1、li-! 家标准 中华人民共和UDC 66量.22.01r GB 7862.22-87 试方法试方法无色光学玻璃折射率温度Colourle皿oPtlcal81a睡testmetbods Temperature coefflclent of refracthe Index 本标准适用于测量无色光学玻璃折射率温度系数。测量温度范围定为40- + 20C及+20-+ 80C。测量谱线为c、d、e、F、s五条谱线。测量精度A.p为:t5 x 10-7/(;。原理1 从两表面反射圆的光束相干涉产-A , 10, 11一全反挠，M9，!o一可移动反射镜，L，一扩束镜，L I , 2一聚光镜，L，一准直物挠
2、JL. , 5一物镜、目镜，T一施光片，( I , 2一光阑JN.，l-狭缝JP I , 1一光电倍增营，G一显示屏n.真空炉及控制系统.z-真空肿.K一自动应割系统，s一样品，E 1 , 2一应温偶、割l量偶m.记录及数据处理系统zI一双笔记录仪IC一单板计算机Cd灯，及可拆换的c、d、e、F、E五种Hg、2.1 光学系统2. 1 . 1 光源箱z其中有He-Ne激光器，He、干涉滤光片。-74 飞一飞GB 7962.22-87 卜luJI-iP民2.1.2 自准直仪s其口径为35mm，相对孔径为1=10。2.1.8 光电转换器g用光电倍增管接收干涉条纹变化的信息，经差分放大后输给记录及数据
3、处理系统。其测量干涉条纹精度4K小子。.10 2.2 高、低温妒及其控制系统2.2.1 电阻高温炉及三级半导体致冷低温炉z在40mm x 50mm的炉院内，径向温度梯度小于0.1 C/cm，.轴向温度梯度小于0.1C/cm。测温、控温的感温元件电势约为0.04mV /C。测温精度4T小于0.5C。2.2.2 电控系统g以一任意给定速率自动控制线性升、降温。一般升、降温速率以(0.5-0.7C)/mi n为宜。2.2.8真空装置，其真空度为x 1mmHgo 2.8 .?录数据处理系统2.8.1 记录仪s用双笔记录仪记录妒温及干涉条纹变化的信息，可得到.K/.T及.M/.To2.8.2 单扳微计算
4、机=用以对K、M、T变化的信息随时自动采样并进行数据自动处理，打印给出测量结果。h11 样品和干涉板s .N为0.1，其余抛光飞76，样B为E级，平行度9为158，平面度N为0.25，8.1 11样品8.1.1 对材料要求条纹度1c，气泡度A级，应力双折射1类。8.1.2 加工要求两大面抛光714，品尺寸如图4。f J 折射率温度系数样品8.2 a样品8.2.1 对材料要求与F样品为同一块玻璃，条纹度1c，应力双折射1类。8.2.2加工要求接图5要求进行。0.3 4 L 75 2乞一一一旦-,_ -_一一- 一一斗牛一跑吼IIIP-fvf GB 7882.22-87 真余76 AOB 膨胀系数
5、5 N为0.1，其余面抛光i76 , 8.8上、下干涉饭8.8.1 对材料要求材料为熔石英，条纹度1c，气泡度A级，应力双折射1类。1.8.2 加工要求两大面抛光飞714，B为IV级，平行度为1OH，平面度N为0.25，样品尺寸如图6(a)及的所示。由8 O.3X450 。.3x 45。四-d/ /p (b)干涉缸: 430 -650 nrn TI 99日图6 (a)上干涉扳测量4 用V棱镜折光仪测量该玻璃的c、d、e、F、E线的折射率。用于分尺测量自样品的厚度lk样品的厚度L.先后将样品，样品放于高、低温炉中，测量MlT，KlT。由单饭微计算机直接打印出测量结果或者按表1及表2记录测量结果。
6、按表3填写测试报告单。4.1 4.2 4.8 4.4 4.5 一-一- 76 712.22-17 GB ui4vl 膨胀系数测定记录表1 玻璃牌号熔退火号棒号T.-T2 C A L AM/AT X 10/: -40-+2。+20-+剧hil: 日期复核者g折射率温度系数测定记录日期表2测量者g玻瑞牌号熔炼号退火号t AK/AT a . 1,.1 Tt-T2. C A n x 10 /C x 10 /C X10/ C 斗L 飞日期复核者g折射率温度系数测试报告单日期表S测量者，r 玻璃牌号熔炼号退火号T直-T直/1. x10/ C /1. X 10 /C t 毡d e F g c d e F s 日期复核者s日期测量者s附加说明2本标准由中国科学院光电技术研究所、长春光学精密机械研究所起草。本标准主要起草人刘乃英、段文琴。JFJblr川F 户户庐77 一一一一一一一一半一!k.
