1、中华人民共和国国家标准钢焊缝手工超声波探伤方法和探伤结果分级1 主题内容与适用范回批准部门国家技术监督局批准日期，1989-05-08实施日期，1990-01-01GB/T 11345一1989本标F自规定了检验焊缝及热影响区缺陷，确定缺陷位置、尺寸和缺陷评定的一般方法及探伤结果的分级方法。本标准适用于母材厚度不小于8mm的铁素体类钢全焊透熔化焊对接焊缝脉冲反射法手工超声波检验。本标准不适用于铸钢及奥氏体不锈钢焊缝g外径小于159mm的铜管对接焊缝g内径小于等于200mm的管座角焊缝及外径小于250mm和内外径之比小于80%的纵向焊缝。2 引用标准ZH Y 344 超声探伤用探头型号命名方法Z
2、B Y 231 起声探伤用探头性能测试方法ZH Y 232 超声探伤用1号标准试块技术条件ZB J (14 001 A型脉冲反射式超声探伤系统工作性能测试方法3 术语3. 1 简化水平距离t从探头前沿到缺陷在探伤面t测量的水平距离。3. 2 缺陷指示长度.l焊缝超声检验中，按规定的测量方法以探头移动距离测得的缺陷长度。3.3 探头接触面宽度W环缝检验时为探头宽度，纵缝检验为探头长度，见图1，3.4 纵向缺陷大致1:平行于焊缝走向的缺陷。3. 5 横向缺陷大致仁垂直于焊缝走向的缺陷。3.6 几何临界角卢筒形E件检验，折射声束轴线与内壁相切时的折射角。3. 7 平行扫查在斜角探伤中，将探头登于焊缝
3、及热影响区表面，使声束指向焊缝方tiJ，并沿焊缝方向移动的扫查方法。990 图1探头接触面宽度GB/T 11345-1989 3.8 斜平行扫查在斜角探伤中，使探头与焊缝中心线成一角度，平行于焊缝方向移动的扫查方法。3.9 探伤截面串列扫查探伤时，作为探伤对象的截面，一般以焊缝坡口面为探伤截面，见图2。3. 10 串列基准线串列扫查时，作为一发一收两探头等间隔移动基准的线。一般设在离探伤截面距离为O.5跨距的位置，见图2，3. 11 参考线探伤截丽的位置焊后已被盖住，所以施焊前应预先在探伤面上，离焊缝坡口一定距离画出一标记线，该线即为参考线，将作为确定串列基准线的依据，见图3，3. 12 横方
4、形串列扫查将发、收一组探头，使其人射点对串列基准线经常保持等距离平行于焊缝移动的扫查方法，见图4，3. 13 纵方形串列扫查4 4. 1 将发、收一组探头使其入射点对串列基准线经常保持等距离，垂直于焊缝移动的扫查方法，见图4，串到基准结烙合面k坐鱼植口面探伤截面图2探伤截面及串列基准线图3参考线感列基准线椭方ffi;扫查辄方形扫查图4横方形扫查及纵方形扫查检验人员从事焊缝探伤的检验人员必须掌握超声波探伤的基础技术，具有足够的焊缝超声波探伤经验，并991 GB/T门345-1989掌握一定的材料、焊接基础知识。4.2 焊缝超声检验人员应按有关规程或技术条件的规定经严格的培训和考核，并持有相应考核
5、组织颁发的等级资格证书，从事相对应考核项目的检验工作。注一般焊接检验专业考核项目分为板对接焊缝g管件对接焊缝s管座角焊缝s节点焊缝等四种。4. 3 届声检验人员的视力应每年检查一次，校正视力不得低于1.0。5 探伤仪、探头及系统性能5. 1 探伤仪使用.1型显示脉冲反射式探伤仪，其工作频率范围至少为15MHz.探伤仪应配备衰减器或增益控制器，其精度为任意相邻12dB误差在土1dB内。步进级每档不大于2dB.总调节量应大于60dB. 水平线性误差不大于1%，垂直线性误差不大于5%。5.2 探头5. 2. 1 探头应按ZBY 344标准的规定作出标志。5.2.2 晶片的有效面识不应超过500mm2
6、，且任一边长不应大于25mmo 5.2.3 声束轴线水平偏离角应不大于20。5.2.4 探头主声束垂直方向的偏离，不应有明显的双峰，其测试方法见ZBY 2310 5.2.5 斜探头的公称折射角卢为45。、60。、70。或K值为1.0、1.5、2.0、2.5.折射角的实测值与公称值的偏差!恒不大于ZO2550 单面双侧门和2或3和一次反射法70。或60(K2.5.K2. Q.KI. 5) 的或双面单侧门和3或45或60，45。和600，450和70井二501002和4)用(Kl或Kl.5, Kl和Kl.5. 直射法Kl和K2.0并用双面双侧45和60。并用(Kl和Kl.5或100 K2并用)8.
