1、YD/T 926. 3-1998 前言本标准非等效采用国际标准化组织/国际电工委员会标准ISO/IEC11801，1995O. 1 O. 1 2. 1 某些频率点的衰减，耳目大于ndB 10.0 Q. 23) O. 1 O. 1 16目。O. 23) 0.2 0.2 20.0 O. 2 O. 2 一一一340 YD/T 926. 3-1998 表2(完)要求序号传输特性单位频率f连接硬件类型lMHz 3类4类5类31.25 0.2 某些频率点的衰减，不大于dB 62.5 0.3 2. 1 100 0.4 频串/采用对数JElJ度，所有点的测量值全频带的衰减dB 1-100 不应商于以上各点连成
2、的折线以向上作为正方向)1.0 58 65 65 4.0 46 58 65 10.0 38 50 60 16.0 34 46 56 3在些频率点的近端串音衰减，不小于dB 20.0 44 54 2. 2 31. 25 50 62.5 44 100 40 频率f采用对数刻度，所有点的测量值圭频带的近端串音衰减dB 1-100 不应低于以上各点连成的折线(以向上作为正方向113.2.4 导体数, 2n(n=1、2、3)13.2.5 电缆外径mm 13.2.6 屏蔽性能创见表2的2.4且表11的2.4 13.3 燃烧性能由有关产品标准规定13. 4 耐久性试验13.4.1 插头与插座的擂台次数次75
3、0 1 000 13.4.2 导体端接次数日次200 200 13. 5 机械试验13.5.1 插入力和拔出力N 由有关产品标准规定13.5.2 连接器连接装置的效果由有关产品标准规定1)导体直径小于O.5mm的电缆可能需要特殊的连接硬件。2) 1000非通信引出端连接硬件，一般适用于绝缘外径不大于1.4mm的电缆。3) 1500非通信引出端连接硬件，一般适用于绝缘外径本大于1.9mm的电缆.的采用屏蔽对称电缆布线时，应使用专门端接屏蔽的连接硬件.应注意，端接且屏蔽电缆的连接硬件与端接既有，(，1.屏蔽卫高单位屏蔽的电缆的连接硬件不同。5)或按有关产品标准规定.4.4.4 电气特性a) 100
4、0.非通信引出端连接硬件的传输特性应符合表2规定的要求。注z对不用接插软线和交接跳线进行交接的连接器(例如z带在内部转换接点的转换连接器).其衰减、直流电阻和转移阻抗(暂定)平应超过同类的2个连接器和5m软电缆的等效值.同时，这类1000非通信引出端连接硬件的近端串青衰减劣于表2中2.2款的差值，不应超过6dB(暂定).b) 1500.非通信引出端连接硬件的传输特性应符合表11规定的要求。注g对不用接插软线和交接跳线进行交接的连接器(例如g带有内部转换接点的转换连接器).其衰减、直流电阻和转移阻抗(暂定不应超过同类的2个连接器和5m软电缆的等效值。同时，这类1500非通信引出端连接硬件的近端串
5、青衰减劣于表11中11.2款的差值，不应超过9dB(暂定)。c)非通信引出端连接硬件的其他电气特性应符合表14规定的要求。349 YD/T 926.3一1998表14非通信引出端连接硬件的其他电气特性(20C)序号项目单位要求1000非通信引出端连接硬件1500非通信引出端连接硬件14. 1 直流电阻，不大于mO 300 在考虑中初始接触电阻，平大于zmO 插头与插座的接点间2. 5 14.2 连接器与电缆导线间2. 5 连接据与电缆屏蔽间20 环境试验中间及试验后的接触电mO 阻，丰大于.插头与插座的接点间7.0 14.3 连接椿接点与电缆导线间7. 0 连接器与电缆屏蔽间20 连接器与电缆
6、导线重新端接后5. 0 绝缘电阻，不小于zMO 14.4 任一簧片对其余簧片及安装板或100(暂定，试验电压直流500Vl屏蔽间14. 5 耐压试验V 由有关产品标准规定14.6 电冲击试验由有关产品标准规定。这些要求只适用于带屏蔽的连接硬件。4.4.5 环境试验序列4. 4. 5. 1 总则非通信引出端连接硬件，按照生产厂要求进行正常安装与连接时，它们应能通过图4所示的环境试验序列。对于插合使用的连接器(插头与插座)，除非另有规定，应以描合方式进行试验。环境试验的全部试样称为F组。P组试样再分为5组，分别称为A、B、C、D和E组。撞舶电阻P组A组B组C组D组E组绝缘电阻耐久性试验据动庸蛐试验
7、电冲击试验l 弗冲击曲冲击温度/温度循环温度/温匮循环图4非通信引出端连接硬件的环境试验序列350 YD/T 926.3-1998 4.4.5.2 初始试验P组的全部试样应先通过表14所规定的初始试验。初始试验按表14中的试验阶段依次进行。表15非通信引出端连接硬件的初始试验试验阶段试验项目试验矗件初始检验要求外观检查目力检查应无可能影响正常运行的缺陷l 应符合有关产品标准的规定尺寸检查2 定位方式应符合有关产品标准的规定3 接触电阻见表14的14.24.4. 5. 3 分组环境试验各组试样应分别通过相关组所规定的环境试验，这些环境试验按下列各表中列出的试验阶段依次进行。表16A组环境试验试验
