1、 DEUTSCHE NORM Februar 2006DIN EN 61300-3-37 ICS 33.180.20 Lichtwellenleiter Verbindungselemente und passive Bauteile Grundlegende Prf- und Messverfahren Teil 3-37: Untersuchungen und Messungen Endflchenwinkel schrg polierter optischer Fasern (IEC 61300-3-37:2005); Deutsche Fassung EN 61300-3-37:200
2、5 Fibre optic interconnecting devices and passive components Basic test and measurement procedures Part 3-37: Examinations and measurements Endface angle of angle-polished optical fibres (IEC 61300-3-37:2005); German version EN 61300-3-37:2005 Dispositifs dinterconnexion et composants passifs fibres
3、 optiques Mthodes fondamentales dessais et de mesures Partie 3-37: Examens et mesures Angle dextrmit des fibres optiques polissage dangle (CEI 61300-3-37:2005); Version allemande EN 61300-3-37:2005 Gesamtumfang 15 SeitenDKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und
4、 VDE DIN Deutsches Institut fr Normung e.V. .Jede Art der Vervielfltigung, auch auszugsweise, nur mit Genehmigung des DIN Deutsches Institut fr Normung e.V., Berlin gestattet. Alleinverkauf der Normen durch Beuth Verlag GmbH, 10772 Berlin Preisgruppe 11 www.din.de www.beuth.de !,eiH“9667037DIN EN 61
5、300-3-37:2006-02 2 Beginn der Gltigkeit Die von CENELEC am 2005-06-01 angenommene EN 61300-3-37 gilt als DIN-Norm ab 2006-02-01. Nationales Vorwort Vorausgegangener Norm-Entwurf: E DIN IEC 61300-3-37:2002-01. Fr die vorliegende Norm ist das nationale Arbeitsgremium UK 412.7 LWL-Verbindungstechnik un
6、d passive optische Komponenten der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE zustndig. Die enthaltene IEC-Publikation wurde vom SC 86B Fibre optic interconnecting devices and passive components erarbeitet. Das IEC-Komitee hat entschieden, dass der Inhalt di
7、eser Publikation bis zu dem auf der IEC-Website unter http:/webstore.iec.ch mit den Daten zu dieser Publikation angegebenen Datum (maintenance result date) unverndert bleiben soll. Zu diesem Zeitpunkt wird entsprechend der Entscheidung des Komitees die Publikation besttigt, zurckgezogen, durch eine
8、Folgeausgabe ersetzt oder gendert. Fr den Fall einer undatierten Verweisung im normativen Text (Verweisung auf eine Norm ohne Angabe des Ausgabedatums und ohne Hinweis auf eine Abschnittsnummer, eine Tabelle, ein Bild usw.) bezieht sich die Verweisung auf die jeweils neueste gltige Ausgabe der in Be
9、zug genommenen Norm. Fr den Fall einer datierten Verweisung im normativen Text bezieht sich die Verweisung immer auf die in Bezug genommene Ausgabe der Norm. Der Zusammenhang der zitierten Normen mit den entsprechenden Deutschen Normen ergibt sich, soweit ein Zusammenhang besteht, grundstzlich ber d
10、ie Nummer der entsprechenden IEC-Publikation. Beispiel: IEC 60068 ist als EN 60068 als Europische Norm durch CENELEC bernommen und als DIN EN 60068 ins Deutsche Normenwerk aufgenommen. EUROPISCHE NORM EUROPEAN STANDARD NORME EUROPENNE EN 61300-3-37 Juli 2005 ICS 33.180.20 Deutsche Fassung Lichtwelle
11、nleiter Verbindungselemente und passive Bauteile Grundlegende Prf- und Messverfahren Teil 3-37: Untersuchungen und Messungen Endflchenwinkel schrg polierter optischer Fasern (IEC 61300-3-37:2005) Fibre optic interconnecting devices and passive components Basic test and measurement procedures Part 3-
12、37: Examinations and measurements Endface angle of angle-polished optical fibres (IEC 61300-3-37:2005) Dispositifs dinterconnexion et composants passifs fibres optiques Mthodes fondamentales dessais et de mesures Partie 3-37: Examens et mesures Angle dextrmit des fibres optiques polissage dangle (CE