7、 1. 2 检验区域的宽度应是焊缝本身再加上焊缝两侧各相当于母材厚度30%的一段区域，这个区域最小10mm，最大20mm见图6.位置1位置2幢幢面检查E图6检验区域8. 1. 3 探头移动区应清除焊接飞溅、铁屑、油垢及其他外部杂质。探伤表面应平整光滑，便于探头的自由扫查，其表面粗糙度不应超过6.3m，必要时应进行打磨。a)采用一次反射法或串列式扫查探伤时，探头移动区应大于1.25P。P=28.tg (2) 或P=28.K ( 3 ) 式中zP跨距(mm); 占母材厚度(mm)。994 GB/T 11345-1989 b)采用直射法探伤时，探头移动区应大于0.75P 0 8. 1. 4 去除余高
8、的焊缝，应将余高打磨到与邻近母材平齐。保留余高的焊缝，如焊缝表面有咬边，较大的隆起和凹陷等也应进行适当的修磨，并作圆滑过渡以免影响检验结果的评定。8. 1. 5 焊缝检验前，应划好检验区段，标记出检验区段编号。8.2 检验频率检验频率f一般在25MHz范围内选择，推荐选用22.5 MHz公称频率检验。特殊情况下，可选用低于2MHz或高于2.5MHz的检验频率，但必须保证系统灵敏度的要求。8.3 探头角度8. 3. 1 斜探头的折射角卢或K值应依据材料厚度，焊缝坡口型式及预期探测的主要缺陷种类来选择。对不同板厚推荐的探头角度和探头数量见表2。8.3.2 串列式扫查，推荐选用公称折射角均为450的
9、两个探头，两个探头实际折射角相差不应超过20，探头前沿长度相差应小于2ffiffio为便于探测厚焊缝坡口边缘未熔合缺陷，亦可选用两个不同角度的探头.!l两个探头角度均应在350550范围内。8. 4 锢合剂8. 4. 1 应选用适当的液体或糊状物作为藕合剂，娟合剂应具布良好透声性和适宜流动性，不应对材料和人体有损伤作用，同时应便于检验后清理。8.4.2 典型的糯合剂为水、机油、甘油和浆糊，精合剂中可加入适量的润湿剂或活性剂以便改善精合性能。8.4.3 在试块上调节仪器和产品检验应采用相同的精合剂。8.5 母材的检查采用C级检验肘，斜探头扫查声束通过的母材区域应用直探头作检查，以便探测是否有影响
10、斜角探伤结果解释的分层性或其他种类缺陷存在。该项检查仅作记录，不属于对母材的验收检验。母材检查的规程要点如下:a)方法:接触式脉冲反射法，采用频率25MHz的直探头，晶片直径1O25mm; b)灵敏度将无缺陷处二次底波调节为荧光屏满幅的100%; c)记录凡缺陷信号幅度超过荧光屏满帽20%的部位，应在工件表面作出标记，并予以记录。9 仪器调整和技验9. 1 时基线扫描的调节荧lt屏时基线刻度可按比例调节为代表缺陷的水平距离l(简化水平距离1)，深度h或声程S见图70l 图7时基线扫描调节示意图9. 1. 1 探伤面为平面时，可在对比试块上进行时基线扫描调节，扫描比例依据工件厚度和选用的探头角度
11、来确定，最大检验范围应调至荧光屏时基线满刻度的2/3以上。995 GB/T 11345-1989 9. 1. 2 探伤面曲率半径R大于W/4时，可在平面对比试块上或与探伤面曲率相近的曲面对比试块L，进行时基线扫描调节。9. 1. 3 探伤面曲率半径R小于等于W/4时，探头模块应磨成与工件曲面相吻合，在6.2. 3条规定的对比试块上作时基线扫描调节。9.2 距离波幅曲线(OACl的绘制9. 2. 1 距离波幅曲线由选用的仪器、探头系统在对比试块上的实测数据绘制见图8，其绘制方法见附录0，由线由判废线RL，定量线SL和评定线EL组成，不同验收级别的各线灵敏度见表30表中的DAC是以内mm标准反射体
12、绘制的距离-波幅曲线，即DAC基准线。评定线以上至定量线以下为I区(弱信号评定区订定量线至判废线以下为E区(长度评定区h判废线及以上区域为皿区(判废区)。问l废钱(RL)E量结(SL)评直线(EL)(嘻)喜娼距离(mm)距离波幅曲线示意图图8距离波幅画线的灵敏匮王之F级别A B C 板厚(mmDAC 850 8300 8300 判废线DAC DAC-4 dB DAC-2 dB .一定量线DAC-l0 dB DAC-l0 dB DAC-8 dB 评定线DAC-16 dB DAC-16 dB DAC-14 dB 寝3探测横向缺陷时，应将各线灵敏度均提高6dB。9.2.3 探伤面曲率半径R小于等于W