8、阶段试验项目严酷等级或试验条件中间检验或最终检验项目要求Al 绝缘电阻见表14的14.4低温(TA)，(-40:l: 2)(: 高温(T，)，(70:l:2)C最小平均变温速率:3C/minA2 热忡击持续时间(t，) ，每个温度30min循环次数，100次对于擂台使用的连接器(插头与插座) 半数试样铺告，另半数试样不插告低温，(25:l: 2)C 高温，(65土2)C 冷冻子循环，(一10土2).C 温度/湿度相对湿度(高低温下)，93%:l:3%持续时间，24hA3 组合循环循环次数，21次对于擂台使用的连接器(插头与插座) 半数试样擂台，另半数试样不插告在标准大气条件A4 绝缘电阻下，恢
9、复lh后，绝缘电阻应不小于100MO外观检查目力检查应无可能影响正A5 常运行的缺陷351 YD/T 926.3-1998 表17B组环境试验试验阶段试验项目严酷等级或试验条件中闻检验或最终检监项目要求导体端接次数，100次1000 用O.5mm导线1500 先用Q.5mm导线端接10耐A性试验次，再用O.65mm导线端B1 接90次插头与插座擂台次数21000 375次1500 500次B2 接触电阻且表14的14.3低温，(-40士2)C 高温，(70:l:2)C热忡击最小平均变温速率:3C/mn(50士5)次端接循环后测见表14的14.3 B3 持续时间(tl):每个温度30min量接触
10、电阻循环次数，100次低温，(25:1:2)c 高温，(65:1:2)C冷冻于循环川一10土2)c 相对湿度(高低温下)，93%士3%持续时间，24h温度/湿度循环次数21-tx. B4 组合循环在试验进行7天、14天后备进行导体端接，33次耐久性试验后见表14的14.3 1000 用O.5mm导线测量接触电阻1500 用O.65mm导线导体端接次数，34次1000 先用O.5mm导线端接24次，再用O.65mm导线端耐久性试验接10次B5 用O.65mm导线1500 插头与插座插合次数.1000 375次1500 500次B6 接触电阻见表14的14.3I 目力检查应无可能影响正B7 外观检
11、查常运行的缺陷352 试验阶段试验项目C1 振动C2 外观检查试验阶段试验项目Dl 腐蚀D2 D3 外观检查试验阶段试验项目E1 应力松弛E2 外观检查4.5 光纤连接硬件4. 5. 1 一般要求YD/T 926.3-1998 表18C组环境试验严酷等级或试验条件中间检验或最终检验项目要求频率范围.1055Hz振幅:0.75mm 每一轴线循环扫频振动完在3个互相垂直的轴线上进行，每一轴见表14的14.3 成后，测量接触电阻缉的循环扫频次数，20每一轴线持续时间:105mm目力检查应无可能影响正常运行的缺陷表19D组环境试验严酷等级或试验条件中间检验或最终检验项目要求混合气体，SO，(0.5土O
12、.l)PPMH,S(O. 1:t0. 02)PPM 温度，(25土2)C相对湿度，75%+3%持续时间$10d接触电阻见表14的14.3目力检查应无可能影响正|常运行的缺陷表20E组环境试验严酷等级或试验条件中间检验或最终检验项目要求试验温度，(70士2)C 每间隔068土10)h测量见表14的14.3 试验时间，500h接触电阻自力检查应元可能影响正常运行的缺陷下列要求适用于光缆布线的所有连接硬件。这些连接硬件可用于水平光缆布线和主干光缆布线。工作区中的光缆应采用光纤双芯连接器(SC-D)连接到水平布线，这种SC-D连接器应符合IEC60874-14的规定。对于已安装了IEC60874-10
13、规定的连接器和适配器(BFO/2.5)的布线系统，仍可继续使用这类连接器和适配器。4.5.2 标志与代码采用颜色作连接硬件和适配器的标志时，应保证不同型号的光纤不致混淆。为保证双芯光纤链路连接的正确极性，光纤双芯连接器宜采用必要的极性标志与定位销。参见附录A(提示的附录)。注这些标志不能代替YD/T926. 1或其他标准要求的标志。4.5.3 机械物理性能与光学传输要求光纤连接硬件应符合表21规定的机械物理性能与光学传输要求。353 YD/T 926.3-1998 表21光纤连接硬件的机械物理性能和光学传输要求序号机械物理性能单位要求21. 1 物理尺寸21. 1. 1 通信引出端IEC 60
