1、ICS 31.120Liquid crystal and solid-state display devices Part 2: Liquid crystal displaymodules Sectional specification(IEC 61747-2 : 1998); German version EN 61747-2 : 1999Dispositifs daffichage cristaux liquides et semiconducteurs Partie 2:Modules daffichage cristaux liquides Spcification intermdia
2、ire(CEI 61747-2 : 1998); Version allemande EN 61747-2 : 1999Die Europische Norm EN 61747-2 : 1999 hat den Status einer Deutschen Norm.Beginn der GltigkeitDie EN 61747-2 wurde am 1999-01-01 angenommen.Nationales VorwortFr die vorliegende Norm ist das nationale Arbeitsgremium UK 631.6 Optoelektronisch
3、e Halbleiterbauelemente“ derDeutschen Elektrotechnischen Kommission im DIN und VDE (DKE) zustndig.Norm-Inhalt war verffentlicht als E DIN IEC 47C/124/C : 1996-09.Fr den Fall einer undatierten Verweisung im normativen Text (Verweisung auf eine Norm ohne Angabe des Ausgabe-datums und ohne Hinweis auf
4、eine Abschnittsnummer, eine Tabelle, ein Bild usw.) bezieht sich die Verweisung auf diejeweils neueste gltige Ausgabe der in Bezug genommenen Norm.Fr den Fall einer datierten Verweisung im normativen Text bezieht sich die Verweisung immer auf die in Bezug genom-mene Ausgabe der Norm.Der Zusammenhang
5、 der zitierten Normen mit den entsprechenden Deutschen Normen ist nachstehend wiedergegeben.Zum Zeitpunkt der Verffentlichung dieser Norm waren die angegebenen Ausgaben gltig.IEC hat 1997 die Benummerung der IEC-Publikationen gendert. Zu den bisher verwendeten Normnummern wird jeweils60000 addiert.
6、So ist zum Beispiel aus IEC 68 nun IEC 60068 geworden.Europische Norm Internationale Norm Deutsche NormKlassifikation imVDE-Vorschriftenwerk IEC 61747-1 : 1998 EN 61747-5 : 1998 IEC 61747-5 : 1998 DIN EN 61747-5 : 1999-02 Nationaler Anhang NA (informativ)LiteraturhinweiseDIN EN 61747-5Flssigkristall
7、- und Halbleiter-Anzeige-Bauelemente Teil 5: Umwelt-, Lebensdauer- und mechanische Prfverfah-ren (IEC 61747-5 : 1998); Deutsche Fassung EN 61747-5 : 1998DEUTSCHE NORMEN 61747-2 DIN Deutsches Institut fr Normung e.V. Jede Art der Vervielfltigung, auch auszugsweise,nur mit Genehmigung des DIN Deutsche
8、s Institut fr Normung e.V., Berlin, gestattet.Alleinverkauf der Normen durch Beuth Verlag GmbH, 10772 BerlinRef. Nr. DIN EN 61747-2 : 1999-07Preisgr. 09 Vertr.-Nr. 2509Deutsche Elektrotechnische Kommission im DIN und VDE (DKE)Juli 1999IEC 61747-2 ist im IEC-Qualittsbewertungssystem fr Bauelemente de
9、r Elektronik (IECQ) unter der NummerQC 720300registriert.Flssigkristall- und Halbleiter-Anzeige-BauelementeTeil 2: Flssigkristall-Anzeigemodule Rahmenspezifikation(IEC 61747-2 : 1998)Deutsche Fassung EN 61747-2 : 1999Fortsetzung 8 Seiten ENLeerseiteYXCVBNMDeutsche FassungICS 31.120Zentralsekretariat
10、: rue de Stassart 35, B-1050 BrsselEUROPISCHES KOMITEE FR ELEKTROTECHNISCHE NORMUNGEuropean Committee for Electrotechnical StandardizationComit Europen de Normalisation ElectrotechniqueEN 61747-2Flssigkristall- und Halbleiter-Anzeige-BauelementeTeil 2: Flssigkristall-Anzeigemodule (LCD-Module)Rahmen
11、spezifikation(IEC 61747-2 : 1998)Liquid crystal and solid-state display devices Part 2:Liquid crystal display modules Sectional specification(IEC 61747-2 : 1998)Dispositifs daffichage cristaux liquides et semicon-ducteurs Partie 2: Modules daffichage cristauxliquides Spcification intermdiaire(CEI 61
12、747-2 : 1998)Diese Europische Norm wurde von CENELEC am 1999-01-01 angenommen.Die CENELEC-Mitglieder sind gehalten, die CEN/CENELEC-Geschftsordnung zu erfllen,in der die Bedingungen festgelegt sind, unter denen dieser Europischen Norm ohne jedenderung der Status einer nationalen Norm zu geben ist.Au
13、f dem letzten Stand befindliche Listen dieser nationalen Normen mit ihren biblio-graphischen Angaben sind beim Zentralsekretariat oder bei jedem CENELEC-Mitglied aufAnfrage erhltlich.Diese Europische Norm besteht in drei offiziellen Fassungen (Deutsch, Englisch, Franz-sisch). Eine Fassung in einer a
