1、 DEUTSCHE NORMIEC 61336DIN Deutsches Institut fr Normung e. V. Jede Art der Vervielfltigung, auch auszugsweise,nur mit Genehmigung des DIN Deutsches Institut fr Normung e. V., Berlin, gestattet.Alleinverkauf der Normen durch Beuth Verlag GmbH, 10772 BerlinICS 01.040.17; 17.040.20; 17.240Nuclear inst
2、rumentation Thickness measurement systems utilizing ionizing radiation Denitions and test methods(IEC 61336 : 1996)Instrumentation nuclaire Systmes de mesure dpaisseur par rayonnement ionisant Dnitions et mthodes dessai(CEI 61336 : 1996)Die Internationale Norm IEC 61336 : 1996, Nuclear instrumentati
3、on Thicknessmeasurement systems utilizing ionizing radiation Denitions and test methods, istunverndert in diese Deutsche Norm bernommen worden.Nationales VorwortDie bersetzung der Internationalen Norm IEC 61336 : 1996 wurde erstellt durch das Komitee 967 Strahlungsme-gerte der Deutschen Elektrotechn
4、ischen Kommission im DIN und VDE (DKE).Der Anwender dieser Norm sei darauf hingewiesen, da fr den Einsatz dieser Systeme in Deutschland eine Umgangs-genehmigung nach Strahlenschutzverordnung erforderlich ist, in der auch Angaben zur Entsorgung der Strahler enthaltensind. Fr die Lagerung der Strahler
5、 ist DIN 25422 : 1994-08 zu beachten, fr den Transport die entsprechende Gefahr-gutverordnung.Die IEC hat 1997 die Benummerung der IEC-Publikationen gendert. Zu den bisher verwendeten Norm-Nummern wirdjeweils 60000 addiert. Diese Benummerung wird rckwirkend auch auf alle noch unter alter Nummer verf
6、fentlichtenPublikationen angewendet, wenngleich auf diesen die neue Nummer nicht angegeben ist (so ist z. B. aus IEC 68 nunIEC 60068 geworden). In dieser Norm sind auch fr die DIN-Nummern und Titel von ffentlichen DIN-Normen durch-gngig die neuen IEC-Nummern verwendet worden, um mit den nationalen u
7、nd internationalen Datenbanken vonDIN/DITR und IEC bereinzustimmen.Der Zusammenhang der zitierten Normen mit den entsprechenden Deutschen Normen ist nachstehend wiedergegeben.Fr den Fall einer undatierten Verweisung im normativen Text (Verweisung auf eine Norm ohne Angabe des Ausgabe-datums und ohne
8、 Hinweis auf eine Abschnittsnummer, eine Tabelle, ein Bild usw.) bezieht sich die Verweisung auf diejeweils gltige Ausgabe der in Bezug genommenen Norm.Fr den Fall einer datierten Verweisung im normativen Text bezieht sich die Verweisung immer auf die in Bezuggenommene Ausgabe der Norm.EntwurfMai 19
9、99Fortsetzung Seite 2 bis 25Deutsche Elektrotechnische Kommission im DIN und VDE (DKE)Normenausschu Materialprfung (NMP) FB Kerntechnik im DIN Deutsches Institut fr Normung e.V.Nukleare MegerteMit ionisierender Strahlung arbeitende Systeme zur DickenmessungBegriffe und Prfverfahren(IEC 61336 : 1996)
10、Ref. Nr. DIN IEC 61336 : 1999-05Preisgr. 16 Vertr.-Nr. 2816Ersatz frDIN IEC 60769 : 1992-06Seite 2DIN IEC 61336 : 1999-05Zum Zeitpunkt der Verffentlichung dieser Norm waren die angegebenen Ausgaben gltig.nderungenGegenber DIN IEC 60769 : 1992-06 wurden folgende nderungen vorgenommen:a) Der Titel der
11、 Norm wurde gekrzt.b) Anwendungsbereich und Zweck wurden ausfhrlicher beschrieben.c) Die bisherigen Abschnitte 2, 3, 5 und 6 wurden redaktionell und sachlich berarbeitet.d) Die bisherigen Abschnitte 1 bis 3 wurden in 1.1 bis 1.3, die Abschnitte 4 bis 7 in 2.1 bis 2.4 zusammengefat, Anhang Aist jetzt
12、 Anhang B, Anhang C ist jetzt Anhang A.e) Die folgenden bisherigen Unterabschnitte sind entfallen: 5.1.6.3 b) Durch Signalrauschen begrenzte Ausung,5.1.6.4 a) Radiometrische Reproduzierbarkeit, 5.1.6.4 b) Reproduzierbarkeit der Messung und Anhang B Bewer-tung der mit ionisierender Strahlung arbeiten