13、I 61300-3-37:2005) Diese Europische Norm wurde von CENELEC am 2005-06-01 angenommen. Die CENELEC-Mitglieder sind gehalten, die CEN/CENELEC-Geschftsordnung zu erfllen, in der die Bedingungen festgelegt sind, unter denen dieser Europischen Norm ohne jede nderung der Status einer nationalen Norm zu geb
14、en ist. Auf dem letzten Stand befindliche Listen dieser nationalen Normen mit ihren bibliographischen Angaben sind beim Zentralsekretariat oder bei jedem CENELEC-Mitglied auf Anfrage erhltlich. Diese Europische Norm besteht in drei offiziellen Fassungen (Deutsch, Englisch, Franzsisch). Eine Fassung
15、in einer anderen Sprache, die von einem CENELEC-Mitglied in eigener Verantwortung durch bersetzung in seine Landessprache gemacht und dem Zentralsekretariat mitgeteilt worden ist, hat den gleichen Status wie die offiziellen Fassungen. CENELEC-Mitglieder sind die nationalen elektrotechnischen Komitee
16、s von Belgien, Dnemark, Deutschland, Estland, Finnland, Frankreich, Griechenland, Irland, Island, Italien, Lettland, Litauen, Luxemburg, Malta, den Niederlanden, Norwegen, sterreich, Polen, Portugal, Schweden, der Schweiz, der Slowakei, Slowenien, Spanien, der Tschechischen Republik, Ungarn, dem Ver
17、einigten Knigreich und Zypern. CENELEC Europisches Komitee fr Elektrotechnische Normung European Committee for Electrotechnical Standardization Comit Europen de Normalisation Electrotechnique Zentralsekretariat: rue de Stassart 35, B-1050 Brssel 2005 CENELEC Alle Rechte der Verwertung, gleich in wel
18、cher Form und in welchem Verfahren, sind weltweit den Mitgliedern von CENELEC vorbehalten. Ref. Nr. EN 61300-3-37:2005 DEN 61300-3-37:2005 2 Vorwort Der Text des Schriftstcks 86B/2106/FDIS, zuknftige 1. Ausgabe von IEC 61300-3-37, ausgearbeitet von dem SC 86B Fibre optic interconnecting devices and
19、passive components des IEC/TC 86 Fibre optics, wurde der IEC-CENELEC Parallelen Abstimmung unterworfen und von CENELEC am 2005-06-01 als EN 61300-3-37 angenommen. Nachstehende Daten wurden festgelegt: sptestes Datum, zu dem die EN auf nationaler Ebene durch Verffentlichung einer identischen national
20、en Norm oder durch Anerkennung bernommen werden muss (dop): 2006-04-01 sptestes Datum, zu dem nationale Normen, die der EN entgegenstehen, zurckgezogen werden mssen (dow): 2008-06-01 Der Anhang ZA wurde von CENELEC hinzugefgt. Anerkennungsnotiz Der Text der Internationalen Norm IEC 61300-3-37:2005 w
21、urde von CENELEC ohne irgendeine Abnderung als Europische Norm angenommen. In der offiziellen Fassung ist unter Literaturhinweise zu der aufgelisteten Norm die nachstehende Anmerkung einzutragen: IEC 61300-1 ANMERKUNG Harmonisiert als EN 61300-1:2003 (nicht modifiziert) EN 61300-3-37:2005 3 Inhalt S
22、eiteVorwort .2 1 Anwendungsbereich.4 2 Normative Verweisungen .4 3 Allgemeine Beschreibung 4 3.1 Verfahren 1 Automatisches Interferometerverfahren5 3.2 Verfahren 2 Manuelles Interferometerverfahren.7 4 Prfaufbau8 4.1 Verfahren 1 Automatisches Interferometerverfahren8 4.1.1 Mikroskop8 4.1.2 Winkelver
23、stellbarer Mikropositionierer 8 4.1.3 Faserhalterung 8 4.1.4 Steckerhalterung .8 4.1.5 Bildanalysator9 4.2 Verfahren 2 Manuelles Interferometerverfahren.9 4.2.1 Mikroskop9 4.2.2 Winkelverstellbarer Mikropositionierer 9 4.2.3 Faserhalterung 9 4.2.4 Steckerhalterung .9 4.2.5 Monitor fr die visuelle An
24、zeige 9 5 Verfahren10 5.1 Verfahren 1 Automatisches Interferometerverfahren10 5.1.1 Konvex polierte optische Fasern.10 5.1.2 Flach polierte optische Fasern10 5.2 Verfahren 2 Manuelles Interferometerverfahren.11 5.2.1 Konvex polierte optische Fasern.11 5.2.2 Flach polierte optische Fasern11 6 Festzul
25、egende Einzelheiten.11 6.1 Verfahren 1 Automatisches Interferometerverfahren11 6.2 Verfahren 2 Manuelles Interferometerverfahren.11 Literaturhinweise 12 Anhang ZA (normativ) Normative Verweisungen auf internationale Publikationen mit ihren entsprechenden europischen Publikationen13 Bild 1 Definition
