ITU-T N 23 SPANISH-1988 MAINTENANCE MEASUREMENTS TO BE MADE ON INTERNATIONAL SOUND-PROGRAMME CIRCUITS《国际播音节目电路的维修测量》.pdf

上传人:eventdump275 文档编号:800298 上传时间:2019-02-04 格式:PDF 页数:9 大小:71.99KB
下载 相关 举报
ITU-T N 23 SPANISH-1988 MAINTENANCE MEASUREMENTS TO BE MADE ON INTERNATIONAL SOUND-PROGRAMME CIRCUITS《国际播音节目电路的维修测量》.pdf_第1页
第1页 / 共9页
ITU-T N 23 SPANISH-1988 MAINTENANCE MEASUREMENTS TO BE MADE ON INTERNATIONAL SOUND-PROGRAMME CIRCUITS《国际播音节目电路的维修测量》.pdf_第2页
第2页 / 共9页
ITU-T N 23 SPANISH-1988 MAINTENANCE MEASUREMENTS TO BE MADE ON INTERNATIONAL SOUND-PROGRAMME CIRCUITS《国际播音节目电路的维修测量》.pdf_第3页
第3页 / 共9页
ITU-T N 23 SPANISH-1988 MAINTENANCE MEASUREMENTS TO BE MADE ON INTERNATIONAL SOUND-PROGRAMME CIRCUITS《国际播音节目电路的维修测量》.pdf_第4页
第4页 / 共9页
ITU-T N 23 SPANISH-1988 MAINTENANCE MEASUREMENTS TO BE MADE ON INTERNATIONAL SOUND-PROGRAMME CIRCUITS《国际播音节目电路的维修测量》.pdf_第5页
第5页 / 共9页
点击查看更多>>
资源描述

1、UNIN INTERNACIONAL DE TELECOMUNICACIONESUIT-T N.23SECTOR DE NORMALIZACINDE LAS TELECOMUNICACIONESDE LA UITMANTENIMIENTO DE CIRCUITOSINTERNACIONALES PARA TRANSMISIONESRADIOFNICAS Y DE TELEVISINMEDICIONES DE MANTENIMIENTO QUE HANDE EFECTUARSE EN LOS CIRCUITOSRADIOFNICOS INTERNACIONALESRecomendacin UIT

2、T N.23(Extracto del Libro Azul)NOTAS1 La Recomendacin UIT-T N.23 se public en el fascculo IV.3 del Libro Azul. Este fichero es un extracto delLibro Azul. Aunque la presentacin y disposicin del texto son ligeramente diferentes de la versin del Libro Azul, elcontenido del fichero es idntico a la cita

3、da versin y los derechos de autor siguen siendo los mismos (Vase acontinuacin).2 Por razones de concisin, el trmino Administracin se utiliza en la presente Recomendacin para designara una administracin de telecomunicaciones y a una empresa de explotacin reconocida. UIT 1988, 1993Reservados todos los

4、 derechos. No podr reproducirse o utilizarse la presente Recomendacin ni parte de la misma decualquier forma ni por cualquier procedimiento, electrnico o mecnico, comprendidas la fotocopia y la grabacin enmicropelcula, sin autorizacin escrita de la UIT.Recomendacin N.23Fascculo IV.3 - Rec. N.23MEDIC

5、IONES DE MANTENIMIENTO QUE HAN DE EFECTUARSEEN LOS CIRCUITOS RADIOFNICOS INTERNACIONALES1 Consideraciones generalesEn los cuadros 1/N.23 a 5/N.23 se especifican lmites para el mantenimiento de los circuitos radiofnicosinternacionales. De rebasarse esos lmites, la estacin directora1) del circuito deb

6、e decidir la accin que procede adoptarpara que el circuito se ajuste de nuevo a esos lmites.2 Mediciones peridicasLas mediciones peridicas se efectuarn cada seis meses, y el circuito se reajustar para cumplir los lmitesindicados en la Recomendacin N.21. La estacin directora debe convenir con otras e

7、staciones la fecha y la hora de lasmediciones peridicas, y los parmetros que han de incluirse. Se recomienda utilizar un equipo automtico de medida(vanse las Recomendaciones O.31 1, O.32 2 y O.33 3). Los procedimientos y frecuencias de prueba que han deutilizarse se detallan en la Recomendacin N.21.

