SIS SS-CECC 90104-1991 Family specification C MOS digital integratedcircuits Series 4000 B and 4000 UB《系列规范 CMOS数字集成电路4000 B 和4000 UB系列》.pdf

相关资源

JJF 1160-2006 中小规模数字集成电路测试设备校准规范.pdf

QJ 1910-1990 中小规模数字集成电路动态参数测试方法与测试程序.pdf

JJG 1015-2006 通用数字集成电路测试系统检定规程.pdf

SJ T 10428-1993 5474HC、5474HCR、5475HCU系列高速CMOS数字集成电路空白详细规范.pdf

SJ T 10195-1991 中、小规模数字集成电路静态参数测试仪通用技术条件.pdf

SJ T 10196-1991 中、小规模数字集成电路静态参数测试仪测试方法.pdf

GB T 17574.20-2006 半导体器件 集成电路 第2-20部分：数字集成电路 低压集成电路族规范.pdf

GB T 17574.9-2006 半导体器件 集成电路 第2-9部分 数字集成电路 紫外光擦除电可编程MOS只读存储器空白详细规范.pdf

GB T 17023-1997 半导体器件 集成电路 第2部分 数字集成电路 第二篇 HCMOS数字集成电路54 7HC、54 74HCT、54 74HCU系列族规范.pdf

SJ T 10428-1993 54／74HC、54／74HCT、54／74HCU系列高速CMOS数字集成电路空白详细规范.pdf

猜你喜欢

CNS 5545-1988 Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Discrate Semiconductor Devices Reverse Bias Test of Transistor Under High Temperature)《单件半导体装置之环境检验法及耐.pdf

CNS 5546-1988 Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Discrete Semiconductor Devices (Reverse Bias Test of Field Effect Transistor Under High Temperature)《单.pdf

CNS 5547-1988 1《单件半导体装置之环境检验法及耐久性检验法–高温保存试验》.pdf

CNS 5549-1980 Filters Radio Interference《无线电干扰滤波器》.pdf

CNS 5550-1987 Method of Test for Thermistor《热敏电阻器检验法》.pdf

CNS 5553-1980 Unit Standards for Ceramic-Based Printed Circuit《陶基印刷电路单元标准》.pdf

CNS 5554-1980 Test Standard for Ceramic-Based Printed Circuits《陶基印刷电路检验标准》.pdf

CNS 5555-1986 Method of Test for Phonograph Rumbie《电唱机辘声检验法》.pdf

CNS 5556-1986 Reproducing Discrete Four-Signal Disc Records《分离式四声道唱片讯号之再生》.pdf