1、November 2015DEUTSCHE NORM DIN-Normenausschuss Luft- und Raumfahrt (NL)Preisgruppe 31DIN Deutsches Institut fr Normung e. V. Jede Art der Vervielfltigung, auch auszugsweise, nur mit Genehmigung des DIN Deutsches Institut fr Normung e. V., Berlin, gestattet.ICS 49.140!%E#“2342900www.din.deDDIN EN 166
2、02-60Raumfahrtproduktsicherung Elektrische, elektronische und elektromechanische (EEE) Bauteile;Englische Fassung EN 16602-60:2015Space product assurance Electrical, electronic and electromechanical (EEE) components;English version EN 16602-60:2015Assurance produit des projets spatiaux Composants le
3、ctriques, lectroniques et lectromcaniques (EEE);Version anglaise EN 16602-60:2015Alleinverkauf der Normen durch Beuth Verlag GmbH, 10772 Berlin www.beuth.deGesamtumfang 104 SeitenDIN EN 16602-60:2015-11 2 Nationales Vorwort Dieses Dokument (EN 16602-60:2015) wurde vom Technischen Komitee CEN/CLC/TC
4、5 Raumfahrt“ erarbeitet, dessen Sekretariat vom DIN (Deutschland) gehalten wird. Das zustndige deutsche Normungsgremium ist der Arbeitsausschuss NA 131-06-02 AA Interoperabilitt von Informations-, Kommunikations- und Navigationssystemen“ im DIN-Normenausschuss Luft- und Raumfahrt (NL). Dieses Dokume
5、nt (EN 16602-60:2015) basiert auf ECSS-Q-ST-60C Rev.2. Dieses Dokument enthlt unter Bercksichtigung des DIN-Prsidialbeschlusses 1/2004 nur die englische Originalfassung von EN 16602-60:2015. Dieses Dokument wurde speziell zur Behandlung von Raumfahrtsystemen erarbeitet und hat daher Vorrang vor jegl
6、icher Europischer Norm, da es denselben Anwendungsbereich hat, jedoch ber einen greren Geltungsbereich (z. B. Luft- und Raumfahrt) verfgt. DIN EN 16602-60:2015-11 3 Nationaler Anhang NA (informativ) Begriffe und Abkrzungen 3 Begriffe und Abkrzungen 3.1 Begriffe aus anderen Normen Fr die Anwendung di
7、eser Norm gelten die Begriffe nach ECSS-S-ST-00-01. 3.2 Fr diese Norm spezifische Begriffe 3.2.1 Agent Organisation, die dazu unter Vertrag genommen wird, die Beschaffung der EEE-Komponenten durchzufhren, einschlielich damit in Verbindung stehender Entwicklungs- und Qualittssicherungsaufgaben 3.2.2
8、Charakterisierung Festlegung von Attributen einer EEE-Komponente, ausreichend detailliert, um eine Bewertung ihrer Eignung fr eine spezielle Verwendung oder Anwendung vornehmen zu knnen 3.2.3 handelsbliche Komponente Teil, das weder nach militrischen Normen noch nach Raumfahrtnormen konstruiert oder
9、 hergestellt wurde 3.2.4 gleichzeitige Entwicklung Entwicklungsttigkeit, die im Kontext einer gleichzeitigen Konstruktion des Produkts, des Produktions-prozesses und aller damit in Verbindung stehenden Produktnutzungen stattfindet, in einem integrierten, multidisziplinren Teams, wobei die externen O
10、rganisationsbeschrnkungen minimiert sind 3.2.5 zerstrende physikalische Analyse Serie von Inspektionen, Prfungen und Analysen, die an Mustern der Komponenten durchgefhrt wird, um zu prfen, ob zu ihrem Bau verwendete Materialien, Konstruktionen und Verarbeitungen sowie der Bau selbst die Anforderunge
11、n der relevanten Spezifikation erfllen und ob sie fr die vorgesehene Verwendung geeignet sind 3.2.6 Franchiseverteiler vom Hersteller offiziell und vertraglich autorisierter Verteiler 3.2.7 Teileentwickler professioneller Ingenieur mit nachweislicher Spezialisierung auf EEE-Komponenten 3.2.8 Teilebe
12、schaffer Lieferer, der Komponenten entweder selbst beschafft, oder ein Teilebeschaffungsagent, der Teile fr den Lieferer beschafft DIN EN 16602-60:2015-11 4 3.2.9 qualifizierte Teile Teile, die zu den QPLs oder QMLs der folgenden normativen Systeme gehren: ESCC, MIL, JAXA, CECC 3.2.10 Kontrolle Prfu
