1、COMMISSION LECTROTECHNIQUEINTERNATIONALE CISPR16-1-3INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION Deuxime ditionSecond edition2004-06COMIT INTERNATIONAL SPCIAL DES PERTURBATIONS RADIOLECTRIQUESINTERNATIONAL SPECIAL COMMITTEE ON RADIO INTERFERENCE Spcifications des mthodes et des appareils de mesure des
2、perturbations radiolectriques et de limmunit aux perturbations radiolectriques Partie 1-3: Appareils de mesure des perturbations radiolectriques et de limmunit aux perturbations radiolectriques Matriels auxiliaires Puissance perturbatrice Specification for radio disturbance and immunity measuring ap
3、paratus and methods Part 1-3: Radio disturbance and immunity measuring apparatus Ancillary equipment Disturbance power Numro de rfrence Reference number CISPR 16-1-3:2004 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networ
4、king permitted without license from IHS-,-,-Editions consolides Les versions consolides de certaines publications de la CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporan
5、t lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2 Informations supplmentaires sur les publications de la CEI Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs cette pub
6、lication, y compris sa validit, sont dispo-nibles dans le Catalogue des publications de la CEI (voir ci-dessous) en plus des nouvelles ditions, amendements et corrigenda. Des informations sur les sujets ltude et lavancement des travaux entrepris par le comit dtudes qui a labor cette publication, ain
7、si que la liste des publications parues, sont galement disponibles par lintermdiaire de: Site web de la CEI (www.iec.ch) Catalogue des publications de la CEI Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI (www.iec.ch/searchpub) vous permet de faire des recherches en utilisant de nombreux critres, c
8、omprenant des recherches textuelles, par comit dtudes ou date de publication. Des informations en ligne sont galement disponibles sur les nouvelles publications, les publications remplaces ou retires, ainsi que sur les corrigenda. IEC Just Published Ce rsum des dernires publications parues (www.iec.
9、ch/online_news/justpub) est aussi dispo-nible par courrier lectronique. Veuillez prendre contact avec le Service client (voir ci-dessous) pour plus dinformations. Service clients Si vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de renseignements supplmentaires, prenez contact
10、avec le Service clients: Email: custserviec.chTl: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 Consolidated editions The IEC is now publishing consolidated versions of its publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incorpo
11、rating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Further information on IEC publications The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to this publicati
12、on, including its validity, is available in the IEC Catalogue of publications (see below) in addition to new editions, amendments and corrigenda. Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as
13、 the list of publications issued, is also available from the following: IEC Web Site (www.iec.ch) Catalogue of IEC publications The on-line catalogue on the IEC web site (www.iec.ch/searchpub) enables you to search by a variety of criteria including text searches, technical committees and date of pu
14、blication. On-line information is also available on recently issued publications, withdrawn and replaced publications, as well as corrigenda. IEC Just Published This summary of recently issued publications (www.iec.ch/online_news/justpub) is also available by email. Please contact the Customer Servi
15、ce Centre (see below) for further information. Customer Service Centre If you have any questions regarding this publication or need further assistance, please contact the Customer Service Centre: Email: custserviec.chTel: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 . Copyright International Electrotechni
16、cal Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,-COMMISSION LECTROTECHNIQUEINTERNATIONALE CISPR16-1-3INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION Deuxime ditionSecond edition2004-06COMIT INTERNATIONAL SPCIAL DES PERT
