IEC 60151-4-1963 Measurements of the electrical properties of electronic tubes Part 4 Methods of measuring noise factor《电子管电性能的测量 第4部分 噪声系数的测量方法》.pdf

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1、NORME INTERNATIONALE INTERNATIONAL STANDARD CE1 IEC 601 51 -4 Premire dition First edition 1963-01 Mes u res des caractristiques lectriques des tubes lectroniques Partie 4: Mthodes de mesure du facteur de bruit Measurements of the electrical properties of electronic tubes and valves Part 4: Methods

2、of measuring noise factor Numro de rfrence Reference number CEIIIEC 60151-4: 1963 Numros des publications Numbering Depuis le ler janvier 1997, les publications de la CE1 sont numrotes partir de 60000. Publications consolides Les versions consolides de certaines publications de la CE1 incorporant le

3、s amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Validit de la prsente publication Le contenu technique des

4、publications de la CE1 est constamment revu par la CE1 afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs la date de reconfir- mation de la publication sont disponibles dans le Catalogue de la CEI. Les renseignements relatifs des questions ltude et des travaux en cours entrepr

5、is par le comit technique qui a tabli cette publication, ainsi que la liste des publications tablies, se trouvent dans les documents ci- dessous: (Site web de la CEI* Catalogue des publications de la CE1 Publi annuellement et mis jour rgulirement (Catalogue en ligne)* Bulletin de la CE1 Disponible l

6、a fois au -site web. de la CEI* et comme priodique imprime Terminologie, symboles graphiques et littraux En ce qui concerne la terminologie gnrale, le lecteur se reportera la CE1 60050: Vocabulaire Electro- technique International (VEI). Pour les symboles graphiques, les symboles littraux et les sig

7、nes dusage gnral approuvs par la CEI, le lecteur consultera la CE1 60027: Symboles littraux 2 utiliser en lectrotechnique, la CE1 60417: Symboles graphiques utilisables sur le matriel. Index, relev et compilation des feuilles individuelles, et la CE1 60617: Symboles graphiques pour schmas. * Voir ad

8、resse site web sur la page de titre. As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. Consolidated publications Consolidated versions of some IEC publications including amendments are available. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respec

9、tively, to the base publication, the base publication incor- porating amendment 1 and the base publication incorporating amendments I and 2. Validity of this publication The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects curren

10、t technology. Information relating to the date of the reconfirmation of the publication is available in the IEC catalogue. Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publicatio

11、ns issued, is to be found at the following IEC sources: IEC web site“ Catalogue of IEC publications Published yearly with regular updates (On-line catalogue)* IEC Bulletin Available both at the IEC web site* and as a printed periodical Terminology, graphical and letter symbols For general terminolog

12、y, readers are referred to I EC 60050: international Electrotechnical Vocabulary (IEV). For graphical symbols, and letter symbols and signs approved by the IEC for general use, readers are referred to publications IEC 60027: Letter symbols to be used in electrical technoiogy, IEC 60417: Graphical sy

13、mbols for use on equipment. index, survey and compilation of the single sheets and IEC 60617: Graphical symbols for diagrams. * See web site address on title page. NORME INTERNATIONALE INTERNATIONAL STANDARD CE1 IEC 601 51 -4 Premire dition First edition 1963-01 Mesures des caractristiques lectrique

14、s des tubes lectroniques Partie 4: Mthodes de mesure du facteur de bruit Measurements of the electrical properties of electronic tubes and valves Part 4: Methods of measuring noise factor O IEC 1963 Droits de reproduction rservs - Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne

15、 peut Btre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la photo- copie et les microfilms, sans laccord crit de Iditeur. No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, inc

16、luding photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher. International Electrotechnical Commission Telefax: +41 22 919 0300 3, rue de Varemb Geneva, Switzerland IEC web site http: /www.iec.ch e-mail: inmailiec.ch G CODE PRIX PRICE CODE Pour prix, voir catalogue en vigueur

17、 For price, see current catalogue Commission Electrotechnique Internationale International Electrotechnical Commission MetKAYHaWAHaR 3JlHTPOTXHH4CHaR HOMHCCHR O -2- COMMISSION ELECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE MESURES DES CARACTRISTIQUES LECTRIQUES DES TUBES LECTRONIQUES 4me partie: Mthodes de mesure

18、du facteur de bruit PREAMBULE Les dcisions ou accords officiels de la C.E.I. en ce qui concerne les questions techniques, prpars par des Comits $Etudes o sont reprsents tous les Comits nationaux sintressant ia puissance de bruit qu?elle dlivre est proportionnelle I1 faut, soit connatre la loi du dte

19、cteur pour pouvoir doubler avec prcision la puissance de bruit Dans une des mthodes dcrites, ceci a t ralis en utilisant un dispositif d?talonnement double source talon de bruit thermique. son courant anodique. injecte, soit utiliser un dispositif permettant d?liminer l?influence de cette loi. sourc

20、e, et un shunt sur l?appareil de mesure. Amplificateur rglable - gain Attnuateur 3 dB 4. Mthodes de mesure Des modifications de dtail peuvent tre apportes ces circuits, pourvu qu?elles ne changent ni le principe de la mesure, ni le degr de raffinement du circuit. Toute modification doit maintenir le degr de corrlation dsir entre les rsultats de mesure. 4.1 Mthode S A FIGURE I

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