13、den Mesysteme Ergebnisse der Laborprfungen.f) Folgende Unterabschnitte wurden neu aufgenommen: 1.3.12.3 Streifenausung, 1.3.18 bertragbarkeit der Kali-brierung, 1.3.29.10 Einu elektrostatischer Auadungen, 2.2.1.1.6 Druckluftversorgung, 2.2.1.5.1 Laborausstat-tung, 2.2.1.6.7 Statische Streifenausung,
14、 2.2.1.6.9 Prfung der bertragbarkeit der Kalibrierung, 2.2.2.6.2 Pr-fung der Kompensation des Einusses von Fremdmaterial, 2.2.2.8.2 Dynamische Prfung des Einusses derTemperatur im Mespalt, 2.2.2.11 Prfung des Systemprols, 2.2.2.12 Prfung des Einusses elektrostatischer Auf-ladung, 2.2.3 Prfung des Me
15、systems und der Proze- und Maschinenanalyse, 2.2.3.1 Systemprfung fr Anwen-dungen der Maschinen- und Prozeanalyse, 2.4.2 Prfung zur Reproduzierbarkeit des Systemprols und des Mittel-werts der Messung, 2.4.2.1 Reproduzierbarkeit des Integrationsbereichs (Meposition) und 2.4.2.2Reproduzierbarkeit des
16、gemittelten Mewertes.Frhere AusgabenDIN IEC 60577: 1981-03DIN IEC 60769: 1992-06 Nationaler Anhang NA(informativ)LiteraturhinweiseDIN 25422Aufbewahrung radioaktiver Stoffe Anforderungen an Aufbewahrungseinrichtungen und deren Aufstellungsrume zumStrahlen-, Brand- und DiebstahlschutzDIN 25426-1Umschl
17、ossene radioaktive Stoffe Anforderungen und KlassikationDIN IEC 60359Angabe zum Betriebsverhalten elektrischer und elektronischer Meeinrichtungen(IEC 60359 : 1987 und IEC 60359/A1 : 1991)DIN VDE 0412-1 (VDE 0412 Teil 1)Nukleare Megerte Elektrische Mesysteme und -gerte, die mit ionisierender Strahlun
18、g arbeiten Teil 1: Sicherheitstechnische AnforderungenStrlSchVVerordnung ber den Schutz vor Schden durch ionisierende Strahlen (Strahlenschutzverordnung StrlSchV) vom13.10.1976 (BGBl I S. 2905; 1977 I S.184, 269) in der Fassung der Dritten Verordnung zur nderung der Strahlen-schutzverordnung vom 30.
19、07.1993 (BGBl I S. 1432)Internationale Norm Deutsche NormIEC 60359 : 1987 DIN IEC 60359 : 1993IEC 60405 : 1972 *)ISO 2919 : 1980 DIN 25426-1 : 1988ISO 7205 : 1986 *)*)Siehe jedoch DIN VDE 0412-1 (VDE 0412 Teil 1) : 1998-09Seite 3DIN IEC 61336 : 1999-05Deutsche bersetzungNukleare MegerteMit ionisiere
20、nder Strahlung arbeitende Systeme zur DickenmessungBegriffe und PrfverfahrenInhaltSeite SeiteVorwort3Einfhrung41 Allgemeines. 51.1 Anwendungsbereich und Zweck 51.2 Normative Verweisungen 51.3 Begriffe 52 Prfanforderungen.102.1 Allgemeines .102.2 Laborprfungen .112.2.1 Prfung der Leistungskennwerte 1
21、12.2.2 Einugren und Prfungen 162.2.3 Prfungen des Mesystems und derProze- und Maschinenanalyse .192.3 Dokumentation der Ergebnisse der Laborprfungen 202.4 Vor-Ort-Prfungen .202.4.1 Prfung der Traversierabweichung .202.4.2 Prfungen zur Reproduzierbarkeit desSystemprols und desMittelwertes der Messung
22、 212.4.3 Prfung der geometrischen Ausung .21Anhang A (normativ) Einu der Netzspannung(nach IEC 60359) 22Anhang B (informativ) Beschreibung einesverallgemeinerten Mesystems 22Vorwort1) Die IEC (Internationale Elektrotechnische Kommission) ist eine weltweite Normungsorganisation, die alle NationalenEl
23、ektrotechnischen Komitees (Nationale Komitees der IEC) umfat. Die IEC hat das Ziel, die internationale Zusammen-arbeit in allen Fragen der Normung auf dem Gebiet der Elektrotechnik und Elektronik zu frdern. Zu diesem Zweck undneben anderen Aktivitten verffentlicht die IEC Internationale Normen. Mit
24、der Vorbereitung sind die TechnischenKomitees beauftragt. Jedes Nationale Komitee der IEC, das an dem behandelten Thema interessiert ist, darf an dieserVorbereitungsarbeit teilnehmen. Internationale Organisationen, Regierungs- und Nichtregierungsstellen, die mit derIEC in Verbindung stehen, nehmen e
