1、September 2011DEUTSCHE NORM DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDEPreisgruppe 16DIN Deutsches Institut fr Normung e. V. Jede Art der Vervielfltigung, auch auszugsweise, nur mit Genehmigung des DIN Deutsches Institut fr Normung e. V., Berlin, gestattet.IC
2、S 33.180.99!$sL“1804193www.din.deDDIN EN 62496-2-2Optische Leiterplatten Teil 2-2: Messungen Abmessungen optischer Leiterplatten (IEC 62496-2-2:2011);Deutsche Fassung EN 62496-2-2:2011Optical circuit boards Part 2-2: Measurements Dimensions of optical circuit boards (IEC 62496-2-2:2011);German versi
3、on EN 62496-2-2:2011Cartes circuits optiques Partie 2-2: Mesures Dimensions des cartes circuits optiques (CEI 62496-2-2:2011);Version allemande EN 62496-2-2:2011Alleinverkauf der Normen durch Beuth Verlag GmbH, 10772 Berlin www.beuth.deGesamtumfang 28 SeitenDIN EN 62496-2-2:2011-09 2 Anwendungsbegin
4、n Anwendungsbeginn fr die von CENELEC am 2011-03-03 angenommene Europische Norm als DIN-Norm ist 2011-09-01. Nationales Vorwort Vorausgegangener Norm-Entwurf: E DIN EN 62496-2-2:2010-09. Fr diese Norm ist das nationale Arbeitsgremium K 412 Kommunikationskabel (Kabel, Leitungen, Wellenleiter, Lichtwe
5、llenleiter, Komponenten, Zubehr und Anlagentechnik fr die Nachrichten- und Informationsbertragung)“ der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE (www.dke.de) zustndig. Die enthaltene IEC-Publikation wurde vom TC 86 Fibre optics“ erarbeitet. Das IEC-Komitee
6、 hat entschieden, dass der Inhalt dieser Publikation bis zu dem Datum (stability date) unverndert bleiben soll, das auf der IEC-Website unter http:/webstore.iec.ch“ zu dieser Publikation angegeben ist. Zu diesem Zeitpunkt wird entsprechend der Entscheidung des Komitees die Publikation besttigt, zurc
7、kgezogen, durch eine Folgeausgabe ersetzt oder gendert. Fr den Fall einer undatierten Verweisung im normativen Text (Verweisung auf eine Norm ohne Angabe des Ausgabedatums und ohne Hinweis auf eine Abschnittsnummer, eine Tabelle, ein Bild usw.) bezieht sich die Verweisung auf die jeweils neueste glt
8、ige Ausgabe der in Bezug genommenen Norm. Fr den Fall einer datierten Verweisung im normativen Text bezieht sich die Verweisung immer auf die in Bezug genommene Ausgabe der Norm. Der Zusammenhang der zitierten Normen mit den entsprechenden Deutschen Normen ergibt sich, soweit ein Zusammenhang besteh
9、t, grundstzlich ber die Nummer der entsprechenden IEC-Publikation. Beispiel: IEC 60068 ist als EN 60068 als Europische Norm durch CENELEC bernommen und als DIN EN 60068 ins Deutsche Normenwerk aufgenommen. EUROPISCHE NORM EUROPEAN STANDARD NORME EUROPENNE EN 62496-2-2 Mrz 2011 ICS 33.180.01 Deutsche
10、 Fassung Optische Leiterplatten Teil 2-2: Messungen Abmessungen optischer Leiterplatten (IEC 62496-2-2:2011) Optical circuit boards Part 2-2: Measurements Dimensions of optical circuit boards (IEC 62496-2-2:2011) Cartes circuits optiques Partie 2-2: Mesures Dimensions des cartes circuits optiques (C
11、EI 62496-2-2:2011) Diese Europische Norm wurde von CENELEC am 2011-03-03 angenommen. Die CENELEC-Mitglieder sind gehalten, die CEN/CENELEC-Geschftsordnung zu erfllen, in der die Bedingungen festgelegt sind, unter denen dieser Europischen Norm ohne jede nderung der Status einer nationalen Norm zu geb
12、en ist. Auf dem letzten Stand befindliche Listen dieser nationalen Normen mit ihren bibliographischen Angaben sind beim Zentralsekretariat oder bei jedem CENELEC-Mitglied auf Anfrage erhltlich. Diese Europische Norm besteht in drei offiziellen Fassungen (Deutsch, Englisch, Franzsisch). Eine Fassung
