1、YD/T 895-1997 前言本标准参照IEC8GB (Secretariat) 4196Nd)温度特性，-40C+800C时，光纤附加衰减豆豆O.ldB!km4.4.2 光缆所用光缆外径分别为2mm、2.5mm、2.8mm和3.0mm四种。光缆外表光滑元庇眼，其特性除与光纤相同外，还应符合下列条件。a)衰减，:0;0.5dB!km b)外径不圆度，:0;10%712 c)抗拉力强度:二三150Ndl最小弯曲半径:30mmYD/T 895-1997 e)温度特性:-40C十80C时，光缆附加衰减;0.2dB/km。f)颜色:黄色或橙色或用于特别场合所需的颜色。4.5 材料4. 5. 1 插头
2、和适配器所用塑料材料及光缆必须保证元在化现象并阻燃，能经受连接器所需的试验条件。4.5.2 胶合材料制作SC/PC型单模光纤活动连接器所使用的粘结胶对连接器结构元不良影响，其物理、化学及光学特性应与光纤匹配，不得离损害连接器光学性能的情况发生。4.6 连接器的光学性能4.6.1 sC/pc型连接器允许的光学性能指标2a)任一插头通过标准适配器与标准插头连接的插入损耗;0.5dB(含重复性)，回波损耗40dB，b)两插头任意连接的插入损耗O.7dB(95%的概率)，回波损耗35dB(95%的概率)。4.6.2 sC/pc型连接器适配器允许相对于两个标准插头的损耗0.3dB，4.6.3 各种例行试
3、验后允许的附加损耗及附加国波损耗于表11所示。表11各种试验后附加损耗及附加回波损税序号试验名称附加损耗a 低温O. 2 b 高温0.2 C 湿热(稳态)三O.2 d 振动运O.1 e 跌落毛O.2 f 温度循环三0.2g 重复性运O.1 h 机械耐久性三三0.2l 锁紧机构强度运O.1 光缆抗拉三O.1 k 光缆扭转运O.1 4.7 安全dB 附加回披损槌二55 5 5 5 5 5 5 5 5 5 SC/PC型连接器应用于光传输系统及光设备时，可能会从未加端帽或未端接的光纤输出端发射出危害的辐射，必须加以注意。警告2在操作小直径光纤时应小心，以免刺破皮肤，特别是眼睛部位。在光纤或光纤连接器传
4、输光能量时，建议不要直接观看光纤或光纤连接器的端丽，除非安全能量输出等级先已得到保证。5 质量评定程序质量评定程序包括鉴定批准程序和质量A致检验。5. 1 鉴定批准程序5. 1. 1 初始制造阶段初始制造阶段定义为:713 YD!T 895-1997 将构成单个元件的零件组装成SC!PC型单模光纤活动连接器的制造阶段。5. 1.2 结构类似元器件为鉴定批准和质量一致检验按下列界限对结构类似元器件作分组。结构类似元器件应za)具有相同的配合面尺寸gb)用基本相同的材料制造，c)按基本栩同的设计制造gd)采用基本相同的工艺和方法制造gd采用相同的光纤保持技术;f)采用相同的光缆保持技术sg)采用相
5、同的光藕合技术3h)采用相同的对中技术。它们可以:a)采用不同的光纤尺寸sb)采用不同的光缆尺寸。5. 1.3 鉴定批准本标准按固定样品质量检验程序进行。5.1.3.1 固定样品质量检验, 按照表12进行并按本标准规定的性能要求检验。检验一经成功完成，作为结构类似元器件而提交的全部规格产品将获得鉴定批准。a)样品被鉴定的样品应是本标准规定的最小模场直径的单模光纤光缆制作的整套连接器。在完成了0组样品检验后，其他各组样品应从0组样品中随机抽取。b)试验按表12规定的方法和顺序进行试验，这些样品应满足本标准规定的光学性能和机械性能要求。表12固定样品质量检验程序表检验顺序相应方法IEC874-1(