25、benfalls an diesen Vorbereitungsarbeiten teil. Die IEC arbeitet eng mit der Inter-nationalen Organisation fr Normung (ISO) nach den in der Vereinbarung zwischen beiden Organisationen festgelegtenBedingungen zusammen.2) Die ofziellen Beschlsse oder Vereinbarungen der IEC ber technische Fragen, die in
26、 Technischen Komitees vonVertretern aller an dem behandelten Thema besonders interessierten Nationalen Komitees erarbeitet werden, bringendas hchstmgliche Ma internationaler bereinstimmung fr das behandelte Sachgebiet zum Ausdruck.3) Sie stellen Empfehlungen zur internationalen Anwendung dar, die al
27、s Normen, Fachberichte oder Leitlinien verffent-licht werden und als solche von den Nationalen Komitees angenommen sind.4) Um die internationale Vereinheitlichung zu frdern, verpichten sich die Nationalen Komitees der IEC, InternationaleNormen der IEC so durchschaubar wie mglich in ihren nationalen
28、und regionalen Normen anzuwenden. JedeAbweichung zwischen der IEC-Norm und der entsprechenden nationalen oder regionalen Norm mu in dieser deutlichgekennzeichnet werden.5) Die IEC hat kein Verfahren fr die Kennzeichnung der Konformitt festgelegt und bernimmt keine Verantwortung, wennein Gegenstand a
29、ls konform mit einer ihrer Normen erklrt wird.6) Es besteht die Mglichkeit, da Bestandteile dieser Internationalen Norm Gegenstand von Patentrechten sind. DieIEC hat nicht die Verantwortung, das Vorhandensein solcher Patentrechte festzustellen und auf deren Existenz hinzu-weisen.Die Internationale N
30、orm IEC 61336 wurde vom Technischen Komitee 45 Nuclear Instrumentation der IEC ausgearbeitet.Diese Norm ersetzt die 1983 verffentlichte IEC 60769 und ist eine fachliche berarbeitung.Der Text dieser Norm basiert auf den folgenden Dokumenten:Ausfhrliche Auskunft ber die Abstimmung zur Genehmigung dies
31、er Norm gibt der in obiger Tabelle zitierte Abstimmungs-bericht.Anhang A ist Bestandteil dieser Norm.Anhang B dient nur zur Information.Internationaler Norm-Entwurf AbstimmungsberichtIEC 45/388/FDIS IEC 45/404/RVDSeite 4DIN IEC 61336 : 1999-05EinfhrungSeit 1983 hat es so viele technische Fortschritt
32、e gegeben, da sich dies auf die allgemein gebruchlichen Prfverfahren frMesysteme auswirkt, die mit ionisierender Strahlung arbeiten. Hierzu gehren:Allgemeiner Einsatz von Labor-PCs mit Datenaufnahmemodulen fr nahezu alle Zwecke der Messung von Grund-eigenschaften, d. h. automatisierte Datenerfassung
33、; statistische Datenverarbeitung; verstrkte Anwendung berech-neter Variablen (wie z. B. Dicke) anstelle von unaufbereiteten Strahlungssignalen (wie Spannungen oder Zhlgren);Tabellendarstellung und Verarbeitung von Daten und Ergebnissen; wesentlich grere Datenmengen.Neue mesystembedingte Mglichkeiten
34、 des Zugangs zu Meinformationen, wie z. B.: Hochgeschwindigkeitsmes-sung; arbeitsplatzintegrierte Datenregistratur, statistische Datenverarbeitung und Datenprsentation ber eine Video-bzw. Druckerausgabe in Tabellen- oder graphischer Form; hochausend abgetastete Meprole; groe Datenmengenfr die Regist
35、rierung des Langzeitverhaltens von Grundeigenschaften und die Aufzeichnung von Tendenzen; voraus-sagende Fehleranalyse usw.Neue Gerteeigenschaften zur Erhhung der absoluten Megenauigkeit unter ungnstigen Umgebungsbedingungeneinschlielich solcher Punkte wie: Eliminierung von Fehlern, die von Fremdmat
36、erial (Schmutz) im Mepfad, vonTemperatureffekten, Einssen elektrostatischer Auadungen, Vibrationen bzw. Mikrophonieeffekten herrhren;Kompensation der Luftmestrecke; eingebaute Referenzmeproben; direkt in die Sensoren eingebaute Mikroprozessorenund Mikro-Steuereinheiten.Unter dem Gesichtspunkt der Ko
37、mplexitt der Prozesteuersignale nach derzeitigem Stand der Technik mit Steuerungquer zur Laufrichtung des Megutes (cross-machine control), DCS-Architekturen und anderen nderungen bei denSteuerprozessen enthlt die vorliegende Norm nicht den Prfpunkt B der IEC 60769. Der ursprngliche Anhang B derIEC 6