13、/4时，距离-波幅曲线的绘制应在曲面对比试块上进行。9.2.4 受检工件的表面稿合损失及材质衰减应与试块相同，否则应进行传输损失修整见附录E，在1跨距声程内最大传输损失差在2dB以内可不进行修整。9.2.5 距离-波幅曲线可绘制在坐标纸上也可直接绘制在荧光屏刻度板上，但在整个检验范围内，曲线附处于荧光屏满幅度的20%以上，见图9.如果作不到，可采用分段绘制的方法见图1009.2.2 5 队以帖mmi 卜产)-、 4 3 2 1 。6 3 2 分段距离-波幅曲线图10距离波幅曲线板的范围图9996 GB/T 11345-1989 9.3 仪器调整的校验9. 3. 1 每次检验前应在对比试块上，对
14、时基线扫描比例和距离波幅曲线(灵敏度)进行调节或校验。校验点不少于两点。9.3.2 检验过程中每4h之内或检验工作结束后应对时基线扫描和灵敏度进行校验，校验可在对比试块或其他等效试块上进行。9.3.3 扫描调节校验时，如发现校验点反射波在扫描线上偏移超过原校验点刻度读数的10%或满刻度的5如，(两者取较小值)，则扫描比例应重新调整，前次校验后已经记录的缺陷，位置参数应重新测定，并予以更正。9.3.4 灵敏度校验时，如校验点的反射波幅比距离波幅曲线降低20%或2dB以上，则仪器灵敏度应重新调整，并对前次校验后检查的全部焊缝应重新检验。如校验点的反射波幅比距离波幅曲线增加20%我2dB以上，仪器灵
15、敏度应重新调整，而前次校验后，已经记录的缺陷，应对缺陷尺寸参数重新测定并予以评定。10 初始检验10. 1 般要求10. 1. 1 超声检验应在焊缝及探伤表面经外观检查合格并满足8.1.3条的要求后进行。10. 1. 2 检验前，探伤人员应了解受检工件的材质、结构、曲率、厚度、焊接方法、焊缝种类、坡口形式、焊缝余高及背面衬垫、沟槽等情况。10. 1. 3 探伤灵敏度应不低于评定线灵敏度。10. 1. 4 扫查速度不应大于150mm/s，相邻两次探头移动间隔保证至少有探头宽度10%的重叠。10. 1. 5 对波幅超过评定线的反射波，应根据探头位置、方向、反射波的位置及10.1. 2条了解的焊缝情
16、况，判断其是否为缺陷。判断为缺陷的部位应在焊缝表面作出标记。10.2 平板对接焊缝的检验10.2. 1 为探测纵向缺陷，斜探头垂直于焊缝中心线放置在探伤面上，作锯齿型扫查见图11，探头前后移动的范围应保证扫查到全部焊缝截面及热影响区。在保持探头垂直焊缝作前后移动的同时，还应作100-15。的左右转动。图11锯齿形扫查10.2.2 为探测焊缝及热影响区的横向缺陷应进行平行和斜平行扫查。a) B级检验时，可在焊缝两侧边缘使探头与焊缝中心线成100-20。作斜平行扫查(图12);b) C级检验时，可将探头放在焊缝及热影响区上作两个方向的平行扫查(图13)，焊缝母材厚度超过100mm时，应在焊缝的两面
17、作平行扫查或者采用两种角度探头(45。和60。或45。和700并用)作单面两个方向的平行扫查g亦可用两个45。探头作串列式平行扫查，997 GB/T 11345-1989 c)对电渣焊缝还应增加与焊缝中心线成45。的斜向扫查。CD 口1Q; 一图12斜平行扫查图13平行扫查10.2.3 为确定缺陷的位置、方向、形状、观察缺陷动态波形或区分缺陷讯号与伪讯号，可采用前后、左右、转角、环绕等四种探头基本扫查方式(图14)。前后日尸Jl 左右IA在制环绕图14四种基本扫查方法10.3 曲面工件对接焊缝的检验10. 3. 1 探伤面为曲面时，应按6.2.3和9.1. 3条的规定选用对比试块，并采用10.