13、in einer anderen Sprache, die von einem CENELEC-Mitglied in eigener Verantwortung durch bersetzung in seine Landessprache gemacht und dem Zentralsekretariat mitgeteilt worden ist, hat den gleichen Status wie die offiziellen Fassungen. CENELEC-Mitglieder sind die nationalen elektrotechnischen Komitee
14、s von Belgien, Bulgarien, Dnemark, Deutschland, Estland, Finnland, Frankreich, Griechenland, Irland, Island, Italien, Kroatien, Lettland, Litauen, Luxemburg, Malta, den Niederlanden, Norwegen, sterreich, Polen, Portugal, Rumnien, Schweden, der Schweiz, der Slowakei, Slowenien, Spanien, der Tschechis
15、chen Republik, Ungarn, dem Vereinigten Knigreich und Zypern. CENELEC Europisches Komitee fr Elektrotechnische Normung European Committee for Electrotechnical Standardization Comit Europen de Normalisation Electrotechnique Zentralsekretariat: Avenue Marnix 17, B-1000 Brssel 2011 CENELEC Alle Rechte d
16、er Verwertung, gleich in welcher Form und in welchem Verfahren, sind weltweit den Mitgliedern von CENELEC vorbehalten. Ref. Nr. EN 62496-2-2:2011 DDIN EN 62496-2-2:2011-09 EN 62496-2-2:2011 Vorwort Der Text des Schriftstcks 86/378/FDIS, zuknftige 1. Ausgabe von IEC 62496-2-2, ausgearbeitet von dem I
17、EC/TC 86 Fibre optics“, wurde der IEC-CENELEC Parallelen Abstimmung unterworfen und von CENELEC am 2011-03-03 als EN 62496-2-2 angenommen. Nachstehende Daten wurden festgelegt: sptestes Datum, zu dem die EN auf nationaler Ebene durch Verffentlichung einer identischen nationalen Norm oder durch Anerk
18、ennung bernommen werden muss (dop): 2011-12-03 sptestes Datum, zu dem nationale Normen, die der EN entgegenstehen, zurckgezogen werden mssen (dow): 2014-03-03 Der Anhang ZA wurde von CENELEC hinzugefgt. Anerkennungsnotiz Der Text der Internationalen Norm IEC 62496-2-2:2011 wurde von CENELEC ohne irg
19、endeine Abnderung als Europische Norm angenommen. In der offiziellen Fassung sind unter Literaturhinweise“ zu den aufgelisteten Normen die nachstehenden Anmerkungen einzutragen: IEC 60793-2 ANMERKUNG Harmonisiert als EN 60793-2. IEC 62496 (alle Teile) ANMERKUNG Harmonisiert in der Reihe EN 62496. 2
20、DIN EN 62496-2-2:2011-09 EN 62496-2-2:2011 Inhalt SeiteVorwort .2 1 Anwendungsbereich.5 2 Normative Verweisungen .5 3 Begriffe .5 4 Messbedingungen5 5 Messobjekt und Messverfahren .5 6 Messverfahren6 6.1 Kernform.6 6.1.1 Messeinrichtung 6 6.1.2 Durchfhrung 8 6.2 Koordinaten von E/A-Anschlssen.8 6.2.
21、1 Messverfahren fr OCB mit E/A-Kantenanschluss.8 6.2.2 Messverfahren fr OCB mit E/A-Flchenanschluss .10 6.3 uere Form der optischen Leiterplatte.12 6.3.1 Verfahren 1 (Referenzverfahren) Anwendung des Untersuchungssystems .12 6.3.2 Verfahren 2 (alternatives Verfahren) Anwendung der Mazeichnung 13 6.4
22、 Versatzwinkel von E/A-Anschlssen14 6.4.1 Untersuchung des Querschnitts14 6.5 Spiegelwinkel .18 6.5.1 Verfahren 1 (Referenzverfahren) Anwendung des Untersuchungssystems .18 6.5.2 Verfahren 2 (alternatives Verfahren) Anwendung eines konfokalen Mikroskops19 6.6 Bohrung20 6.6.1 Verfahren 1 (Referenzver
23、fahren) Anwendung des Untersuchungssystems .20 6.6.2 Verfahren 2 (alternatives Verfahren) Anwendung der Laserabtastung .20 Anhang A (informativ) Rasterabstand der Struktur .22 Literaturhinweise 25 Anhang ZA (normativ) Normative Verweisungen auf internationale Publikationen mit ihren entsprechenden e
24、uropischen Publikationen 26 Bilder Bild 1 Beispiel fr eine Messeinrichtung fr die Untersuchung der Kernform.7 Bild 2 Beispiel fr den Prfaufbau fr die Untersuchung der Kernform (OCB mit E/A-Kantenanschlssen oder abgeschnittener Prfling) .7 Bild 3 Beispiel fr den Prfaufbau mit einem Halogen-Lampenkopf
25、 mit Lichtwellenleiter fr die Untersuchung der Kernform (OCB mit E/A-Flchenanschlssen).7 Bild 4 Beispiel fr ein Justiersystem fr die optische Lage fr OCB mit E/A-Kantenanschlssen9 Bild 5 Beispiel fr ein Justiersystem fr die optische Lage fr OCB mit E/A-Flchenanschlssen 11 Bild 6 Beispiel fr die Verg