6、1993)J 插头个数。组检验零部件外观检查6.1(4.4. 1) 20 尺寸6.2(4.4.2) l组检验一-损释测量6.4.1.6.4.2(4.4.7) 20 回披损链测量6.5(4.4.12) ! 2组检验低温6.6. 1 4.5.17) 6 6.6.2(4.5.18) 1 湿热(疆态)6. 6.3(4.5. 19) l 714 YD!T 895- 1997 续表12检验顺序相应方法IEC874-1(1993门3组检验振动6.6.4(4.5. 1) 跌落6.6.5(4.5.14) 温度循环6.6.6(4.5.23) 4组检验插拔力6.6.7(4.4.5) 重复性6. 6. 8 机械耐久性
7、6.6.9(4.5.32) 5组检验锁紧机构强度6.6.10(4.5.6) 光缆抗拉6.6.11(4.5.4) 光缆扭转6.6.12(4.5.5) 注z详细试验、测量和性能要求在第6章相应条中给出.5.1.3.2 Mi逐批和周期检验程序的鉴定当有规定时，进行逐批和周期检验，逐批租周期检验程序按照5.2.1和5.2.2进行。检验一经成功地完成，以结构类似元器件而提交的全部规格产品将获得鉴定批准。5.2 质量一致性检验质量一致性检验包括逐批检验和周期捡验。5.2.1 逐批俭验插头个数6 4 4 逐批检验包括对样品进行表13中规定的A组检验和B组俭验。被检样品应从近期批量生产中随机抽取，抽取样品数量
8、按国标GB2828一1987规定进行。表13逐批质量检验程序表评定水平A检验顺序相应方法IEC874-1 (1993)J IL AQL A组外观检查6. 1(4.4. 1) I 4% 尺寸6.2(4.4.2) B组-损娓测量6.4. 1.6.4.2(4.4. 7) E 4% 回波损耗测量6.5(4.4.12) 注1 详细试验、测量和性能要求在第6章相应条中给出.2 IL为幢验水平.AQL为允许质量水平。5.2.2 周期检验周期检验包括对样品进行表14中C组和D组检验。应互相维持检验周期，以便在D组周期内由D组检验代替C组检验。检验一经成功完成，以结构类似元器件而提交的全部规格产品，将获得周期检
9、验715 YD/T 895-1997 批准。a)样品被检验样品应是本标准规定的最小模场直径的单模光纤光缆制作的整套连接器。在完成DO旷组检验后，其它各组的样品应从CO或DO组样品中随机抽取。的试验按表14规定的方法和顺序进行试验，试验样品应满足本标准规定的光学性能和机械性能要求D表14周期量质检验程序表评定水平A检验顺序相应方法IEC874-1(1993门n P CO组外观检查6. 1 (4. 4. 1) 18 24 尺寸6.2(4.4.2) CI组损耗测量6, 4.1.6.4.2(4.4.7) 18 24 回波损耗测量6, 5(4.4.12) C2组低温6.6. 1(4.5.17) 6 24
10、 高温6.6.2(4.5.18) 湿热稳态)6.6.3(4.5.19) 00组外观检查6. (4. 4. 1) 211 48 尺寸6.2(4.4.2) 一一-DI组一损耗测量6. 1.6.4.2(4.4.7) 21l .18 回波损耗测量6.5(4.4.12) 一D2组低温6.6. 1(4.5.17) 6 48 高温6.6.2(4.5.18) 一湿热(稳态)6.6.3(4.5.19) 03组跌落6.6.5(4.5.14) 6 48 振动6.6. 4(4.5. 1) 一温度循环6.6.6(4.5.22) D4组描拨力6.6.7(4.4.5) 重复性6. 6. 8 6 18 机械耐久性6.6.9(
11、4.5.32) L 716 YD/T 895-1997 续表14检验顺序相应方法IEC874-1(993门D5组锁紧机构强度6.6.10(4.5.6) 光缆抗拉6.6.11(4.5.4) 光缆扭转6.6.12(4.5.5) 注1 详细试验、测量和性能要求在第6章相应条中给出。2 n=插头数.p=以月为单位的周期。6 测量和试验6.1 外观检查进行光学性能测量前，首先对连接器外观进行检查。a)样品是否与设计、制造和标准相一致，加工质量是否符合要求。坪定7)(平A p 6 48 J b)外观必须平滑、洁净、无汹污及毛边，无伤痕和裂纹，颜色鲜明、一致性好;各零部件组合须平正，插头与适配器的插入和拔出