18、2条的方法进行检验.C级检验时，受工件几何形状限制，横向缺陷探测无法实施时，应在检验记录中予以注明。10.3.2 环缝检验时，对比试块的曲率半径为探伤面曲率半径。.9 1. 5倍的对比试块均可采用。探测横向缺陷时按10.3.3条的方法进行。10. 3. 3 纵缝检验时，对比试块的曲率半径与探伤面曲率半径之差应小于10%。10.3.3.1 根据工件的曲率和材料厚度选择探头角度，并考虑几何临界角的限制，确保声束能扫查到整个焊缝厚度。条件允许时，声束在曲底丽的人射角度不应超过700010.3.3.2 探头接触面修磨后，应注意探头人射点和折射角或K值的变化，并用曲面试块作实际测定。10.3.3.3 当
19、R大于W/4采用平面对比试块调节仪器时，检验中应注意到荧光屏指示的缺陷深度或水平距离与缺陷实际的径向埋藏深度或水平距离弧长的差异，必要时应进行修正。10.4 其他结构焊缝的检验10. 4. 1 一般原则a)尽可能采用平板焊缝检验中已经行之有效的各种方法;b)在选择探伤面和探头时应考虑到检测各种类型缺陷的可能性，并使声柬尽可能垂直于该结构焊缝中的主要缺陷。10. 4. 2 T型接头10.4.2.1 腹板厚度不同时，选用的折射角见表4.斜探头在腹板一侧作直射法和一次反射法探伤见998 GB/T 11345一1989图15位置2。表4!l板厚度与选用的折细角腹板厚度Cmm)折射角n主2570 (K2
20、.5) 25-50 60 (K2. 5, K2.0) 50 45 (Kl , Kl. 5) 10.4.2.2 采用折射角45(K)探头在腹板一侧作直射法和一次反射法探测焊缝及腹板侧热影响区的裂纹(图16)。N嗣斟;* 位置3翼握位置1N嗣NU植置3时嗣割腹植腹缸图15T型接头图16T型接头10.4.2.3 为探侧腹板和翼板间未焊透或翼板侧焊缝下层状撕裂等缺陷，可采用直探头(图15位置)或斜探头(图16位置3)在翼板外侧探伤或采用折射角45CK1 1探头在翼板内侧作一次反射法探伤(图15位置3)。10.4.3 角接接头角接接头探伤面及折射角一般按图17和表4选择。10.4.4 管座角焊缝10.4
21、.4.1 根据焊缝结构形式，管座角焊缝的检验有如下五种探测方式，可选择其中一种或几种方式组合实施检革量。探测方式的选择应由合同双方商定，并重点考虑主要探测对象和几何条件的限制(图18、19)。a)在接管内壁表面采用直探头探伤(图18位置)，bl在容器内表面用直探头探伤(图19位置1)，c)在接管外表面采用斜探头探伤(图19位置Zl, 图17角接接头d)在接管内表面采用斜探头探伤(图18位置3.因19位置3), 999 GB/T 11345-1989 时在容器外表面采用斜探头探伤(图18位置2)31 置置缸位l l 位置24位置3位置1图18管座角焊缝图19管座角焊缝10.4.4.2 管座角焊缝
22、以直探头检验为主，对直探头扫查不到的区域或结构，缺陷方向性不适于采用直探头检验时，可采用斜探头检验，斜探头检验应符合10.4. 1条的规定。10. 4. 5 直探头检验的规程a)推荐采用频率2.5MHz直探头或双晶直探头，探头与工件接触面的尺寸W应小于2.jR，b)关敏度可在与工件同曲率的试块上调节，也可采用计算法或DGS曲线法，以工件1底面回波调节。其检验等级评定见表50寝5直探头撞撞等级评定mm 检验等级A B C 灵敏度评定灵敏度内12 12 定量灵敏度14 13 13 判废灵敏度16 如14 门规定检验11. 1 般要求11.1. 1 规定检验只对初始检验中被标记的部位进行检验。11.