8、 Si no se dispone de un equipo automtico de medida, las mediciones selimitarn normalmente a la distorsin de atenuacin en funcin de la frecuencia y al ruido ponderado. En el caso de lospares estereofnicos, tambin se medirn los parmetros N.os12, 13, 14 y 15 del cuadro 1/N.23.3 Liberacin de circuitos p

9、ara las mediciones de mantenimientoAun en el caso de acuerdo general con el abonado sobre la hora en que han de hacerse las medicionesperidicas en los circuitos arrendados permanentemente, el CRI debe hacerse confirmar la disponibilidad de esoscircuitos por el abonado cada vez que hayan de efectuars

10、e estas mediciones._1)Para las funciones y responsabilidades de las estaciones directoras de circuito vase la Recomendacin N.5.Fascculo IV.3 - Rec. N.23 1 CUADRO 1/N.23Lmites para los circuitos radiofnicos internacionales de 15 kHzElemento Parmetro Unidad Lmites1 Ganancia de insercinError de ajuste

11、dB 0,5Variacin diaria dB 0,50,04 a 0,125 kHzdB + 0,5dB 20,125 a 10 kHz dB 0,52 Distorsin atenuacinganancia/frecuencia 10 a 14 kHzdB + 0,5con relacin a 0,8 1 kHzdB - 214 a 15 kHzdB + 0,5dB 30,04 kHz ms 553Respuesta retardode grupo/frecuencia0,075 kHz ms 24referida al mnimo14 kHz ms 815 kHz ms 124 Rui

12、do ponderadoCanal en reposo dBq0ps 44Con modulacin porprogramadBq0ps 325 Nivel de interferencia por una sola frecuencia + y dBm0s 736Modulacin perturbadora debida a la fuentede alimentacindB 457 Distorsin armnica total0,04 a 0,125 kHz % 10,125 a 7,5 kHz % 0,58 Tono diferencia de tercer orden a 0,18

13、kHz % 0,59 Error en la frecuencia reconstituida Hz 10,04 kHz dB 5010Relacin seal/diafonainteligible0,5 a 5 kHz dB 7415 kHz dB 6011 Error en la respuesta amplitud/amplitud dB 0,52 Fascculo IV.3 - Rec. N.23 CUADRO 1/N.23 (cont.)Elemento Parmetro Unidad Lmites0,04 a 0,125 kHz dB 1,512 Diferencia de gan

14、ancia0,125 a 10 kHz dB 0,8entre los canales A y B10 a 14 kHz dB 1,5Parmetrosadicionales14 a 15 kHz dB 3para loscircuitos0,04 a 0,125 kHz grado 30estereofnicos13 Diferencia de fase entre0,2 a 4 kHz grado 15los canales A y B14 kHz grado 3015 kHz grado 4014 Relacin seal/diafona inteligible entre A y B

15、dB 5015 Relacin diafnica (intermodulacin) entre A y B) dB 60Nota Los lmites indicados en este cuadro son aplicables tanto a las transmisiones analgicas como a las digitales.Fascculo IV.3 - Rec. N.23 3 CUADRO 2/N.23Lmites para los circuitos radiofnicos internacionales de 10 kHzElemento Parmetro Unida

16、d Lmites1 Ganancia de insercinError de ajuste dB 0,4Variacin con el tiempo dB 0,40,05 a 0,1 kHzdB + 1,3dB 3,30,1 a 0,2 kHzdB + 1,3dB 22Distorsin atenuacin/frecuenciacon relacin a 0,8 1 kHz0,2 a 6 kHz dB 1,36 a 8,5 kHzdB + 1,3dB 28,5 a 10 kHzdB +1,3dB 3,30,05 kHz ms 543Respuesta retardo de grupo/frec

