1、中华人民共和国国家标准uoc: 531.715 光学扭簧测微计GB 6321 86 Spring optical measuring heads, opticators 本标准适用于分度值为0.1,0.2 0.5和Jm的光学扭簧捆g微计（以F简称测微计）。I 名词与术语1.t 光学扭簧测微计光学扭簧测微计是种将测量杆的直线位移通过机械杠杆、扭簧带和光学原理传动放大后转变为指标线在刻度盘上作角位移的精密长度i!VJ量工具。1. 2 不值误差测微计的示值与被测量的实际值之差。1.3 示值总误差以横坐标表示测微计的刻度，纵坐标表示测微计的示值误差，绘出测微计的误差曲线，在示值范围内误差曲线上最高点与
2、最低点在纵坐标上的差值。1 ,4 测力变化在测微计示值范围内，测得的最大测力与最小3ltl力之差。2 型式、基本参数与尺寸2. 1 测微计的型式及主要部分的名称见图，其示值范围和分度值见表l。阳明眈公主带指，王器回节匪扭注z图示仅作图解说明，不供表示详细结构之用。国家标准局1986-0424发布指标蝇撤回装置毒筒1987 01 01实施GB 6321 86 表11 口 分度值;j、值范围（不小f)0 l 0.2 0 5 1 l I 0 士20士50土1002.2 ffiW微计套简直径为28h7，配合部分长度应不小于90mm，洞l量料与测帽配合部分直径为6h6o2.3 祖微计应具有限制测量杆行程
3、的限程装置、公差带指示器，以及使刻线与指标线重合的微调装罩。2.4 按用户要求，可提供平测量面或其他型式的测帽。3 技术要求3.1 测微计外部表面的涂漆和镶层应牢固，不应有脱漆、镀层剥落和锈蚀等明显影响外观的缺陷c3.2 测量轩和指标线以及微调装置、公差带指示器的移动应平稳、灵活、无卡滞现象。公芳，带指示器的调整应简单、可靠。3.3 微调装置的口J调范围应不少于10个分度。8.4 测量轩处于自由状态时，指标线应位于负刻度的外侧。3.5 刻度盘上相邻两刻线之间的距离应不小于0.9mm，刻线宽度为0.10.2mm，同一刻度盘上的刻线宽度差应不大于0.05mmo3.6 指标线的指向与刻线方向应一致，
4、指标线应齐整清晰，边缘宽度为0.1 0.2mmo 8.7 测量面应采用滚珠轴承钢、硬质合金、人造刚玉等耐磨材料制造。钢制测量面的硬度应不低7一llV766o3.8 测量面的表面粗糙度按轮廓算术半均偏差R.值应不大i:0.04件m（按GB1031-83表面粗糙度参数及其数值）。套筒表面的表面粗糙度按轮廓算术平均偏差R.值应不大于0.63mo3. 在测微计的测量杆处于垂直向下位置时，测力及测力变化应符合表2的规定。表2分度值测JJ 测）J变化m N 0.1 生、05 o. 2 l 2 0.5 o 7 3. 10 在垂直于测量：轩轴线方向上以o.5N的力作用于测量杆时，视微计的示值变化应不大子。.5
5、分度，在作用力停止后，相对于原始位置的示值变化应不大于0.25分度。3. 11 拥l微计的示值误差、示值总误差和示值变动性应不超过表3的规定。c. c，。GB 6321 -86 表3m 习之值误差分度值示值忠、误差,f、值1!均性士30分度内土30分度外0.1 士005 土0.1 0 15 0.03 0. 2 士0.1土0.20 3 0.06 0. 5 士0.2 0.4 0.6 0 15 I 土0.4 士0.8 I. 2 。.30 注z茬3巾的数值是指在虚度20条件下，测微计的测量轩处于垂直向下位置时的数值，在其它位置时者3中的数值应增加50%。3. 12 视量时指标线摆动时间应不超过1So
6、3. 13 测微计应附有ga. 球面测帽b. 照明灯源c. 备用灯泡4 标志与包装4. I 在测微计t应标志z1个，1套（外接电源为交流电压220V) I 2只。a. 制造厂厂名或注册商标，b. 分度值，c. 产品序号。在表壳正面或刻度盘上应标有“”、“”符号。4.2 测微计包装盒上应标志z. 产品名称，b. 制造厂1名或注册商标， 分度值，d. 示值范围。4.3 测微计在包装前应经防锈处理，并妥善包装。4.4 测微计应附有产品合格证和使用说明书。产品合格证上应有sa. 本标准的标准号，b. 产品序号，c. 出厂日期。4.5 测微计应存放在环境温度1035c，相对湿度不跑过80%、无腐蚀性气体
7、的室内。GB 6321 8 6 附录A光学扭簧测微计的示值误差检验方法（补充件）测微tlW厂时；f;值误差的检验方法规定如F。把测微ti画I写在地装在比较仪座上（一般采用接触式干涉仪地，使装有一球形测帽的测量由与是挟接触，并调整使指标线对准“零”位，然后提升测量杆，放入规定尺寸的量块，在“零”优两侧按规定的受检点分别进行检定。分度值为O.Jm的测微计在士30分度内用二等量块配六对检查示倍，每1同隔10个分度为点进已检定。在大于30分度时用工等量块自己3对检查示值，并在士60、士100分度处进行检定。用自己对法检定时，对每一受检点的示值误差，需要经过尺寸相互布联系的3对戒6对为组的量块进行检定，
8、每一组的各对量块中第块用于对准“零”位，第二块为检定受检点的不值误差，后对的第一块量块总是前对的第二块量块。检定正值刻度时，量块尺寸按递增方式进行，检定负值刻度时，量块尺寸按递减方式进行。每受检点的示值误差按下式计算gcl = 主1!i r1 (/I. Ln D. L,) n - I m . . 式中zj: /I. r; 用各对量块检定时测得值减该受检点刻度值之差值的代数和（带正负号） m D.L. .受检点所用的最后块量块的偏差值，m;D. L，一一受检点最初用来对零的一块量块的偏差值，m;(n l ）一一每一受检点所用量块的国己对数（其中n为量块块数。分度值为o.zm的测微计，在30分度内的示值误差用二等量块配3j时进行检定，大j二士30分度用二等量块直接检定。分度值为0.5和lm的祖微计，用3等量块直接检定。附加说明s本标准由中华人民共和国机械工业部提出，由机械工业部成都工具研究所归口。本标准由宁波仪表厂负责起草。本标准主要起草人李盛江。:, 2
