本部分规定了两个表征给定错误概率的统计值,用以在不考虑样品处理的影响的情况下,利用高分辨率能谱法进行电离辐射测量中,对探测能力进行评估。本部分适用于利用高分辨率能谱进行计数测量时探测限和判断阙的确定。
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