1、中国电FL 5962 SJ 50597/13 94 :8 11:匕口哩!-Detail specification for hybrid microcircuits HSH4860 high speed, precision sample/hold amplifier 1994-09-30发布1994甲12-01实施中华人民共和国电子工业部批准中华人民共和国电子行业军用标准合微电路详细规范HSH4860型高速精密采样/保持放大器回5059711394 Detail specification for bybrid microcircuits HSH4860 bigb speed, precis
2、ion sample/bold amplifier 1 范围1. 1 主题内容本规范规定了混合细要求。1. 2 适用范围本规范适用于电路的研制、生产和采购。1.3 分类本规范给出的电路按电路等级、封装形式分类。1. 3. 1 电路编号电路编号应按GJB597(微电路总规范中3.6.2条的规定。1. 3. 1. 1 电路型号号如下:电路HSH4860型高速、精密采样/保持放大器(以下简称)的详HSH4860 电路名高速、精密采样称电路型号 1. 3. 1. 2 电路等级为GJB597中1.3.1.3 封装形式封装形式如下:定的H级和K级。字母封装形式(GB/T膜集成电路和混合集成电路外形尺寸M-
3、D M4065Q-(金属双列浅腔封装)D24063(陶瓷双列封装)1. 3. 2 绝对最大额定值定值如下:中华人电子工业部1994-09-30发布1994-12-01实1一臼50597/1394 数值项目符号最最大正电电压Vl+ 18 V2+ -0.5 7 负电电压V1-18 逻辑输入电压VL1 -0.5 5.5 模入电压VA1 -18 18 贮存度T. -65 150 引线Th 300 结TJ 175 1. 3. 3 推荐工作条件项目符号最最大正电电压V1+ 14.55 15 V2+ 4.75 5.25 负电电压V1-15 - 14.55 逻电压V L1 (0) 。0.8 VL1(I) 2.
4、0 5.0 模拟输入电压VA1 土11.5Zj 1 出阻抗Zo 0.1 工作TA -55 125 2 引用文件GB 3442 86 半导体集成电路运GB/T 15138 94膜集成电路和棍合放大器测试方法的基本原理成电路外形尺寸GJB 548 88 微电和程序GJB 597 88 微电路总规范3 3. 1 详细要求各项要求应按GJB597和本规范的规定。3.2 设计、结构和外形尺寸设计、结构和外形尺寸应符合GJB597和本规范的规定。3.2. 1 封装形式封装形式按GB/T15138膜集成电路和混合集成电路外形尺寸的规定。一2一单位v 单位V kO Q SJ 50597/13 94 3.2.2
5、 引出理.1引出端排列应符合图1的规定。引出端符号的含义见附录A。24, _VI+ NC tz 22W E GND NC 3 .22. V1_ NC 、421 GND NC 5 、zu-NC NC-寸6,19 , NC NC E7 18t NC NC ts 17B NC . V1+ 9 16 NC GND 10 15GND sc 11 14 NC sc t12 13 IN 因1引出3.2.3 电路框图电路框图见图20 IN 1 b 1 . OUT 10 15 I 23 图2电路框图一3一SJ 50597/13-94 3.3 电特性除非另有规定，电特性应符合表1规定，并在整个工作温度范围内适用。
6、表1电特性条件规范特性符号非另有规定单位A组分组- 55C T A 125C 最最大于IZi入/输出电压土10.25V 1, 2, 3 出电0 土40mA 增益A 增益误差EG 见图3及各特性的试方:!:0.1% 增益线性误差EGL 法士0.01% 增益系数土5X 10-6 /C 1,2,3 A 失调电压V10 士5mV 1 失度系数V10 1, 2, 3 采集时间10V、土1mV，见图4200 tAC ns 10V、士10mV，见图4170 建立时间t . 10V、:!:1mA.见图4100 ns 4 电压跌落率Svo 25C .见图45 V/s 孔径抖动时间tAJ 见图5100 ps 小信
7、号带宽BW 见图616 MHz 注:电源电压为土15V和+5V。3.4 电试验要求3.4. 1 电试验的有关分组电试验的有关分组按表2的规定，各分组的电测试应按本规范表1和3.4.2的规定。表2电试验要求GJB 548试验要求分组(按方法5008，A组表)中间电测试A1(仅V，、VO)最终电测试A1.A4 A组检验要求Al, A2. A3. A4 C组终点电测试(方法5008)Al.A4 3.4.2 电参数的测试3.4.2.1 增益误差EG测试线路和测试条件见图3，按下 EG = | Vo - vll VFSO 、，4EA ，、 式中:V。一一实际输出电压，Vj V1一一标称输入电压(等于基准
8、电压)，Vj 4一SJ 50597/13 94 VFSO一一满量程电压，VO。urm机33冯，性址川口川15一10V-10V直流基准电压源K 六位半以上数字电压表HSH4860 100kHz -10MH. 5V控制信号5V 。RL 2000 图3增益误差等参数测试线路注:开关K通常开路，测10时闭合。3.4.2.2 增益线性误差EGL测试线路和测试条件见图3，按 E,., = CL-I Ll Voilmax . . (2) VFSO 式中:I Ll V oi I max一一实际电压转移特性曲线与最佳拟合直线之间的最大偏差，V。在规定的满量程电压范围内，逐步调节输入电压町，并测出相应于每一町的输