17、uenciareferida al mnimo0,1 kHz ms 1310 kHz ms 5,44 Ruido ponderado (canal en reposo)a)dBq0ps 415 Nivel de interferencia por una sola frecuencia + yb)dBm0s 736 Modulacin perturbadora debida a la fuente de alimentacin dB 477 Distorsin armnica total0,05 a 0,1 kHz % 2,30,1 a 10 kHz % 1,58 Tono diferenci

18、a de tercer orden a 0,18 kHz % 1,59 Error en la frecuencia reconstituida Hz 0,810 Relacin seal/diafona inteligiblec)dB 7611 Error en la respuesta amplitud/amplitud dB 0,4a)En circuitos de portadoras, no siempre es posible cumplir estos lmites si no se toman precauciones especiales (vase el anexo IIa

19、 la Recomendacin 504 del CCIR 4).b)O 20 dB menos que el nivel de ruido ponderado medido, tomndose entre ambos valores el que fuese ms alto.c)A veces resulta difcil, o imposible, satisfacer estos lmites (vase el 3.8, nota 2, en el anexo I a la Recomendacin 504 delCCIR 4).4 Fascculo IV.3 - Rec. N.23 C

20、UADRO 3/N.23Lmites para los circuitos radiofnicos internacionales de 7 kHzElemento Parmetro Unidad Lmites1 Ganancia de insercinError de ajuste dB 0,4Variacin diaria dB 0,40,05 a 0,1 kHzdB + 0,8dB 2,32Distorsin atenuacin/frecuenciacon relacin 0,8 1 kHz0,1 a 6,4 kHz dB 0,86,4 a 7 kHzdB + 0,8dB 2,30,05

21、 kHz ms 54Respuesta retardo de grupo/0,1 kHz ms 133 frecuencia referida al mnimo6,4 kHz ms 3,47 kHz ms 6,74 Ruido ponderadoCanal en reposo dBq0ps 46Con programa modulado dBq0ps 345 Nivel de interferencia por una sola frecuencia + y dBm0s 756 Modulacin perturbadora debida a la fuente de alimentacin d

22、B 477 Distorsin armnica total0,1 kHz % 1,18 Tono diferencia de tercer orden a 0,18 kHz % 1,19 Error en la frecuencia reconstituida Hz 0,80,05 kHz dB 5510 Relacin seal/diafona inteligible 0,05 a 3,2 kHz dB 766,4 kHz dB 7011 Error en la respuesta amplitud/amplitud dB 0,46 Fascculo IV.3 - Rec. N.23 CUA

23、DRO 5/N.23Lmites para los circuitos radiofnicos internacionales de 5 kHzElemento Parmetro Unidad Lmites1 Ganancia de insercinError de ajuste dB 0,4Variacin diaria dB 0,40,07 a 0,2 kHzdB + 0,8dB 2,32 Distorsin atenuacin/frecuenciacon relacin a 0,8 1 kHz0,2 a 4 kHz dB 0,84 a 5 kHzdB + 0,8dB 2,33 Respu

24、esta retardo de grupo/frecuencia0,07 kHz ms 40referida al mnimo5 kHz ms 104 Nivel mximo de ruido ponderado dBq0ps 345 Nivel de interferencia por una sola frecuencia + y dBm0s 756 Modulacin perturbadora debida a la fuente de alimentacin dB 477 Distorsin armnica total0,1 kHz % 1,18 Tono diferencia de

25、tercer orden a 0,18 kHz % 1.19 Error en la frecuencia reconstituida Hz 0,80,07 kHz dB 5910 Relacin seal/diafona inteligible 0,05 a 3,2 kHz dB 765 kHz dB 7211 Error en la respuesta amplitud/amplitud dB 0,4Referencias1 Recomendacin del CCITT Aparato automtico de medida para circuitos radiofnicos, Tomo