26、 des Endflchenwinkels einer optischen Faser fr konvex (a) und flach (b) polierte Endflchen .5 Bild 2 Beispiel fr den Prfaufbau zur Winkelmessung mit Hilfe eines automatischen Interferometers.6 Bild 3 Beispiel fr ein Interferometerbild einer konvex polierten optischen Faser 6 Bild 4 Beispiel fr ein I
27、nterferenzmuster einer flach polierten optischen Faser 7 Bild 5 Beispiel fr ein Interferenzmuster einer konvex polierten optischen Faser, die fr die Messung nach Verfahren 2 ausgerichtet ist.8 Bild 6 Beispiel fr den Prfaufbau zur Winkelmessung mit Verfahren 2.9 EN 61300-3-37:2005 4 1 Anwendungsberei
28、ch Dieser Teil der IEC 61300 beschreibt Verfahren zur Messung des Endflchenwinkels flach oder konvex polierter optischer Fasern. Die wichtigsten Merkmale umfassen den Endflchenwinkel, den Kennwinkel und den Krmmungsradius. 2 Normative Verweisungen Die folgenden zitierten Dokumente sind fr die Anwend
29、ung dieses Dokuments erforderlich. Bei datierten Verweisungen gilt nur die in Bezug genommene Ausgabe. Bei undatierten Verweisungen gilt die letzte Ausgabe des in Bezug genommenen Dokuments (einschlielich aller nderungen). IEC 61300-3-17, Fibre optic interconnecting devices and passive components Ba
30、sic test and measurement procedures Part 3-17: Examinations and measurements Endface angle of angle-polished ferrules IEC 61754-19, Fibre optic connector interfaces Basic test and measurement procedures Part 3-17: Examinations and measurements Endface angle of angle-polished ferrules ISO 2538, Geome
31、trical Product Specifications (GPS) Series of angles and slopes on wedges and prisms 3 Allgemeine Beschreibung Optische Fasern werden hufig aufgetrennt und poliert, um eine geeignete Endflchen-Topographie zu erreichen, mit der sie an andere Fasern, optische Komponenten, Sendemodule oder Empfangsmodu
32、le angrenzen. Solche Grenzflchen knnen im freien Raum oder mit physikalischem Kontakt vorkommen. Oft, besonders im Falle von stiftlosen Lichtwellenleiter-Steckverbindern, optimieren abgerundete oder schrg abgerundete Endflchen die physikalischen Kontakteigenschaften von Faser zu Faser. Der Endflchen
33、winkel () schrg polierter optischer Fasern mit flacher Endflche ist als der Winkel zwischen der Ebene senkrecht zur Faserachse und der Ebene der flachen Endflche festgelegt. Der Endflchen-winkel () schrg polierter optischer Fasern mit sphrischer Endflche ist der Winkel zwischen der Ebene senkrecht z
34、ur Faserachse und der Tangente an die polierte Oberflche im Faserkern, die in Richtung des Nennwinkels verluft (siehe Bild 1). EN 61300-3-37:2005 5 Bild 1 Definition des Endflchenwinkels einer optischen Faser fr konvex (a) und flach (b) polierte Endflchen Es werden zwei Verfahren beschrieben, um den
35、 Endflchenwinkel der optischen Faser zu messen: Verfahren 1 Automatisches Interferometerverfahren (Referenzverfahren) Verfahren 2 Manuelles Interferometerverfahren 3.1 Verfahren 1 Automatisches Interferometerverfahren Wegen seiner greren Genauigkeit wird das Verfahren 1 als Referenzmodell betrachtet
36、. Bei diesem Verfahren wird die Endflche der optischen Faser in einem winkelverstellbaren Mikropositionierer unter einem Interferenz-Mikroskop aufgenommen. ANMERKUNG Beim Nennwert des zu messenden Winkels kann eine feststehende Halterung verwendet werden, jedoch ist in diesem Fall das beschriebene A
37、usrichtungsverfahren nicht anwendbar. Es ist dann notwendig, eine abgeschrgte Referenzfaser zu verwenden, die mit anderen Verfahren gemessen wurde. EN 61300-3-37:2005 6 Bild 2 Beispiel fr den Prfaufbau zur Winkelmessung mit Hilfe eines automatischen Interferometers Phasenunterschiede zwischen der Re
