1、ICS 37.020 N 30 道B中华人民共和国国家标准G/T 12085.6-2010 代替GB/T12085.6一1989光学和光学仪器环境试验方法第6部分:砂尘Optics and optical instruments-Environmental test methods一Part 6 : Dust (lSO 9022-6: 1994 , MOD) 2011-01-14发布2011-05-01实施数码防伪中华人民共和国国家质量监督检验检痊总局中国国家标准化管理委员会发布中华人民共和国国家标准光学和光学仪器环境试验方法第6部分:砂尘GB/T 12085. 6 2010 当酝中国标准出版
2、社出版发行北京复兴门外三里河北街16号邮政编码:100045 网址电话:6852394668517548 中国标准出版社秦皇岛印刷厂印刷各地新华书店经销祷开本880X 1230 1/16 印张0.5字数8千字2011年6月第一版2011年6月第一次印刷* 书号:155066. 1-42811定价14.00元如有印装差错由本社发行中心调换版权专有侵权必究举报电话:(010)68533533GB/T 12085.6-2010 目。吕GB/T 12085(光学和光学仪器环境试验方法分为以下16个部分:一一第1部分:术语、试验范围;-一第2部分:低温、高温、湿热;-一第3部分:机械作用力;-一第4部分
3、:盐雾;一一第5部分:低温、低气压综合试验;一一第6部分:砂尘;一一第7部分:滴水、淋雨;一一第8部分:高压、低压、浸没;一第9部分:太阳辐射;第10部分z振动(正弦)与高温、低温综合试验;第11部分:长霉;第12部分:污染;-一第13部分:冲击、碰撞或自由跌落与高温、低温综合试验;-一一第14部分:露、霜、冰;一一第15部分:宽带随机振动(数字控制与高温、低温综合试验;第16部分:弹跳或恒加速度与高温、低温综合试验。本部分为GB/T12085的第6部分。本部分修改采用IS09022-6: 1994(光学和光学仪器环境试验方法第6部分:砂尘。本部分与IS09022-6: 1994的主要差异如下
4、:一一删除国际标准的序言和前言p根据IS09022-6第l章及我国标准用语习惯作了重新编写;国际标准本部分一词改为本部分。本部分代替GB/T12085. 6一1989(光学和光学仪器环境试验方法砂尘，与GB/T12085.6-1989的主要差异为:一一合并范围与试验目的;一二将附录A试验箱结构示意图放入标准正文的试验条件中;一一增加了试验程序的总则，规定了试验程序的标准依据;-一增加了环境试验的标记名称，修改了相应标准号的编写。本部分由中国机械工业联合会提出。本部分由全国光学和光子学标准化技术委员会(SAC/TC103)归口。本部分起草单位:上海理工大学、宁波永新光学股份有限公司。本部分主要起
5、草人:冯琼辉、章慧贤、曾丽珠、叶慧。本部分所代替标准的历次版本发布情况为:一一-GB/T12085.6-1989 I GB/T 12085.6-2010 1 范围光学和光学仪器环境试验方法第6部分:砂尘本部分规定了砂尘试验的试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。本试验的目的是研究试样的光学、热学、机械学、化学和电学等特性受到砂尘影响的变化程度，特别是研究运动部件(如滑动面、轴承、接触器、控制装置、齿轮)的故障或不能允许的表面磨损。本试验不用来确定对粗粒砂尘的耐磨性。2 规范性引用文件下列文件中的条款通过GB/T12085的本部分的引
6、用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。GB/T 12085. 1光学和光学仪器环境试验方法第1部分:术语、试验范围(GB/T12085. 1 2010 , IS0 9022-1: 1994，如10D)3 试验条件暴露期间，光学表面应用各种措施防止砂尘的影响，如防尘罩。罩盖方式应在相关标准中规定。若试样在暴露时光学表面不必罩盖，则应在有关标准中加以说明。试验箱(室应具有一定的空间以保证试样的占有面积不大于试验箱(室