9、出电压Vo 0 V1 -V。曲线即为实际电压转移特性曲线。3.4.2.3 增益温度系数A试线路和测试条件见图3，按下 .(3) 式中:t.A温度变化时的增益变 , Ac一一2St下的增益值;t.T一一温度变化量，t。3.4.2.4 输入失调电压V10试线路和测试条件见图3。在采样状态下，电压即为输入失调电压。3.4.2.5 输入失调电压温度系数的10测试线路和测试条件见图3。按下入端加一补偿电压，使输出为零，该补 VIO = I t. V 10 I 巳斗立(4) VOFSR t. T 式中:AVIO温度变化时的输入失调电压变化值，V; VOFSR一一满量程输出入电压，20V;t.T一一温度变化
10、量，t。S一SJ 50597/13 94 3.4.2.6 采集时间tAC测试条件和测试线路见图4和表1。改变控制脉冲信号tp的宽度，定的误差内，此时tp减去控制信号的上升沿时间，下降沿时间即为测试系统的mV级误差。10V I 0-100MHz 0- 飞,. I 10V交流信号100kHz -lOMHz 5V 电15士3%V一15士3%V5土5%VHSH4860 图4采集时间，建立时间和电压迭落率注:如果示波器可窗口观察，可不加相加器，输出直接加示3.4.2.7 建立时间tset 路出刚刚能进入规时间。测试时须估计100MHz以上示波皿测试线路和测试条件见图4和表1。在输入信号上升沿幅度的50%
11、处到该信号电压误差定到规定的误差带，测得tset。测试时须估计测试系统的mV级误差。3.4.2.8 电压跌落率SYD.测试线路和测试条件见图4。输入信号为10V基准电压，控制信号为lms的方波信号，按下式计丹:V SYD =丁?(5)式中:V-一示波器上读出的电压跌落值，VEt一一时间间隔，5。3.4.2.9 孔径抖动时间tAJ试线路和测试条件见图5。从示波器上可直接读出孔径抖动时间凶，但应减去输入信号和控制信号的抖动时间。6一 10V 。5v-0 。-100MHzlOV交流倍罔步100kHz -lOMHz W控制信号图5SJ 50597/13 94 15土3%V-15士3%V5士5%VHSH
12、4860 孔径抖动时间相加试线路500MHz以上示波辘3.4.2.10 小信号带宽BW的3.5 4 4. 1 4.2 测试线路和测试条件见图60率即为小倍10V 。5V e 。-100MHzIOV交流信号源同步100kHz - 1 (lMHz W控制倩号出电压度降到输入信号电源15士3Y，V., 15士3Y，V5士sY，VHSH860 图6小信号带宽测试线路标志标志应符合GJB597 3.6条的规定。抽样和检验度的O.707( -3dB)时所对应OOMHz以上示法锦v t =tAJ i 除本规范另有规定外，抽样和检验程序应符合GJB597和GJB548方法5008的规定。在一致性检验之前，全部
13、电路应按GJB548方法5008的规定进行，并增加以下一7 一SJ 50597/13 94 内容:a. 老化试验按GJB548方法1015和下述规定进行:h f2 f3 b. 4.3 (1)试验条件:ft为0-10V100kHz正弦波信号./2、h为5V或OV电压。(2) T A = 125t:。(3)老化试验线路见图7。5V 15V 91 1.24-V2+ VJ+ l:q IN OUT l! GND 115 2 E SC 1,23 12 sc E V ,_ 图7老化及寿命试验线路中间电测试和最终电测试应符合本规范表2要求。攻性检验 E d f 一致性检验应按GJB597和本规范的规定进行，所
14、完成的检验应是GJB548方法5008和本规范规定的A、BC和D组检验(见4.3.1-4.3.5)。4.3.1 A组检验A组检验应按GJB548和下述规定进行:a. 试验应符合本规范表2的规定。b. 省略GJB548方法5008表X的5、6、78、9、10、11分组。4.3.2 B组检验B组检验应符合GJB548方法5008的规定。不要求终点电测试的分组可用同一批中电性能不合格的电路作为样本。4.3.3 C组检验C组检验应按GJB548方法5008和下述规定进行:a. 终点电测试应符合本规范表2的规定。b. 稳态寿命试验条件应符合GJB548方法1005的规定:(1)寿命试验条件和线路图见本规
15、范4.2a;一8一臼50597/1394 (2) T A = 125C ; (3)试验持续时间:1000h。4.3.4 D组D组检验应符合GJB548方法5008的规定。4.3.5 E组检验E组检验仅适用于有辐射加固保证要求的电路。当适用时应符合GJB597的规定。5 5. 1 包装要求包装要求应符合GJB597中5.1条规定。6说明6. 1 预定用途符合本规范要求的棍合微电路供新设备设计使用，并作为供现有设备的后6.2 订货文件内容合同和订货单应规定下列内容:a. 总规范、详细规范的标准号和日期:b. 完整的电路编号(见本规范1.2条); c. 电路涂覆;d. 电路保证等级;e. f. 特殊要求。6.3 可替换性本规范规定的混合微电路可代替功能相同的普通工业用电路，但普通工业用电路不能代本规范规定的军用电路。9一SJ 50597/ 13 94 附录A引出端功能符号及含义(补充件)Al 引出及含义引出端功能符号及含义按表A1规定。表A1符号Vt+ VZ+ Vt-IN sc OUT NC GND 附加说明:本标准由中国电子技术标准化研究所归口。本标准由电子部第四十三研究所起千。本标准主要起草人:雷剑冯佑民丁宝计划项目代号:Bll014o一10一含正电正电源负电源输入采样/保持控出空端地。义