14、nderen Sprache, die von einem CENELEC-Mitglied in eigenerVerantwortung durch bersetzung in seine Landessprache gemacht und dem Zentral-sekretariat mitgeteilt worden ist, hat den gleichen Status wie die offiziellen Fassungen.CENELEC-Mitglieder sind die nationalen elektrotechnischen Komitees von Belgi
15、en, Dne-mark, Deutschland, Finnland, Frankreich, Griechenland, Irland, Island, Italien, Luxemburg,Niederlande, Norwegen, sterreich, Portugal, Schweden, Schweiz, Spanien, der Tschechi-schen Republik und dem Vereinigten Knigreich. 1999 CENELEC Alle Rechte der Verwertung, gleich in welcher Form und inw
16、elchem Verfahren, sind weltweit den Mitgliedern von CENELEC vorbehalten. Ref. Nr. EN 61747-2 : 1999 DJanuar 1999Seite 2EN 61747-2 : 1999VorwortDer Text des Schriftstcks 47C/215/FDIS, zuknftige 1. Ausgabe von IEC 61747-2, ausgearbeitet von dem SC 47COptoelectronic, display and imaging devices“ des IE
17、C TC 47 Semiconductor devices“, wurde der IEC-CENELEC ParallelenAbstimmung unterworfen und von CENELEC am 1999-01-01 als EN 61747-2 angenommen.Nachstehende Daten wurden festgelegt: sptestes Datum, zu dem die EN auf nationaler Ebene durchVerffentlichung einer identischen nationalen Norm oder durchAne
18、rkennung bernommen werden mu (dop): 1999-10-01 sptestes Datum, zu dem nationale Normen, die der ENentgegenstehen, zurckgezogen werden mssen (dow): 2001-10-01Dieser Teil 2 mu in Verbindung mit IEC 61747-11)angewendet werden.Anhnge, die als normativ“ bezeichnet sind, gehren zum Norm-Inhalt.In dieser N
19、orm ist der Anhang ZA normativ.Der Anhang ZA wurde von CENELEC hinzugefgt.AnerkennungsnotizDer Text der Internationalen Norm IEC 61747-2 : 1998 wurde von CENELEC ohne irgendeine Abnderung als EuropischeNorm angenommen.SeiteInhalt1 AnwendungsbereichDiese Rahmenspezifikation gilt fr die folgenden Flss
20、ig-kristall-Anzeigemodule: Statische/Segmenttyp Flssigkristall-Anzeigemodule; Einfarbige passive Matrix-Flssigkristall-Anzeige-module; Farbige passive Matrix-Flssigkristall-Anzeigemodule; Einfarbige aktive Matrix-Flssigkristall-Anzeige-module; Farbige aktive Matrix-Flssigkristall-Anzeigemodule.Sie e
21、nthlt Einzelheiten zu den Qualittsbewertungs-verfahren, den Prfanforderungen, Sortierprfung-Abfol-gen, Stichprobenanforderungen, Prf- und Meverfahren,die fr die Bewertung von Flssigkristall-Anzeigemodulenerforderlich sind.ANMERKUNG 1: Anstelle des Bauartanerkennungsver-fahrens ist es zulssig, das Be
22、fhigungsanerken-nungsverfahren, das gegenwrtig in Vorbereitung ist,fr alle Erzeugnisse anzuwenden, die in einem definier-ten Proze hergestellt werden (siehe 11.7 der Verfah-rensregeln QC 001002).ANMERKUNG 2: Alle Anforderungen dieser Spezifikationbleiben gltig, auer sie werden durch die Anforderun-g
23、en des neuen Abschnittes Befhigungsaner-kennungsverfahren“ (in Vorbereitung) gendert.2 Normative VerweisungenDie folgenden Normen enthalten Festlegungen, die durchVerweisung in diesem Text Bestandteil dieses Teils derSeite1 Anwendungsbereich . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 22 Nor
24、mative Verweisungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 23 Definitionen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 24 Qualittsbewertungsverfahren . . . . . . . . . . . . . . . . . 34.1 Primre Fabrikationsstufe . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 34.2 Herstellungs
25、proze . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 34.3 Untervergabe . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 34.4 Verfahren der strukturellen hnlichkeit . . . . . . . . . . 34.5 Bauartanerkennungsverfahren . . . . . . . . . . . . . . . . . 44.6 Qualittskonformittskontrol
26、le . . . . . . . . . . . . . . . . . 44.7 Befhigungsanerkennungsverfahren . . . . . . . . . . . . 44.8 Sortierprfung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 44.9 Verzgerte Auslieferung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 45 Prf- und Meverfahren . . . . . . . . . . . . . .