12、须平顺、轻松，卡子有力。6.2 尺寸为保证产品在要求的环境下机械性能和光学性能的一致性，并确保其通用性和互换性，产品的配合面尺寸必须符合本标准的要求。6.3 测量和试验条件连接器的测量和试验应在GB2421-1989中所规定的标准大气条件下进行p测量所用仪器仪表的精度均应符合要求，并进行定期检定。6.4 损耗测量连接器的损挺测量包括插头和适配器的插入损能测量。6. 4. 1 插头的插入损挺测量跳线式连接器插头插入损挺测量米用公共标准连接器法。其步骤如下:a)按照下面原理图9进行测量，待系统稳定后，测量并记录P，及Po值。黯定化单模光摒标准插头标准适配器BJo P, 光功率计因 P, 图9插头插
13、入损能测试原理图b)连接器每端插头插入损耗按下面公式计算=附主(dB) . ( 1 ) c)每端插头连续测量3次，其插入损耗取3次的算术平均值，指标应符合4.6. 1 a)点要求。717 YD/T 895 1997 注1 为保证包层模不影响测量，在接光源的插头尾纤上打个小圈。2 光源的波长(谱线下限值必须比光纤的截止波低长e3 测量前应用元绒纤维纸对插针体端困清洁干净，必要时使用元水酒精擦试。6.4.2 适配器的插入损耗测量适配器的插入损耗测量采用两个标准插头进行对插测试。其步骤如下2a)按照下面原理图10进行测量，测量前把套筒清洁干净，待系统稳定后，测量并记录P，及P，值。且毗因被测适配糖附
14、因插头插!kP, 图10适配器插入损花测试原理图b)适配器插入损能按6.4.1公式(1)计算。c)每个适配器不同方位和方向各测量3次，其插入损耗取6次算术平均值，指标应符合4.6. 2要求。注同6.4. 1注1、2、3点.6.5 回波损耗测量回波损耗是对诸如连接器等光器件引起的输人光功率中沿输入路径返回部分的量度。光纤连接器引起的回波损耗或反射功率可由任何相邻零件间的折射率差产生，它还与其他因素有关，例如光源的谱线宽度或相干长度，器件的相互靠近程度及其表面光洁度等。6.5.1 基准法SC/PC型单模光纤活动连接器的回披损耗测量的基准为定向锅合器法。其测量步骤如下2a)按照IEC875-1 (1
15、992)中3.5.2测量图11定向糯合器的2端与3端之间的传输系数Tz，ac祸合器参数测量所采用的光源、激励单元、光功率计应与测量连接器回波损挺采用的光源、激励单元、光功率计相同。1 I I 2 3 图11定向藕合器图b)按照图12组成测量装置，待测量系统稳定后，测量并记录PO，梅定化光源单模)标准描韭2 TJ 先功率计配临时接点P, 图12回波损耗测量原理图c)按照图13组成测量装置，在保证系统的稳定性和重复性后，测量并记录P10718 YD/T 895 -1997 越定化先iIl(单模)BC 临时接点标准插头1 I 71 2 TJ p qd D 光功率计图13回波损耗测量原理图测量装置的回
16、波损娓RL按下面公式计算:RL=附主十吨T23(dB) . . . (2) d)把标准摇头端面的匹配液清洁干净，按图14组成测量装置，在保证测量系统的稳定性和重复性后，测量并记录Pl 毯定化1t源(单模)1 2 标准适配嚣被测插头BC TJ 3 P，临时接点D 先功事计图14回波损旋测量原理因每端连接器插头的回波损耗按下列公式计算zp，-p、RL=-101g二言J十101g:几3, Q (dB) . . . . . .( 3 ) 式中:P。一输入功率，p，十测量装置的分路返回功率3p/一-被测连接器与测量装置分路返回功率之和。e)每端连接器插头的回被损能应符合4.6.1(a)点要求。注1 为保