23、1. 2 探伤灵敏度应调节到评定灵敏度。11.1. 3 对所有反射波幅超过定量线的缺陷，均应确定其位置，最大反射波幅所在区域和缺陷指示长度。11. 2 最大反射波幅的测定11. 2. 1 对判定为缺陷的部位，采取10.2.3条的探头扫查方式、增加探伤商、改变探头折射角度进行探测，测出最大反射波幅并与距离波幅曲线作比较，确定波幅所在区域。波幅测定的允许误差为2dB。11. 2. 2 最大反射波幅A与定量线SL的dB差值记为SL士dBo 1000 GB/T 11345一1989。1 1 11. 3 位置参数的测定11. 3. 1 缺陷位置以获得缺陷最大反射波的位置来表示，根据相应的探头位置和反射波
24、在荧光屏上的位置来确定如下全部或部分参数。a)纵坐标L代表缺陷沿焊缝方向的位置。以检验区段编号为标记基准点(即原点)建立坐标。坐标正方向距离L表示缺陷到原点之间的距离见图20，b)深度坐标h代表缺陷位置到探伤面的垂直距离(mm)。缺陷最大反射波位置的深度值表示。c)横坐标q代表缺陷位置离开焊缝中心线的垂直距离，可由缺陷最大反射波位置的水平距离或简化水平距离求得。11. 3. 2 缺陷的深度和水平距离(或简化水平距离)两数值中的一个可由缺陷最大反射波在荧光屏上的位置直接读出，另一数值可采用计算法、曲线法、作图法或缺陷定位尺求出。11. 4 尺寸参数的测定应根据缺陷最大反射波幅确定缺陷当量值或测定
25、缺陷指示长度.l。11. 4. 1 缺陷当量，用当量平底孔直径表示，主要用于直探头检验，可采用公式计算、DGS曲线、试块对比或当量计算尺确定缺陷当量尺寸。11. 4. 2 缺陷指示长度.l的测定推荐采用如下两种方法。a)当缺陷反射波只有一个高点时，用降低6dB相对灵敏度法测长见图21;b)在测长扫查过程中，如发现缺陷反射波峰值起伏变化，有多个高点，则以缺陷两端反射波极大值之间探头的移动长度确定为缺陷指示长度，即端点峰值法见图22，图20纵坐标L示意图记为1, 以23睡蝠A, J / 飞、l i飞、嘻 最陷指示i(o度探头事动i(o度(mm)端点峰值测长法图22缺陷指示i(o度相对灵敏度测长法国
26、21缺陷评定12 12. 1 超过评定线的信号应注意其是否具有裂纹等危害性缺陷特征，如有怀疑时应采取改变探头角度、增加探伤面、观察动态波型、结合结构工艺特征作判定，如对波型不能准确判断时，应辅以其他检验作综合判定。12.2 最大反射波幅位于E区的缺陷，其指示长度小于10mm时按5mm计。12.3 相邻两缺陷各向间距小于8mm时，两缺陷指示长度之和作为单个缺陷的指示长度。检验结果的等级分类13 1001 最大反射波幅位于H区的缺陷，根据缺陷指示长度按表6的规定予以评级。13. 1 G8/T 11345-1989 襄6缺陷的等级分类、气飞飞检验等级A B U 板厚(mm)评定等级 850 8300
27、 8300 最小10最小10E 。2 3 3 8, 最小123 最大30最大20一一一最小128 最小102 3 最小12-8, 2 最大30H 8, 3 最大504 最小162 最小12立s8, 田8, 最小204 ， 最大753 最大50N 超过皿级者注8为坡口加工侧母材板厚，母材板厚不同时，以较薄侧板厚为准。管座角焊缝S为焊缝截面中心线高度。13, 2 最大反射波幅不超过评定线的缺陷，均评为I级。13, 3 最k反射波幅超过评定线的缺陷，检验者判定为裂纹等危害性缺陷时，无论其波幅和尺寸如何，均评定为W级。13, 4 反射波幅位于I区的非裂纹性缺陷，均评为I级。13, 5 反射波幅位于皿区
28、的缺陷，元论其指示长度如何，均评定为凹级。13, 6 不合格的缺陷，应予返修，返修区域修补后，返修部位及补焊受影响的区域，应按原探伤条件进行复验，复探部位的缺陷亦应按12章评定。14 记录与报告14, 1 检验记录主要内容工件名称、编号、焊缝编号、坡口形式、焊缝种类、母材材质、规格、表面情况、探伤方法、检验规程、验收标准、所使用的仪器、探头、精合剂、试块、扫描比例、探伤灵敏度。所发现的超标缺陷及评定记录，检验人员及检验日期等。反射波幅位于H区，其指示长度小于表6的缺陷也应于记录。14.2 检验报告主要内容z工件名称、合同号、编号、探伤方法、探伤部位示意图、检验范围、探伤比例验收标准、缺陷情况、
29、返修情况、探伤结论、检验人员及审核人员签字等。14. 3 检验记录和报告应至少保存7年。14.4 检验记录和报告的推荐格式见附录Fo1002 GB/T 1 1345-1 989 附录A(补充件)标准试块的形状和尺寸(0-J 125 110 95 全部vg 。叫2 时m Kl:0 Kl. 5 140 200 注尺寸公差土o.1 ; 各边垂直度不大于0.05;C面为尺寸基准面.上部各折射角刻度尺寸值见表Al，下部见表A2，图AlCSK-ZB试块寝Al折射角值60 62。64 66 68。70 72。73 74。75 76。-一尺寸值87.0 91. 4 96.5 102.4 109. 3 117.