14、874-14 21. 1. 2 其他连接硬件由有关产品标准规定21. 2 适用光纤21. 2. 1 标称包层直径m 125 21. 2. 2 标称缓冲层直径21. 2. 3 光缆外径口1口121. 3 耐A性试验次二注50021. 4 光学传输要求接头衰减运O.3 21. 4. 1 其他连接最大值dB 乓0.75硬件衰减平均值运0.5多模二2021. 4. 2 回波损耗dB 单模注264.5.4 光纤连接器的连接方式光纤连接器在连接时应使用颜色标志和标签以区分各种型号的光纤。注s建议用颜色标志区分连接器和适配器是单模光纤用或是多模光纤用，另外还需采用其他附加颜色标志或标签来区分多模光纤的不同型
15、号。光纤双芯连接器的极性规定应在布线系统中保持一致，可以用定位销或适当的管理方式例如s标签)或两者都采用。极性排列如附录A(提示的附录)的图AHU图A3所示。光纤连接的系统设计导则见附录A(提示的附录)。5 试验方法5. 1 对称电缆布线用连接硬件的试验方法对称电缆布线用连接硬件的试验方法见表22和表23。除非另有说明，试验应在GB/T2421规定的标准大气条件下进行。一个连接硬件称作一个试样。对于插合使用的连接器(插头与插座)，除非另有规定应以插合方式进行试验。表22对称电缆布线用连接硬件电气特性试验方法序号试验项目试验方法本标准条款22. 1 衰减5.2.4 表2序号2.1、表11序号11
16、.1、4.4. 4 22.2 近端串青衰减5. 2. 4 表2序号2.2、表11序号11.2、4.4. 4 22. 3 回波损耗5.2.4 表2序号2.3、表11序号11.3、4.4. 4 22.4 转移阻抗IEC 61196(暂定)表Z序号2.4、表11序号11.4、4.4. 4 22. 5 直流电阻GB 11327.1 表3序号3.1、表12序号12.1、表14序号14.1354 YD/T 926.3-1998 表22(完)序号、试验项目试验方法本标准条款5. . 1的时表3序号3.2、3.322.6 接触电阻IEC 60807-8 表12序号!2.2、12.35. 1. 1的b)表14序
17、号14.2、14.322.7 绝缘电阻GB/T 5095第2部分试验3.方法A表3序号3.4、表12序号12.4、表14序号14.422.8 耐压试验GB/T 5095第2部分试验也方法A表3序号3.5、表12序号12.5、表14序号14.5电冲击试验ITU-T建议表12序号12.6、表14序号14.622. 9 簧片与簧片K.20试验1、2表3序号3.6 插头与插座K.20试验31)虽然IEC61196-1的试验方法适用于同轴电缆，但当信号载频按共模方式激励肘，该方法也可用来测量端接带有且屏蔽的对称电缆用的连接硬件。表23对称电缆布线用连接硬件机械与环境性能试验方法序号试验项目试验方法丰标准
18、条款IEC 60603-7 表1序号1.1 22. 1 接口尺寸IEC 60807-8 表10序号10.1 由有关产品标准规定表13序号13.1 导体直径GB/T 4909.2 表l序号1.2. 1、表10序号10.2.1、表13序号22.2 13.2.1 22.3 绝缘外径GB/T 2951. 4 表1序号1.2. 3、表10序号10.2.3、表13序号13. 2. 3 22.4 电缆外径GB/T 295 1. 4 表1序号1.2. 5、表10序号10.2.5、表13序号J3. 2. 5 22.5 燃烧性能GB/T 5169.7 表1序号1.3、表10序号10.3、表13序号13.3外观检查
19、目力检查GB/T 5095.2试验1.表4、表5、表6、表7、亵8、表9、表15、表16、表17、表18、表19、表2022.6 尺寸幢查GB/T 5095. 2试验lb表4量规检查5. 1. 2 表4、表1522.7 定位方式GB/T 5095.7试验13e表4、表15耐久性试验插头与插座的插合次数GB/T 5095.5试验h者6、表1722.8 导体端接次数GB/T 5095.5试验h表17销定装置寿命试5. 1. 3 表6验355 YD/T 926.3-1998 表23(完)序号试验项目试验方法本标准条款机械试验插入力和拨出22.9 力GB/T 5095. 7试验13b表5连接器连接装G
20、B/T 5095.8试验151表5置的效果22.10 温度急变GB/T 5095. 6试验11d表522.11 气候顺序试验GB/T 5095.6试验l1i试验Ba表522. 12 交变湿热GB/T 5095. 6试验11m表522.13 低温GB/T 5095.6试验11j试验Ba表522.14 干热GB/T 5095. 6试验11i试撞Ba表5、表622. 15 恒定湿热GB/T 5095.6试验11c表722. 16 电负载和温度GB/T 5095.5试验9b表822. 17 载流容量GB/T 5095.3 表922. 18 热冲击GB/T 2423. 22试验Nb表16、表1722.