13、ngen, Inspektionen oder eine Kombination daraus, die auf 100 % der Teile angewendet werden, um ungeeignete Artikel oder solche, die wahrscheinlich frhe Fehler aufweisen werden, auszusondern 3.2.11 fr die Raumfahrt qualifizierte Teile Teile, die zu den QPLs oder QMLs der folgenden normativen Systeme
14、(ESCC, MIL) gehren, nach den in Tabelle 7-1 aufgelisteten Qualittsniveaus Anmerkung 1 zum Begriff: Fr die Raumfahrt qualifizierte Teile sind eine Untergruppe der qualifizierten Teile, die in 3.2.9 definiert sind. Anmerkung 2 zum Begriff: Teile, die zu JAXA-QPL gehren, gelten als fr die Raumfahrt qua
15、lifiziert, unter der Voraussetzung, dass die Gleichwertigkeit der generischen JAXA-Spezifikation mit den generischen ESCC- oder MIL-Spezifikationen besttigt wurde. 3.3 Abkrzungen Fr die Anwendung dieser Norm gelten die Abkrzungen in ECSS-S-ST-00-01 und die folgenden Abkrzungen: Abkrzung Bedeutung AS
16、IC anwendungsspezifischer integrierter Schaltkreis (en: application specific integrated circuit) CCD ladungsgekoppeltes Bauelement (en: charge coupled device) CCP Bauteilkontrollplan (en: component control plan) CDR kritische Konstruktionsprfung (en: critical design review) CECC CENELEC Ausschuss fr
17、 elektronische Komponenten (en: CENELEC electronic components committee) CENELEC Europisches Komitee fr elektrotechnische Normung (fr: Comit Europen de Normalisation Electrotechnique) CI Konformittsinspektion (en: conformance inspection) CN nderungsbenachrichtigung (en: change notice) CoC Konformitt
18、szertifikat (en: certificate of conformance) CPPA zentralisierter Teilebeschaffungsagent (en: centralized parts procurement agent) CR nderungsanforderung (en: change request) CSI Kundenquellinspektion (en: customer source inspection) CSV durch Komma geteilte Werte (en: comma-separated values) DCL de
19、klarierte Komponentenliste (en: declared components list) DIN EN 16602-60:2015-11 5 Abkrzung Bedeutung DPA destruktive physische Analyse (en: destructive physical analysis) DRD Dokumentenanforderungsdefinition (en: document requirement definition) EEE elektrisch, elektronisch, elektromechanisch (en:
20、 electrical, electronic, electromechanical) EFR ermittelte Misserfolgsrate (en: established failure rate) EPPL fr Europa bevorzugte Teileliste (en: European preferred parts list) ESCC Europische Raumfahrtkomponentenkoordination (en: European space components coordination) ESR quivalent des Serienwid
21、erstands (en: equivalent serial resistance) FPGA feldprogrammierbare Gate Arrays (en: field programmable gate arrays) GSE Bodenuntersttzungsausrstung (en: ground support equipment) GSFC Goddard Weltraumflugcenter (en: Goddard space flight center) JAXA japanische Organisation fr Luftfahrt- und Weltra
22、umforschung und -entwicklung (en: Japanese aerospace exploration agency) JD Rechtfertigungsdokument (en: justification document) LAT Losannahmeprfung (en: lot acceptance test) LED Leuchtdiode (en: light emitting diode) LVT Losvalidierungsprfung (en: lot validation testing) MMIC monolithisch integrie
23、rte Mikrowellenschaltung (en: microwave monolithic integrated circuit) NASA Nationale Luft- und Raumfahrtbehrde (en: national aeronautics and space administration) NCR Abweichungsbericht (en: nonconformance report) NPSL NASA Teileauswahlliste (en: NASA parts selection list) PA Produktsicherung (en:
24、product assurance) PAD Teilezulassungsdokument (en: parts approval document) PCB Teileschalttafel (en: parts control board) PCN Prozessnderungsbenachrichtigung (en: process change notice) PDR Vorentwurfsprfung (en: preliminary design review) PIND Partikel-Auswirkungs-Gerusch-Abfragung (en: particle
25、impact noise detection) QCI Qualittsentsprechungsinspektion (en: quality conformance inspection) DIN EN 16602-60:2015-11 6 Abkrzung Bedeutung QML Liste qualifizierter Hersteller (en: qualified manufacturers list) QPL Liste qualifizierter Teile (en: qualified parts list) RFD Abweichungsantrag (en: re