17、证测量精度，定向藕合器的方向性和临时接点的回波损耗至少应与被测连接嚣的回披损耗同一个数量级s光功率计的最小可探测功率应比被测连接器的回波功率小一个数量级以上。2 定向桐舍器可带有尾纤或连接端口，若为连接端口，在与连接器连接的端面须加匹配液。3 囹折射率匹配被(匹配池、匹配胶等) 6.5.2 替代法产品的出厂常规测量可采用替代法，替代法通常为仪表直接测量，目前有回波损耗测量仪、光时域反射仪(OTDR)，具体测量程序见各种测量仪表的使用说明书。6.6试验试验条件同6.3，6. 6-. 1 低温a)条件低温温度:- 25C 温度变化速率z不大于1C/min(不超过5min平均值)对试样进行在线光学性
18、能监测。719 YD/T 895-1997 b)程序先将试样在室温进行预处理并测量其光学性能。然后把其置于精度为士3(的高低温恒温箱内，见图150以规定的速率降低温度，每降5C记录一次数据，直至一250C，保持恒温施，记录其数据。接着以规定的速率恢复室温lh后，记录其数据。高低温恒温恒温箱试样中稳定化(单模)光源光功串计图15温度特性试验图c)试验后，试验应满足下面要求。不得有机械损伤，如变形、龟裂、松弛等现象。ii)光学性能符合4.60 1中川和表11中a点。6.6.2 高温a)条件高温温度t十70C温度变化速率z不大于lC/min(不超过5min平均值)对试样进行在线光学性能监测。b)程序
19、先将试样在室温下进行预处理并测量其光学性能。然后把其置于精度为士3(的高低温恒温箱内，见图150以规定的速率升温，每升高10C记录一次数据，直至十700C，保持恒温2h，记录其数据。接着以规定的速率恢复至室温lh后，记录其数据3c)试验后试样应满足F面要求=。不得有机械损伤，如变形、龟裂、松弛等现象。ii)光学性能符合4.6. 1中b)和表11中bo6.6.3 湿热(稳态)温度:400C 相对湿度:90%95%温度变化速率:不大于lC/min(不超过5min平均值)持续时间;4d对试样不进行在线光学性能监测。b)程序先将试样在室温下进行预处理，并测量其光学性能，记录其数据。然后脱离测量系统，把
20、试样置于精度为土3C的恒温恒湿箱内，以规定速率升温室40(，相对湿度调至90%95%，持续保持4d后，以规定速率恢复至室温仙，把试样取出并清洁干净，测量其光学性能，记录其数据。c)试验后试样应满足下面要求:i)不得有机械损伤，如变形、龟裂、松弛等现象。ii)光学性能符合4.6. 1中削和表11中Co6.6.4 振动(正弦)a)条件频率范围:1055Hz 720 YD/T 895-1997 扫频要求:扫频的速率应为每分钟一个倍频程，其容差为+10%振幅，0.75mm单振幅每方向持续时闯，30min对试样进行在线光学性能监测。bl程序先将试样在室温下进行预处理，并测量其光学性能，记录其数据固然后将
21、试样固定在振动台上，并应在两个垂直方向上承受振动，方向之一应与连接稽的公共轴线平行，每个方向振动持续时间为30mino观察并记录其光学性能数据。c)试验后试样应满足下面要求:。不得有机械损伤，如变形、龟裂、松弛等现象。ii)光学性能符舍4.6. 1中b)和表11中d点。6.6.5 跌落a)条件跌落高度，h=lm自由摆动的光缆长度，L=2.25m跌落次数，5对试样不进行在线光学性能监测。bJ程序试样在室温下测量其光学性能，记录其数据。然后脱离测量系统将插头带好防尘帽，把另一端固定在附着夹具上，将附着夹具固定在离撞击表面高度为h处，把插头举至水平高度h处，然后让插头自由跌落撞击表面，如图16所示，
22、如此来回撞击5次。取下样品将插头端面清洁干净并进行光学性能测量，记录其数据。些主主1:;1，J:(;度L撞击童面/ /;:, /眶/ 图16跌落试验图c)试验后试样应满足下面要求2。不得有机械损伤，如变形、龟裂、松弛等现象。ii)光学性能符合4.6. 1中b)和表11中6.6.6 温度循环a)条件低温温度，TA=-25C 高温温度tTB二十70C温度变化速率z不大于lC/min(不超过5min的平均值高、低温恒温时间，t1= 1 h 循环次数，3对试样不进行在线光学性能监测。b)程序将试样在室温下进衬预处理并测量其光学性能，记录其数据，然后脱离测量系统将试样置于精度为721 YD/T 895一