21、19 温度/摄度组合GB/T 2423. 34试验Z/AD表16、表17循环22.20 振动GB/T 2423.10试验Fc表1822. 21 腐蚀。IEC 6口068-2-60TTD方法C表1922.22 应力松弛GB/T 2423.22试验Ba表201)在条件不具备的情况下，暂允许按GB/T2424. 11和GB/T2424.12把两种气体分开进行两次试验。5. 1. 1 接触电阻测量5.1.1.1 1000通信号l出端连接器接触电阻测量测量接触电阻肘，连接点应如图5所示。接触电阻的试验步骤如下:a)根据计算或测量确定图5中A、B两点间固定连接器(简称插座的体积电阻RABb)根据计算或测量
22、确定图5中B、C两点间自由端连接器(简称插头)的体积电阻Roc。A点B点插座接舶电阻测量点图5接触电阻测量的连接方法和测量点c，点c)依据GB/T5095.2试验2a的要求和步骤，测量插头和插座A、C两点间的总电阻RACod)从插头和插座的总电阻中减去插座和插头的体积电阻，接触电阻的计算公式如下:356 YD/T 926.3一1998接触电阻=RAC-(RA+R皿)5.1. 1. 2 非通信引出端连接硬件接触电阻测量依据GB/T5095.2试验2a的要求和步骤，测量接触电阻，当电压探头不能置于距接触点1.3mm范围内时，参照5.1.1.1的方法进行。5. 1. 2 量规检查a)插座采用IEC6
23、0603-7规定的通过量规试验，插入和取出时施加力不超过8.9N。b)插头采用IEC60603-7规定的非通过量规试验，施加力8.9N沿正面插入，插入深度应不超过1. 78mm 采用IEC60603-7规定的通过量规试验，施加力20N或松开锁定装置后用更小的插入力，插头应易于插入通过量规并锁定。然后松开锁定装置，施加释放力20N或在有利的方向施加更小的力，插头应易于取出。5. 1. 3 锁定装置寿命试验a)目的这种寿命试验的目的是评价连接器的锁定装置的机械操作次数的极限值。b)试样的预处理准备并适当固定试样，以便锁定装置容易进行寿命试验。连接器不应有不必要的动作。c)试验方法对锁定装置施加力的
24、速率不应超过每分钟20次。应使用正常的方式操作试样，并且按下锁定装置时，应使它与插头的主体相接触;松开锁定装置时，应使它自然回复到原位。可以采用模拟正常操作的机械辅助装置，但要防止产生反常的应力。d)最终测量在完成规定的操作次数后，试样应无明显的疲劳现象，锁定装置上应无裂纹。5. 2 对称电缆布线用连接硬件的传输特性试验方法本条规定了连接硬件传输特性试验的试验参数、试验方法和试验装置的要求。在测量对称电缆布线用连接硬件的衰减、近端串音衰减和回波损耗时应使用扫频测量。采用对数频率间隔，扫频测量所用的频率点数应不少于规定频率范围覆盖的十倍频程数的100倍。5.2.1 适用范围本条适用于标称特性阻抗
25、为1000、1500的对称电缆布线用连接硬件。连接硬件传输特性试验时，应按生产厂要求进行端接。插头与插座的传输特性试验应在两种器件插合状态下进行。对于1000通信引出端连接器的插座，其传输特性的一种试验方法见附录B(标准的附录)。5.2.2 试验装置连接硬件的传输特性试验需使用网络分析仪或其他等效的仪器、同轴引线、对称试验引线和匹配电阻。网络分析仪没有平衡输出端时，需使用平衡变量器。这些试验装置中，各器件的测量带宽至少应为1MHz j;lJ 1 OOMHz , 连接被试连接硬件的对称试验引线应采用YD/T926.2规定的5类对称电缆，电缆的标称特性阻抗应与被试连接硬件的标称特性阻抗相一致。连接
26、被试连接硬件到平衡变量器的两根对称试验引线，总长度不应超过130mm，试验仪器到平衡变量器的同轴引线应尽可能短，建议每根不超过600mm，平衡变量器具有接地的金属商板时，平衡变量器的平衡输出端不宜靠近金属面板，应与接地的金属面板至少离开10mm。此外被试连接硬件与平衡变量器的接地金属面板应至少间隔50mmo如果采用屏蔽的对称试验引线，该屏敲应至少有一端与平衡变量器的外壳相连。357 YD/T 926.3-1998 接在对称试验引线和被试连接硬件上的匹配电阻应与对称试验寻l线的标称特性阻扰。000或1500)匹配。在1MHz100MHz的整个频率范围内，匹配电阻的容差小于士3%(建议使用士1%精