38、0769 ist ebenfalls entfallen, da er im Hinblick auf die heutigen automatisierten Datenerfassungsverfahren und diestatistischen Datenverarbeitungstechniken berholt und ungeeignet ist. Es ist jedoch eine Reihe neuer Prfungen undPrfverfahren zustzlich in diese Norm aufgenommen worden.Seite 5DIN IEC 613
39、36 : 1999-051 Allgemeines1.1 Anwendungsbereich und ZweckDiese Norm beschreibt Denitionen, Prfverfahren undVerfahrensweisen fr Mesysteme, die mit ionisierenderStrahlung arbeiten und fr kontinuierliche oder diskontinu-ierliche Messungen und Prfungen der chenbezogenenMasse, der lngenbezogenen Masse ode
40、r der Material-dicke von Produkten in industriellen Prozessen bestimmtsind. Das zu messende Material kann in Form von Flach-materialien, Deckschichten, Laminaten, Rohren oder St-ben vorliegen. Die vorliegende Norm bezieht sich aufSysteme mit einem oder mehreren Ausgngen fr An-zeige- oder Steuerungsz
41、wecke. Das Signal kann analogoder digital vorliegen. Das Mesystem darf mehrere Ein-gangssignale mit verschiedenen Mitteln zur Kompen-sation und Signalaufbereitung vor der Signalausgabe ver-arbeiten.Sicherheitsaspekte werden in anderen IEC- und ISO-Nor-men behandelt (z. B. in IEC 60405, ISO 2919, ISO
42、 7205).Bedeutung wird auch der bereinstimmung mit allenanwendbaren nationalen und lokalen Bestimmungen undden Regeln der Praxis beigemessen.Dickenmesysteme, fr die diese Norm gilt, werden im all-gemeinen fr den industriellen Einsatz gebaut, wobei sieeinen sehr breiten Bereich von Industriezweigen, A
43、nwen-dungen und Bestimmungen umfassen. Zweck dieserNorm ist, die gemeinsamen Parameter und Variablenanzugeben und genormte Prfungen und Prfdokumen-tationen vorzuschreiben, die einen direkten Vergleich derGebrauchseigenschaften der verschiedenen verfgbarenMesysteme erleichtern. Diese Prfungen sind au
44、f Sy-steme mit festen oder beweglichen Mekpfen und mitSensoren anwendbar, die nach dem Durchstrahl-, Rck-streu- oder Rntgenuoreszenzverfahren arbeiten.Viele heutzutage eingesetzte, mit ionisierender Strahlungarbeitende Dickenmesysteme, haben Vielfachsensorenund verwenden unterschiedliche Mittel zur
45、Kompensationdes Sensor-Grundpegels, um die Wirkungen uerer Ein-ugren, die Mefehler verursachen, zu minimieren.Speziell dafr entwickelte Mikroprozessoren und Mini-computer nutzen erweiterte Techniken zur Verarbeitungund Fehlerkompensation von Mehrfach-Eingangssignalen.Bei komplexeren Systemen ist es
46、schwierig, die Wirksam-keit von interaktiven Signalverarbeitungs- und -kompensa-tionsalgorithmen durch stationre Prfung zu bestimmen.So sind z. B. die Ansprech- und Datenerfassungszeitenbei Sensoren, deren Signale in einer analytischen Funk-tion verknpft werden sollen, bei den stationren Prfun-gen i
47、n der vorliegenden Norm von geringerer Bedeutung,aber sie knnen unter dynamischen Mebedingungen zugroen Fehlern fhren, wenn sie nicht entsprechend be-rcksichtigt werden. Die relative Gre der durch Einu-gren bewirkten Fehler, die kompensiert werden mssen,ist ebenfalls wichtig.Die Kompensationseinrich
48、tungen fr Sensoren mit hoherEmpndlichkeit gegenber Einugren mssen ge-nauer sein als fr Sensoren, die weniger empndlich sind,um die gleichen Endergebnisse zu erzielen. Daher ist eserforderlich, in der Norm Leistungsprfungen vorzusehen,die die ganze Signalverarbeitung und -kompensation be-inhalten. Dies wird in der vorliegenden Norm dadurch er-leichtert, da im gesamten zu bewertenden Mesystemverschiedene Prfpunkte gekennzeichnet werden.Es ist erforderlich, mgliche Funktionsbeeintrchtigungenunter ungnstigen Umgebungsbedingungen abzuschtzen.Obwohl es