7、横截面积(与空气流动方向垂直的面积)的50%，体积不超过试验箱(室)有效体积的50%。图1为试验箱结构的示意图。1 GB/T 12085.6-2010 1t 1 霄川H而uaaAFhu14 16 2 17 6 18 8 15 19 9 10 11 12 1一一包括计量器和徐湿装置的进尘装置;2一一风扇;3一一气流矫直器;4一一温度传感器;5一一加热元件;6一-湿度计E7一一-气流控制阀z8一一光电砂尘密度计59一一除湿(冷却)器;10 试验箱;11一一栅格板;12一一砂尘排除口;13一反向传送;14一一光电砂尘密度计;15一一试验箱的门;16一一一风扇电机;17一一标准光源;18一一温度传感器
8、;19 暴露室。圄1试验箱结构的示意图矿物砂尘应由边缘锐利的微粒组成，其中Si02按质量应不小于97%。微粒尺寸分布和分析用的金属丝筛网应符合表1的规定。表1微细砂尘颗粒尺寸分布按质量分数/%颗粒尺寸/mm筛网网格尺寸/m(允许偏差土2%)0.1-0.14 140 2 0.071-0.1 100 8 0.045-0.071 71 15 0.045 45 75 每次试验应使用新的砂尘。试样应尽可能放在试验箱(室)中心附近，如多个试样同时试验时，试样的位置均应与空气流动方向垂直，并且试样之间以及试样与试验箱(室)壁的距离均大于100mm，试样的安置应使最易损表面朝着喷尘。在试验期间试样的位置可重新
9、定位，以便将各个不同的表面暴露于空气流，在有关标准中应规定对空气流暴露的试样表面的位置和数量，暴露周期应均匀分配给每一暴露面。4 条件试验条件试验方法52:喷尘。2 条件试验方法52喷尘的严酷等级按表205 试验程序5. 1 总则试验应符合相关标准和GB/T12085. 1标准规定。5.2 预处理预处理未作规定时，试样应清洁和干燥。5.3 恢复GB/T 12085.6-2010 除有关标准另有规定外，沉积的砂尘应通过摇动或擦刷的办法去除，不得将额外的砂尘粘到试样上，也不能用吹或吸的清洗方法除去砂尘。6 环境试验标记环境试验标记应符合GB/T12085. 1的规定。示例:光学仪器抗砂尘环境试验，
10、条件方法52、严酷等级01、工作状态2的标记为2环境试验GB/T 12085-52-01-2 表2严酷等级步骤参数单位01 02 温度。C18-28 18-28 相对湿度% 25 25 1 空气速度m/s 8-10 8-10 颗粒密度g/m3 5-15 5-15 暴露时间h 6 6 温度。C相对湿度% 2 空气速度m/s 暴露时间h 温度 35-45 相对湿度% 25 3 空气速度m/s 8-10 颗粒密度g/m3 5-15 暴露时间h 6 工作状态1或2a步骤1试验后立即进入步骤30b步骤1到步骤3应紧接着进行。c中断喷砂。7 有关标准应包括的内容a) 环境试验标记;b) 试样数量;03b
11、18-28 25 8-10 5-15 6 55-65 25 1-3 16 55-65 25 8-10 5-15 6 OFON|.SON-H白。GB/T 12085.6-2010 未经保护的待暴露光学表面;暴露于空气流的试样表面的位置和数量;5. 2规定以外的试样预处理;初始检测的内容和范围;工作状态2工作周期的确定;工作状态2中间检测的内容和范围;5.3规定外的恢复;最后检测的内容和范围;评价判据;试验报告的内容和范围。c) d) e) f) g) h) opuwo 侵权必究口一一兀骂一OA哇-nuI-4 nu-号一价书一定版权专有GB/T 12085.6-2010 打印日期:2011年6月29日F002