30、4 127. 3 133. 1 139.6 147.0 155. 3 表A2折射角值40 41 42。43 44 45 46。47。48。49。50 51 520 尺寸值93.7 95.9 98.0 100. 3 102.6 105.0 107.5 110. 1 112.7 115.5 118.4 12 1. 4 124. 6 折射角值53。54 55 56 57 58。59。60。61。62 63 64。65。66。尺寸值127. 9 13 1. 3 135. 0 138. 8 142. 8 14 7.0 15 1. 5 156. 2 16 1. 2 166.7 172.4 178.5 18
31、5. 1 192.2 -1003 GB/T 11345一1989附录B(补充件)对比试块的形状和尺寸B1 对比i式块的形状和尺寸见表B1。表81对比试块mm 代号适用板!事8对比试块300 白自11l-1 825 2-.3 口E 300 11l-2 8 100 ;工土且y俨自。同时OOH 。mw口四350 1ll-3 8150 。时时。叫+l+1 8-.3 口回1千a I尺寸公差士0.1mm; Gl各边垂直度不大于o.1; QJ表面粗糙度不大于6.3m;司)标准孔与加工面的平行度不大于O.05. 1004 C1 探伤设备附录C(补充件)串列扫查探伤方法C1. 1 超声波探伤仪的工作方式必须具备
32、一发一收工作状态。GB/T 11345一1989C1. 2 为保证一发一收探头相对于串列基准线经常保持等距离移动，应配备适宜的探头夹具，并适用于横方型及纵方型两种扫查方式。C1.3 推荐采用，频率22.5 MHz.公称折射角450探头，两探头人射点间最短间距应小于20mmo C2 仪器调整C2.1 时基线扫描的调节采用单探头按标准正文第9.1条的方法调节，最大探测范围应大于l跨距声程。C2.2 灵敏度调整在工件无缺陷部位，将发、收两探头对向放置，间距为1跨距，找到底面最大反射波见图C1及式口，调节增益使反射波幅为荧光屏满幅高度的40%.并以此为基准波高。灵敏度分别提高8dB、14拙和20dB代
33、表判废灵敏度、定量灵敏度和评定灵敏度。lP 图C1灵敏度调节C3 检验程序C3. 1 检验准备a)探伤面对接焊缝的单面双侧;b)串列基准线如发、收两探头实测折射角的平均值为卢或K值平均为Ko在离参考线(参考线至探伤截面的距离L-0.5凹的位置标记串列基准线，见图C2及式口。O.5P _ I 1 参考缉探伤截面图C2串列基准线的标记1005 GB/T 11345-1989 C3.2 初始探伤C3. 2. 1 探伤灵敏度不低于评定灵敏度。O. 5P f. tgJi 或O.5P f . k ( Cl ) ( C2 ) C3.2.2 tl佳方式采用横方形或纵方形串列扫查，扫查范罔以串列基准线为中心尽可
34、能扫查到整个探伤截面，每个探伤截面应扫查一遍。C3. 2. 3 标记超过评定线的反射波，被判定为缺陷时，应在焊缝的相应位置作出标记。C3.3 规定探伤C3. 3. 1 M象只对初始检验标记部位进行探伤。C3. 3. 2 探伤灵敏度为评定灵敏度。C3. 3. 3 缺陷位置不同深度的缺陷，其反射波均出现在相当于半跨距声程位置见图口。缺陷的水平距离和深度分别为:( C2 ) ( C4 ) / 探头l探头2岖 图C3串列扫查缺陷定位C3.3.4 缺陷反射波幅在最大反射波探头位置，以40%线为基准波高测出缺陷反射波的dB数作为缺陷的相对波幅，i己为钉_+dBo C3.3.5 缺陷指示长度的测定采用以评定