27、度的金属膜电阻)。试验用平衡变量器应具有对射频干扰(RFD的屏蔽，其性能要求见附录C(提示的附录)。5.2.3 试验装置校准为保证试验精度和1MHz1 OOMHz频率范围内试验的线性，试验装置需进行两项校准。一项是对平衡变量器与对称试验引线的衰减进行校准，另一项是检查平衡变量器与对称试验引线带电阻时的衰减频率特性。首先进行测量装置的校准，接线原理图见图6.测出的平衡变量器与对称试验寻l线的衰减，从1MHz100MHz不应超过3dB.在网络分析仪读数中，扣除平衡变量器和对称试验引线的实测衰减。罔络分析仪适配掘适配揭直带平蕾壶量器唱-最大衰融-唱3dB 时称民瞌引线直带平衡壶量器图6平衡变量器与对
28、称试验引线的衰减校准然后，把匹配电阻跨接到两个平衡变量器的平衡输出端上(对称试验引线的每一端并联一个1000或1500电阻)，检查平衡变量器与对称试验引线接有电阻时的衰减频率特性，在1MHz100MHz频率范围内测出的衰减应为(6士1.5)dB。接线原理图见图7。为使寻|线电感影响最小，电阻引线应尽可能短(每侧5mm或更短)。试验装置进行上述校准后，在测量衰减和近端串音衰减时，测量系统的背景噪声电平应-80dB。测量回波损耗时，用规定的匹配电阻校准，试验装置的回波损耗应二月创B。5.2.4 传输特性试验5. 2. 4. 1 总则试验装置校准后，将对称试验引线从中间剪断，每侧不应超过65mm，连
29、接到被试连接硬件，必要时端接匹配电阻。通过测量连接硬件接人酶后相对于对称试验引线的衰减、近端串音衰减和回波损耗，可确定连接硬件的传输特性。358 同络分析t且量配器量配器同轴引线II同轴引蜡咽衰睛一6士1，sdB 直带平衡怜_:_.:，C;:I宽带平膏变量器悔，-一-一喇费量器5mm 图7接有电阻时的衰减测量loon、1500电阻YD/T 926.3 1998 除非另有规定，连接硬件的近端串音衰减和回波损挺应在两个方向上分别进行试验。屏蔽连接硬件的屏蔽应与屏蔽的对称试验寻l线的屏蔽相连，具体的连接方法由有关产品标准规定。5.2.4.2 衰减衰减是测量连接硬件引起的附加信号功率损失，它是将小段对
30、称试验引线接人被试连接硬件前后，进行扫频电压测量得出的。对每个被试连接硬件，应测量每个回赂的衰减。5.2. 4.3 近端串音衰减(NEXT)近端串音衰减是测量连接硬件的一个国路桐合到另一个回路的信号，它是将一小段对称试验引线端接到被试连接硬件上进行扫频电压测量得出的。平衡的信号加到连接硬件的主串回路上，在被串回路上测量近端的感应信号。近端串音测量时，规定施加试验信号的一端为近端，不直接与测量仪器连接的一端为远端。测量近端串音衰减尉，远端的线对端接匹配电阻。试验回路近端的线对接平衡变量器的平衡端，非试验回路的近端可以不端接匹配电阻。除非另有规定，对每个被试连接硬件，应测量全部相邻回路组合的近端串
31、音衰减。对于4回路以下的连接硬件，应测量每个被试连接硬件的全部回路组合的近端串音衰减。5. 2. 4. 4 回波损耗回波损耗表示连接硬件和电阻的阻抗匹配程度。它是将一小段对称试验引线接入被试连接硬件前后，进行扫频电压测量得出的。平衡的信号加到连接硬件的-个回路上，在施加倍号的同一端口测量由于阻抗不均匀而反射回的信号。回波损耗测量时.四路远端端接匹配电阻。对每个被试连接硬件，应测量每个回路的回波损耗。5.2.5 试验注意事项为保证连接硬件传输特性试验的有效性，应遵守下列试验注意事项3a)在整个试验过程中，应采用符合要求的平衡变量器和匹配电阻。b)在连接硬件端接前、端接期间和端接后，同轴引线和对称
32、试验引线都要避免过度弯曲、打结和变形等，以避免其特性劣化。c)在整个试验过程中，同轴引线和对称引线长度要尽可能短，对称试验引线间的距离要尽可能大。d)对称试验引线和被试连接硬件要远离金属表面(如接地的金周围扳)，并远离电磁场干扰源。e)对称试验引线必须经过校准，当更换对称试验引线时，应重新校准。每根对称试验引线在试验期间应保持其长度不变，线对扭绞耍一直保持到端接点。)被试连接硬件与平衡变量器的连接方式应保证，在测量过程中由于导线正常移动引起测量数值的变化量不超过土O.5dB.建议在可能时采用定型的试验附件。5.3 光纤连接硬件试验方法光纤连接硬件试验方法见表24.表24光纤连接硬件的试验方法序
33、号试验项目本标准条款试验方法24. 1 物理尺寸通信引出端表21序号21.1. 1 IEC 60874-14(SC-D) 其他连接硬件表21序号21.1.2由有关产品标准规定24.2 标称包层直径表21序号21.2.1IEC 60793-1-2 24.3 标称缓?中层直径表21序号21.2.2GB/T 2951-4 24.4 光缆外径表21序号21.2.3GB/T 2951-4 359 YD/T 926.3-1998 表24(完)序号试验项目本标准条款试验方法24. 5 耐久性试验表21序号21.3IEC 60874-7的4.5. 32 24.6 衰减其他连接硬件IEC 60874-1的27.