26、 IV, Rec. O.31.2 Recomendacin del CCITT Aparato automtico de medida para los pares estereofnicos de circuitosradiofnicos, Tomo IV, Rec. O.32.3 Recomendacin del CCITT Aparato automtico para medir rpidamente conexiones, enlaces y circuitosmonofnicos y de pares estereofnicos, Tomo IV, Rec. O.33.4 Recomendacin del CCIR Caractersticas de funcionamiento de los circuitos para transmisiones radiofnicasdel tipo de 10 kHz, Vol. XII, Rec. 504, UIT, Ginebra, 1982.Fascculo IV.3 - Rec. N.23 7

展开阅读全文
相关资源
猜你喜欢
  • DIN EN 60512-25-3-2002 Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-3 Test 25c Rise time degradation (IEC 60512-25-3 2001) German version EN 60512-25-3 20.pdf DIN EN 60512-25-3-2002 Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-3 Test 25c Rise time degradation (IEC 60512-25-3 2001) German version EN 60512-25-3 20.pdf
  • DIN EN 60512-25-4-2002 Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-4 Test 25d Propagation delay (IEC 60512-25-4 2001) German version EN 60512-25-4 2001《电.pdf DIN EN 60512-25-4-2002 Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-4 Test 25d Propagation delay (IEC 60512-25-4 2001) German version EN 60512-25-4 2001《电.pdf
  • DIN EN 60512-25-5-2005 Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-5 Test 25e - Return loss (IEC 60512-25-5 2004) German version EN 60512-25-5 2004《电子设备连.pdf DIN EN 60512-25-5-2005 Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-5 Test 25e - Return loss (IEC 60512-25-5 2004) German version EN 60512-25-5 2004《电子设备连.pdf
  • DIN EN 60512-25-6-2004 Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-6 Test 25f Eye pattern and jitter (IEC 60512-25-6 2004) German version EN 60512-25-6 2.pdf DIN EN 60512-25-6-2004 Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-6 Test 25f Eye pattern and jitter (IEC 60512-25-6 2004) German version EN 60512-25-6 2.pdf
  • DIN EN 60512-25-7-2005 Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-7 Test 25g - Impedance reflection coefficient and standing voltage wave ratio (VSWR) (.pdf DIN EN 60512-25-7-2005 Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-7 Test 25g - Impedance reflection coefficient and standing voltage wave ratio (VSWR) (.pdf
  • DIN EN 60512-25-9-2009 Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-9 Signal integrity tests - Test 25i Alien crosstalk (IEC 60512-25-9 2008) German versi.pdf DIN EN 60512-25-9-2009 Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-9 Signal integrity tests - Test 25i Alien crosstalk (IEC 60512-25-9 2008) German versi.pdf
  • DIN EN 60512-26-100-2011 Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 26-100 Measurement setup test and reference arrangements and measurements for connector.pdf DIN EN 60512-26-100-2011 Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 26-100 Measurement setup test and reference arrangements and measurements for connector.pdf
  • DIN EN 60512-27-100-2012 Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 27-100 Signal integrity tests up to 500 MHz on IEC 60603-7 series connectors - Tests 27.pdf DIN EN 60512-27-100-2012 Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 27-100 Signal integrity tests up to 500 MHz on IEC 60603-7 series connectors - Tests 27.pdf
  • DIN EN 60512-28-100-2013 Connectors for electronic equipment Tests and measurements Part 28-100 Signal integrity tests up to 1 000 MHz on IEC 60603-7 and IEC 61076-3 series connect.pdf DIN EN 60512-28-100-2013 Connectors for electronic equipment Tests and measurements Part 28-100 Signal integrity tests up to 1 000 MHz on IEC 60603-7 and IEC 61076-3 series connect.pdf
  • 相关搜索

    当前位置:首页 > 标准规范 > 国际标准 > 其他

    copyright@ 2008-2019 麦多课文库(www.mydoc123.com)网站版权所有
    备案/许可证编号:苏ICP备17064731号-1