26、quest for deviation) RFW Antrag auf Verzichtserklrung (en: request for waiver RVT Strahlungsverifikationsprfung (en: radiation verification testing) SCSB Raumfahrtkomponenten-Lenkungsausschuss (en: Space Components Steering Board) SEB Einzelereignis-Ausbrennen (en: single event burn out) SEE Einzele
27、reignis-Effekt (en: single event effect) SEFI Einzelereignis-Funktionsunterbrechung (en: single event functional interrupt) SEGR Einzelereignis-Gate-Bruch (en: single event gate rupture) SEL Einzelereignis-Latch-Up (en: single event latch up) SET Einzelereignis-Transiente (en: single event transient
28、) SEU Einzelereignis-Upset (en: single event upset) TCI Technikkonformittsinspektion (en: technology conformance inspection) TRR Prfungsbereitschaftsbericht (en: test readiness review) WFR Weibull-Ausfallrate (en: Weibull failure rate) EUROPEAN STANDARD NORME EUROPENNE EUROPISCHE NORM EN 16602-60 Au
29、gust 2015 ICS 49.140 English version Space product assurance - Electrical, electronic and electromechanical (EEE) components Assurance produit des projets spatiaux - Composants lectriques, lectroniques et lectromcaniques (EEE) Raumfahrtproduktsicherung - Elektrische, elektronische und elektromechani
30、sche (EEE) Bauteile This European Standard was approved by CEN on 16 November 2014. CEN and CENELEC members are bound to comply with the CEN/CENELEC Internal Regulations which stipulate the conditions for giving this European Standard the status of a national standard without any alteration. Up-to-d
31、ate lists and bibliographical references concerning such national standards may be obtained on application to the CEN-CENELEC Management Centre or to any CEN and CENELEC member. This European Standard exists in three official versions (English, French, German). A version in any other language made b
32、y translation under the responsibility of a CEN and CENELEC member into its own language and notified to the CEN-CENELEC Management Centre has the same status as the official versions. CEN and CENELEC members are the national standards bodies and national electrotechnical committees of Austria, Belg
33、ium, Bulgaria, Croatia, Cyprus, Czech Republic, Denmark, Estonia, Finland, Former Yugoslav Republic of Macedonia, France, Germany, Greece, Hungary, Iceland, Ireland, Italy, Latvia, Lithuania, Luxembourg, Malta, Netherlands, Norway, Poland, Portugal, Romania, Slovakia, Slovenia, Spain, Sweden, Switze
34、rland, Turkey and United Kingdom. CEN-CENELEC Management Centre: Avenue Marnix 17, B-1000 Brussels 2015 CEN/CENELEC All rights of exploitation in any form and by any means reserved worldwide for CEN national Members and for CENELEC Members. Ref. No. EN 16602-60:2015 EEN 16602-60:2015 (E) 2 Table of
35、contents European foreword 7 Introduction 7 1 Scope . 9 2 Normative references . 10 3 Terms, definitions and abbreviated terms 12 3.1 Terms from other standards 12 3.2 Terms specific to the present standard . 12 3.3 Abbreviated terms. 13 3.4 Conventions 15 3.5 Nomenclature . 16 4 Requirements for Cl
36、ass 1 components 17 4.1 Component programme management 17 4.1.1 General . 17 4.1.2 Components control programme . 17 4.1.3 Parts control board 17 4.1.4 Declared components list 18 4.1.5 Electrical and mechanical GSE . 19 4.2 Component selection, evaluation and approval . 19 4.2.1 General . 19 4.2.2
37、Manufacturer and component selection . 20 4.2.3 Component evaluation 22 4.2.4 Parts approval . 25 4.3 Component procurement 25 4.3.1 General . 25 4.3.2 Procurement specification . 26 4.3.3 Screening requirements 26 4.3.4 Initial customer source inspection (precap) . 27 4.3.5 Lot acceptance 27 4.3.6