34、l(方法7)表21序号21.4. 1 接头IEC 61073-1 24.7 回波损耗表21序号21.4. 2 1EC 60874-1的27.46检验规则连接硬件的检验分出厂检验和型式检验。6. 1 出厂检验连接硬件的出厂检验项目由有关产品标准规定。6.2 型式检验连接硬件的型式检验项目为本标准第4章要求的全部项目，抽取的试样应是经出检验合格的产品。6.2. 1 检验周期正常生产肘，型式检验每年至少应进行一次。有下列情况之一时，也应进行型式检验Ea)连接硬件试制定型鉴定时;b)正常生产后，如结构、材料、工艺有较大改变，可能影响连接硬件性能时pd出厂检验结果与上次型式检验有较大差异时gd)连接硬件
35、长期停产后，恢复生产时$e)质量监督部门提出进行型式检验要求时。6. 2. 2 .抽样方案应从出厂试验合格的产品中随机抽取一定数量的产品作为试样。6. 2. 2. 1 对称电缆布线用连接硬件的抽样方案a)传输试验的抽样方案对非插合使用的连接硬件，应随机抽取10个试样。对插合使用的连接器(插头与插座)，应随机10个插座和5个插头，进行10个试验组合的试验。与同一只插头一起进行试验的插座不应越过2个。b)环境试验的抽样方案对于环境试验，应随机抽取50个试样，称为P组。P组再分为5组，每组10个试样。6.2.2.2 光缆连接硬件的抽样方法光缆连接硬件的抽样方法由产品标准规定。6.2.2.3 连接器组
36、件的抽样方法连接器组件的抽样方法由有关产品标准参照本标准规定。2.3 判定规则与复验规则如果有一个试样未能通过任意一个项目的型式检验，则应判为不合格。允许重新抽取双倍试样就不合格项目进行复验，重新抽取的双倍试样如果都能通过复验，则判为复验合格;如果仍有任一个试样不能通过，则应判为型式检验不合格。360 YD/T 926.3-1998 附录A(提示的附录)光纤连接的系统设计导则A1 概述本附录是光纤连接硬件的系统设计导则。按这个导则正确支装连接器和适配器时，可以得到一个便于使用和维护的光缆布线系统。本附录适用于通信引出端，但也可用于配线架上的光纤连接硬件。建议用户与设备生产厂、系统设计者磋商，以
37、保证这个导则对一些专业网络应用的适应性。此外，建议用户保证所有的光接口都满足IEC60825的要求。A2 建议建议连接硬件(连接器和适配器不应导致不同型号的光纤错误对接，因此，建议连接器和适配器使用色码来区别光纤的不同类型。建议连接硬件提供光纤单芯连接和光纤双芯连接两种型式。为保证通信引出端和配线盘布线侧(见图AlA3)的灵活性，建议使用光纤单芯连接器端接水平光缆和主干光缆。说明布线锢固方位口方位B图Al光纤双芯SC连接器的配置在通信引出端和配线盘的用户侧(见图AlA3)，建议使用光纤双芯连接器来建立和保持双光纤传输系统中每条发送和接收光纤的正确极性，同时仍允许使用其他光纤数的传输系统。光纤双
38、芯适配器可以由两个光纤单芯适配器组成，也可以是一个整体封装的双芯单元(满足相关产品标准或IEC86分委员会提出的详细规范规定)。建议使用配套的光纤双芯连接器实现光纤双芯适配器与设备光缆、接插软线的连接。在通信引出端上使用定位销或在适配器上根据方位A和方位B的标签来确定极性，为了将该极性延伸到整个布线系统，定位销的排列方向、标签和光纤配置必须在整个布线系统中保持一致。HMAB肇量直BA垂【问】光纤单芯直接器用户侧A3 通倍引出捕的连接方法在未安装光缆布线基座的场合，规定通信引出端采用光纤双芯连接器连接，并用定位销确定极性361 YD/T 926.3-1998 (见A3.1)。在已装有BFOC/2
