ITU-R BS 1786-2007 Criterion to assess the impact of interference to the terrestrial broadcasting service (BS)《对地面广播服务的干扰影响的评估准则》.pdf

上传人:livefirmly316 文档编号:790347 上传时间:2019-02-02 格式:PDF 页数:1 大小:7.13KB
下载 相关 举报
ITU-R BS 1786-2007 Criterion to assess the impact of interference to the terrestrial broadcasting service (BS)《对地面广播服务的干扰影响的评估准则》.pdf_第1页
第1页 / 共1页
亲,该文档总共1页,全部预览完了,如果喜欢就下载吧!
资源描述

Rec. ITU-R BS.1786 1 RECOMMENDATION ITU-R BS.1786*Criterion to assess the impact of interference to the terrestrial broadcasting service (BS) (Question ITU-R 32/6) (2007) The text of this Recommendation is identical to the text of Recommendation ITU-R BT.1786. *Radiocommunication Study Group 6 made editorial amendments to this Recommendation in 2007 in accordance with Resolution ITU-R 44.

展开阅读全文
相关资源
猜你喜欢
  • BS EN 60747-16-1-2002 Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Microwave integrated circuits - Amplifiers《分立的半导体器件和集成电路 微波集成电路 放大器》.pdf BS EN 60747-16-1-2002 Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Microwave integrated circuits - Amplifiers《分立的半导体器件和集成电路 微波集成电路 放大器》.pdf
  • BS EN 60747-16-1-2002+A1-2007 Semiconductor ndevices — nPart 16-1 Microwave integrated ncircuits — Amplifiers《半导体器件 微波集成电路 放大器》.pdf BS EN 60747-16-1-2002+A1-2007 Semiconductor ndevices — nPart 16-1 Microwave integrated ncircuits — Amplifiers《半导体器件 微波集成电路 放大器》.pdf
  • BS EN 60747-16-10-2004 Semiconductor devices - Technology Approval Schedule (TAS) for monolithic microwave integrated circuits《半导体器件 单片微波集成电路的技术验收程序(TAS)》.pdf BS EN 60747-16-10-2004 Semiconductor devices - Technology Approval Schedule (TAS) for monolithic microwave integrated circuits《半导体器件 单片微波集成电路的技术验收程序(TAS)》.pdf
  • BS EN 60747-16-5-2013 Semiconductor devices Microwave integrated circuits Oscillators《半导体装置 微波集成电路 振荡器》.pdf BS EN 60747-16-5-2013 Semiconductor devices Microwave integrated circuits Oscillators《半导体装置 微波集成电路 振荡器》.pdf
  • BS EN 60747-5-1-2001 Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Optoelectronic devices - General《半导体分立器件和集成电路 光电器件 总则》.pdf BS EN 60747-5-1-2001 Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Optoelectronic devices - General《半导体分立器件和集成电路 光电器件 总则》.pdf
  • BS EN 60747-5-5-2011 Semiconductor devices Discrete devices Optoelectronic devices Photocouplers《半导体器件 分立器件 光电器件 光电耦合器》.pdf BS EN 60747-5-5-2011 Semiconductor devices Discrete devices Optoelectronic devices Photocouplers《半导体器件 分立器件 光电器件 光电耦合器》.pdf
  • BS EN 60749-1-2003 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - General《半导体器件 机械和气候试验方法 总则》.pdf BS EN 60749-1-2003 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - General《半导体器件 机械和气候试验方法 总则》.pdf
  • BS EN 60749-10-2002 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Mechanical shock《半导体装置 机械和气候试验方法 机械振动》.pdf BS EN 60749-10-2002 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Mechanical shock《半导体装置 机械和气候试验方法 机械振动》.pdf
  • BS EN 60749-11-2002 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Rapid change of temperature - Two-fluid-bath method《半导体装置 机械和气候试验方法 温度速变 双流体浸泡法》.pdf BS EN 60749-11-2002 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Rapid change of temperature - Two-fluid-bath method《半导体装置 机械和气候试验方法 温度速变 双流体浸泡法》.pdf
  • 相关搜索

    当前位置:首页 > 标准规范 > 国际标准 > 其他

    copyright@ 2008-2019 麦多课文库(www.mydoc123.com)网站版权所有
    备案/许可证编号:苏ICP备17064731号-1