38、Final customer source inspection (buy-off) 28 DIN EN 16602-60:2015-11 EN 16602-60:2015 (E) 3 4.3.7 Incoming inspections . 29 4.3.8 Radiation verification testing . 29 4.3.9 Destructive physical analysis 30 4.3.10 Relifing 31 4.3.11 Manufacturers data documentation deliveries 31 4.4 Handling and stor
39、age 32 4.5 Component quality assurance 32 4.5.1 General . 32 4.5.2 Nonconformances or failures 32 4.5.3 Alerts. 33 4.5.4 Traceability . 33 4.5.5 Lot homogeneity for sampling test . 34 4.6 Specific components . 34 4.6.1 General . 34 4.6.2 ASICs 34 4.6.3 Hybrids 34 4.6.4 One time programmable devices
40、. 34 4.6.5 Microwave monolithic integrated circuits . 35 4.7 Documentation . 35 5 Requirements for Class 2 components 37 5.1 Component programme management 37 5.1.1 General . 37 5.1.2 Components control programme . 37 5.1.3 Parts Control Board . 37 5.1.4 Declared Components List 38 5.1.5 Electrical
41、and mechanical GSE . 39 5.2 Component selection, evaluation and approval . 39 5.2.1 General . 39 5.2.2 Manufacturer and component selection . 40 5.2.3 Component evaluation 42 5.2.4 Parts approval . 44 5.3 Component procurement 45 5.3.1 General . 45 5.3.2 Procurement specification . 45 5.3.3 Screenin
42、g requirements 46 5.3.4 Initial Customer Source Inspection (precap) 46 5.3.5 Lot acceptance 46 DIN EN 16602-60:2015-11 EN 16602-60:2015 (E) 4 5.3.6 Final customer source inspection (buy-off) 47 5.3.7 Incoming inspections . 47 5.3.8 Radiation verification testing . 48 5.3.9 Destructive physical analy
43、sis 49 5.3.10 Relifing 49 5.3.11 Manufacturers data documentation deliveries 50 5.4 Handling and storage 50 5.5 Component quality assurance 51 5.5.1 General . 51 5.5.2 Nonconformances or failures 51 5.5.3 Alerts. 51 5.5.4 Traceability . 51 5.5.5 Lot homogeneity for sampling test . 52 5.6 Specific co
44、mponents . 52 5.6.1 General . 52 5.6.2 ASICs 52 5.6.3 Hybrids 52 5.6.4 One time programmable devices . 52 5.6.5 Microwave monolithic integrated circuits . 53 5.7 Documentation . 53 6 Requirements for Class 3 components 55 6.1 Component programme management 55 6.1.1 General . 55 6.1.2 Components cont
45、rol programme . 55 6.1.3 Parts control board 55 6.1.4 Declared components list 55 6.1.5 Electrical and mechanical GSE . 56 6.2 Component selection, evaluation and approval . 56 6.2.1 General . 56 6.2.2 Manufacturer and component selection . 57 6.2.3 Component evaluation 59 6.2.4 Parts approval . 61
46、6.3 Component procurement 62 6.3.1 General . 62 6.3.2 Procurement specification . 62 6.3.3 Screening requirements 63 6.3.4 Initial customer source inspection (precap) . 63 DIN EN 16602-60:2015-11 EN 16602-60:2015 (E) 5 6.3.5 Lot acceptance 63 6.3.6 Final customer source inspection (buy-off) 64 6.3.7
47、 Incoming inspections . 64 6.3.8 Radiation verification testing . 65 6.3.9 Destructive physical analysis 65 6.3.10 Relifing 66 6.3.11 Manufacturers data documentation deliveries 66 6.4 Handling and storage 66 6.5 Component quality assurance 67 6.5.1 General . 67 6.5.2 Nonconformances or failures 67
48、6.5.3 Alerts. 68 6.5.4 Traceability . 68 6.5.5 Lot homogeneity for sampling test . 68 6.6 Specific components . 68 6.6.1 Overview . 68 6.6.2 ASICs 68 6.6.3 Hybrids 69 6.6.4 One time programmable devices . 69 6.6.5 Microwave monolithic integrated circuits . 70 6.7 Documentation . 70 7 Quality levels
49、72 Annex A (normative) Component control plan (CCP) - DRD . 86 Annex B (normative) Declared component list (DCL) - DRD . 88 Annex C (normative) Procurement specification - DRD 90 Annex D (normative) Part approval document (PAD) - DRD . 92 Annex E (informative) EEE documents delivery per review 95 Bibliography . 98 Tables Table 4-1: Document requirements list for Class 1 components . 36 Table 5-1: Document requirements list for Class 2 components . 54 Table 6-1:Document requirements list for C