39、.5连接基座的场合，仍可使用BFOC/2.5连接器连接到通信引出端，但要满足下列要求Ea)使用光纤单芯连接器时，适配器宜用标志确定其极性(见图A2)。b)使用光纤双芯连接器时，宜用定位销确定其极性(见图Al、图A2) c)使用一个BFOC/2.5-SC(混合】适配器代替两个光纤单芯连接器时，应用定位销确定极性(见图A3)。A 3. 1 光纤双芯SC连接器的配置光纤双芯SC连接器和适配器应具有图Al所示方位的定位销。A3.2 光纤单芯BFOC/2.5连接器的配置光纤单芯连接器和适配器的配对标志如图A2所示。光纤单芯直接器用户帽光纤单芯连接器B 布统帽说明E3方位Ao万位8图A2光纤单芯BFOC/
40、2.5连接器的配置A3.3 光纤单芯BFOC/2.5连接器到光纤双芯SC(混合)连接器的光连通配置光纤连接器和适配器由图A3所示的定位销定位。E:;自光!f;院芯连接圈A B 布蜡帽说明用户侧飞叫UE3方位Ao方位8图A3光纤单芯BFOC/2.5连接器到光纤双芯SC(混合)连接器的配置A4 配线架的连接配线架上光纤的连接通过可卸式光纤连接器和适配器来完成。通过严格控制配线架上的连接变更，或采用上述的定位装置，可以保证极性正确。362 YD/T 926.3-1998 附录B(标准的附录)100Q通铺引出端擂座传输特性试验方法本附录给出1000.对称电缆布线用通信引出端插座传输特性的一种试验方法。
41、对称电缆线对终端到1000.通信引出端插头(或较小尺寸的插座时总会存在离散性，而按本附录制作试验插头，进行正确操作时，易于保证传输试验的精确性和可重复性，使之随试验设备和人员的变化影响最小。81 试验插头的制备对称试验引线和试验插头间的端接宜用下列方法进行。但应注意:初次使用这种端接方法不)定会作出满足B3要求的试验插头。只有通过反复操作，不断熟悉本方法，才会改善端接的-致性。a)剥去电缆护套，露出扭绞的导线长度不短于2mm.护套长度宜不短于13mm，b)固定电缆线对，使其顺序依次为线对3、线对2、线对1和线对4.分别对应于插头端接的簧片l和2、3和6、4和5、7和8(图B1)，为避免试验插头
42、挤压使护套内的线对错位，应将试验引线并排排列并延伸到护套内至少8mm，使一小段护套成扁平状，其横截西呈椭圆型。c)将扭绞的线对松开，放到与试验插头簧片对应的位置准备端接，使导线互相平行，并使与簧片端接的导线6跨越与簧片4及5端接的导线。护套内的线对不应松开扭绞。除非另有规定，试验插头簧片与电缆线对的对应关系按表Bl规定。圆形护牵护套锢平部分最1-13mm量，)、8mm最小20mm图Bl处理前的对称试验引线和护套辑时3辑对2辑对1蝇时4从护套的末端量起，整理好的导线长度宜保留约14mm，离导线端部至少10mm的一段长度，导线不应交叉，与簧片6端簇的导线跨越其他导线的地方离护套的距离不应超过4mm
43、(见图B2)，表Bl试验插头簧片与电缆线对的对应关系试验插头簧片号i 2 3 6 4 5 7 B 电缆线对序号3 2 I 4 导线序号a b a b a b a b d)把整理好的对称试验引线放人试验插头中，导线的末端应一直伸到试验插头的前端，护套的扁平部分应从试验插头后端一直伸到预张力释放压块下(图B3)。护套应伸出试验插头后端至少6mm。f)压紧试验插头并再次测量导线和护套的长度，以确认它们是否符合要求的几何尺寸。363 82 试验插头的选用与验证1!lJ!i 伊蕃、YD/T 926.3-1998 陆民扁平部分J 10mm士lmm 最大4mm端接簧片号l 2 3 4 6 6 7 8 图B2
44、处理后的对称试验引线和护套理张力释曲压块量J、6mm属部引出的导线图B3完工后的试验插头.，片号8 端接好试验插头后，应先测量它在末插合状态下的近端串音，测量时将100.0.电阻并联接到100.0.对称试验引线与平衡变量器连接处(见5.2.3)。为把电感效应减到最小，电阻的引线宜尽可能短(每侧5mm或更短)。对于4个线对的近端串音衰减测量，共有6种线对组合。测量试验插头开路时每一个组合的近端串音衰减(图B4)，这些测量值应符合表B2.验证平衡变量器与试验装置肘，近端串音衰减(以dB表示)与频率的关系应是一条直线，试验装置与平衡变量器在频率100MHz时的近端串音衰减与频率10MHz时应相差20