35、灵敏度为测长灵敏度的绝对灵敏度法测量缺陷指示长度。即进行左右扫查(横方形串列扫查).U波幅超过评定线的探头移动范围作为缺陷指示长度。C4 缺陷评定所有反射波幅度超过评定线的缺陷均应按标准正文第12章的规定予以评定，并按第13章的规定对探伤结果作等级分类。附录D(补充件)距离-波幅(DAC)曲线的制作D1 试块D1. 1 采用标准附录B对比试块或其他等效形式试块绘制DAC曲线。1006 GB/T 11345一1989D1.2 R小于等于W4时，应采用探伤面曲率与工件探伤面曲率相同或相近的对比试块。D2 绘制步骤DAC曲线可绘制在坐标纸上(称DAC曲线)，亦可直接绘制在荧光屏前透明的刻度板上(称D
36、AC曲线板儿D2.1 DAC曲线的绘制步骤如下:a)将测试范围调整到探伤使用的最大探测范围，并按深度、水平或声程法调整时基线扫描比例，b)根据工件厚度和曲率选择合适的对比试块，选取试块上孔深与探伤深度相同或接近的横孔为第一基准孔，将探头置于试块探伤面声柬指向该孔，调节探头位置找到横孔的最高反射波gc)调节增益或衰减器使该反射波幅为荧光屏上某一高度(例如满幅的40%)该波高即为基准波高，此时，探伤系统的有效灵敏度应比评定灵敏度高10dB; d)调节衰减器，依次探视i其他横孔，并找到最大反射波高，分别记录各反射波的相对波幅值(dB); 的以波幅(dBl为纵坐标，以探测距离(声程、深度或水平距离)为
37、横坐标，将c，d记录数值描绘在坐标纸r.; f)将标记各点连成圆滑曲线，并延长到整个探测范围，最近探视l点到探测距离0点间画水平线，该曲线即为内mm横孔DAC曲线的基准线$g)依据标准正文表3规定的各线灵敏度，在基准线下分别绘出判废线、定量线、评定线，并标记波幅的分区;h)为便于现场探伤校验灵敏度，在测试上述数据的同时，可对现场使用的便携试块上的某一参考反射体进行同样测量，记录其反射波位置和反射波幅(dB)并标记在DAC曲线图上。D2.2 DAC曲线板的绘制步骤如下2a)同D2.1 a; b)依据工件厚度和曲率选择合适的对比试块，在试块上所有孔深小于等于探测深度的孔中，选取能产生最大反射波幅的
38、横孔为第一基准孔;c)调节增益使该孔的反射波为荧光屏满幅高度的80%，将其峰值标记在荧光屏前辅助面板上。依次探测其他横孔，并找到最大反射波高，分别将峰值点标记在辅助面板上，如果做分段绘制，可调节衰减器分段绘制曲线$d)将各标记点连成圆滑曲线，并延伸到整个探测范围，该曲线即为幻mm横孔DAC曲线基准线gu将灵敏度提高(8-50mm提高jJ10 dB, 50-300 mm提高到10dB或8dB)，该线表示定量线。在定量灵敏度下，如分别将灵敏度提高或降低6dB，该线将分别代表评定或判废线。(A级检验DAC基准线即为判废线); f)在作上述测试的同时，可对现场使用的便携式试块土的某一参考反射体作同样测
39、量，并将其反射波位置和峰值标记在曲线板上，以便现场进行灵敏度校验。附录E(补充件声能传输损耗差的测定L件本身反射波幅度有影响的两个主要因素是材料的材质衰减和工件表面粗糙度及搞合情况造成的表而声能损失。超声波的材质衰减对普通碳钢或低合金钢板材，在频率低于3MHz声程不超过200mm时，可以1007 GB/T 11345-1989 忽略不记，或者一般来说衰减系数小于0.01dB/mm时，材质衰减可以不予考虑，标准试块和对比试块均应满足这一要求。受检I件探伤时，如声程较大，或材质衰减系数超过上述范围，在确定缺陷反射波幅时，应考虑作材料衰减修整，如被检工件表面比较粗糙还应考虑表面声能损失问题。E1 横
