1、1 中华人民共子工业部部标SJ 2722 86 2CZ306型硅快开关整流二极中华人民共和国电子工业昂器件质量评定GB 4936.1 85 半导体分立器件总规范2CZ306型硅快开关整流二极管详细规范订货资料s见本规范第7章外jP符合GB758187中D2loA 的要求见术规范第10.2条)SJ 2722 86 半导体材料:N型it噎晶封装，非空腔玻璃钝化封装应用，在彩色电视机及其它无线电电子设备中作快速开关或整流用5 型E类参考数据gI VRRM iIF(AV) 3l(V |(A 1 2CZ306日I800 2CZ3061 i 1000 I I - I 0.5 i 22Z36 J 1 120
2、0 i UMI1400i I ZCZZ06L i 1600 一V FM I trr ( V) I (s ) 一一GB 4阳一852.1.2 15 试验采用方法1受试引线数I2 外加力:5 N 无损坏B4分组可焊性15 GB 4931一852 .2.1 优先采用焊槽法受试引线数I2 易主要垄且本规蔼附录A润良好F、J。一2哼，-431A nuJ A蚀3RU G 组也分变气d画AB配TA=O t 数s严格度I1 T= 100飞310次20 继之以交变湿热(DIEC6月一230 采用方式2严格度I55 t 次数:2次最后测试同A2b分组二l一B8分组i 电耐久性GB 4938 85 10 工作寿命1
3、 p( AV) = 0.5. A, tIJ = 1 mS =2% VRM= VRRM 时间:168 h 试验时，央具夹在N!管体10-15mm的引线上.最后测试VpM IpM1 D041 D 042 1 PM = 1. 5 A, tIJ = mS , = 2 % VRM = VRRM(正弦半波.50Hz) 3. .:1 V A 20 CRRL分组B3、B4、B5和B8分组的属a性资料_ 5 -一一一一一一一一|l20 i ! 10 15 E类LTPD 30 见GB4937 85 4;2 15 15 30 6一位A 求mm mm 一单要值最大值。.87验150 检限最小值。.7225 性资料T.
4、b=150 t V 1UI = V 2JtM(正弦半波，-50日z |除非另有规窍T .b= 25 t 见本规范第4章采用方法2100%三氯乙烯SJ 2722-86 T.皿b=40t 16M = 30 A 泼数和?良洒数均为1一一h组、J州时引tuu于同命少件寿不条作间它工时其期Tstg= 165 t 时间不少于100h 方式22日环次数&6次件CRRL分组IC.、白、C7、C8、C9和Cll分组-是破坏性的(3.6.6) 采用方法lA一一一一条最后测试同Bs分组Cll分组! i 标志耐久性IGB 4937 85 i : 4.2 C9分组I ! 高温贮存(D)I GB 4937 85 ，、Jn
5、s n只V-43 二的-m 同C7分组交变湿热(D)!IEC68 2 301 a 热DGB 4937 85 2.2.2 引用标准D 042 本规范附录BC2c分组1PSM 5.2 只有标明(D) 组最后测试同B8分组C8分组电耐久性最后测试同B8分组C2b分组12M2 C1介组尺寸r b2 L SJ 2722-86 一9 0组10 10.1 电流不适用曲壤.，箩(A:CA),5 &0 ut 2.飞)图1电流降额曲线10.2 外形L G L 恢复时闯和电流标志响吗咆Ll c! D 叫喝、 L 2, 负极初电压部志最小值单位Imm 一标最0.87 十二一一一一二一1 bl. I 0.72 一l一一
6、一一一-寸十一二今D3.5 G 当.0L I 25 Ll 1.5 L i 12.5 一图2外形图一7一j 2722-86 一一一一一一一一一吁中一A .1 加速者化附录A可焊性试验的补充要求补充件对于在器件制成后，又进行沽锡(或镀锡的器件，需故加速老化。其条件是z100 c水蒸汽中置放1小民。A.2 进验方法a. 优先采用焊槽法。b. 必要f!寸，可采用润湿称量法。按国家标准GB24123.32-35(电工电子产品基本环境试验规程问湿称量法的可焊试验方法进行。汩i!ITI过程，按使用非活性焊剂时，在3秒钟内达到理论润湿的35%。8.1 目前附景BE向不重复浪涌电流测试方法补充件在规定条件下，验
7、证二极管E向不重复浪涌电流的额定值。8.2 电路图E向不重复浪涌电流测试电原理图如下，叫叫S 这lPl D Gl R3 P2 图B1电路图B .3 电路说6.8.1 电路说明Pl 为测试通过被测二极管正向平均电流的仪表P2 为峰直读数仪表或示D 为被测二极管。R3 为取样电阻。R1 为正向平均电流的调定电阻。R2 G -8一- -4 咽，12 . , aa R2 为模涌电流的调定电阻。S 为撞制面。Gl 为向被测管提供E向平均电流的电洒。G2 为向被测管提供E向浪涌电流的电师。8.3.2 电路流过被测营的E向平均电流应与正向浪涌电流相位一致见圈B2) l(A) 11SM 一一lFM .!J (
8、 t:) 图B2IFSM与IFM的相位示意图/F)Nl正向浪涌电流/FNl一一正向峰值电流8.4 测试步将Gl和G2两电据部调至零。将被测管按其极性标志插入测试台的营座，并检查环境温度.节Gl和Rl，使Pl上测得的E向平均电流达到规定调节G2和R2，使P2上测得的峰值电压达到规定值，此时正向浪涌电流也达到规定值.开启控制器，按B.5规定的条件对被测管施加正向浪涌电流。根据试验后的测试来验证被测管承受正向浪涌电流额定值的能力.S.5 件正向j良涌电流的数值，每次拽涌的周旋数、浪涌次数扣重复卒，度，试验后测试项目、极限值、测试条件。9 一明sSJ 272286 附壶C国内外型号参考对参考件国内型号2CZ306H 2CZ3061 2CZ306K 2CZ306L 本标准由中国电子技术标准化研究所提出。本标准由天津第三半导体器件厂负责起平。国外型号VllJ VllL Vl1M VllN 本标准主要起草人z王思平、孙志昌、黄宗芬、李新华。一10