45、dB土0.5dB.表B2试验插头的近端串音要求簧片组合频率试验插头的近端串青衰减4、5千3、6100MHz 二.40dB3、6-1、2100MHz 二45dB3、6-7、8100MHz 二注45dB4、5一1、2100MHz 主主55dB4、5-7、8100MHz 二月5dBl、2-7、自100MHz 二三55dB364 YD/T 926.3-1998 产品的型式检验至少应选用5个试验插头。终端开路测量出的近端串音衰减约到1位小数。这5个试验插头还应满足下列3项附加要求E终端开路时，簧片组合4、5和3、6在100MHz频率下测出的近端串音衰减。a)至少有一个试验插头:40. odB;:;近端串
46、音衰减40.5dB;b)至少有一个试验插头:41.OdB;:;近端串音衰减41.5dB, c)至少有一个试验插头:41. 5dB;:;近端串音衰减。对于选出的合用试验插头，在正式进行插头与插座的传输试验时，应去掉并联在平衡变量器上的1000电阻。注z试验插头宣定期栓查是否有物理磨损和机械劣化，网络分析仪适配幡1000 同蛐引辑置专管平衡型E量器适配器同轴引线直带平面噩量器100Q对称菌金引辑试验插头示章图图B4试验插头测量B3 通倍引出蜡插座传输特性的试验方法通信引出端近端串音衰减等参数测量的一种方法见图B5.图示试验装置是精确的、易于实现的，并能在短时间内测量出连接器的传输特性。该方法的优点
47、是无需焊接，接好试验对称号|线的试验插头可供重复使用，所有的对称试验寻l线均可以短于5臼nm，试验装置如图B5所示。平衡变量器也可不用同轴引线直接接到网络分析仪。为实现无焊接连接，装集成电路(IC)插座的针脚取下，固定到平衡变量器的端于8然后将试验引线的导体插入针脚的中空部分，实现与平衡变量器的连接(图B5纱，这种插入式连接与集成块插入(!C)插座相似，只需加一定的力即可，即不需焊接，也不需任何专用工具。该装置所用的试验插头是用一小段5类电缆按B1制作的，离试验插头约苗mm以外电缆护套剥去(见B1)。在护套末端，把4对电缆线对放得互成90角。见图B5-3.把这些导线插入平衡变量器上的集成电路插
48、座(如图B5-2)，实现与平衡变量器的连接。将对称试验引线的长度调节到正好连到平衡变量器，而两对被测线对以相反的方向从试验插头中出来(相差180度)。用这种方法，可以不用焊接就可测量各种线对组合。为扣除试验装置的衰减，可制作一套装在印刷电路板上的校准插座。有一组测量4个试验线对共6个线对组合的校准插座。每个校准插座把特定的发送线对与特定的接收线对依次相连。例如，当测量4、5和3、6组合时，这个组合的校准插座把从3、6输入的信号送到4、5。在校准插座上进行环回连接时，宜365 YD/T 926.3-1998 注意保持平衡变量糠的极性。插座接口与试验插头相接时就能校准测量系统。由于被试连接器由插头
49、和插座组成，这种校准方法不能扣除可能由模块试验插头和插座组合引起的串音。当用lOO(l电阻终端试验插头时，它们宜直接连接到电缆终端上。366 网络分析仪适配罪适配睡同轴引钱同轴引钱直带平宿费量幡试验描瘦加自环用印刷电路桂准插座直带平蕾噩量幡1000试验引蝇图B5-1元被测插座的试验装置无悍锢矗接平橱置量器IC插孔导线时障酣睡引钱(元扉蔽图B5-2对称试验引线与平衡变量器的连接护套图B5-3试验插头图B5典型通信引出端近端串青衰减测量装置绝缘YD!T 926.3-1998 附录C(提示的附录)试验用平衡变量悟性能要求试验用平衡变量樱性能要求见表CL表Cl试验用平衡变量器性能要求(l-lOOMHz)参数数值初级阻扰。500.750(不平衡)次级阻扰100或1500(平衡衰减最大1.2dB 回被损耗，两个方向最小20dB额定功率最小O.IW纵向平衡度最小50dB1)初组阻抗应与网络分析仪相同。2)次银阻