23、997土3C的高低温恒温箱内，按规定的速率降温至TA恒温山，接着又按规定的速率升温至T.恒温1h.以规定的速率降温至室温。歪此构成一个循环。以同样的程序继续进行第二个循环试验。高低温循环试验时间曲线如图17所示。3次循环试验后，将样品置于室温恢复2h，测量其光学性能，记录其数据。A一第一个循环开始，B一第个循环结束，第二个循环开始。图17高、低温循环试验曲线图c)试验后试样应满足下面要求:i)不得布机械损伤，如变形、龟裂、松弛等现象。ii)光学性能符合4.6. 1中b)和表11中f.6.6.7 插、拔力本试验旨在测量使一套连接器完全插入或完全拔出所需的力。a)装置固定夹兵力的施加装置力的测量仪
24、b)程序将试验整套连接器元件定位于固定夹具中，在插头上施加力使其完全插入适配器，测量其所需的力;在插头上施加力使插头拨出适配器，测量其所需的力。c)允许的插入力z最大为19.6N允许的拨出力z最大为19.6N6.6.8 重复性本试验旨在评价连接器若干次插拔，其插入损耗的一致性。a)条件插拔次数.10对试样进行在线光学性能监测。b)程序如图18所示，在对方插头插入的状况下，以通常使用的方式予以插入和拔出，每次记录其光学性能数据，共接续10次，记录10次数据。c)试验后试样应满足下面要求zi)不得有机械损伤，插针表面无明显划痕pii)光学性能符合4.6.1中川和表4中E。6.6.9 机械耐久性本试
25、验旨在评价若干次插入和拨出的连续循环对成套连接器机械性能的影响。722 YD/T 895-1997 稳定化启事模光癫标准试样a)条件插拔次数:500对试样进行在线光学性能监测。b)程序图18重复性试验图先功事计如图18所示，在对方插头插人的状况下，以通常使用的方式予以插入和拨出，每10次记录次光学性能数据，同时对插针及适配器的弹性套筒进行清洁。共插拔500次，记录50次数据。c)试验后试样应满足下面的要求。不得有机械损伤，插钟表面无明显划痕。ii)光学性能符合4.6.1中b)和表11中ho6.6.10 锁紧机构强度本试验旨在保证成套连接器的锁紧机构在正常使用过程中能承受施加的轴向负荷。a)条件
26、负荷量:68.6 N 负荷待续时间:10 min 施加负荷速率:50N/min速率250N/min 施加负荷点A在连接器插头中部对试样不进行在线光学位能监测。b)程序将试样在室温下测量其光学性能，记录其数据。脱离测量系统，把头插入适配器，如阁19所示，将适配器固定，自然下垂，以规定的速率在A点处施加负荷，持续时间10min。取下试样，测量其光学性能，记录其数据。c)试验后试样应满足下面要求:。不得有机械损伤，如形变，脱落或松弛等现象。ii)光学性能符合4.6. 1中b)和表11中10适配器固定蝙插生68.6N 图19锁紧机构强度试验图6.6.11 光缆抗拉本试验旨在保证光缆与插头夹持和粘绪力在
27、正常使用时能承受施加的拉伸负荷UU条件.、。YD/T 895-1997 负荷:90N负荷时间:10 min 施加负荷速率:50N/min速率250N/min 施加负荷点A离插头距离:L=22cm28 cm 对试样不进行在线光学性能监测b)程序将试样在室温下测量其光学性能，记录其数据，然后脱离测量系统。如图20所示.将插头端面保护好并固定，自然下垂，以规定的速率在A点处施加负荷，持续10min，取下试样进行光学性能测量，记录其数据。圄定提具插头试样国20光缆抗拉试验图c)试验后试样应满足F面要求:。不得布机械损伤，如形变、脱落、松弛等现象。iil光学性能符合4.6. 1中b)和表11中J0 6.