38、ferenzwellenfront und der Wellenfront von der Oberflche der zu prfenden optischen Faser erzeugen ein Streifenmuster. Die optische Faser wird mit dem Mikropositionierer auf den Nennwert (0 ) des zu messenden Winkels geneigt. Bei konvex polierten optischen Fasern werden der Krmmungsradius (R) und der
39、Anteil des Scheitelversatzes in Richtung des Winkels (Ex) aus der Analyse des Interferometerbildes ermittelt (siehe Bild 3 und Gleichung (1). Der Wert fr den Winkel wird aus den Werten R, Exund dem Neigungsversatz der Faserhalterung bestimmt. Der andere Anteil des Scheitelversatzes (Ey) kann ermitte
40、lt werden, um jede beliebige Rotationsabweichung der Endflche zu quantifizieren, die blicherweise als Kennwinkel bezeichnet wird. Bild 3 Beispiel fr ein Interferometerbild einer konvex polierten optischen Faser EN 61300-3-37:2005 7 Bei flach polierten optischen Fasern wird der Winkel aus der Frequen
41、z der Interferenzstreifen in Winkel-richtung, aus der Anzahl der Wellen je Lngeneinheit (1 ) berechnet (siehe Bild 4). Es sollte hierbei beachtet werden, dass die Streifen sich oft nicht exakt entlang der Neigungsachse aneinander reihen, wodurch sie auf eine Komponente der Rotationsabweichung der En
42、dflche hinweisen, die gewhnlich als Kennwinkel bezeichnet wird. Bild 4 Beispiel fr ein Interferenzmuster einer flach polierten optischen Faser 3.2 Verfahren 2 Manuelles Interferometerverfahren Wie in Verfahren 1 wird die Endflche der optischen Faser in einem winkelverstellbaren Mikropositionierer un
43、ter einem Interferenz-Mikroskop aufgenommen. Jedoch wird bei diesem Verfahren die optische Faser mit dem Mikropositionierer so weit geneigt, bis die Oberflche der Endflche senkrecht zur optischen Achse des Interferometers steht: Das geschieht dann, wenn der tatschliche Wert des Winkels erreicht ist.
44、 Im Falle einer konvex polierten Faserendflche ist diese Position erreicht, wenn sowohl die Interferenzringe als auch die Faser symmetrisch zur Rotationsachse sind (siehe Bild 5). Falls auch der Kennwinkel existiert, kann die Symmetrie nur in der Neigungsachse erreicht werden. Im Falle einer flach p
45、olierten Faserendflche ist die Position erreicht, wenn die Interferenzstreifen verschwinden oder, falls auch der Kennwinkel existiert, eine minimale Anzahl aufweisen. Der Endflchenwinkel der optischen Faser kann an der Skala des winkelverstellbaren Mikropositionierers abgelesen werden. EN 61300-3-37
46、:2005 8 Bild 5 Beispiel fr ein Interferenzmuster einer konvex polierten optischen Faser, die fr die Messung nach Verfahren 2 ausgerichtet ist 4 Prfaufbau 4.1 Verfahren 1 Automatisches Interferometerverfahren Der Prfaufbau ist in Bild 2 gezeigt. Beim Verfahren 1 besteht der Prfaufbau aus folgenden Ge
47、rten: 4.1.1 Mikroskop Mikroskop, das mit einem Interferometer ausgestattet ist, verbunden mit einer Videokamera zur Bild-erfassung. 4.1.2 Winkelverstellbarer Mikropositionierer Winkelverstellbarer Mikropositionierer mit einer Auflsung besser als 0,05. 4.1.3 Faserhalterung Geeignete Befestigung, wie
48、z.B. eine V-Nut nach ISO 2538 und IEC 61300-3-17 oder eine Przisions-Fhrungshlse, um den Stift in einer festen Position so zu halten, dass der Kennwinkelzhler relativ zu der Referenzoberflche beibehalten wird, die durch die Steckgesichter-Norm IEC 61754-19 festgelegt ist. 4.1.4 Steckerhalterung Mech
49、anische Spannvorrichtung, die es ermglicht, den Stecker so zu halten, dass der Kennwinkelzhler relativ zu der Referenzoberflche beibehalten wird, die durch die Steckgesichter-Norm IEC 61754-19 festgelegt ist. EN 61300-3-37:2005 9 4.1.5 Bildanalysator Analysesystem, das es ermglicht, fr das Interferenzmuster den K