40、波超声材质衰减的测量E 1. 1 制作与受检工件材质相同或相近，厚度约40mm表面粗糙度与对比试块RB相同的平面型试块图ELE1.2 采用工件检验中使用的斜探头按深度1 1调节仪器时基扫描。E 1. 3 另选用一只与该探头尺寸、频率、角度相同的斜探头，两探头按图El所示方向置于平板试块上，两探头人射点间距离为lP.仪器词为一发一收状态，找到接收波最大反射波幅，记录其波幅值H，(dB)。A 11 21 军图El超声衰减的测定E 1. 4 将两探头拉开到距离为2P.找到最大反射波幅，记录其波幅值H认dB)。E1.5 实际探伤中超声波总是往返的，放双程的衰减系数均可用下式计算。H =二H1 - H2
41、 - 6 S2 - S, SI 40/C05卢十10S, 80/cos十几lpo z ln竖立tg j:I 式中:lo 晶片到入射点的距离，作为简化处理亦可取t。=lo(mmhA 声程川探头的DGS曲线上查得(dB盼)。由于5，近似为5，的2倍，在声程大于3倍近场长度N时.6约为6dB , ( El ) ( E2 ) ( E3 ) ( E4 ) E 1. 6 如果在图El试块和RB对比试块的侧面测得波幅Hz，相差不超过1dB.则可不考虑工件的材质衰减。E2 传输损失差的测定E2. 1 采用工件检验中使用的斜探头，按深度比例调节仪器时基扫捕。E2.2 选用另一只与该探头尺寸、频率、角度相同的斜探
42、头，两探头按图E2所示方向置于对比试块侧1008 GB/11345-1989 面仁，两探头人射点间距离为lP，仪器调为一发一收状态。(a)对比试块( b)工件板材图E2传输损失差的测定E2.3 在对比试块土，找到接收波最大反射波幅，记录其波辐值Hl(dBl。吧。E2.4 在受检工件板材上(不通过焊缝)同样测出接收波最大反射波幅，记录其波幅值H2(dBl E2.5 传输损失差6.V为:-HI-H2-41-4， (E51 式中E41 声程川2不考虑材质衰减时大平面的反射波幅dB差，可用公式叫去计算或从探头的DGS曲线上查得(dBl;趴在对比试块中的声程(mm);5, 在工件板材中的声程(mm);
43、6.一试块中声程5，时与工件中声程52时的超声材质衰减差值(dBl。如l试块图E1按E1测量材质衰减系数小于0.01dB/mm，此项可以不予考虑。1009 GB/T 11345-1989 附录F(参考件)焊缝超声波探伤报告和记录焊缝租声波探伤报告报告编号:报告日期.年月日产品名称，令号2工件名称，工件编号:材料2厚度:口1m焊缝种类，0平板。环缝。纵缝。T型。管座焊接方法:焊缝数量2探伤面z检验范围.% 探伤面状态，0修整。轧制。机加。枪验规程:验收标准:工艺卡编号，探伤时机，1)焊后。热处理后。水压试验后0 仪器型号=。甘油。浆糊。探伤方式。垂直O斜角。单探头。双探头。串列探头扫EiE王，)
44、深度。水平O声程比例g试块g探伤部位示意图2探伤位置，.焊缝编号检验长度显示情况一次返修二次返修缺陷编号缺陷编号ONI ORI OUI ONI ORI OUI ONI ORI OUI 说明zNI无应记录缺陷探伤结果灰返修情况ONI ORI OUI RI，有应记录缺陷ONI ORI OUI UI，有应返修缺陷ONI ORI OUI 检验焊缝总长mm，一次返修总长1m， 二次返修总长mm，同一部位经次返修后合格附，检验及重验探伤记录页卜备注:结论，。合格。不合格检验gU1 级审核UT 级1010 GB/T 11345-1989 焊缝植声波摞伤记录工件名称工件编号。一次复验。二次复验探测条件.探头反射体E波幅阳牛牛灵敏占阿深度(角卢K度) 频率形状深度I(满幅%l尺寸试块(dB) CdB) ( dB) (mm) 序号(MH,) (、#、B)(mm) Z 3 4 与序号际陷编JT深度1示长度波幅评定检验人备注(mm) (mm) (dB) 记最返修+ 1011