17、URBATIONS RADIOLECTRIQUESINTERNATIONAL SPECIAL COMMITTEE ON RADIO INTERFERENCE Spcifications des mthodes et des appareils de mesure des perturbations radiolectriques et de limmunit aux perturbations radiolectriques Partie 1-3: Appareils de mesure des perturbations radiolectriques et de limmunit aux
18、perturbations radiolectriques Matriels auxiliaires Puissance perturbatrice Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and methods Part 1-3: Radio disturbance and immunity measuring apparatus Ancillary equipment Disturbance power IEC 2004 Droits de reproduction rservs Copyri
19、ght - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. No part of this publication may be reproduced or utilize
20、d in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher. International Electrotechnical Commission, 3, rue de Varemb, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, SwitzerlandTelephone: +41 22 919 02 11 Telefax: +41 22 919 03 0
21、0 E-mail: inmailiec.ch Web: www.iec.ch V CODE PRIX PRICE CODE Commission Electrotechnique InternationaleInternational Electrotechnical Commission Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogueCopyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license wit
22、h IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,- 2 CISPR 16-1-3 CEI:2004 SOMMAIRE AVANT-PROPOS4 1 Domaine dapplication 8 2 Rfrences normatives.8 3 Termes, dfinitions et abrviations .8 4 Instrumentation de mesure par pince absorbante .10 Annexe A (informative)
23、Construction de la pince absorbante (Paragraphe 4.2) 34 Annexe B (normative) Mthodes dtalonnage et de validation de la pince absorbante et du dispositif absorbant secondaire (Article 4)38 Annexe C (normative) Validation du site dessai la pince absorbante (Article 4) 58 Figure 1 Vue densemble de la m
24、thode de mesure par pince absorbante et procdures dtalonnage et de validation associes26 Figure 2 Aperu schmatique de la mthode dessai par pince absorbante 30 Figure 3 Aperu schmatique des mthodes dtalonnage de pince.32 Figure A.1 Ensemble pince absorbante et ses lments 34 Figure A.2 Exemple de conc
25、eption dune pince absorbante36 Figure B.1 Site dtalonnage original50 Figure B.2 Position du guide pour le centrage du conducteur en essai.50 Figure B.3 Vue latrale du gabarit dtalonnage.52 Figure B.4 Vue de dessus du gabarit .52 Figure B.5 Vue de la flasque verticale de gabarit .52 Figure B.6 Montag
26、e dessai pour la mthode dtalonnage avec module de rfrence54 Figure B.7 Spcification du module de rfrence .54 Figure B.8 Montage de mesure du facteur de dcouplage DF 56 Figure B.9 Montage de mesure du facteur de dcouplage DR 56 Figure C.1 Montages dessai pour la mesure de lattnuation de site pour la
27、validation du site de la pince en utilisant le module de rfrence 62 Tableau 1 Vue densemble des caractristiques des trois mthodes dtalonnage de pince et leur relation .28 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networ
28、king permitted without license from IHS-,-,-CISPR 16-1-3 IEC:2004 3 CONTENTS FOREWORD.5 1 Scope.9 2 Normative references .9 3 Terms, definitions and abbreviations 9 4 Absorbing clamp instrumentation11 Annex A (informative) Construction of the absorbing clamp (Subclause 4.2) 35 Annex B (normative) Ca
29、libration and validation methods for the absorbing clamp and the secondary absorbing device (Clause 4).39 Annex C (normative) Validation of the absorbing clamp test site (Clause 4) .59 Figure 1 Overview of the absorbing clamp measurement method and the associated calibration and validation procedure
30、s27 Figure 2 Schematic overview of the absorbing clamp test method31 Figure 3 Schematic overview of the clamp calibration methods 33 Figure A.1 The absorbing clamp assembly and its parts.35 Figure A.2 Example of the construction of an absorbing clamp.37 Figure B.1 The original calibration site .51 F
31、igure B.2 Position of guide for centering the lead under test 51 Figure B.3 Side view of the calibration jig .53 Figure B.4 Top view of the jig 53 Figure B.5 View of the jigs vertical flange 53 Figure B.6 Test set-up for the reference device calibration method 55 Figure B.7 Specification of the refe
32、rence device 55 Figure B.8 Measurement set-up of the decoupling factor DF 57 Figure B.9 Measurement set-up of the decoupling factor DR57 Figure C.1 Test set-ups for the site attenuation measurement for clamp site validation using the reference device 63 Table 1 Overview of the characteristics of the