28、6.12 光缆扭转本试验旨在保证光缆与插头夹持和粘结力在正常使用过程中能承受施加的扭转负荷。a)条件负载重量:1.5 kg(型号1001.1002);2.5kg(型号1003，1004，1005，1006，1007，1008)载重点A离插头距离:L=22cm28 cm 扭转速率:10次/min扭转次数:200试样不进行在线光学性能监测。归程序将试样在室温下测量其光学性能.记录其数据，然后脱离测量系统，如图21所示，将插头保护好并固定，自然下童，在A点处挂上相应负载重量，将尾缆按规定速率扭转士1800，共计200次。取F试样进行光学性能测量，记录其数据。c)试验后试样应满足下面要求=i )不得有
29、机械损伤，如形变、脱离、松弛等现象。ii)光学性能符合4.6. 1中b)和表II中k。7 检验SC/PC型单模光纤活动连接器，由具有独立职能的质量检验部门按标准要求检验合格并发给合格证后方可出厂。SC/PC型单模光纤连接器的检验分两类，出厂检验(交收检验)和型式检验c7.1 出厂检验分日常检验和抽样检验两种。724 YD/T 895-1997 固定主具插图21光缆扭转试验图7. 1. 1 日常检验该检验是生产厂家对全部产品进行的检验，其检验数据应随同产品提交给用户，SC/PC型单模光纤连接器需要进行日常检验的项目是z外观、尺寸、插入损耗、回波损耗。7.1.2 抽样检验它是从批量生产中或不同时期
30、产品中按定比例抽取完整的产品或样品进行的检验。SC/PC型单模光纤连接器的抽样检验项目是z插入损耗、回波损耗、低温试验、高温试验、湿热(稳态)试验、振动试验、锁紧机构强度试验、重复性试验和机械耐久性试验。抽样数量按GB2828-1987规定进行。7.2 型式检验SC/PC型单模光纤连接器有下列情况之一时，一般进行型式检验，型式检验按质量评定程序中的周期检验进行，见5.2. 2; a)新产品或老产品转厂生产的试制定型鉴定;b)正式生产后，如结构、材料、工艺有较大改变，可能影响产品性能时;c)正常生产时，应定期进行检验gd)产品长期停产后，恢复生产时;e)出厂检验结果与上次型式检验有较大差别时50
31、国家质量监督机构提出进行型式检验要求时。8 包装、标志、运输和贮存8.1 标志8.1.1 SC/PC型单模光纤连接器尾部光缆般为黄色(桔黄或橙色。外部件为兰色。8.1.2 产品上应标有产品编号、生产日期。B. 1. 3 产品包装盒(袋)上应标有产品型号、厂家名称。8.2 包装产品应包装好，每付连接器的插头和转接器均用保护帽盖好，并盘卷好，盘卷直径应不小于尾部光缆直径的25倍。8. 3 运输当产品需要长途运输时，需用木箱或硬纸箱作外包装，在箱上写明不能大力抛甩、碰、压，应有防雨防油污标志，以免损坏产品。8.4 贮存产品不能长期放置在露天或有严重腐蚀的环境中，也不得长期放置在工作温度范围以外的环境中。725