26、leichsprfung mit einer Mazeichnung fr eine flexible OCB mit Fasern14 Bild 7 Versatzwinkel der E/A-Anschlsse in OCB mit E/A-Kantenanschluss .15 3 DIN EN 62496-2-2:2011-09 EN 62496-2-2:2011 SeiteBild 8 Versatzwinkel der E/A-Anschlsse in OCB mit E/A-Flchenanschluss 15 Bild 9 Parameter fr den Versatzwin
27、kel in OCB mit E/A-Kantenanschluss 16 Bild 10 Parameter fr den Versatzwinkel in OCB mit E/A-Flchenanschluss.16 Bild 11 Schematischer Aufbau fr die Messung des Spiegelwinkels mit einem konfokalen Mikroskop .19 Bild 12 Beispiel des mit einem konfokalen Mikroskop ermittelten Profils an einem Spiegel.20
28、 Bild A.1 Rasterabstand der Struktur und Messobjekte (Beispiel fr eine einlagige Leiterplatte) 22 Bild A.2 Rasterabstand der Struktur und Messobjekte (Beispiel fr eine mehrlagige Leiterplatte).23 Tabellen Tabelle 1 Messobjekte und zugehrige Messverfahren6 4 DIN EN 62496-2-2:2011-09 EN 62496-2-2:2011
29、 1 Anwendungsbereich Die vorliegende Norm legt Messverfahren fr Mae fest, die sich auf die Schnittstellendaten fr optische Leiterplatten (en: optical circiut board, OCB) nach den Festlegungen in IEC 62496-4 beziehen. 2 Normative Verweisungen Die folgenden zitierten Dokumente sind fr die Anwendung di
30、eses Dokuments erforderlich. Bei datierten Verweisungen gilt nur die in Bezug genommene Ausgabe. Bei undatierten Verweisungen gilt die letzte Ausgabe des in Bezug genommenen Dokuments (einschlielich aller nderungen). IEC 60068-1, Environmental testing Part 1: General and guidance IEC 60793-1-45, Opt
31、ical fibres Part 1-45: Measurement methods and test procedures Mode field diameter IEC 60249-1, Test methods of copper-clad laminates for printed wiring boards IEC 62496 (alle Teile), Optical circuit boards 3 Begriffe Fr die Anwendung dieses Dokuments gelten die folgenden Begriffe. 3.1 Justiersystem
32、 fr die optische Lage besteht aus einer Lichtquelle, einem Justiertisch fr die Faserlage, einem OCB-Halter, Eingangs-/Ausgangs-faser und einem Leistungsmessgert. Die beste Anregungsposition fr die Faser, an der die Ausgangsleistung am grten ist, wird bestimmt, indem die Eingangs-/Ausgangsfaser ausge
33、richtet und die Ausgangsleistung der OCB berwacht wird 3.2 Mazeichnung Zeichnung mit Strichlinien, die mit Hilfe des Ursprungs oder der Justiermarke als Bezugspunkt die klassifi-zierte Genauigkeit der OCB oder der OCB-Form festlegt 4 Messbedingungen Sofern nichts anderes festgelegt ist, werden alle
34、Messungen unter den in IEC 60068-1 festgelegten Bedin-gungen durchgefhrt. Falls Schwierigkeiten bei der Einhaltung der Normbedingungen bestehen und die tatschlichen Messbedingungen keinen Zweifel am Messergebnis entstehen lassen, drfen die Messungen bei von den Normbedingungen abweichenden Bedingung
35、en durchgefhrt werden. 5 Messobjekt und Messverfahren Die Messobjekte fr die Ermittlung der Mae der OCB sind in IEC 62496-4 angegeben. Die Messobjekte und die zugehrigen Messverfahren sind in Tabelle 1 zusammengefasst. Die vorliegende Norm legt in erster Linie mechanische Verfahren unter Anwendung v
36、on Untersuchungssystemen fr Mae von OCB fest. 5 DIN EN 62496-2-2:2011-09 EN 62496-2-2:2011 Tabelle 1 Messobjekte und zugehrige Messverfahren Verfahren 1 (Referenzverfahren) Verfahren 2 (alternatives Verfahren) Untersuchungs-system Justierung der optischen Lage Mazeichnung Konfokales Mikroskop Lasera
37、btastung Kernform o Koordinaten des E/A-Anschlusses o o uere Form der OCB o o Versatzwinkel von E/A-Anschlssen o Spiegel o o Bohrung o o 6 Messverfahren 6.1 Kernform 6.1.1 Messeinrichtung 6.1.1.1 Allgemeines Die Messeinrichtung besteht aus Untersuchungssystem, Formmesseinrichtung und Datenverarbeitu