27、 . . . . . . . . 4Anhang ZA (normativ) Normative Verweisungen aufInternationale Publikationen mit ihren ent-sprechenden Europischen Publikationen . 81)Wird als prEN 61747-1 abgestimmtIEC 61747 sind. Zum Zeitpunkt der Verffentlichung dieserNorm waren die angegebenen Ausgaben gltig. Alle Nor-men unter
28、liegen der berarbeitung, und Vertragspartner,deren Vereinbarungen auf diesem Teil der IEC 61747 basie-ren, werden gebeten, die Mglichkeit zu prfen, ob diejeweils neuesten Ausgaben der im folgenden genanntenNormen angewendet werden knnen. Die Mitglieder vonIEC und ISO fhren Verzeichnisse der gegenwrt
29、ig gltigenInternationalen Normen.IEC 61747-1Liquid crystal and solid-state display devices Part 1:Generic specification3 Definitionen3.1 FertigungslinieEin einfacher Satz von Prozeschritten, der eine oder meh-rere der folgenden Herstellungsphasen beinhaltet:a) Anschlu von externen elektronischen Sch
30、altungs-komponenten an die Zelle;b) Endbearbeitung sowie abschlieende elektrische undoptische Messungen;c) Sortierprfung (wenn zutreffend).ANMERKUNG: Qualittsbewertungsverfahren sind in die-ser Phase nicht inbegriffen.3.2 FertigungslosBauelemente des selben Typs, die blicherweise innerhalbeines Mona
31、ts in denselben Fertigungslinien hergestelltwurden und den gleichen festgelegten Proze durchlaufenhaben.Seite 3EN 61747-2 : 19993.3 nderungen im Herstellungsablauf3.3.1 HauptnderungenJede nderung im Herstellungsproze oder in der Techno-logie, welche die Qualitt oder Funktion eines Produkts,das einer
32、 zugelassenen Spezifikation unterliegt, beeinflus-sen kann, oder eine nderung, die es erforderlich macht,ein Produkt aus einer Gruppe der strukturellen hnlichkeitin eine andere Gruppe zu berfhren (siehe 4.4.1), wird alsHauptnderung betrachtet. Es liegt in der Verantwortungdes Hauptprfers zu entschei
33、den, ob eine nderung eineHauptnderung ist oder nicht.Jede Hauptnderung darf nur eingefhrt werden mit Mel-dung und Darstellung durch Prfnachweis der Qualitt ge-genber der Nationalen berwachungsstelle (NSI).Beispiele fr Hauptnderungen sinda) Ansteuerungsverbindung: von zweireihiger zu einreihi-ger Ano
34、rdnung;b) integrierte Hintergrundbeleuchtung: Position der Lichtquelle von horizontaler zu vertika-ler oder von oberer zu unterer Anordnung; nderung der Hintergrundbeleuchtungsart vonElektrolumineszenz- auf Kaltkathoden-Fluoreszenz-lichtquelle; nderung der Lichtfhrung von keilfrmig auf flach;c) Mate
35、rial des Deckrahmens: von Metall auf Kunststoff;d) nderung des Steckers und/oder nderungen in derAnschlubelegung: von Steckertyp A zu Steckertyp B.ANMERKUNG: Als Hauptnderung werden nicht betrach-tet: nderungen in der Ausstattung ohne nderung derTechnologie.4 QualittsbewertungsverfahrenDas Qualittsb
36、ewertungsverfahren ist wie folgt definiert.4.1 Primre FabrikationsstufeFr den Zweck dieser Rahmenspezifikation wird die prim-re Fabrikationsstufe durch die erste Fabrikationsstufe fest-gelegt, bei der externe elektronische Schaltkreise (ein-schlielich separater gedruckter Schaltungen (PWB) und/oder
37、Verbindungskabel) mit einer Flssigkristallanzeigeverbunden werden und diese somit in ein Flssigkristall-Anzeigemodul umwandeln.4.2 HerstellungsprozeDer Herstellungsproze von Flssigkristall-Anzeigemodu-len wird wie folgt klassifiziert:a) Anschlu elektronischer Schaltkreise (einschlielichseparater ged
