。11 精度颗粒度测试中曝光、冲恍及测量全过程的精度要保证最终颗粒皮值的误差不跑过0.5。12 试验报告试验报告应包括如下内容：a. 样品名称、轴号或乳荆号，生产厂家，b. 测试仪器、设备，c. 试片冲洗条件、密度类型、扫描孔径。如出射物铺不符合要求，注明真数值孔径，d. 测得全部实验数据及结果，e. 说明实验中发生的任何异常现象，f. 试验日期、试验人员。GB 1055卜”附录A投影密度与漫射密度的转换（补充件）大多数测微密度计测量的黑白密度D仪器大于其漫射密度D酬，设g=D仪器；n，射（g为卡利叶系数），对于给定的不大的密度范围，例如1.0左右可以认为是斗棚，则。（D)削a(D) 仪器g（D)仪器xD1射D仪器制：D刷一用普通密度计测得的值1D仪器一用测微密度计测的值。附加说明1本标准自全国感光材料标准化技术委员会提出。本标准由化学工业部伊股片厂起草并归口。本标准主要起草人肩志健、安宁、E瓶、张国令。本标准参照采用ANSIPH 2.401985均方根颗帧测定方法儿