38、ngs-system. Das Messsystem hat reproduzierbare Ergebnisse zu liefern. Bild 1 zeigt ein Beispiel fr ein gesamtes Messsystem. Strukturparameter fr runde Kernformen werden durch die Untersuchung des Nahfeldmusters des Querschnitts nach den Festlegungen in IEC 60793-1-45 ermittelt. 6.1.1.2 Untersuchungs
39、system Das Untersuchungssystem ermittelt die Kernform mit einem optischen Mikroskop mit einer Auflsung von weniger als 1 % des bezeichneten Maes. Es muss eine geeignete Beleuchtung, Vergrerung, ein Empfangssystem und Faserpositioniersystem gewhlt werden, um eine ausreichende Messgenauigkeit zu erzie
40、len, aber eine 10fache bis 80fache Vergrerung fr die Objektivlinse und eine 10fache Vergrerung fr das Okular erscheinen angemessen. Fr die Untersuchung einer groen Kernform wird auch eine Kamera benutzt. Ein Beispiel fr einen Untersuchungsaufbau ist in Bild 2 und Bild 3 dargestellt. Einer der E/A-An
41、schlsse wird mit Licht bestrahlt. Am anderen E/A-Anschluss wird das aus dem Prfling austretende Licht vom Untersuchungssystem nachgewiesen. Als Lichtquelle eignet sich ein Lampenkopf mit einem Lichtwellenleiter. Die Messfunktion kann durch einen beweglichen Tisch oder das Untersuchungssystem ausgefh
42、rt werden. Der bewegliche Tisch sollte in Richtung der X-, Y- und Z-Achse unabhngig steuerbar sein und vertikal und horizontal gedreht werden knnen. 6.1.1.3 Datenverarbeitungssystem Das Datenverarbeitungssystem besitzt die Fhigkeit der Analyse der Bilddaten, die mit dem Untersuchungs-system erhalten
43、 werden, und berechnet die Strukturparameter der Kernform. 6 DIN EN 62496-2-2:2011-09 EN 62496-2-2:2011 Bild 1 Beispiel fr eine Messeinrichtung fr die Untersuchung der Kernform Bild 2 Beispiel fr den Prfaufbau fr die Untersuchung der Kernform (OCB mit E/A-Kantenanschlssen oder abgeschnittener Prflin
44、g) Bild 3 Beispiel fr den Prfaufbau mit einem Halogen-Lampenkopf mit Lichtwellenleiter fr die Untersuchung der Kernform (OCB mit E/A-Flchenanschlssen) 7 DIN EN 62496-2-2:2011-09 EN 62496-2-2:2011 6.1.2 Durchfhrung a) Vorbereitung Zur Messung der Kernform mit Ausnahme eines E/A-Anschlusses wird eine
45、OCB rechtwinklig zur Kern-struktur mit einer Klinge glatt abgeschnitten. Die OCB wird so eingespannt, dass die E/A-Anschlsse oder die Schnittflche untersucht werden knnen, wie in Bild 2 und Bild 3 dargestellt. Die Vergrerung des optischen Mikroskops wird vor der Messung kalibriert. b) Messung Der Fo
46、kus des optischen Mikroskops wird durch Bewegen des Tisches oder des Mikroskops auf die Lage eingestellt, an der die Kernform untersucht werden kann. Die Kernform wird durch Verarbeitung der Bilddaten des Untersuchungssystems bestimmt. Es ist mglich, die Entfernung zum zu messenden Objekt zu besttig
47、en, wenn das optische Mikroskop eine Entfernungsmessfunktion besitzt. Die sechs Strukturparameter fr eine rechteckige Kernform werden durch eine Datenanalyse der Kernform anhand der Definitionen der Parameter in IEC 62496-4 ermittelt. 6.2 Koordinaten von E/A-Anschlssen 6.2.1 Messverfahren fr OCB mit
48、 E/A-Kantenanschluss 6.2.1.1 Verfahren 1 (Referenzverfahren) Anwendung des Untersuchungssystems 6.2.1.1.1 Messeinrichtung Es muss die in 6.1.1 angegebene Messeinrichtung benutzt werden. 6.2.1.1.2 Durchfhrung Nachfolgend wird ein Beispiel fr ein Messverfahren beschrieben. a) Vorbereitung Der Prfling
49、wird mit einer Spannvorrichtung am beweglichen Tisch eben befestigt, so dass er sich whrend der Messung nicht bewegt. b) Messung Die Richtung der Koordinatenachse wird auf die Bewegungsrichtung des Tisches abgestimmt, um eine horizontale Referenz zu erhalten. Das Mikroskop wird zum Koordinatenursprung beweg