33、 three-clamp calibration methods and their relation .29 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,- 4 CISPR 16-1-3 CEI:2004 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE COMI
34、T INTERNATIONAL SPCIAL DES PERTURBATIONS RADIOLECTRIQUES _ SPCIFICATIONS DES MTHODES ET DES APPAREILS DE MESURE DES PERTURBATIONS RADIOLECTRIQUES ET DE LIMMUNIT AUX PERTURBATIONS RADIOLECTRIQUES Partie 1-3: Appareils de mesure des perturbations radiolectriques et de limmunit aux perturbations radiol
35、ectriques Matriels auxiliaires Puissance perturbatrice AVANT-PROPOS 1) La Commission Electrotechnique Internationale (CEI) est une organisation mondiale de normalisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favoriser la coopr
36、ation internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI entre autres activits publie des Normes internationales, des Spcifications techniques, des Rapports techniques, des Spcifications accessibles au public (PAS) et des
37、 Guides (ci-aprs dnomms Publication(s) de la CEI). Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galem
38、ent aux travaux. La CEI collabore troitement avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations. 2) Les dcisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques reprsentent, dans la mesure du possible, un ac
39、cord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux de la CEI intresss sont reprsents dans chaque comit dtudes. 3) Les Publications de la CEI se prsentent sous la forme de recommandations internationales et sont agres comme telles par les Comits nationaux de la CEI. Tous les
40、efforts raisonnables sont entrepris afin que la CEI sassure de lexactitude du contenu technique de ses publications; la CEI ne peut pas tre tenue responsable de lventuelle mauvaise utilisation ou interprtation qui en est faite par un quelconque utilisateur final. 4) Dans le but dencourager luniformi
41、t internationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent, dans toute la mesure possible, appliquer de faon transparente les Publications de la CEI dans leurs publications nationales et rgionales. Toutes divergences entre toutes Publications de la CEI et toutes publications nationales ou rgionales
42、correspondantes doivent tre indiques en termes clairs dans ces dernires. 5) La CEI na prvu aucune procdure de marquage valant indication dapprobation et nengage pas sa responsabilit pour les quipements dclars conformes une de ses Publications. 6) Tous les utilisateurs doivent sassurer quils sont en
43、possession de la dernire dition de cette publication. 7) Aucune responsabilit ne doit tre impute la CEI, ses administrateurs, employs, auxiliaires ou mandataires, y compris ses experts particuliers et les membres de ses comits dtudes et des Comits nationaux de la CEI, pour tout prjudice caus en cas
44、de dommages corporels et matriels, ou de tout autre dommage de quelque nature que ce soit, directe ou indirecte, ou pour supporter les cots (y compris les frais de justice) et les dpenses dcoulant de la publication ou de lutilisation de cette Publication de la CEI ou de toute autre Publication de la
45、 CEI, ou au crdit qui lui est accord. 8) Lattention est attire sur les rfrences normatives cites dans cette publication. Lutilisation de publications rfrences est obligatoire pour une application correcte de la prsente publication. 9) Lattention est attire sur le fait que certains des lments de la p
46、rsente Publication de la CEI peuvent faire lobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait tre tenue pour responsable de ne pas avoir identifi de tels droits de proprit et de ne pas avoir signal leur existence. La Norme internationale CISPR 16-1-3 a t tablie par
47、le sous-comit A du CISPR: Mesures des perturbations radiolectriques et mthodes statistiques. Cette deuxime dition annule et remplace la premire dition parue en 2003. Elle constitue une rvision technique. Cette dition spcifie une mthode dtalonnage plus dtaille pour la pince absorbante. De plus, de nouvelles mthodes dtalonnage possibles sont introduites, qui sont plus praticables que celle qui tait spcifie auparavant. Des paramtres additionnels pour dcrire la pince absorbante sont dfinis, tels le facteur de dcouplage pour labsorbeur large bande