38、ruckter Schaltungen (PWB) und/oder Ver-bindungskabel): Dieser Proze ist die Gesamtheit derHerstellungsprozeablufe, um die Zelle an die elektro-nischen Schaltkreise von der Grundstufe bis zum letz-ten Schritt anzuschlieen.b) Endbearbeitungsproze und optische sowie elektri-sche Endmessungen: Dieser Pr
39、oze ist der letzte Satzder Herstellungsprozeablufe; soweit erforderlichumfat er die Montage eines Deckrahmens, uererStecker/Anschlsse und integrierter Hintergrund-beleuchtung an die Zelle und die Kennzeichnung fr dieVervollstndigung als Flssigkristall-Anzeigemodul.c) Sortierprfung (wenn anwendbar):
40、Diese Phase darfTeil der Endbearbeitungsablufe sein.4.3 UntervergabeWenn der zugelassene Hersteller Verfahrensregeln nach11.1.2 der IEC QC 001002 bezglich Untervergabe heran-zieht, mu er sicherstellen, da der Untervergabeher-stellungsproze bedingungslos entweder Teil eines oderein vollstndiger Herst
41、ellungsproze der Zelle und/oderdes Moduls ist, einschlielich der damit in Verbindung ste-henden Sortierprfungsschritte. Nach der Montage vorzu-nehmende Sortierprfungsschritte drfen auch unabhn-gig untervergeben werden.Die Nationale berwachungsstelle (NSI) mu davon ber-zeugt sein, da der Hauptprfer,
42、der die Komponentennach dem IECQ-System zertifiziert, untersttzt worden ist mit der vollstndigen Qualitts-bewertungs- und Untersuchungsdokumentation einesjeden Ablaufs auerhalb des IECQ-Bereiches; die Do-kumentation sollte die Untersuchungsaufzeichnungenfr jedes Exemplar des Produkts, das der Prfung
43、unterzogen wurde, beinhalten; regelmig nachprft, ob die Qualittsbewertung undPrfung in bereinstimmung mit den vereinbarten An-forderungen angewendet wird.Die Verfahren ber den Transfer der Teile vom Ort desHerstellers zu dem Hersteller innerhalb des IECQ-Berei-ches, der die Komponenten zertifiziert,
44、 mssen demHauptprfer bereitgestellt und von diesem anerkannt wer-den. Die Nationale berwachungsstelle (NSI) mu infor-miert werden und mu Zugang zu den anwendbaren Doku-menten haben.Jede nderung in den Untersuchungsanforderungen undHerstellungsverfahren mu an den Hauptprfer berichtetwerden, der die M
45、odule zertifiziert. Die Hauptnderungenmssen durch den anerkannten Hauptprfer an die Natio-nale berwachungsstelle berichtet werden (siehe 3.3).Der anerkannte Hersteller mu die Anerkennungsprfungdurchfhren, die durch die Bauartspezifikation der zuzertifizierenden Komponenten vorgeschrieben ist. Er kan
46、ndie Anerkennungsprfung in einer Einrichtung durchfhren,die auerhalb des IECQ-Bereiches liegt, vorausgesetzt,da diese Einrichtung von der Nationalen berwachungs-stelle berwacht wird. Anerkennungsprfungen knnen ananerkannte Prflabors im IECQ-Bereich untervergebenwerden.4.4 Verfahren der strukturellen
47、 hnlichkeitVerfahren der strukturellen hnlichkeit sind vorgesehen,um die Anzahl der fr die Qualittsbesttigung zu prfen-den Prflose zu verringern. Daher drfen im Falle derWiederbesttigung bei der Erweiterung der zugelassenenTypen oder bei der nderung der Bauart, die Prfdaten, diebei Erzeugnissen der
48、gleichen Gruppe ermittelt wurden,verwendet werden.4.4.1 Strukturell hnliche ModuleStrukturell hnliche Module werden durch einen Herstellerim wesentlichen in der gleichen Bauart, aus dem gleichenWerkstoff sowie mit den gleichen Herstellungsprozessenund -verfahren produziert. Das entscheidende Kriterium frdie Gruppenbildung von Modultypen als strukturell hnlichist, da die Unterschiede zwischen den verschiedenenTypen keinen Einflu auf die Ergebnisse der Prfung haben,fr die die Gruppe gebildet wurde.4.4.2 Prfungsabhngige Kriterien fr die strukturellehnlichkeitIn Tabelle 1 sind die pr
